技术特征：
1.一种光谱仪(10)，包括：-被配置为发射电磁辐射的发射器(11)；-布置在光谱仪(10)的外表面(13)处的样品区域(12)；-包括电致变色材料的调制单元(14)；-滤光器(15)；-光学检测器(16)；-具有主延伸平面的集成电路(17)；和-用于由所述发射器(11)发射的、经由所述样品区域(12)、所述调制单元(14)和所述滤光器(15)朝向所述光学检测器(16)的电磁辐射的光路，其中-所述电致变色材料与所述集成电路(17)电连接，以及-所述调制单元(14)被配置为在时间上调制电磁辐射。2.如权利要求1所述的光谱仪(10)，其中，所述滤光器(15)被配置为传输由所述调制单元(14)调制的电磁辐射。3.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述集成电路(17)包括锁定检测功能。4.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述光学检测器(16)被配置为检测可见光和红外范围内的电磁辐射。5.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述光学检测器(16)是光子检测器或热检测器。6.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，另外的光学检测器(18)邻近所述发射器(11)布置。7.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述发射器(11)、调制单元(14)、滤光器(15)、光学检测器(16)和集成电路(17)布置在所述样品区域(12)的同一侧。8.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，所述调制单元(14)布置在所述发射器(11)和所述样品区域(12)之间。9.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，透射区域(21)布置在所述样品区域(12)和所述发射器(11)之间，其中所述透射区域(21)对于由所述发射器(11)发射的电磁辐射具有至少0.7的透射率。10.如权利要求1至6之一所述的光谱仪(10)，其中，所述样品区域(12)在垂直方向(z)上布置在所述发射器(11)和所述光学检测器(16)之间，并且所述样品区域(12)布置为邻近所述光谱仪(10)内的开口(22)，其中所述垂直方向(z)垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面。11.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，所述滤光器(15)布置在所述调制单元(14)和所述光学检测器(16)之间。12.如权利要求1至10之一所述的光谱仪(10)，其中，在垂直于所述集成电路(17)的主延伸平面的垂直方向(z)上，所述调制单元(14)布置在所述滤光器(15)和所述光学检测器(16)之间。
13.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，所述集成电路(17)被配置为控制施加到所述电致变色材料的电压的频率。14.如前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中，通过所述调制单元(14)的电磁辐射的强度被调制。15.一种用于消费类电子产品市场的便携式设备(23)，所述便携式设备(23)包括根据前述权利要求之一所述的光谱仪(10)，其中所述便携式设备(23)特别是移动电话、可穿戴或膝上型计算机。16.一种用于检测电磁辐射的方法，所述方法包括：-通过发射器(11)发射电磁辐射，-将发射的电磁辐射引导到样品区域(12)，-将样品物质放置在样品区域(12)上或上方，-在包括电致变色材料的调制单元(14)中对由发射器(11)发射的电磁辐射在时间上进行调制，-通过滤光器(15)传输预定波长范围内的电磁辐射，以及-通过光学检测器(16)检测由所述滤光器(15)传输的电磁辐射，其中-所述调制单元(14)的调制由集成电路(17)控制。17.如前一权利要求所述的方法，其中，由所述发射器(11)发射的电磁辐射在通过所述滤光器(15)之前被调制，并且所述滤光器(15)被配置为传输所调制的电磁辐射。
技术总结
一种光谱仪(10)，包括被配置为发射电磁辐射的发射器(11)；布置在所述光谱仪(10)的外表面(13)处的样品区域(12)；包括电致变色材料的调制单元(14)；滤光器(15)；光学检测器(16)；具有主延伸平面的集成电路(17)以及用于由发射器(11)发射的、经由所述样品区域(12)、所述调制单元(14)和所述滤光器(15)朝向光学检测器(16)的电磁辐射的光路，其中所述电致变色材料与所述集成电路(17)电连接，且所述调制单元(14)被配置为对电磁辐射进行时间调制。此外，提供了一种用于检测电磁辐射的方法。提供了一种用于检测电磁辐射的方法。提供了一种用于检测电磁辐射的方法。
技术研发人员：黛博拉
受保护的技术使用者：AMS-欧司朗有限公司
技术研发日：2021.05.04
技术公布日：2023/3/14