光波形测量装置及测量方法与流程

1.本发明涉及对显示器等测量对象物的光波形进行测量的光波形测量装置及测量方法。


背景技术：

2.一般而言，个人计算机等的显示器由于以垂直同步信号(vsync)的周期更新图像，所以具有垂直同步信号的周期的画面的亮度变动。另外，在显示器是液晶显示装置(lcd)的情况下，由于采用在奇数帧和偶数帧中调换极性的反转驱动，所以画面的亮度变动周期进一步成为2倍的低频。
3.作为对这样的显示器的基本性能进行测量的光测量器，例如已知有显示器彩色分析仪(作为一例，柯尼卡美能达株式会社制造的ca－410)。这种显示器彩色分析仪在内部具有光传感器，不仅可以测量颜色或亮度，还可以测量光波形或闪烁。
4.光量的取得大致有两种方式，即取得瞬时值的逐次取得方式以及取得决定的时间的积分值的积分取得方式。逐次取得方式具有高速性优异的特征，而积分方式具有低亮度测量性能优异这样的特征。
5.另外，作为使取得波形的特征明显化的手段，有频率滤波处理。滤波处理对取得波形按构成波形的每个频率成分进行期望的加权。例如，在低通滤波器(lpf)的情况下，相对于信号频率使高频衰减。由此，能够降低高频噪声，能够再现平滑的信号波形。作为另一例子，在滤波器中使用tcsf(temporal contrast sensitivity function，时间对比灵敏度函数)的情况下，能够再现与人的视觉特性对应的波形。
6.在以往的光波形测量装置中，取得在系统中预先准备的测定期间的波形，或者用户输入测定点数而取得与该点数相当的时间的波形。
7.对取得的波形进行离散傅立叶变换(dft)处理，将取得波形变换为频谱。对得到的频谱反映具有任意频率特性的滤波器。具体而言，通过对每个频率进行乘法运算来进行加权。通过对加权后的频谱进行傅立叶逆变换(idft)，取得滤波处理后的波形。
8.另外，作为减少离散傅立叶变换、傅立叶逆变换的运算处理的算法，已知有快速傅立叶变换。快速傅立叶变换具有只能处理数据数为2的幂次方个(数据数＝2d个)这样的制约。为了降低离散傅立叶变换、傅立叶逆变换的运算负荷，波形取得时的测定点数大多将测定点数设为2的幂次方个。
9.另外，在专利文献1中公开了如下技术：在具备阵列检测器的光测量装置(分光器)中，通过高速扫描来决定测定时间值，能够实现时间上不连续的照明光源的同步。
10.现有技术文献
11.专利文献
12.专利文献1：美国专利公开第2005－0103979号公报


技术实现要素：

13.发明要解决的课题
14.这里，在测定时间与发光波形的周期(例如vsync期间)不匹配的情况下(不是整数倍的情况下)，取得的波形的前端部和后端部的光量值不一致。因此，在频谱中产生多个与测定时间相关联的频率成分。与测定时间相关联的频率成分是1/测定时间
×
n，即以测定时间为1个周期的频率及其高次谐波。
15.如果对该频谱实施滤波处理，则滤波处理后的波形(加权后进行傅立叶逆变换)产生波形的前端部和后端部大幅失真的问题。
16.作为其对策，已知有删除滤波处理后波形的前端及后端的方法，但在该方法中，由于产生数据的缺失，所以有可能无法取得触发测量等情况下所需的时域的信息，便利性不好。
17.作为另一对策，公开了使用使数据端部为同一值的窗函数的方法。在该方式中，对取得波形乘以窗函数，对其进行离散傅立叶变换。然后，对加权和傅立叶逆变换后的波形除以窗函数，生成滤波处理后波形。
18.但是，在本方法中，由于在除以了窗函数时测量时误差被扩展，因此也会产生波形较大地失真的问题。
19.另外，在专利文献1中没有关于光波形测量的记述、或与光波形测量有关的上述课题的记述，因此，即使参照专利文献1，也不能解决上述课题。
20.本发明是鉴于这样的技术背景而完成的，其目的在于提供一种能够降低滤波处理后的波形的失真的光波形测量装置以及测量方法。
21.用于解决课题的手段
22.上述目的通过以下手段实现。
23.(1)光波形测量装置具备：检测单元，检测测量对象物的光量变动频率的候选；频率决定单元，基于由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选来决定光量变动频率；测定条件决定单元，基于由所述频率决定单元决定的光量变动频率，决定光波形测量的测定条件；以及取得单元，在由所述测定条件决定单元决定的测定条件下取得测量对象物的光波形，所述测定条件决定单元决定测定时间成为由所述频率决定单元所决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。
24.(2)在前项1中记载的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在所述频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础，检测光量变动频率的候选。
25.(3)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，所述频率决定单元从光量变动频率的候选中将最小的频率的候选决定为光量变动频率。
26.(4)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，还具备用户能够从由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选中选择任一个候选的选择单元，所述频率决定单元将用户通过所述选择单元选择出的候选决定为光量变动频率。
27.(5)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，具备用户能够输入光量变动频率的输入单元，所述频率决定单元将由检测单元检测出的光量变动频率的候选中最接近
由所述输入单元输入的光量变动频率的候选决定为光量变动频率。
28.(6)在前项2中记载的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过增补来检测光量变动频率的候选，所述增补使用在所述频谱数据中与成为强度比相邻频率大的奇异点的频率相邻的频率的强度。
29.(7)在前项1中记载的的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据的自相关法来检测光量变动频率的候选。
30.(8)在前项1至前项7中任一项记载的光波形测量装置，其中，由所述取得单元取得的光波形的波数根据所述光量变动频率而变化。
31.(9)在前项1至前项8中任一项记载的光波形测量装置，其中，具备滤波处理单元，所述滤波处理单元对由所述取得单元取得的光波形进行滤波处理，所述测定点数为2的幂次方个的m倍(m为整数)，测定点数在滤波处理前后不同。
32.(10)在前项9中的光波形测量装置，其中，将基于所述滤波处理单元的滤波处理前的光波形以m个为单位进行平均化后，进行滤波处理。
33.(11)光波形测量方法，具备：检测步骤，检测单元检测测量对象物的光量变动频率的候选；频率决定步骤，频率决定单元基于由所述检测步骤检测出的光量变动频率的候选来决定光量变动频率；决定步骤，测定条件决定单元基于由所述频率决定步骤决定的光量变动频率，决定光波形测量的测定条件；以及取得步骤，在由所述测定条件决定步骤决定的测定条件下取得测量对象物的光波形，在所述测定条件决定步骤中，决定测定时间成为由所述频率决定步骤所决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。
34.(12)在前项11中记载的光波形测量方法，其中，在所述检测步骤中，通过光波形测量前的预备测定取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在所述频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础，检测光量变动频率的候选。
35.(13)在前项11或前项12中记载的光波形测量方法，其中，在所述频率决定步骤中，从光量变动频率的候选中将最小频率的候选决定为光量变动频率。
36.(14)在前项11或前项12中记载的光波形测量方法，其中，在所述频率决定步骤中，将用户通过选择单元从由所述检测步骤检测出的光量变动频率的候选中选择的候选决定为光量变动频率。
37.(15)在前项11或前项12中记载的光波形测量方法，其中，在所述频率决定步骤中，将在由检测步骤检测出的光量变动频率的候选中，与用户通过输入单元输入的光量变动频率最接近的候选决定为光量变动频率。
38.(16)在前项12中记载的光波形测量方法，其中，在所述检测步骤中，通过增补来检测光量变动频率的候选，所述增补使用在所述频谱数据中与成为强度比相邻频率大的奇异点的频率相邻的频率的强度。
39.(17)在前项11中记载的光波形测量方法，其中，在所述检测步骤中，通过光波形测量前的预备测定来取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据的自相关法来检测光量变动频率的候选。
40.(18)在前项11至前项17中任一项记载的光波形测量方法，其中，由所述取得步骤
取得的光波形的波数根据所述光量变动频率而变化。
41.(19)在前项11至前项18中任一项记载的光波形测量方法，其中，还具备对由所述取得步骤取得的光波形进行滤波处理的滤波处理步骤，所述测定点数为2的幂次方个的m倍(m为整数)，测定点数在滤波处理前后不同。
42.(20)在前项19中记载的光波形测量方法，其中，将基于所述滤波处理步骤的滤波处理前的光波形以m个为单位进行平均化后，进行滤波处理。
43.发明效果
44.根据前项(1)项和(11)中记载的发明，检测测量对象物的光量变动频率的候选，并且基于检测出的候选决定光量变动频率，基于决定的光量变动频率，决定测定时间成为所述决定的所述光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数，因此即使实施任意的频率滤波处理，也能够进行无失真的波形取得，并且即使在测量对象的频率不是已知的情况下，也能够使误差最小化。
45.另外，能够正确且容易地导出基于iec标准(project no.62341-6-3,5.2.1flicker https://webstore.iec.ch/publication/31171)的闪烁指标。即，在iec标准中，对于以tcsf进行了滤波处理的波形，将计算(最大值－最小值)/平均值的值作为闪烁值，但为了导出本闪烁值，需要正确的滤波后波形。另外，由于在平均值的导出中需要光量变动周期，所以如果使用本发明则能够容易地导出。
46.根据前项(2)和(12)中记载的发明，通过光波形测量前的预备测定取得光量变动的波形数据，通过对波形数据进行傅立叶变换处理取得频谱数据，在频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础检测光量变动频率的候选，所以能够检测与测量对象物的实际的光量变动频率对应的候选，进而能够决定精度高的光量变动频率。
47.根据前项(3)和(13)中记载的发明，由于从光量变动频率的候选中将最小的频率的候选决定为光量变动频率，所以能够容易地提取光量变动频率。
48.根据前项(4)和(14)中记载的发明，由于将用户从检测出的光量变动频率的候选中选择的候选决定为光量变动频率，所以能够高精度地测量用户所关注的频率的光波形。
49.根据前项(5)和(15)中记载的发明，由于将检测出的光量变动频率的候选中、与用户输入的光量变动频率最接近的候选决定为光量变动频率，所以能够高精度地测量用户所关注的频率附近的光波形。
50.根据前项(6)和(16)中记载的发明，通过使用与频谱数据中成为强度比相邻频率大的奇异点的频率相邻的频率的强度进行增补，检测光量变动频率的候选，所以能够决定精度高的光量变动频率。
51.根据前项(7)和(17)中记载的发明，通过光波形测量前的预备测定取得光量变动的波形数据，通过针对该波形数据的自相关法检测光量变动频率的候选，因此能够缩短预备测定时间。
52.根据前项(8)和(18)中记载的发明，由于所取得的光波形的波数根据所述光量变动频率而变化，所以能够实现波形失真的缩小化、周期匹配误差的降低。
53.根据前项(9)和(19)中记载的发明，测定点数是2的幂次方个的m倍(m是整数)，测定点数在滤波处理前后不同，所以能够避免波数的增大。
54.根据前项(10)和(20)中记载的发明，由于将滤波处理前的光波形以m个为单位进
行平均化后进行滤波处理，所以能够降低滤波处理后的波形的噪声。
附图说明
55.图1是表示本发明的一实施方式所涉及的光波形测量装置的功能结构的框图。
56.图2是表示光量变动频率的候选的检测及光量变动频率的决定处理的流程图。
57.图3是表示取得的波形数据的频谱解析结果即频谱数据的一例的图。
58.图4是用于说明测定条件的一个决定方法的图。
59.图5是用于说明测定条件的其他决定方法的图。
60.图6表示滤波处理后的波形图，分别为，(a)是表示以往的波形的图，(b)是表示本实施方式中的波形的图。
61.图7是表示在显示部上显示光量变动频率的候选列表，使用户选择的情况下的显示画面的图。
62.图8是表示使用户输入光量变动频率的设计值的情况下的显示画面的图。
63.图9是表示本发明的其他实施方式的结构图。
具体实施方式
64.以下，基于附图说明本发明的实施方式。
65.图1是表示本发明的一实施方式的光波形测量装置1的功能结构的框图。
66.如图1所示，光波形测量装置1具备受光部11、数据处理部12、候选检测部13、频率决定部14、测定条件决定部15、光波形取得部16、滤波处理部17、显示部18等。
67.受光部11接受来自显示器等测量对象物100的光，具备受光传感器。数据处理部12对受光部11中的受光数据实施放大等规定的处理。候选检测部13基于由数据处理部12处理后的受光数据，检测光量变动频率的候选，频率决定部14从检测出的候选中决定光量变动频率。
68.测定条件决定部15以由频率决定部14决定的光量变动频率为基础，决定采样频率和测定点数。在该实施方式中，决定测定时间成为所决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。
69.光波形取得部16以由测定条件决定部15决定的采样频率和测定点数取得光波形，滤波处理部17对取得的光波形进行滤波处理，显示部18显示滤波处理后的测量结果等。
70.接着，说明光波形测量装置1的动作。
71.当用户将光波形测量装置1设置在测量位置，通过按下显示在显示部18上的测量开始按钮等来指示测量开始时，受光部11受光来自显示器等测量对象物100的测定光。受光到的光在数据处理部12中被实施了放大等规定的数据处理后，被输入到候选检测部13。
72.候选检测部13检测测量对象物100的光量变动频率的候选(以下也称为候选频率)，频率决定部14从检测出的候选频率中决定光量变动频率。
73.图2的流程图表示候选频率的检测及光量变动频率的决定处理的一例。在该实施方式中，作为候选频率的检测方法的一例，使用基于通过预备测定取得的光量变动的波形数据来检测候选频率的方法。也可以将阈值以上的频率作为候选频率。
74.在图2的流程图中，当在步骤s01中开始处理时，通过预备测定(预测定)而受光来
自测量对象物100的光，取得光量变动的波形数据(步骤s02)。接着，提取(检测)候选频率(步骤s03)。具体而言，首先对取得的波形数据进行频谱解析(步骤s31)。为了缩短预测定时间，在预备测定的频谱解析中，频率分辨率也可以设定得较粗。
75.图3表示作为频谱解析结果的频谱数据的一例。在图3的例子中，例示了将频率分辨率设定为2hz的情况。另外，在图2的例子中，频谱数据的14hz和16hz、30hz和32hz、46hz和48hz、60hz和62hz成为强度比相邻频率大的频率即奇异点，被认为在这些奇异点的附近存在强度成为峰值的实际的候选频率。
76.返回图2的流程图，在提取图3的频谱数据所示的奇异点之后(步骤s32)，通过使用与成为奇异点的频率相邻的频率的强度的增补处理，对频率进行细化(步骤s33)。对于基于增补的频率的细化没有限定，例如通过重心检测等进行即可。
77.通过频率的细化求出实际上强度成为峰值的频率，将求出的频率作为候选频率进行列表化。候选频率包括基波及其高次谐波。
78.接着，从列表化后的光量变动频率的候选中决定光量变动频率(步骤s04)。作为具体的决定方法的一例，将候选中的最小频率决定为光量变动频率(步骤s41)，结束候选频率的检测及光量变动频率的决定处理(步骤s05)。
79.这样，在该实施方式中，通过光波形测量前的预测定(预备测定)来取得光量变动的波形数据，通过对波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础来检测光量变动频率的候选，因此能够检测与测量对象物的实际的光量变动频率对应的候选。进而能够决定精度高的光量变动频率。另外，在从光量变动频率的候选中将最小的频率的候选决定为光量变动频率的情况下，能够容易地提取光量变动频率。
80.以这样决定的光量变动频率为基础，测定条件决定部15决定采样频率和测定点数。
81.将应满足的测定条件的关系式表示为下述[式1]
[0082]
[式1]
[0083]
测定时间t＝测定点数c/采样频率fs≒波数n/光量变动频率fv
[0084]
(其中，n、c为自然数)
[0085]
测定条件决定波数n、测定点数c、采样频率fs，以极力满足由上述[式1]所示的关系。即，决定测定时间t成为光量变动频率fv的周期的整数倍(n/fv)的采样频率fs和测定点数c。
[0086]
周期匹配程度的误差(＝c/fs－n/fv)根据滤波后波形的再现性(失真量)，优选设为光量变动周期的1/10以下，若考虑到对噪声量小的平滑的波形的适应，则更优选设为1/30以下。各参数的决定可以通过使系统内具有查找表来实现。
[0087]
关于光量的取得，以下示出取得瞬时值的逐次取得方式中的测定条件决定的例子。逐次方式的采样频率fs由系统决定可选择的频率。对于该fs，如图4的左部所示，选择满足所述[式1]的n和c。逐次方式能够实现高速采样，因此一般成为fs》》fv，因此存在测定点数c变大的倾向。
[0088]
在运算中使用快速傅立叶变换的情况下，测定点数c为c＝m
×2d
(m、d：自然数)，如图4的右部所示，对该测定点数c选择满足所述[式1]的波数n、m、d。通过不仅将作为现有条
件的m＝1而且将m≧2追加到条件中，提高了能够选择的波数n的自由度。如果仅是作为现有条件的m＝1，则由于fs≧fv，所以满足所述[式1]的波数n或测量点数c会成为非常大的值。其结果，产生测定时间的长时间化(lengthening)和运算负荷的增大化，不能得到快速傅立叶变换的优点。
[0089]
另外，在m≠1时，快速傅立叶变换成立的理由在“滤波处理功能”中后述。m值意味着对于滤波后波形的有效采样频率的降低率，所以优选小的一方(在“滤波处理功能”中后述)。例如，在系统上限频率为2700hz的情况下，
[0090]
光量变化频率fv：30hz
→
波数n：16，测定点数c：14336(m＝7，d＝11)，采样频率fs：2700hz
[0091]
光量变动频率fv：24hz
→
波数n：11，测定点数c：12288(m＝3，d＝12)，采样频率fs：27000hz
[0092]
以下示出取得关于光量的取得而决定的时间的积分值的积分方式中的测定条件决定的例子。积分方式的采样频率fs难以高速化，但关于频率设定，一般而言，自由度高，能够任意设定。因此，测定条件如图5的左部所示，对于作为目标的波数n，选择满足所述[式1]的c和fs。
[0093]
在运算中使用快速傅立叶变换的情况下，测定点数c为c＝m
×2d
(m、d：自然数)，如图5的右部所示，对该c选择满足所述[式1]的n、m、d。在此，m值根据以下的理由，优选设为m＝1。
[0094]
·
在积分方式的情况下，由于fs具有自由度，所以即使在m＝1下，也难以产生测定时间的长时间化
[0095]
·
在m≥2的情况下，滤波后波形的有效采样频率与取得波形相比降低(在“滤波处理功能”中后述)
[0096]
为了维持系统上限附近的高fs，波数n依赖于光量变动频率而变化。通过根据光量变动频率改变波数n，能够实现波形失真的缩小化、周期匹配误差的降低。
[0097]
以下示出测定条件的一例。例如，在系统上限频率为2700hz的情况下，
[0098]
光量变动频率fv：30hz
→
波数n：12，测定点数c：1024(m＝1，d＝10)，采样频率fs：2560hz
[0099]
光量变动频率fv：24hz
→
波数n：18，测定点数c：2048(m＝1，d＝11)，采样频率fs：2731.667hz
[0100]
在这样决定的测定条件下，取得光波形。光波形的测定与以往同样地进行，因此省略详细的说明。
[0101]
在取得光波形之后，由滤波处理部17对所取得的光波形实施滤波处理。在以通常的离散傅立叶变换(dft)或傅立叶逆变换(idft)进行处理的情况下、以及在快速傅立叶变换中m＝1的情况下，滤波处理与以往相同。
[0102]
以下记载快速傅立叶变换且m≥2时的滤波处理。即，需要对在快速傅立叶变换处理之前取得的波形进行前处理。前处理是对测定数据(c个的排列)，从开头数据起每m个进行平均化或间除，将数据数压缩为1/m个。对该压缩后的数据数2d个进行快速傅立叶变换(dft)处理、加权、快速傅立叶逆变换(idft)处理，生成滤波后波形。
[0103]
上述的数据数的压缩等同于将滤波后的波形的有效采样频率fs设置为取得波形
的1/m。因此，m值需要小到不影响滤波后波形的再现性的程度，但在逐次型的情况下fs≧fv，因此该m值对波形再现的影响较低。通过这样将数据数压缩为1/m个，测定点数在滤波处理前后不同，能够避免波数的增大。另外，由于在对滤波处理前的波形以m个为单位进行平均化之后进行滤波处理，能够降低滤波处理后的波形的噪声。
[0104]
图6表示滤波处理后的波形。该图(a)是以往的波形，(b)是本实施方式中的波形。在本实施方式中，以与光量变动频率匹配的方式设定测定条件，因此，相对于现有例，成为特别是在波形的前端部和后端部抑制了失真的波形。
[0105]
这样，在该实施方式中，检测测量对象物100的光量变动频率的候选，并且基于检测出的候选来决定光量变动频率，基于决定的光量变动频率，决定测定时间成为所述决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数，因此，即使实施任意的频率滤波处理，也能够取得无失真的波形，并且，即使在测量对象的频率不是已知的情况下，也能够使误差最小化。此外，能够正确且容易地导出基于iec标准的闪烁指标。即，在iec标准中，对于以tcsf进行了滤波处理的波形，将计算(最大值－最小值)/平均值而得的值作为闪烁值，但为了导出本闪烁值，需要正确的滤波后波形。另外，由于在平均值的导出中需要光量变动周期，所以如果使用本发明则能够容易地导出。
[0106]
在上述的实施方式中，示出了从多个候选频率中将最小的频率的候选决定为光量变动频率的例子，但光量变动频率的决定方法不限于此。特别是在显示器的设计者等用户为了确认而进行光波形测量的情况下，被认为用户认识到光量变动频率。
[0107]
因此，如图7所示，也可以将检测到的候选频率的列表与“请选择频率”等消息一起显示在显示部18上，使用户选择期望的候选。在图7的例子中，显示4个候选频率，示出选择了附加了检查(check)的15.36hz的候选频率。当选择了任一个候选频率时，将所选择的候选频率决定为光量变动频率。
[0108]
这样，通过使用户选择候选，并且将用户选择的候选频率决定为光量变动频率，能够高精度地测量用户关注的频率的光波形。
[0109]
另外，也可以将预备测定中的频谱解析的结果得到的图3的频谱数据所示的奇异点作为候选频率显示，使用户选择。在该情况下，将最接近所选择的奇异点的光量变动频率决定为成为决定频率分辨率的基础的光量变动频率。但是，在能够显示正确的候选频率的方面，优选所显示的候选列表是基于增补的细化后的候选频率的列表。
[0110]
另外，也可以不是候选频率的列表显示，而是如图8所示，与“请选择频率”等消息一起显示输入栏18a，使用户直接输入光量变动频率的设计值。在该情况下，从候选频率中，将最接近所输入的频率的候选频率决定为光量变动频率。这样，在使用户输入光量变动频率，并且将最接近所输入的光量变动频率的候选频率决定为光量变动频率的情况下，也具有能够高精度地测量用户所关注的频率附近的光波形的效果。
[0111]
另外，在上述实施方式中，说明了通过光波形测量前的预备测定来取得光量变动的波形数据，通过对所取得的波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础来检测候选频率的例子，但候选频率的检测也可以是其他方法。
[0112]
例如，也可以通过光波形测量前的预备测定来取得光量变动的波形数据，通过解析取得的波形数据，直接求出变动周期(频率)。作为其一例，能够举出对波形数据的自相关
法。该自相关法是通过计算光量变动的波形数据和从该波形数据错开时间的数据的相关系数，提取数据的周期性，检测候选频率的方法。作为其他方法，也可以使用基于图像解析方法的使用了波形数据的特征点的周期提取法等。
[0113]
基于波形数据的解析的光量变动频率的检测具有预备测定时间变短的效果，但运算负荷变大。
[0114]
以上，说明了本发明的一个实施方式，但本发明不限于上述实施方式。例如，候选检测部13可以利用通过对光量变动的波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据的以往的光波形测量装置的功能而构成，也可以通过另外设置候选检测用的专用电路而构成。
[0115]
另外，如图9所示，也可以由个人计算机200构成光波形测量装置。此时，个人计算机200通过从现有的光波形测量装置300取得测量对象物100的受光数据，进行候选频率的检测、光量变动频率的决定、测定条件的决定等即可。
[0116]
另外，光波形测量步骤不需要与频率检测步骤、频率决定步骤、测定条件决定步骤连续进行。例如，也可以先进行频率检测步骤、频率决定步骤、测定条件决定步骤而取得测定条件的数据，然后，使用所取得的测定条件仅实施光测量。
[0117]
另外，所决定的测定条件也可以记录保存在光波形测量装置或与光波形测量装置连接的外部的记录装置(例如个人计算机等)中。通过记录保存测定条件，在需要再次进行光波形测量时，能够省略光量变动频率的候选的检测、光量变动频率的决定、测定条件的决定的各处理，能够缩短光波形测量所需的时间。
[0118]
本技术伴随着2020年6月1日申请的日本专利申请的特愿2020－095517号的优先权要求，其公开内容直接构成本技术的一部分。
[0119]
产业上的可利用性
[0120]
本发明能够在对显示器等测量对象物的光波形进行测量时利用。
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标号说明
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1光波形测量装置；11受光部；13候选检测部；14频率决定部；15测定条件决定部；16滤波处理部；17光波形取得部；18显示部；100测量对象物；200个人计算机。