技术特征：
1.一种辐射敏感设备(420)，包括：多个单光子雪崩二极管(spad)(105-0至105-n)；以及处理电路(415)，被配置为使用所述多个spad中的至少一个来确定入射辐射的强度，其中用于确定所述入射辐射的所述强度的所述spad的量相关于所述入射辐射的所述强度而变化。2.根据权利要求1或2所述的辐射敏感设备(420)，其中用于确定所述入射辐射的所述强度的spad(105-0至105-n)的所述数量与所述入射辐射的所述强度的平方成反比地变化。3.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420)，其中相对于当所述强度低时用于确定所述入射辐射的所述强度的大量spad，当所述强度高时使用少量spad(105-0至105-n)来确定所述入射辐射的所述强度。4.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420)，包括多个计数器(110-0至110-n)，其中每个计数器被配置为存储入射在所述多个spad(105-0至105-n)中的相关联spad上的光子撞击的计数。5.根据权利要求4所述的辐射敏感设备(420)，其中每个计数器(110-0至110-n)包括基本数量的位，并且其中每第2
2n
个计数器包括所述基本数量的位加上至少n个位。6.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420)，其中所述处理电路被配置为针对高于阈值的辐射强度水平使用所述计数器(110-0至110-n)的子集来确定入射辐射的所述强度。7.根据权利要求6所述的辐射敏感设备(420)，其中所述阈值由以下定义：-计数器的子集/所述子集中的位的数量；和/或-用户可编程的值。8.根据权利要求4至7中任一项所述的辐射敏感设备(420)，其中至少一个计数器(110-0至110-n)包括充足的位，使得最大计数由相关联的spad(105-0至105-n)的死区时间定义。9.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420)，所述辐射敏感设备(420)被配置为具有用于确定入射在所述多个spad(105-0至105-n)中的每个spad上的光子撞击的计数的公共读出时间间隔。10.一种确定入射在基于spad的设备上的辐射的强度的方法，所述方法包括相关于所述入射辐射的所述强度改变用于确定所述入射辐射的所述强度的spad(105-0至105-n)的量。11.根据权利要求10所述的方法，包括以下步骤：相对于当所述强度低时用于确定所述入射辐射的所述强度的大量spad，当所述强度高时选择少量spad(105-0至105-n)来确定所述入射辐射的所述强度。12.根据权利要求11所述的方法，其中当至少一个计数器(110-0至110-n)溢出时和/或当计数器超过预定阈值时，所述强度被确定为高。13.一种根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420)在护理点测试或诊断应用或电子鼻应用中的使用，以确定来自样本的发光和/或荧光的强度。14.一种电子鼻或护理点装置，包括根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420)，其中所述辐射敏感设备被配置为确定来自样本的发光和/或荧光的强度。15.一种根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420)在环境光感测应用中
的使用。
技术总结
公开了一种辐射敏感设备(420)。该辐射敏感设备包括：多个单光子雪崩二极管(SPAD)(105-0)，以及处理电路(415)，处理电路(415)被配置为使用多个SPAD中的至少一个来确定入射辐射的强度。用于确定入射辐射的强度的SPAD的量相关于入射辐射的强度而变化。还公开了一种确定入射到这种辐射敏感设备上的辐射强度的相关方法，以及该辐射敏感设备在电子鼻或护理点装置中的使用或用于环境光感测。点装置中的使用或用于环境光感测。点装置中的使用或用于环境光感测。
技术研发人员：A.范德阿沃伊尔德 B.丹尼尔 E.简洛斯 J.普拉桑纳库马尔
受保护的技术使用者：ams国际有限公司
技术研发日：2021.08.26
技术公布日：2023/3/3