技术特征：
1.一种定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：选取整体镜场中的代表性定日镜；确定测试时间和测试环境满足的测试边界条件；在所述测试时间，当所述测试环境满足所述测试边界条件时，对所述代表性定日镜进行跟踪精度检测和光学精度检测，获取所述代表性定日镜的跟踪精度和光学精度；根据所述跟踪精度和所述光学精度，对仿真系统中所述代表性定日镜所在区域的所有定日镜对应的定日镜仿真模型进行修正；将所述代表性定日镜所在区域的所有定日镜实际运行效果与所述仿真系统中对应的定日镜仿真模型的运行效果进行比较，若比较的偏差超过预设偏差值，则重新进行定日镜精度检测和定日镜仿真模型修正。2.根据权利要求1所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述选取整体镜场中的代表性定日镜包括：根据所述整体镜场的实际布置及定日镜精度检测的精度要求，将所述整体镜场以预设角度进行切分，得到若干个切分镜场；按照预设取样距离，确定每个切分镜场中的取样基准点；将距离每个所述取样基准点最近的定日镜选取为所述代表性定日镜。3.根据权利要求2所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述确定测试时间和测试环境满足的测试边界条件包括：分别将每年的春分日、夏至日、秋分日、冬至日前后的各若干天设定为测试日；将每个测试日的若干个时刻设定为测试时间；所述测试边界条件包括测试时的风速和法向直接辐射强度。4.根据权利要求3所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，对所述代表性定日镜进行跟踪精度检测和光学精度检测包括：将标靶设置在吸热塔上；获取标靶的图像，并获取每一个所述代表性定日镜在所述标靶上形成的若干个光斑图像；根据所述若干个光斑图像确定每一个所述代表性定日镜的跟踪精度和光学精度。5.根据权利要求4所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，获取所述代表性定日镜的跟踪精度包括：以所述标靶的图像的中心为坐标原点，建立直角坐标系；将每一个所述代表性定日镜在所述标靶上形成的所述若干个光斑图像分别置于所述直角坐标系中；确定每一个所述光斑图像中的光斑的几何中心在所述直角坐标系中的光斑几何中心坐标；根据每一个所述光斑几何中心坐标的坐标值，计算所述代表性定日镜的跟踪精度，所述代表性定日镜的跟踪精度由以下公式表示：
，式中，x表示光斑几何中心坐标的x坐标值，y表示光斑几何中心坐标的y坐标值，表示n个光斑几何中心坐标的x坐标值的平均值，表示n个光斑几何中心坐标的y坐标值的平均值，n表示一个代表性定日镜在标靶上形成的光斑图像的个数，表示一个代表性定日镜在x坐标方向的跟踪误差，表示一个代表性定日镜在y坐标方向的跟踪误差，表示一个代表性定日镜的二维跟踪误差。6.根据权利要求5所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，获取所述代表性定日镜的光学精度包括：分别对所述代表性定日镜在所述标靶上形成的每一个所述光斑图像进行能量求和；提取所述光斑图像中光斑的能量最大值和能量最小值；通过二分法确定能量值边界，使得所述能量值边界区域内包含的能量占所述光斑整体能量的比例大于能量预设值；获取所述能量值边界在所述直角坐标系中的长轴数值和短轴数值，得到所述代表性定日镜在所述标靶上的实际光斑；根据所述代表性定日镜的光学精度值进行拟合仿真，得到所述代表性定日镜的模拟光斑；根据所述模拟光斑与所述实际光斑的差异，调整所述仿真系统中所述代表性定日镜对应的代表性定日镜仿真模型的光学精度参数值，使所述模拟光斑与所述实际光斑重合；将所述模拟光斑与所述实际光斑重合后的所述模拟光斑的光学精度参数值设定为所述代表性定日镜的光学精度。7.根据权利要求6所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述对仿真系统中所述代表性定日镜所在区域的所有定日镜对应的定日镜仿真模型进行修正包括：根据所述代表性定日镜的所述跟踪精度和所述光学精度，修正所述仿真系统中所述代表性定日镜所在区域的所有定日镜对应的定日镜仿真模型。
8.根据权利要求1所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述预设偏差值为5%。9.根据权利要求6所述的定日镜精度检测和仿真系统修正方法，其特征在于，所述能量预设值为90%。
技术总结
本申请涉及光学设备测试领域，尤其涉及一种定日镜精度检测和仿真系统修正方法，该方法通过在设定的时间和环境下，对镜场中选择的代表性定日镜进行精度检测，以代表性定日镜的跟踪精度和光学精度的参数为基准，对仿真系统中定日镜仿真模型进行修正，将镜场中定日镜的实际运行效果与定日镜仿真模型的运行效果进行比较，如果比较的偏差超过了预设偏差值，则重新进行定日镜精度检测和定日镜仿真模型修正。采用该方法，可以在对较少定日镜进行精度检测的情况下，完成对仿真系统中所有定日镜仿真模型的修正，还可以通过反复修正，将镜场中定日镜与定日镜仿真模型的运行效果的偏差控制在预设偏差值范围内，提高镜场中定日镜的工作效率。率。率。
技术研发人员：王晓 肖斌 周治 孙夏思 赵伟 陈鹏飞 陈康 牛东圣 文龙 常雪剑
受保护的技术使用者：中国电建集团西北勘测设计研究院有限公司
技术研发日：2022.03.04
技术公布日：2022/4/5