技术特征：
1.一种磁光克尔测量装置，其特征在于，包括：磁光克尔显微镜，所述磁光克尔显微镜包括目镜、cmos相机；事件相机，所述事件相机包括底层芯片，所述事件相机设于所述磁光克尔显微镜的目镜上，并且所述事件相机与所述cmos相机共焦平面。2.根据权利要求1所述的磁光克尔测量装置，其特征在于，所述目镜数量为1个。3.根据权利要求1所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，包括磁光克尔成像光路，所述磁光克尔成像光路包括入射光路和成像光路，所述成像光路的反射光在所述共焦平面处形成磁畴壁图像。4.根据权利要求3所述的磁畴成像测量装置，所述入射光路用于提供线偏振光，所述成像光路用于收集被磁性材料反射的光，所述反射光的偏振信息进行检偏处理后形成图像。5.根据权利要求3所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述事件相机能够根据所述成像光路的光强动态变化输出事件信息。6.根据权利要求5所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述底层芯片包括放大电路、差分电路和比较电路，所述成像光路光强动态变化信号由所述底层芯片处理后输出事件信息。7.根据权利要求5所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述事件信息包括磁畴在空间和时间上的运动路径。8.根据权利要求1-7任一项所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述事件相机能够在竖直方向运动并记录所述磁畴运动过程。9.根据权利要求1-7任一项所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述事件相机采集所述事件信息的速度为200帧/s。10.根据权利要求1-7任一项所述的磁畴成像测量装置，其特征在于，所述磁光克尔显微镜还包括led光源、分光镜、样品支架、电磁铁，起偏器和检偏器。11.一种获取磁畴壁图像的方法，其特征在于，包括：事件相机设于磁光克尔显微镜的目镜上，并且调整所述事件相机与cmos相机共焦平面；被测磁性样品固定于所述磁光克尔显微镜的样品支架上；施加磁场；光源发射的光经过起偏器后，线偏振光照射于所述被测磁性样品表面，从所述被测样品表面反射的光经过检偏器后的光强动态变化由所述事件相机探测，获得所述被测磁性样品的磁畴壁图像。12.根据权利要求11所述的获取磁畴图像的方法，其特征在于，所述磁场方向与所述被测磁性样品表面垂直。13.根据权利要求11所述的获取磁畴图像的方法，其特征在于，还包括所述事件相机执行以下处理：所述事件相机探测到的光强动态变化转化为电信号；所述电信号经过差分电路处理后，获得变化量；所述变化量传输于比较电路，并将所述变化量与预设的阈值进行比较；所述变化量超出预设阈值时，输出事件信息。
14.根据权利要求13所述的获取磁畴壁图像的方法，其特征在于，所述变化量为计算前一个事件信息开始至现在的变化量。
技术总结
本发明涉及一种磁光克尔测量装置及获取磁畴壁图像的方法，磁光克尔测量装置包括：磁光克尔显微镜，所述磁光克尔显微镜包括目镜、CMOS相机；事件相机，所述事件相机包括底层芯片，所述事件相机设于所述磁光克尔显微镜的目镜上，并且所述事件相机与所述CMOS相机共焦平面。该方法是利用磁光克尔测量装置中的事件相机获取磁畴壁图像。本发明可以提高对此磁性材料的快速检测，具有高分辨率，操作简便，对磁性材料的研究和发展具有重要意义。材料的研究和发展具有重要意义。材料的研究和发展具有重要意义。
技术研发人员：周艳 赵月雷 张恺 杨晟 武凯 褚智勤
受保护的技术使用者：香港中文大学（深圳）
技术研发日：2022.04.28
技术公布日：2022/8/30