一种夹具半导体插芯测试治具的制作方法

1.本发明涉及半导体测试技术领域，具体为一种夹具半导体插芯测试治具。


背景技术：

2.目前半导体激光器测试以热敏探头为主，光纤插芯无有效的固定方式，一般采用双面胶将光纤插芯固定到一个物体上，或用胶带固定到某个物体上，在测试过程中，光纤插芯与热敏探头探面距离把控不到位，每次测试时光斑位置有差别，会导致测试数值波动，影响测试效果；光斑照射在探头探面时，部分光反射，长时间操作会对周围实物造成损害，尤其是对人的眼睛造成不可逆的损害。
3.综上所述，现有的光纤插芯固定方式存在光纤插芯固定不牢固，受双面胶或胶带粘结力的影响，光纤插芯会发生位移甚至脱落，造成不可估量的损害，测试多个产品时，光纤插芯固定位置一同，造成测试数据波动，测试数据参考意义折损，探头探面接收的光无遮挡，容易对人眼睛造成永久性损伤，为改善这一突出问题，设计了一种夹具半导体插芯测试治具。


技术实现要素：

4.针对现有技术的不足，本发明提供了一种夹具半导体插芯测试治具，具备测试治具可以固定光纤插芯与探头探面距离，消除了每次测试时光纤插芯位置不同带来的测试精度问题，该距离可以手动调节，实现光斑覆盖探头探面1/2的面积，保证测试准确度，可以消除探头探面反射光，提高生产安全，可配套fc、sma、sc等多规格插芯，消除了不同光纤插芯固定难的问题等的优点，解决了上述背景技术中提出的问题。
5.本发明提供如下技术方案：一种夹具半导体插芯测试治具，包括限位杆、限位螺丝、遮光罩载台、可调节遮光筒、适配器固定筒罩、插芯适配器和热敏探头，所述可调节遮光筒与适配器固定筒罩的一端螺纹连接，所述适配器固定筒罩另一端的中部设有插芯适配器，且所述适配器固定筒罩的另一端与遮光罩载台螺纹连接，所述遮光罩载台通过限位螺丝与限位杆连接，所述限位杆与热敏探头螺纹连接。
6.优选的，所述热敏探头一侧的两端均设有与限位杆一端适配的螺纹孔。
7.优选的，所述可调节遮光筒的内壁设有内螺纹，所述适配器固定筒罩的外表面设有与内螺纹适配的外螺纹。
8.优选的，所述遮光罩载台由圆环和横向连接块组成，所述圆环的内壁设有与外螺纹适配的内螺纹，所述横向连接块的中部设有与限位杆适配的贯穿孔，且贯穿孔内侧的顶部设有与限位螺丝适配的螺孔。
9.与现有技术对比，本发明具备以下有益效果：
10.1、该夹具半导体插芯测试治具，通过各组件搭配调节适配器的高度，从而调节光纤插芯与探头探面距离，确保光斑覆盖探头探面的1/2面积，可以对光纤插芯的位置进行固定，确保每次测量时，光纤插芯处在同一位置，提前测量精度。
11.2、该夹具半导体插芯测试治具，通过可调节遮光筒的设置，可以遮挡探头探面反射的激光，避免了激光反射对周围事物的损伤，提高测试安全，可以适配fc\sc\st等光纤插芯，应用灵活，使用方面，极大地提高生产效率，降低使用成本，提高安全系数。
附图说明
12.图1为本发明实施例1的结构正面示意图；
13.图2为本发明sc适配器固定筒罩与sc插芯适配器爆炸示意图；
14.图3为本发明实施例2的结构正面示意图；
15.图4为本发明结构fc适配器固定筒罩与fc插芯适配器爆炸示意图；
16.图5为本发明实施例3的结构正面示意图；
17.图6为本发明实施例3的结构爆炸示意图。
18.图中：1、限位杆；2、限位螺丝；3、遮光罩载台；31、圆环；32、横向连接块；4、可调节遮光筒；5、sc适配器固定筒罩；6、sc插芯适配器；7、热敏探头；8、fc适配器固定筒罩；9、fc插芯适配器；10、sma适配器固定筒罩；11、sma插芯适配器。
具体实施方式
19.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
20.请参阅图1至6，一种夹具半导体插芯测试治具，包括热敏探头7，限位杆1、限位螺丝2、遮光罩载台3、可调节遮光筒4、适配器固定筒罩和插芯适配器，热敏探头7右侧的顶端和底端均设有螺纹孔，限位杆1一端的中部焊接有与螺纹孔适配的螺柱，通过螺柱的设置，限位杆1与热敏探头7可以快速的固定或分离。
21.可调节遮光筒4的材质为黑色金属，消除了探头探面反射光，提高生产安全，可调节遮光筒4的内壁设有内螺纹，适配器固定筒罩的外表面设有与内螺纹适配的外螺纹，适配器固定筒罩的一端与可调节遮光筒4的内腔螺纹连接，适配器固定筒罩另一端的外圈与遮光罩载台3螺纹连接，且适配器固定筒罩另一端的中部固定连接有插芯适配器。
22.遮光罩载台3由圆环31和横向连接块32组成，圆环31的内壁设有与外螺纹适配的内螺纹，横向连接块32的中部设有与限位杆1适配的贯穿孔，且贯穿孔内侧的顶部设有与限位螺丝2适配的螺孔，通过限位螺丝2的设置，可以把遮光罩载台3的位置固定，进而插芯适配器的位置被固定，与插芯适配器适配的光纤插芯的位置被固定，消除了每次测试时光纤插芯位置不同带来的测试精度问题。
23.实施例1：如图1和2所示，本实施例提供一种夹具半导体插芯测试治具，包括限位杆1，限位螺丝2，遮光罩载台3，可调节遮光筒4，sc适配器固定筒罩5，sc插芯适配器6和热敏探头7。
24.本发明适合半导体光纤sc插芯固定使用，使用前先将限位杆1固定到热敏探头7上螺孔处，将可调节遮光筒4与sc适配器固定筒罩5螺纹连接，将sc插芯适配器固定在sc适配器固定筒罩5另一端的中部，将sc适配器固定筒罩5的另一端与遮光罩载台3的内腔螺纹连
接，将遮光罩载台3及组合件与限位杆1组合在一起，调节好高度，用限位螺丝2紧固好，将sc光纤插芯插入sc插芯适配器6。
25.实施例2：如图3和4所示，本实施例提供一种夹具半导体插芯测试治具，包括限位杆1，限位螺丝2，遮光罩载台3，可调节遮光筒4，fc适配器固定筒罩8，fc插芯适配器9和热敏探头7。
26.本发明适合半导体光纤fc插芯固定使用，使用前先将限位杆1固定到热敏探头7上螺孔处，将可调节遮光筒4与fc适配器固定筒罩8的一端螺纹连接，将fc插芯适配器9与fc适配器固定筒罩8另一端的中部固定连接，将fc适配器固定筒罩8的另一端与遮光罩载台3螺纹连接，将遮光罩载台3及组合件与限位杆1组合在一起，调节好高度，用限位螺丝2紧固好，将fc光纤插芯插入fc插芯适配器。
27.实施例3：如图5和6所示，本实施例提供一种夹具半导体插芯测试治具，包括限位杆1，限位螺丝2，遮光罩载台3，可调节遮光筒4，sma适配器固定筒罩10，sma插芯适配器11和热敏探头7。
28.本发明适合半导体光纤sma插芯固定使用，使用前先将限位杆1固定到热敏探头7上螺孔处，将可调节遮光筒4与sma适配器固定筒罩10的一端螺纹连接，将sma插芯适配器与sma适配器固定筒罩10另一端的中部固定连接，将sma适配器固定筒罩10的另一端与遮光罩载台3螺纹连接，将遮光罩载台3及组合件与限位杆1组合在一起，调节好高度，用限位螺丝2紧固好，将sma光纤插芯插入sma插芯适配器。
29.本技术涉及到的电器元件均在市场上可以买到，均是现有技术，尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。