电流表测试装置及测试方法与流程

1.本技术涉及测试技术领域，尤其涉及一种电流表测试装置及测试方法。


背景技术：

2.现有的电流表中的采样电阻一般采用焊接工艺安装在电流表中。在电流表的批量生产过程中，基于焊接工艺所带来的加工误差，使得生产得到的电流表的采样电阻的电阻值与设计的标准电阻值相比，存在偏差，当偏差过大时，会导致电流表的测量误差变大，进而导致更大的电能计量误差。因此，在电流表投入到实际应用前会对其进行校正，剔除校正后测量误差仍大于允许误差范围的电流表。通过根据校正后的电流表的测量误差来剔除不合格的电流表的过程过于复杂，导致不合格电流表的筛选效率低下。


技术实现要素：

3.本技术的主要目的在于提供一种电流表测试装置及测试方法，旨在解决现有的不合格电流表的筛选效率低下的技术问题。
4.为实现上述目的，本技术提供一种电流表测试方法，包括以下步骤：
5.获取采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值；
6.根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；
7.将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；
8.当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率；
9.若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
10.可选地，所述电流表测试方法还包括以下步骤：
11.获取所述采样电阻的温度值；
12.基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值；
13.所述根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值的步骤，包括：
14.根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。
15.可选地，所述获取所述采样电阻的温度值的步骤，包括：
16.获取所述采样电阻通电状态下的热成像图；
17.对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值；
18.根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数；
19.基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。
20.可选地，所述对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值的步骤，包括：
21.将所述采样电阻通电状态下的热成像图分成若干子图；
22.对所述子图中的每一像素点进行色值提取处理，得到所述每一像素点的rgb色值；
23.对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心；
24.根据r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心，计算得到r色值、g色值和b色值各自对应的均值，作为所述子图的rgb色值；
25.根据预设的rgb色值与温度值的映射关系，确定所述子图的温度值；
26.计算若干所述子图的温度值的平均值，作为所述采样电阻的计算温度值。
27.可选地，所述对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心的步骤，包括：
28.初始化k个聚类中心；
29.将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算；
30.将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心；
31.重复将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算的步骤，以及将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心的步骤，直至聚类中心不再发生变化，得到r色值或g色值或b色值对应的若干个聚类中心。
32.可选地，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数的步骤，包括：
33.计算所述采样电阻通电状态下的图像的面积值，以及所述采样电阻未通电状态下的图像面积值；
34.求取所述采样电阻通电状态下的图像的面积值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值的差值，并将所述差值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
35.可选地，所述采样电阻上设有若干个特征点，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数的步骤，包括：
36.以所述采样电阻通电状态下的图像的中心点和所述采样电阻未通电状态下的图像为原点，构建二维坐标系；
37.计算所述采样电阻通电状态下的图像中的特征点与所述采样电阻未通电状态下的图像中相对应的特征点之间的距离，得到若干个所述特征点对应的距离值；
38.求取若干个所述特征点对应的距离值的总和值，并将所述总和值与所述采样电阻
未通电状态下的图像的轮廓周长值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
39.此外，为实现上述目的，本技术还提供一种电流表测试装置，适用于上述任意一项所述的方法，所述电流表测试装置包括：
40.电源接入接口，用于接入工作电源以给采样电阻提供电能；
41.电压检测模块，用于检测所述采样电阻两端的端电压；
42.电流检测模块，用于检测所述采样电阻的电流值；
43.微控制模块，所述微控制模块与所述电压检测模块和所述电流检测模块连接，所述微控制模块用于根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；还用于将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；还用于当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率，若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
44.可选地，所述电流表测试装置还包括：
45.温度检测模块，所述温度检测模块与所述微控制模块连接，用于获取所述采样电阻的温度值；
46.所述微控制模块还用于：基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值，并根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。
47.可选地，所述温度检测模块包括：
48.热成像单元，用于获取所述采样电阻通电状态下的热成像图；
49.图像单元，用以获取所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像；
50.微处理单元，所述微处理单元与所述热成像单元和所述图像单元连接，所述微处理单元用于对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值；还用于根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数；还用于基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。
51.本技术提供了一种电流表测试装置及测试方法，与现有技术中，不合格电流表的筛选效率低下相比，本技术通过获取采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值；根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率；若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格，基于多组采样电阻的端电压和电流值，确定多组测试中采样电阻合格的组次的占比，即可对电流表是否合格进行判断，降低了电流表的筛选难度，进而提高了电流表的筛选效率。
附图说明
52.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
53.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
54.图1为本技术电流表测试方法第一实施例的流程示意图；
55.图2为本技术电流表测试方法第二实施例的流程示意图；
56.图3为本技术电流表测试装置第一实施例的结构示意图。
57.本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
58.应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
59.本技术实施例提供了一种电流表测试方法，参照图1，图1为本技术电流表测试方法第一实施例的流程示意图。
60.在本实施例中，所述电流表测试方法包括：
61.步骤s10、获取采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值；
62.步骤s20、根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；
63.步骤s30、将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数，反之，则表示电流表测试通过，并更新或记录总次数；
64.步骤s40、当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率；
65.步骤s50、若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格，反之，则判定所述电流表合格。
66.需要说明的是，在本实施例中，预设的参数值可根据采样电阻的材质进行设置，在本实施例中不作限制；预设的次数阈值和预设的合格阈值可根据检测采样电阻两端的端电压的电压检测模块的精准度和检测采样电阻的电流值的电流检测模块的精准度进行设置，在本实施例中不作限制。其中，电压检测模块可以是电压表，也可以是电压检测电路；电流检测模块可以是电流表，也可以是电流检测电路。
67.在本实施例中，与现有技术中，不合格电流表的筛选效率低下相比，本实施例基于多组采样电阻的端电压和电流值，确定多组测试中采样电阻合格的组次的占比，即可对电流表是否合格进行判断，降低了电流表的筛选难度，进而提高了电流表的筛选效率。
68.本技术实施例还提供了一种电流表测试方法，参照图2，图2为本技术电流表测试方法第二实施例的流程示意图。
69.需要说明的是，在电流表测试方法第一实施例中，未考虑到采样电阻通电发热会消耗一部分的电流，使得通过电流检测模块检测到的电流值与实际流通采样电阻的电流值之间出现偏差。因此，在电流表测试方法第二实施例中需要根据采样电阻的温度值，对所述
采样电阻的电流值进行修正。
70.在本实施例中，所述电流表测试方法包括：
71.步骤s01、获取采样电阻两端的端电压、所述采样电阻的电流值和所述采样电阻的温度值。
72.进一步的，获取所述采样电阻的温度值的步骤，包括：
73.步骤s011、获取所述采样电阻通电状态下的热成像图。
74.步骤s012、对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值。
75.具体地，对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值的步骤，包括：
76.将所述采样电阻通电状态下的热成像图分成若干子图；
77.对所述子图中的每一像素点进行色值提取处理，得到所述每一像素点的rgb色值；
78.对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心；
79.根据r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心，计算得到r色值、g色值和b色值各自对应的均值，作为所述子图的rgb色值；
80.根据预设的rgb色值与温度值的映射关系，确定所述子图的温度值；
81.计算若干所述子图的温度值的平均值，作为所述采样电阻的计算温度值。
82.其中，所述对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心的步骤，包括：
83.初始化k个聚类中心；
84.将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算；
85.将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心；
86.重复将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算的步骤，以及将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心的步骤，直至聚类中心不再发生变化，得到r色值或g色值或b色值对应的若干个聚类中心。
87.需要说明的是，当确定r色值对应的若干个聚类中心时，可从所述每一像素点的r色值中随机选择k个色值作为初始化的k个聚类中心；当确定g色值对应的若干个聚类中心时，可从所述每一像素点的g色值中随机选择k个色值作为初始化的k个聚类中心；当确定b色值对应的若干个聚类中心时，可从所述每一像素点的b色值中随机选择k个色值作为初始化的k个聚类中心。
88.步骤s013、根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
89.需要说明的是，采样电阻通电发热时，由于与周围环境中的空气温度存在温差值，因此采样电阻会与周围环境中的空气发生热传导，导致通过热成像图获取的采样电阻的温度值存在偏差。因此，需通过采样电阻的膨胀值作为采样电阻的温度修正系数，对通过成像图获取的采样电阻的温度值进行修正。
90.需要说明的是，采样电阻通电状态下的图像和采样电阻未通电状态下的图像是由图像单元获取的，图像单元在本实施例中可以为摄像机，且摄像机在获取采样电阻通电状态下的图像时的拍摄位置、拍摄角度等与摄像机在获取采样电阻未通电状态下的图像时的拍摄位置、拍摄角度等是相同的。
91.进一步地，根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数有两种方式。
92.方式一：计算所述采样电阻通电状态下的图像的面积值，以及所述采样电阻未通电状态下的图像面积值；
93.求取所述采样电阻通电状态下的图像的面积值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值的差值，并将所述差值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
94.方式二：采样电阻上设有若干个特征点，以所述采样电阻通电状态下的图像的中心点和所述采样电阻未通电状态下的图像为原点，构建二维坐标系；
95.计算所述采样电阻通电状态下的图像中的特征点与所述采样电阻未通电状态下的图像中相对应的特征点之间的距离，得到若干个所述特征点对应的距离值；
96.求取若干个所述特征点对应的距离值的总和值，并将所述总和值与所述采样电阻未通电状态下的图像的轮廓周长值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
97.需要说明的是，由于采样电阻上设有若干特征点，因此采样电阻通电状态下的图像和采样电阻未通电状态下的图像中也呈现有若干所述特征点，在计算采样电阻通电状态下的图像中的特征点与采样电阻未通电状态下的图像中的特征点时，需要将特征点相对应。例如，采样电阻通电状态下的图像中的a特征点与采样电阻未通电状态下的图像中的a特征点相对应，无论是采样电阻通电状态下的图像中的a特征点，还是采样电阻未通电状态下的图像中的a特征点，均为采样电阻上的a特征点。
98.需要说明的是，采样电阻未通电状态下的图像的轮廓周长值即为采样电阻在其未通电状态下的图像中的外部边缘的长度值。
99.步骤s014、基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。
100.在本实施例中，可根据公式k＇＝k
×
(1+p)计算得到采样电阻的温度值，其中，k＇表征采样电阻的温度值，k表征采样电阻的计算温度值，p表征温度修正系数(膨胀值)。
101.步骤s02、基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值。
102.在本实施例中，根据采样电阻的温度值从预设的采样电阻的温度以及电流修正系数的对应关系表中查询得到对应于所述采样电阻的温度值的电流修正系数，以对采样电阻的电流值进行修正，得到采样电阻的修正电流值。其中，不同的采样电阻的温度对应不同的电流修正系数。
103.步骤s03、根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。
104.步骤s30、将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻
值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数。
105.步骤s40、当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率。
106.步骤s50、若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
107.本技术实施例还提供了一种电流表测试装置，参照图3，图3为本技术电流表测试装置第一实施例的结构示意图。
108.在本实施例中，所述电流表测试装置包括：
109.电源接入接口10，用于接入工作电源以给采样电阻提供电能；
110.电压检测模块20，用于检测所述采样电阻两端的端电压；
111.电流检测模块30，用于检测所述采样电阻的电流值；
112.微控制模块40，所述微控制模块与所述电压检测模块和所述电流检测模块连接，所述微控制模块用于根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值；还用于将所述采样电阻的电阻值与预设的参数值比较，若所述采样电阻的电阻值不在参数值的范围内，则表示电流表测试不通过，并更新或记录所述电流表的不通过次数和总次数；还用于当总次数到达预设的次数阈值时，将所述电流表的不通过次数与总次数相除，获得所述电流表的不合格率，若所述电流表的不合格率大于预设的合格阈值，则判定所述电流表不合格。
113.需要说明的是，由于本实施例中的采样电阻是电流表中的采样电阻，因此，工作电源优选市电。
114.在本实施例中，电压检测模块可以是电压表，也可以是电压检测电路；电流检测模块可以是电流表，也可以是电流检测电路。
115.可选地，所述电流表测试装置还包括：
116.温度检测模块50，所述温度检测模块与所述微控制模块连接，用于获取所述采样电阻的温度值；
117.所述微控制模块还用于：基于所述采样电阻的温度值，对所述采样电阻的电流值进行修正，得到所述采样电阻的修正电流值，并根据所述采样电阻两端的端电压和所述采样电阻的修正电流值，计算得到所述采样电阻的电阻值。
118.可选地，所述温度检测模块包括：
119.热成像单元，用于获取所述采样电阻通电状态下的热成像图；
120.图像单元，用以获取所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像；
121.微处理单元，所述微处理单元与所述热成像单元和所述图像单元连接，所述微处理单元用于对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电阻的计算温度值；还用于根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数；还用于基于所述温度修正系数对所述采样电阻的计算温度值进行修正，得到所述采样电阻的温度值。
122.可选地，所述对所述采样电阻通电状态下的热成像图分析计算，得到所述采样电
阻的计算温度值，包括：
123.将所述采样电阻通电状态下的热成像图分成若干子图；
124.对所述子图中的每一像素点进行色值提取处理，得到所述每一像素点的rgb色值；
125.对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心；
126.根据r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心，计算得到r色值、g色值和b色值各自对应的均值，作为所述子图的rgb色值；
127.根据预设的rgb色值与温度值的映射关系，确定所述子图的温度值；
128.计算若干所述子图的温度值的平均值，作为所述采样电阻的计算温度值。
129.可选地，所述对所述每一像素点的rgb色值进行均值聚类，得到r色值、g色值和b色值各自对应的若干个聚类中心，包括：
130.初始化k个聚类中心；
131.将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算；
132.将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心；
133.重复将所述每一像素点的r色值或g色值或b色值，按照最小距离的原则，将其分配到最小距离所对应的聚类中心所在的聚类集合中，其中距离采用欧氏距离进行计算的步骤，以及将每个聚类集合中所有的r色值或g色值或b色值的均值作为新的聚类中心的步骤，直至聚类中心不再发生变化，得到r色值或g色值或b色值对应的若干个聚类中心。
134.可选地，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数，包括：
135.计算所述采样电阻通电状态下的图像的面积值，以及所述采样电阻未通电状态下的图像面积值；
136.求取所述采样电阻通电状态下的图像的面积值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值的差值，并将所述差值与所述采样电阻未通电状态下的图像的面积值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
137.可选地，所述采样电阻上设有若干个特征点，所述根据所述采样电阻通电状态下的图像和所述采样电阻未通电状态下的图像，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数，包括：
138.以所述采样电阻通电状态下的图像的中心点和所述采样电阻未通电状态下的图像为原点，构建二维坐标系；
139.计算所述采样电阻通电状态下的图像中的特征点与所述采样电阻未通电状态下的图像中相对应的特征点之间的距离，得到若干个所述特征点对应的距离值；
140.求取若干个所述特征点对应的距离值的总和值，并将所述总和值与所述采样电阻未通电状态下的图像的轮廓周长值相除，得到所述采样电阻的膨胀值作为所述采样电阻的温度修正系数。
141.本技术电流表测试装置具体实施方式与上述电流表测试方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
142.本技术实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有电流表测试程序，所
述电流表测试程序被处理器执行时实现如上所述的电流表测试方法的步骤。
143.本技术存储介质具体实施方式与上述电流表测试方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
144.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
145.上述本技术实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
146.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述的方法。
147.以上仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。