一种磁共振检测成像系统的制作方法

1.本发明涉及磁共振成像技术领域，尤其涉及一种磁共振检测成像系统。


背景技术：

2.磁共振成像又称自旋成像，是利用核磁共振原理，依据所释放的能量在物质内部不同结构环境中不同的衰减，通过外加梯度磁场检测所发射出的电磁波，即可得知构成这一物体原子核的位置和种类，据此可以绘制成物体内部的结构图像。
3.中国专利公开号：cn104950271b。公开了一种磁共振成像系统的接收机和磁共振成像系统；由此可见，现有技术中采用接收机对检测的磁共振信号进行直接的接受与转换，未对磁共振信号中各位置发出的电磁波相互影响进行消除，导致接收的磁共振信号与实际检测存在差异，使图像成像存在偏差。


技术实现要素：

4.为此，本发明提供一种磁共振检测成像系统，用以克服现有技术中各位置的磁共振信号相互影响未消除的问题。
5.为实现上述目的，本发明提供一种磁共振检测成像系统，包括，
6.采集单元，其与磁共振设备相连，所述采集单元用以采集磁共振设备检测到的磁共振信号；
7.模拟单元，其与所述采集单元和所述磁共振设备分别相连，所述模拟单元能够将采集单元采集的磁共振信号进行分解，模拟单元并根据磁共振设备检测的位置与分解的磁共振信号创建位置信号图，位置信号图中有若干个信号点，其中每一个信号点都有一个对应的磁共振信号；
8.处理单元，其与所述模拟单元相连，所述处理单元能够将位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，处理单元根据内部设置的第一影响距离与第二影响距离，判定位置信号图中除基点以外的任意一信号点为一级影响点、二级影响点或低级影响点，处理单元能够根据内部设置的标准的一级影响点数范围与获取的一级影响点数，判定是否对基点的信号强度进行修正；所述处理单元还能够根据基点信号强度与各一级影响点的平均信号强度，判定是否对基点的信号强度进行修正，在对基点的信号强度进行修正时，处理单元能够根据各一级影响点的信号强度、各一级影响点距基点的直线距离、各一级影响点数、各二级影响点数以及各二级影响点的信号强度对基点的信号强度进行修正；
9.成像单元，其与所述处理单元相连，在处理单元将位置信号图中全部信号点的信号强度完成修正时，所述成像单元根据完成修正各信号点的信号强度的位置信号图，进行信号强度对应灰阶值的转换，完成磁共振的成像。
10.进一步地，所述处理单元内设有第一影响距离l1与第二影响距离l2，其中，l1＜l2，处理单元对位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，处理单元确定位置信号图中除基点以外的任意一信号点作为检测点，处理单元获取检测点与基点之间的直线距离
ls，处理单元将直线距离ls与第一影响距离l1和第二影响距离l2进行对比，
11.当ls≤l1时，所述处理单元判定检测点的直线距离在第一影响距离内，处理单元将检测点判定为一级影响点；
12.当l1＜ls≤l2时，所述处理单元判定检测点的直线距离高于第一影响距离但未超出第二影响距离，处理单元将检测点判定为二级影响点；
13.当ls＞l2时，所述处理单元判定检测点的直线距离高于第二影响距离，处理单元将检测点判定为低级影响点，处理单元不根据检测点对基点的信号强度进行修正。
14.进一步地，所述处理单元中设有标准一级影响点数db与标准一级影响点数差δdb，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各一级影响点，并计算得出一级影响点数d1，处理单元根据一级影响点数d1与标准一级影响点数db计算一级影响点数差δd1，δd1＝|db-d1|，处理单元将一级影响点数差δd1与标准一级影响点数差δdb进行对比，
15.当δd1≤δdb时，所述处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差，处理单元将对各一级影响点平均信号强度进行判定，以确定是否对基点的信号强度进行修正；
16.当δd1＞δdb时，所述处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差，处理单元将一级影响点数与标准一级影响点数进行对比，以确定一级影响点对基点的影响。
17.进一步地，当所述处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差时，处理单元将一级影响点数d1与标准一级影响点数db进行对比，
18.当d1＜db时，所述处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数，处理单元将各一级影响点的信号强度与各一级影响点距基点的直线距离，对基点的信号强度进行修正；
19.当d1＞db时，所述处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度对基点的信号强度进行修正。
20.进一步地，所述处理单元内设有调差信号强度qt，当所述处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差时，处理单元检测基点的基点信号强度qj，处理单元计算各一级影响点的平均信号强度qp，处理单元根据调差信号强度qt与平均信号强度qp计算低平均信号强度qp1与高平均信号强度qp2，其中，qp1＝qp-qt，qp2＝qp+qt，处理单元将基点信号强度qj与低平均信号强度qp1和高平均信号强度qp2进行对比，
21.当qj＜qp1时，所述处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各二级影响点，处理单元根据各二级影响点确定是否对基点的信号强度进行修正；
22.当qp1≤qj≤qp2时，所述处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强度之间，处理单元将根据各一级影响点的平均信号强度qp对基点的信号强度进行修正；
23.当qj＞qp2时，所述处理单元判定基点信号强度高于高平均信号强度，处理单元不对基点的信号强度进行修正。
24.进一步地，当所述处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强
度之间时，处理单元根据一级影响点数d1与各一级影响点的平均信号强度qp将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-(qp
×
d1)/(d1)
2-qa，其中，qa为叠加信号强度补充参数。
25.进一步地，当所述处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数时，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元再获取各一级影响点距基点的直线距离ls1、ls2、ls3...lsd1，处理单元根据各一级影响点的信号强度与各一级影响点距基点的直线距离将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-[(q1/ls1)+(q2/ls2)+(q3/ls3)+...(qd1/lsd1)]/d1
×
l1。
[0026]
进一步地，当所述处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数时，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-{[q1/(l1/2
×
√2)]+[q2/(l1/2
×
√2)]+[q3/(l1/2
×
√2)]+...[qd1/(l1/2
×
√2)]}/d1
×
(l1/2
×
√2)。
[0027]
进一步地，当所述处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度时，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各二级影响点，处理单元计算各二级影响点的平均信号强度qe，处理单元将二级影响点的平均信号强度qe与一级影响点的平均信号强度qp进行对比，
[0028]
当qe≤qp时，所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度未超过一级影响点的平均信号强度，处理单元不对基点的信号强度进行修正；
[0029]
当qe＞qp时，所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度，处理单元将根据各一级影响点与各二级影响点对基点的信号强度进行修正。
[0030]
进一步地，当所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，处理单元将获取二级影响点数d2，处理单元即将一级影响点数d1与二级影响点数d2进行对比，
[0031]
当d2≤d1时，所述处理单元判定二级影响点数未超过一级影响点数，处理单元将获取各一级影响点与各二级影响点的信号强度qu1、qu2、qu3...qud1+d2，处理单元将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-[(qu1/l1)+(qu2/l1)+(qu3/l1)+...(qud1+d2/l1]/(d1+d2)
×
l1；
[0032]
当d2＞d1时，所述处理单元判定二级影响点数超过一级影响点数，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-{[q1/(l1/2
×
√2)]+[q2/(l1/2
×
√2)]+[q3/(l1/2
×
√2)]+...[qd1/(l1/2
×
√2)]}/d1
×
(l1/2
×
√2)。
[0033]
与现有技术相比，本发明的有益效果在于，通过设置采集单元采集磁共振设备检测到的磁共振信号，通过设置模拟单元将磁共振信号进行分解，并按照信号点的位置与信号强度创建位置信号图，通过设置处理单元对位置信号图进行各信号点的依次修正，并根据各信号点的位置确定影响区域，通过各区域信号点的数量进行修正判定，再结合各影响点与待修正点间的距离、各区域信号点的数量以及各存在影响信号点的信号强度，对待修正点进行精准的去影响修正，利用消除磁共振信号中电磁波相互影响的方式，保障了磁共振信号的准确性，使磁共振成像更精准。
[0034]
尤其，在位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，通过在处理单元内设置第一影响距离与第二影响距离，使基点在位置信号图中确定第一影响区域与第二影响区
域，通过对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行第一影响距离与第二影响距离的检测，确定一级影响点与二级影响点，当处理单元判定检测点的直线距离高于第二影响距离时，表示检测点与基点距离较远，对基点信号强度的影响可以忽略，因此将该检测点判定为低级影响点，不根据该检测点对基点的信号强度进行修正，减少了处理的运算量，提高了基点信号强度修正的效率。
[0035]
进一步地，通过在处理单元中设有标准一级影响点数与标准一级影响点数差，并根据根据一级影响点数与标准一级影响点数计算一级影响点数差，将一级影响点数差δ与标准一级影响点数差进行对比，能够将达到标准的一级影响点数确定在一个范围内，允许标准状态下的微小差异，避免进行重复判定，提高了基点信号强度修正的效率。
[0036]
进一步地，在处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差时，处理单元将一级影响点数与标准一级影响点数进行对比，在一级影响点数低于标准一级影响点数时，表示对基点的信号强度产生较大影响的信号点较少，因此，通过各个信号点的信号强度与直线距离对基点的信号强度进行修正，在一级影响点数高于标准一级影响点数时，表示对基点的信号强度产生较大影响的信号点较多，若通过各个点的直线距离进行修正数量较大，因此通过数量与信号强度对基点的信号强度进行修正，实现了快速消除各位置的磁共振信号相互影响，使磁共振成像更精准。
[0037]
尤其，在处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差时，通过将基点的信号强度与一级影响点的平均信号强度延伸出的调差范围进行对比，能够清晰的确定检测的基点信号强度在附近位置中的整体情况，同时在处理单元判定基点信号强度高于高平均信号强度时，表示该基点的自身的信号强度较强，受到一级影响区的信号点影响也相对较小，因此不对基点的信号强度进行修正，减少基点的判定，提高了磁共振成像的效率。
[0038]
进一步地，在处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强度之间时，表示基点的信号强度与周围的一级影响区较相似，因此直接通过一级影响点数与平均信号强度对基点的信号强度进行修正，快速消除信号干扰影响。
[0039]
进一步地，在处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数时，表示一级影响区域内的点较少，为了避免出现一信号点具有较大的信号强度产生单体影响，因此获取各一级影响点的信号强度与直线距离，进行逐一计算，精准的消除了一级影响点对基点的信号强度干扰。
[0040]
进一步地，在处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数时，表示一级影响区域中的信号点较多，若通过逐一的位置获取进行直线距离的运算，会导致成像缓慢，同时在一级影响区域的信号点较多时，其们分布也较为均匀，因此采用二分之根号二倍半径的面积等分作为各信号点的同一直线距离，快速的进行信号强度修正，保障了磁共振成像的成像速度。
[0041]
尤其，在处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度时，考虑到一级影响区内的信号点相互影响较小或是基点的信号强度自身较小两种情况，因此将一级影响点的平均信号强度与二级影响点的平均信号强度进行对比，当二级影响点的平均信号强度未超过一级影响点的平均信号强度时，表示各一级影响点间的相互影响较小，因此不对基点的信号强度进行修正，在二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，表示基点的自身信号强度较小，因此对其进行修正，保障了磁共振成像的正常运行。
[0042]
进一步地，在二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，根据一级影响点数与二级影响点数对基点的信号强度采取不同方式的修正，当二级影响点数未超过一级影响点数时，表示二级影响区域内，信号点数量不多，但平均信号强度较高，存在单体影响的极强信号点，因此同时获取各一级影响点与各二级影响点的信号强度，对基点的信号强度进行修正，保障了信号强度进行修正的准确性，提高了磁共振成像的准确性。
附图说明
[0043]
图1为本实施例所述磁共振检测成像系统的结构示意图。
具体实施方式
[0044]
为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。
[0045]
下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。
[0046]
需要说明的是，在本发明的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0047]
此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0048]
请参阅图1所示，其为本实施例所述磁共振检测成像系统的结构示意图，本实施例公布了一种磁共振检测成像系统，包括，
[0049]
采集单元，其与磁共振设备相连，所述采集单元用以采集磁共振设备检测到的磁共振信号；
[0050]
模拟单元，其与所述采集单元和所述磁共振设备分别相连，所述模拟单元能够将采集单元采集的磁共振信号进行分解，模拟单元并根据磁共振设备检测的位置与分解的磁共振信号创建位置信号图，位置信号图中有若干个信号点，其中每一个信号点都有一个对应的磁共振信号；
[0051]
处理单元，其与所述模拟单元相连，所述处理单元能够将位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，处理单元根据内部设置的第一影响距离与第二影响距离，判定位置信号图中除基点以外的任意一信号点为一级影响点、二级影响点或低级影响点，处理单元能够根据内部设置的标准的一级影响点数范围与获取的一级影响点数，判定是否对基点的信号强度进行修正；所述处理单元还能够根据基点信号强度与各一级影响点的平均信号强度，判定是否对基点的信号强度进行修正，在对基点的信号强度进行修正时，处理单元能够根据各一级影响点的信号强度、各一级影响点距基点的直线距离、各一级影响点数、各二级影响点数以及各二级影响点的信号强度对基点的信号强度进行修正；
[0052]
成像单元，其与所述处理单元相连，在处理单元将位置信号图中全部信号点的信号强度完成修正时，所述成像单元根据完成修正各信号点的信号强度的位置信号图，进行信号强度对应灰阶值的转换，完成磁共振的成像。
[0053]
通过设置采集单元采集磁共振设备检测到的磁共振信号，通过设置模拟单元将磁共振信号进行分解，并按照信号点的位置与信号强度创建位置信号图，通过设置处理单元对位置信号图进行各信号点的依次修正，并根据各信号点的位置确定影响区域，通过各区域信号点的数量进行修正判定，再结合各影响点与待修正点间的距离、各区域信号点的数量以及各存在影响信号点的信号强度，对待修正点进行精准的去影响修正，利用消除磁共振信号中电磁波相互影响的方式，保障了磁共振信号的准确性，使磁共振成像更精准。
[0054]
具体而言，所述处理单元内设有第一影响距离l1与第二影响距离l2，其中，l1＜l2，l1＜l2
×
(√2/2)，处理单元对位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，处理单元确定位置信号图中除基点以外的任意一信号点作为检测点，处理单元获取检测点与基点之间的直线距离ls，处理单元将直线距离ls与第一影响距离l1和第二影响距离l2进行对比，
[0055]
当ls≤l1时，所述处理单元判定检测点的直线距离在第一影响距离内，处理单元将检测点判定为一级影响点；
[0056]
当l1＜ls≤l2时，所述处理单元判定检测点的直线距离高于第一影响距离但未超出第二影响距离，处理单元将检测点判定为二级影响点；
[0057]
当ls＞l2时，所述处理单元判定检测点的直线距离高于第二影响距离，处理单元将检测点判定为低级影响点，处理单元不根据检测点对基点的信号强度进行修正。
[0058]
在位置信号图中任意一信号点作为基点进行检测，通过在处理单元内设置第一影响距离与第二影响距离，使基点在位置信号图中确定第一影响区域与第二影响区域，通过对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行第一影响距离与第二影响距离的检测，确定一级影响点与二级影响点，当处理单元判定检测点的直线距离高于第二影响距离时，表示检测点与基点距离较远，对基点信号强度的影响可以忽略，因此将该检测点判定为低级影响点，不根据该检测点对基点的信号强度进行修正，减少了处理的运算量，提高了基点信号强度修正的效率。
[0059]
具体而言，所述处理单元中设有标准一级影响点数db与标准一级影响点数差δdb，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各一级影响点，并计算得出一级影响点数d1，处理单元根据一级影响点数d1与标准一级影响点数db计算一级影响点数差δd1，δd1＝|db-d1|，处理单元将一级影响点数差δd1与标准一级影响点数差δdb进行对比，
[0060]
当δd1≤δdb时，所述处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差，处理单元将对各一级影响点平均信号强度进行判定，以确定是否对基点的信号强度进行修正；
[0061]
当δd1＞δdb时，所述处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差，处理单元将一级影响点数与标准一级影响点数进行对比，以确定一级影响点对基点的影响。
[0062]
通过在处理单元中设有标准一级影响点数与标准一级影响点数差，并根据根据一
级影响点数与标准一级影响点数计算一级影响点数差，将一级影响点数差δ与标准一级影响点数差进行对比，能够将达到标准的一级影响点数确定在一个范围内，允许标准状态下的微小差异，避免进行重复判定，提高了基点信号强度修正的效率。
[0063]
具体而言，当所述处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差时，处理单元将一级影响点数d1与标准一级影响点数db进行对比，
[0064]
当d1＜db时，所述处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数，处理单元将各一级影响点的信号强度与各一级影响点距基点的直线距离，对基点的信号强度进行修正；
[0065]
当d1＞db时，所述处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度对基点的信号强度进行修正。
[0066]
在处理单元判定一级影响点数差超出标准一级影响点数差时，处理单元将一级影响点数与标准一级影响点数进行对比，在一级影响点数低于标准一级影响点数时，表示对基点的信号强度产生较大影响的信号点较少，因此，通过各个信号点的信号强度与直线距离对基点的信号强度进行修正，在一级影响点数高于标准一级影响点数时，表示对基点的信号强度产生较大影响的信号点较多，若通过各个点的直线距离进行修正数量较大，因此通过数量与信号强度对基点的信号强度进行修正，实现了快速消除各位置的磁共振信号相互影响，使磁共振成像更精准。
[0067]
具体而言，所述处理单元内设有调差信号强度qt，当所述处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差时，处理单元检测基点的基点信号强度qj，处理单元计算各一级影响点的平均信号强度qp，处理单元根据调差信号强度qt与平均信号强度qp计算低平均信号强度qp1与高平均信号强度qp2，其中，qp1＝qp-qt，qp2＝qp+qt，处理单元将基点信号强度qj与低平均信号强度qp1和高平均信号强度qp2进行对比，
[0068]
当qj＜qp1时，所述处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各二级影响点，处理单元根据各二级影响点确定是否对基点的信号强度进行修正；
[0069]
当qp1≤qj≤qp2时，所述处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强度之间，处理单元将根据各一级影响点的平均信号强度qp对基点的信号强度进行修正；
[0070]
当qj＞qp2时，所述处理单元判定基点信号强度高于高平均信号强度，处理单元不对基点的信号强度进行修正。
[0071]
在处理单元判定一级影响点数差未超出标准一级影响点数差时，通过将基点的信号强度与一级影响点的平均信号强度延伸出的调差范围进行对比，能够清晰的确定检测的基点信号强度在附近位置中的整体情况，同时在处理单元判定基点信号强度高于高平均信号强度时，表示该基点的自身的信号强度较强，受到一级影响区的信号点影响也相对较小，因此不对基点的信号强度进行修正，减少基点的判定，提高了磁共振成像的效率。
[0072]
具体而言，当所述处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强度之间时，处理单元根据一级影响点数d1与各一级影响点的平均信号强度qp将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-(qp
×
d1)/(d1)
2-qa，其中，qa为叠加信号强度补充参数。
[0073]
在处理单元判定基点信号强度在低平均信号强度与高平均信号强度之间时，表示
基点的信号强度与周围的一级影响区较相似，因此直接通过一级影响点数与平均信号强度对基点的信号强度进行修正，快速消除信号干扰影响。
[0074]
具体而言，当所述处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数时，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元再获取各一级影响点距基点的直线距离ls1、ls2、ls3...lsd1，处理单元根据各一级影响点的信号强度与各一级影响点距基点的直线距离将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-[(q1/ls1)+(q2/ls2)+(q3/ls3)+...(qd1/lsd1)]/d1
×
l1。
[0075]
在处理单元判定一级影响点数低于标准一级影响点数时，表示一级影响区域内的点较少，为了避免出现一信号点具有较大的信号强度产生单体影响，因此获取各一级影响点的信号强度与直线距离，进行逐一计算，精准的消除了一级影响点对基点的信号强度干扰。
[0076]
具体而言，当所述处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数时，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-{[q1/(l1/2
×
√2)]+[q2/(l1/2
×
√2)]+[q3/(l1/2
×
√2)]+...[qd1/(l1/2
×
√2)]}/d1
×
(l1/2
×
√2)。
[0077]
在处理单元判定一级影响点数高于标准一级影响点数时，表示一级影响区域中的信号点较多，若通过逐一的位置获取进行直线距离的运算，会导致成像缓慢，同时在一级影响区域的信号点较多时，其们分布也较为均匀，因此采用二分之根号二倍半径的面积等分作为各信号点的同一直线距离，快速的进行信号强度修正，保障了磁共振成像的成像速度。
[0078]
具体而言，当所述处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度时，处理单元对位置信号图中除基点以外的全部信号点进行判定，确定出各二级影响点，处理单元计算各二级影响点的平均信号强度qe，处理单元将二级影响点的平均信号强度qe与一级影响点的平均信号强度qp进行对比，
[0079]
当qe≤qp时，所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度未超过一级影响点的平均信号强度，处理单元不对基点的信号强度进行修正；
[0080]
当qe＞qp时，所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度，处理单元将根据各一级影响点与各二级影响点对基点的信号强度进行修正。
[0081]
在处理单元判定基点信号强度低于低平均信号强度时，考虑到一级影响区内的信号点相互影响较小或是基点的信号强度自身较小两种情况，因此将一级影响点的平均信号强度与二级影响点的平均信号强度进行对比，当二级影响点的平均信号强度未超过一级影响点的平均信号强度时，表示各一级影响点间的相互影响较小，因此不对基点的信号强度进行修正，在二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，表示基点的自身信号强度较小，因此对其进行修正，保障了磁共振成像的正常运行。
[0082]
具体而言，当所述处理单元判定二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，处理单元将获取二级影响点数d2，处理单元即将一级影响点数d1与二级影响点数d2进行对比，
[0083]
当d2≤d1时，所述处理单元判定二级影响点数未超过一级影响点数，处理单元将获取各一级影响点与各二级影响点的信号强度qu1、qu2、qu3...qud1+d2，处理单元将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-[(qu1/l1)+(qu2/l1)+(qu3/l1)+...(qud1+d2/l1]/(d1+
d2)
×
l1；
[0084]
当d2＞d1时，所述处理单元判定二级影响点数超过一级影响点数，处理单元将获取各一级影响点的信号强度q1、q2、q3...qd1，处理单元将根据一级影响点数与各一级影响点的信号强度将基点的信号强度修正为qj’，qj’＝qj-{[q1/(l1/2
×
√2)]+[q2/(l1/2
×
√2)]+[q3/(l1/2
×
√2)]+...[qd1/(l1/2
×
√2)]}/d1
×
(l1/2
×
√2)。
[0085]
在二级影响点的平均信号强度超过一级影响点的平均信号强度时，根据一级影响点数与二级影响点数对基点的信号强度采取不同方式的修正，当二级影响点数未超过一级影响点数时，表示二级影响区域内，信号点数量不多，但平均信号强度较高，存在单体影响的极强信号点，因此同时获取各一级影响点与各二级影响点的信号强度，对基点的信号强度进行修正，保障了信号强度进行修正的准确性，提高了磁共振成像的准确性。
[0086]
至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。
[0087]
以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明；对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。