霍尔器件测试系统及测试方法与流程

1.本公开涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种霍尔器件测试系统及测试方法。


背景技术：

2.现有技术中，霍尔器件的产品在生产时需要经历一次正常测试，之后再切换至带磁场的设备上经历一次测试，即，通过切换不同的测试环境，来完成霍尔器件产品的测试要求。由于现有技术只能利用不同的测试设备提供不同的测试条件，因此，对于不同的产品，只能通过手工拆装的方式，利用不同的机械结构将对应的产品切换至不同的测试设备，从而完成产品在不同测试条件下的测试。
3.然而，上述手工拆装的方式需要倚重技术人员的专业能力，存在上错料的风险，不利于管控，且设备调试时间较长，导致人力成本和时间成本均较高，大大降低了产出效率，还会提高设备的故障率。并且，为了使不同的待测产品均能够加载至测试设备，还需要准备与不同的待测产品相匹配的多套机械结构，导致设备成本较高。


技术实现要素：

4.本公开旨在至少解决现有技术中存在的问题之一，提供一种霍尔器件测试系统及测试方法。
5.本公开的一个方面，提供一种霍尔器件测试系统，所述测试系统包括控制单元、有磁场的第一测试座、无磁场的第二测试座、测试装置和传送装置，其中：
6.所述控制单元分别与所述第一测试座、所述第二测试座、所述测试装置、所述传送装置通讯连接；
7.所述第一测试座和所述第二测试座，分别用于承载待测霍尔器件；
8.所述控制单元，用于控制所述测试装置分别对所述第一测试座和所述第二测试座上的所述待测霍尔器件进行测试；
9.所述传送装置，用于在所述控制单元的控制下，将所述待测霍尔器件在所述第一测试座和所述第二测试座之间进行传送。
10.可选的，所述控制单元，具体还用于：
11.控制所述测试装置对所述第一测试座上的所述待测霍尔器件进行有磁场测试；以及，
12.在所述待测霍尔器件的有磁场测试结果为良品时，控制所述传送装置将所述待测霍尔器件传送至所述第二测试座，以控制所述测试装置对所述待测霍尔器件进行无磁场测试。
13.可选的，所述控制单元，具体还用于：
14.在所述有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品时，根据所述有磁场测试的测试数据和所述无磁场测试的测试数据，确定所述待测霍尔器件的最终测试结果。
15.可选的，所述控制单元，具体还用于：
16.将所述有磁场测试的测试数据和所述无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较：
17.若所述运算结果超出所述限值范围，则将所述最终测试结果确定为不良品；
18.若所述运算结果未超出所述限值范围，则将所述最终测试结果确定为良品。
19.可选的，所述第二测试座还用于：在所述控制单元控制所述测试装置对所述待测霍尔器件进行所述无磁场测试之前，对所述待测霍尔器件进行消磁处理。
20.本公开的另一个方面，提供一种霍尔器件测试方法，采用前文记载的霍尔器件测试系统；所述测试方法包括：
21.所述控制单元控制所述测试装置分别对所述第一测试座和所述第二测试座上的所述待测霍尔器件进行测试；以及，
22.所述控制单元控制所述传送装置将所述待测霍尔器件在所述第一测试座和所述第二测试座之间进行传送。
23.可选的，所述控制单元控制所述测试装置分别对所述第一测试座和所述第二测试座上的所述待测霍尔器件进行测试，包括：
24.所述控制单元控制所述测试装置对所述第一测试座上的所述待测霍尔器件进行有磁场测试；
25.在所述待测霍尔器件的有磁场测试结果为良品时，所述控制单元控制所述传送装置将所述待测霍尔器件传送至所述第二测试座，并控制所述测试装置对所述待测霍尔器件进行无磁场测试。
26.可选的，在所述控制单元控制所述测试装置对所述待测霍尔器件进行无磁场测试之后，所述测试方法还包括：
27.在所述有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品时，所述控制单元根据所述有磁场测试的测试数据和所述无磁场测试的测试数据，确定所述待测霍尔器件的最终测试结果。
28.可选的，所述控制单元根据所述有磁场测试的测试数据和所述无磁场测试的测试数据，确定所述待测霍尔器件的最终测试结果，包括：
29.所述控制单元将所述有磁场测试的测试数据和所述无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较：
30.若所述运算结果超出所述限值范围，则将所述最终测试结果确定为不良品；
31.若所述运算结果未超出所述限值范围，则将所述最终测试结果确定为良品。
32.可选的，在所述控制单元控制所述测试装置对所述待测霍尔器件进行无磁场测试之前，所述第二测试座对所述待测霍尔器件进行消磁处理。
33.本公开的霍尔器件测试系统，结构简单，自动化程度高。产率方面，本公开通过控制单元可实现测试环境的自动切换，无需人工拆换机械装置，大大提高了产出效率。成本方面，本公开利用一个测试装置即可完成待测霍尔器件在有无磁场两个环境下的测试，从而大大降低了测试成本。质量方面，本公开可以避免手工拆装带来的上错料风险，从而有效防止产品误测试，大大提高了产出质量。
附图说明
34.一个或多个实施方式通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施方式的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
35.图1为本公开一实施方式提供的一种霍尔器件测试系统的通讯连接关系示意图；
36.图2为本公开另一实施方式提供的一种霍尔器件测试方法的流程图。
具体实施方式
37.为使本公开实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本公开各实施方式中，为了使读者更好地理解本公开而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本公开所要求保护的技术方案。以下各个实施方式的划分是为了描述方便，不应对本公开的具体实现方式构成任何限定，各个实施方式在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
38.如图1所示，本公开的一个实施方式涉及一种霍尔器件测试系统100，包括控制单元110、有磁场的第一测试座120、无磁场的第二测试座130、测试装置140和传送装置150。控制单元110分别与第一测试座120、第二测试座130、测试装置140、传送装置150通讯连接。
39.第一测试座120和第二测试座130分别用于承载待测霍尔器件。第一测试座120中可以设置有磁场产生模块，以通过磁场产生模块为待测霍尔器件提供有磁场测试环境。
40.需要说明的是，本实施方式并不对第一测试座和第二测试座的具体结构和形状进行限制，只要能够承载待测霍尔器件，并分别提供有磁场环境和无磁场环境即可。
41.需要进一步说明的是，本实施方式并不对第一测试座和第二测试座的排布顺序进行限制，例如，第一测试座和第二测试座可以串行排布，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择。
42.控制单元110，用于控制测试装置140分别对第一测试座120和第二测试座130上的待测霍尔器件进行测试。
43.需要说明的是，控制单元110可以首先控制测试装置140对第一测试座120上的待测霍尔器件进行测试，即首先控制测试装置140在有磁场环境下对待测霍尔器件进行测试，之后，再控制测试装置140对第二测试座130上的待测霍尔器件进行测试，即再控制测试装置140在无磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。
44.或者，控制单元120也可以首先控制测试装置140对第二测试座130上的待测霍尔器件进行测试，即首先控制测试装置140在无磁场环境下对待测霍尔器件进行测试，之后，再控制测试装置140对第一测试座120上的待测霍尔器件进行测试，即再控制测试装置140在有磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。
45.本实施方式并不对有磁场测试和无磁场测试的先后顺序进行限制，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择。
46.需要进一步说明的是，测试装置140可以是能够直接对待测霍尔器件进行测试的设备，也可以是在其他测试设备的基础上添加继电器、电阻、电容等元器件后能够对待测霍尔器件进行测试的设备，本实施方式对此并不限制。
47.传送装置150用于在控制单元110的控制下，将待测霍尔器件在第一测试座120和第二测试座130之间进行传送。
48.例如，在先进行有磁场测试、后进行无磁场测试时，传送装置150可以将待测霍尔器件由第一测试座120传送至第二测试座130。相应的，在先进行无磁场测试、后进行有磁场测试时，传送装置150还可以将待测霍尔器件由第二测试座130传送至第一测试座120。
49.需要说明的是，传送装置150还可以在控制单元110的控制下，将有磁场测试或无磁场测试的测试结果为不良品的待测霍尔器件传送至预设的存放装置如不良品盒。
50.需要进一步说明的是，传送装置可以是机械手，也可以是其他能够实现传送功能的装置，本实施方式对此并不限制。
51.本公开实施方式提供的霍尔器件测试系统，将控制单元分别与有磁场的第一测试座、无磁场的第二测试座、测试装置和传送装置通讯连接，结构简单，自动化程度高。产率方面，本实施方式提供的霍尔器件测试系统可以通过控制单元自动实现测试环境的切换，无需人工拆换机械装置，大大提高了产出效率。成本方面，本实施方式提供的霍尔器件测试系统利用一个测试装置即可完成待测霍尔器件在有无磁场两个环境下的测试，从而大大降低了测试成本。质量方面，本实施方式提供的霍尔器件测试系统可以避免手工拆装带来的上错料风险，从而有效防止产品误测试，大大提高了产出质量。
52.示例性的，控制单元110具体还用于控制测试装置140对第一测试座120上的待测霍尔器件进行有磁场测试。在待测霍尔器件的有磁场测试结果为良品时，控制单元110控制传送装置150将待测霍尔器件传送至第二测试座130，以控制测试装置140对待测霍尔器件进行无磁场测试。
53.具体的，在先进行有磁场测试、后进行无磁场测试时，为了提高测试效率，可以仅对有磁场测试结果为良品的待测霍尔器件进行无磁场测试，从而避免对有磁场测试结果为不良品的待测霍尔器件进行无磁场测试造成的测试资源的浪费。
54.示例性的，控制单元110具体还用于：在有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品时，根据有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据，确定待测霍尔器件的最终测试结果。
55.具体的，有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品，并不能说明对应的待测霍尔器件一定为良品。因此，可以通过对有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据进行综合分析，确定出待测霍尔器件属于良品还是不良品，得到待测霍尔器件的最终测试结果。
56.示例性的，控制单元110在根据有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据，确定待测霍尔器件的最终测试结果时，可以将有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较：若运算结果超出限值范围，则将最终测试结果确定为不良品；若运算结果未超出限值范围，则将最终测试结果确定为良品。
57.具体的，预设的运算规则可以是加法、减法等运算，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择，当然，预设的运算规则也可以是加法、减法之外的其他运算，本实施方式对此并不限制。预设的限值范围与预设的运算规则相对应。例如，当预设的运算规则为减法时，预设的限值范围可以是有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值的
限值范围。此时，若有磁场测试的测试数据为5，无磁场测试的测试数据为10，则有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值即为5，当预设的限制范围为[0，10]，由于5没有超出[0，10]的范围，因此，待测霍尔器件的最终测试结果即为良品。若有磁场测试的测试数据为5，无磁场测试的测试数据为100，则有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值即为95，当预设的限制范围为[0，10]，由于95超出了[0，10]的范围，因此，待测霍尔器件的最终测试结果即为不良品。
[0058]
通过利用控制单元将有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较，根据比较结果确定待测霍尔器件的最终测试结果，可以提高对待测霍尔器件进行测试的准确率，从而进一步提高产出质量。
[0059]
示例性的，在先进行有磁场测试、后进行无磁场测试时，由于待测霍尔器件在从有磁场环境中出来之后，可能还会带有一定磁性，因此，第二测试座130还可以用于在控制单元110控制测试装置140对待测霍尔器件进行无磁场测试之前，对待测霍尔器件进行消磁处理，从而使待测霍尔器件在进行无磁场测试时完全处于无磁场环境，避免无磁场测试的测试数据受到磁场影响。
[0060]
示例性的，第二测试座130中可以设置消磁模块，以通过消磁模块对待测霍尔器件进行消磁处理。
[0061]
本公开的另一个实施方式涉及一种霍尔器件测试方法，采用本公开上述实施方式提供的霍尔器件测试系统。霍尔器件测试系统的具体结构，可以参见上述关于霍尔器件测试系统的实施方式所述，此处不再赘述。本实施方式涉及的霍尔器件测试方法包括：
[0062]
控制单元控制测试装置分别对第一测试座和第二测试座上的待测霍尔器件进行测试。
[0063]
控制单元控制传送装置将待测霍尔器件在第一测试座和第二测试座之间进行传送。
[0064]
具体的，控制单元可以首先控制传送装置将待测霍尔器件传送至第一测试座，控制测试装置对第一测试座上的待测霍尔器件进行测试，即首先在有磁场环境下对待测霍尔器件进行测试，之后，再控制传送装置将待测霍尔器件传送至第二测试座，控制测试装置对第二测试座上的待测霍尔器件进行测试，即再在无磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。
[0065]
或者，控制单元也可以首先控制传送装置将待测霍尔器件传送至第二测试座，控制测试装置对第二测试座上的待测霍尔器件进行测试，即首先在无磁场环境下对待测霍尔器件进行测试，之后，再控制传送装置将待测霍尔器件传送至第一测试座，控制测试装置对第一测试座上的待测霍尔器件进行测试，即再在有磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。
[0066]
本实施方式并不对有磁场测试和无磁场测试的先后顺序进行限制，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择。
[0067]
需要说明的是，在有磁场测试或无磁场测试的测试结果为不良品时，控制单元110还可以控制传送装置150将待测霍尔器件传送至预设的存放装置如不良品盒。
[0068]
本公开实施方式提供的霍尔器件测试方法，通过控制单元控制测试装置分别对第一测试座和第二测试座上的待测霍尔器件进行测试，并利用控制单元控制传送装置将待测霍尔器件在第一测试座和第二测试座之间进行传送，自动化程度高。产率方面，本实施方式
可以通过控制单元控制传送装置自动实现待测霍尔器件测试环境的切换，无需进行人工拆装，大大提高了产出效率。成本方面，本实施方式利用一个测试装置即可完成待测霍尔器件在有无磁场两个环境下的测试，从而大大降低了测试成本。质量方面，本实施方式可以避免手工拆装带来的上错料风险，从而有效防止产品误测试，大大提高了产出质量。
[0069]
示例性的，控制单元控制测试装置分别对第一测试座和第二测试座上的待测霍尔器件进行测试，包括：
[0070]
控制单元控制测试装置对第一测试座上的待测霍尔器件进行有磁场测试；
[0071]
在待测霍尔器件的有磁场测试结果为良品时，控制单元控制传送装置将待测霍尔器件传送至第二测试座，并控制测试装置对待测霍尔器件进行无磁场测试。
[0072]
具体的，在先进行有磁场测试、后进行无磁场测试时，为了提高测试效率，可以仅对有磁场测试结果为良品的待测霍尔器件进行无磁场测试，从而避免对有磁场测试结果为不良品的待测霍尔器件进行无磁场测试造成的测试资源的浪费。
[0073]
示例性的，在控制单元控制测试装置对待测霍尔器件进行无磁场测试之后，霍尔器件测试方法还包括：
[0074]
在有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品时，控制单元根据有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据，确定待测霍尔器件的最终测试结果。
[0075]
具体的，有磁场测试结果和无磁场测试结果均为良品，并不能说明对应的待测霍尔器件一定为良品。因此，可以通过对有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据进行综合分析，确定出待测霍尔器件属于良品还是不良品，得到待测霍尔器件的最终测试结果。
[0076]
示例性的，控制单元根据有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据，确定待测霍尔器件的最终测试结果，包括：
[0077]
控制单元将有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较：
[0078]
若运算结果超出限值范围，则将最终测试结果确定为不良品；
[0079]
若运算结果未超出限值范围，则将最终测试结果确定为良品。
[0080]
具体的，预设的运算规则可以是加法、减法等运算，本领域技术人员可以根据实际需要进行选择，当然，预设的运算规则也可以是加法、减法之外的其他运算，本实施方式对此并不限制。预设的限值范围与预设的运算规则相对应。例如，当预设的运算规则为减法时，预设的限值范围可以是有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值的限值范围。此时，若有磁场测试的测试数据为5，无磁场测试的测试数据为10，则有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值即为5，当预设的限制范围为[0，10]，由于5没有超出[0，10]的范围，因此，待测霍尔器件的最终测试结果即为良品。若有磁场测试的测试数据为5，无磁场测试的测试数据为100，则有磁场测试的测试数据与无磁场测试的测试数据之间的差值即为95，当预设的限制范围为[0，10]，由于95超出了[0，10]的范围，因此，待测霍尔器件的最终测试结果即为不良品。
[0081]
本实施方式可以提高对待测霍尔器件进行测试的准确率，从而进一步提高产出质量。
[0082]
示例性的，在控制单元控制测试装置对待测霍尔器件进行无磁场测试之前，第二
测试座对待测霍尔器件进行消磁处理。
[0083]
在先进行有磁场测试、后进行无磁场测试时，由于待测霍尔器件在从有磁场环境中出来之后，可能还会带有一定磁性，因此，第二测试座可以在控制单元控制测试装置对待测霍尔器件进行无磁场测试之前，对待测霍尔器件进行消磁处理，从而使待测霍尔器件在进行无磁场测试时完全处于无磁场环境，避免无磁场测试的测试数据受到磁场的影响。
[0084]
为使本领域技术人员能够更好地理解上述实施方式，下面以一具体示例为例进行说明。
[0085]
如图2所示，一种霍尔器件测试方法，采用图1所示的霍尔器件测试系统，包括以下步骤：
[0086]
控制单元按照预设的测试要求，控制传送装置将待测霍尔器件传送至有磁场的第一测试座，并控制测试装置对第一测试座上的待测霍尔器件进行测试，即控制测试装置在磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。其中，预设的测试要求包括对待测霍尔器件进行有无磁场测试的先后顺序要求、测试参数的种类和数值范围等。测试参数的种类包括电性能参数，如电压、电阻、电流等。测试参数的数值范围包括电性能参数如电压、电阻、电流等的取值范围。
[0087]
若待测霍尔器件在磁场环境下的测试数据不满足预设的测试要求，则表示待测霍尔器件未通过磁场环境的测试，待测霍尔器件的有磁场测试的测试结果为不良品。控制单元控制传送装置将该待测霍尔器件传送至不良品盒。
[0088]
若待测霍尔器件在磁场环境下的测试数据满足预设的测试要求，则表示待测霍尔器件通过磁场环境的测试。控制单元控制传送装置将该待测霍尔器件传送至无磁场的第二测试座。
[0089]
第二测试座对其上的待测霍尔器件进行消磁处理，控制单元控制测试装置对第二测试座上消磁后的待测霍尔器件进行测试，即控制单元控制测试装置在无磁场环境下对待测霍尔器件进行测试。
[0090]
若待测霍尔器件在无磁场环境下的测试数据不满足预设的测试要求，则表示待测霍尔器件未通过无磁场环境的测试，待测霍尔器件的无磁场测试的测试结果为不良品。控制单元控制传送装置将该待测霍尔器件传送至不良品盒。
[0091]
若待测霍尔器件在无磁场环境下的测试数据满足预设的测试要求，则表示待测霍尔器件通过无磁场环境的测试。控制单元将该待测霍尔器件对应的有磁场测试的测试数据和无磁场测试的测试数据按照预设的运算规则进行运算，并将运算结果与预设的限值范围进行比较：若运算结果超出限值范围，则表示待测霍尔器件不合格，待测霍尔器件的最终测试结果为不良品，控制传送装置将待测霍尔器件传送至不良品盒；若运算结果未超出限值范围，则表示待测霍尔器件合格，待测霍尔器件的最终测试结果为良品，控制传送装置将待测霍尔器件传送至良品盒。
[0092]
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本公开的具体实施方式，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本公开的精神和范围。