一种全自动便携式大砝码检定仪及大砝码检定方法与流程

1.本发明涉及砝码校准技术领域，具体是一种全自动便携式大砝码检定仪及大砝码检定方法。


背景技术：

2.对于一些大质量高精度砝码，如汽车衡现场检定用砝码、力标准机砝码、流量比标准砝码等，存在现场检定人不能搬动的问题，现场用行车吊砝码检定效率低，每次砝码放置在质量比较仪上的位置也存在差异，造成检定重复性差。


技术实现要素：

3.为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的是提供了一种全自动便携式大砝码检定仪及大砝码检定方法。
4.为达到上述目的，本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种全自动便携式大砝码检定仪，包括：
5.主结构架，所述主结构架上设有检定工位和至少一个等待工位；
6.质量比较仪，其设置在所述主结构架检定工位的下方；
7.待检砝码对中移位装置，其包括移动框、左右平移驱动机构、砝码搁置板、提升机构和对中调节机构，所述主结构架的前侧和后侧分别设置有沿左右向的平移导轨，所述移动框安装在所述主结构架的平移导轨上，所述左右平移驱动机构驱动所述移动框沿平移导轨移动；所述砝码搁置板可升降地连接在所述移动框的下方，待检砝码放置在所述砝码搁置板上，所述提升机构带动所述砝码搁置板升降；所述对中调节机构安装在所述移动框的上方，所述对中调节机构包括第一校正推板、第二校正推板和对中驱动机构，所述第一校正推杆和第二校正推板平行设置，所述对中驱动机构带动所述第一校正推杆和第二校正推板同步相向或背向移动；
8.标准砝码移位装置，其包括桁架、前后平移机构、升降机构和砝码托架，所述桁架前后横跨于所述主结构架检定工位的正上方，标准砝码放置在所述砝码托架上，所述前后平移机构安装在所述桁架的横梁上，所述升降机构的基座安装在所述前后平移机构的平移块上，所述升降机构带动所述砝码托架作升降移动，所述前后平移机构带动所述升降机构和砝码托架作前后平移。
9.采用本发明技术方案，检定仪能分拆为包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置和标准砝码四部部分，方便运输到待检现场快速组装，具有便携性，并能自动完成大砝码的检定；能通过对中驱动机构带动第一校正推板和第二校正推板将砝码移至中央位置，确保每次称量时砝码中心位置一致，与质量比较仪的中心基本重合，提升检定重复性精度；标准砝码移位装置能自动带动标准砝码换位，待检砝码对中移位装置能自动带动大砝码换位，确保检定过程中快速高精度换位，提升检定效率和准确度。
10.进一步地，所述对中驱动机构包括第一丝杠组件和第二丝杠组件，所述第一丝杠组件包括第一丝杆电机、第一丝杆座、第一丝杆、第一正向丝杆螺母和第一反向丝杆螺母，所述第二丝杠组件包括第二丝杆电机、第二丝杆座、第二丝杆、第二正向丝杆螺母和第二反向丝杆螺母，所述第一丝杆和第二丝杆上均设置有一段正向螺纹和一段反向螺纹，所述第一丝杆座和所述第二丝杆座均固定在所述移动框上，所述第一校正推板的两端分别连接在第一正向丝杆螺母和第二正向丝杆螺母上，所述第二校正推板的两端分别连接在第一反向丝杆螺母和第二反向丝杆螺母上，所述第一丝杆电机和第二丝杆电机同步正转或反转，进而带动所述第一校正推杆和第二校正推板同步相向或背向移动。
11.采用上述优选的方案，驱动第一校正推杆和第二校正推板移动的同步性好，移动稳定。
12.进一步地，所述砝码搁置板上设有多个滚珠槽，所述滚珠槽内安装有可活动的滚珠。
13.采用上述优选的方案，提高大砝码对中移动顺畅性。
14.进一步地，所述左右平移驱动机构包括拖动电机、拖动齿轮、传动轴和齿条，所述齿条安装在所述主结构架上的前侧和后侧，所述传动轴可转动地安装在所述移动框上，所述拖动齿轮安装在所述传动轴上，所述拖动齿轮和所述齿条相啮合，所述拖动电机带动所述传动轴转动，进而驱动移动框沿主结构架上的平移导轨移动。
15.采用上述优选的方案，提高平移的平稳度，方便配合位置检测传感器来精准定位。
16.进一步地，所述质量比较仪上设置有多个用于支撑砝码的支撑柱，所述砝码搁置板和所述砝码托架的底板上均设有供所述支撑柱穿过的通孔。
17.采用上述优选的方案，结构设置紧凑合理，方便快速完成换位并与质量比较仪接触完成比对检定。
18.进一步地，所述质量比较仪包括三个高精度传感器，三个高精度传感器成等腰三角形分布，所述第一校正推板和第二校正推板的中线与该等腰三角形的中线处于同一竖直平面内，所述砝码托架的标准砝码左右向的中线也与该等腰三角形的中线处于同一竖直平面内。
19.采用上述优选的方案，质量比较仪的偏载误差主要发生在与中线垂直的左右方向上，而与中线重合方向上的偏载误差小到可以忽略，这样就只需要确保大砝码的中心落在中线上即可，只需要进行大砝码左右方向上的对中，而省去前后向的对中，精简了对中机构的结构设置，提高检定效率。
20.进一步地，所述主结构架上设有检定工位和2个等待工位，在所述检定工位的两侧各设置一个工位，所述主结构架上设置2个待检砝码对中移位装置。
21.进一步地，所述主结构架前后的平移导轨都包括相平行的第一平移导轨和第二平移导轨，所述第一平移导轨和第二平移导轨具有高度差，其中1个待检砝码对中移位装置安装在第一平移导轨上，另1个待检砝码对中移位装置安装在第二平移导轨上，2个待检砝码对中移位装置能沿各自安装的平移导轨交错平移。
22.采用上述优选的方案，检定工位一侧的一个等待工位用于待检大砝码的上料，检定工位另一侧的一个等待工位用于大砝码检测完成后下料，上料和下料工序能够与砝码检测过程同时并行，大大提升检测效率。
23.一种大砝码检定方法，包括以下步骤：
24.步骤a1，将包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置通过运输车运到待检砝码现场，并在平整场地组装；
25.步骤a2，利用吊车或者叉车将标准砝码吊装到砝码托架上，将空载的待检砝码对中移位装置移至检定工位，通过标准砝码移位装置的前后平移机构和升降机构将砝码托架移至待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上方，通过对中调节机构将标准砝码调整到对中位置，再通过标准砝码移位装置的升降机构和前后平移机构将砝码托架移到主结构架的侧向；
26.步骤a3，将待检砝码对中移位装置移至等待工位，将待检的砝码吊装到待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上，通过对中调节机构将待检砝码调整到对中位置；
27.步骤a4，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
a1
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
28.步骤a5，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
a2
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
29.步骤a6，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
a3
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
30.步骤a7，根据m
a1
、m
a2
、m
a3
以及标准砝码的实际质量确定出待检砝码的实测质量，实测质量等于标准砝码的实际质量加上质量差值，该质量差值＝(2*m
a2-m
a1-m
a3
)*1/2，最后生成测试报告。
31.上述检定方法，根据aba比对法，消除了检测的线性偏差，提升检测效率。
32.一种大砝码检定方法，包括以下步骤：
33.步骤b1，将包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置通过运输车运到待检砝码现场，并在平整场地组装；
34.步骤b2，利用吊车或者叉车将标准砝码吊装到砝码托架上，将空载的待检砝码对中移位装置移至检定工位，通过标准砝码移位装置的前后平移机构和升降机构将砝码托架移至待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上方，通过对中调节机构将标准砝码调整到对中位置，再通过标准砝码移位装置的升降机构和前后平移机构将砝码托架移到主结构架的侧向；
35.步骤b3，将待检砝码对中移位装置移至等待工位，将待检的砝码吊装到待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上，通过对中调节机构将待检砝码调整到对中位置；
36.步骤b4，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
b1
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
37.步骤b5，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
b2
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
38.步骤b6，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
b3
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
39.步骤b7，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
b4
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
40.步骤b8，根据m
b1
、m
b2
、m
b3
、m
b4
以及标准砝码的实际质量确定出待检砝码的实测质量，实测质量等于标准砝码的实际质量加上质量差值，该质量差值＝(m
b2
+m
b3-m
b1
–mb4
)*1/2，最后生成测试报告。
41.上述检定方法，根据abba比对法，消除了检测的线性偏差，提升检测准确度。
附图说明
42.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
43.图1是本发明一种实施方式的结构示意图；
44.图2是主结构上设置2组待检砝码对中移位装置的结构示意图；
45.图3是主结构上设置1组待检砝码对中移位装置的结构示意图；
46.图4是对中调节机构的结构示意图；
47.图5是质量比较仪采用3个高精度传感器的布局示意图。
48.图中数字和字母所表示的相应部件的名称：
49.10-主结构架；11-平移导轨；12-等待工位；121-上料工位；122-下料工位；13-检定工位；20-待检砝码对中移位装置；201-1号待检砝码对中移位装置；202-2号待检砝码对中移位装置；21-移动框；22-砝码搁置板；221-滚珠；222-通孔；23-第一校正推板；24-第二校正推板；25-第一丝杆电机；26-第一丝杆座；27-第一丝杆；28-第一正向丝杆螺母；29-第一反向丝杆螺母；31-第二丝杆电机；32-第二丝杆座；33-第二丝杆；34-第二正向丝杆螺母；35-第二反向丝杆螺母；41-拖动电机；42-拖动齿轮；43-传动轴；44-齿条；50-质量比较仪；51-支撑柱；52-高精度传感器；60-标准砝码移位装置；61-桁架；62-前后平移机构；63-升降机构；64-砝码托架；65-标准砝码；71-待检大砝码。
具体实施方式
50.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
51.如图1-3所示，本发明的一种实施方式为：一种全自动便携式大砝码检定仪，包括：
52.主结构架10，主结构架10上设有检定工位13和至少一个等待工位12；
53.质量比较仪50，其设置在主结构架10检定工位13的下方；
54.待检砝码对中移位装置20，其包括移动框21、左右平移驱动机构、砝码搁置板22、提升机构和对中调节机构，主结构架10的前侧和后侧分别设置有沿左右向的平移导轨11，移动框21安装在主结构架10的平移导轨11上，所述左右平移驱动机构驱动移动框21沿平移导轨11移动；砝码搁置板22可升降地连接在移动框21的下方，待检大砝码71放置在砝码搁
置板22上，所述提升机构带动砝码搁置板22升降；对中调节机构安装在移动框21的上方，所述对中调节机构包括第一校正推板23、第二校正推板24和对中驱动机构，第一校正推杆23和第二校正推板24平行设置，所述对中驱动机构带动第一校正推杆23和第二校正推板24同步相向或背向移动；
55.标准砝码移位装置60，其包括桁架61、前后平移机构62、升降机构64和砝码托架64，桁架61前后横跨于主结构架检定工位13的正上方，标准砝码65放置在砝码托架64上，前后平移机构62安装在桁架61的横梁上，所述升降机构的基座安装在所述前后平移机构的平移块上，所述升降机构带动砝码托架64作升降移动，所述前后平移机构带动所述升降机构和砝码托架64作前后平移。
56.采用上述技术方案的有益效果是：检定仪能分拆为包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置和标准砝码四部部分，方便运输到待检现场快速组装，具有便携性，并能自动完成大砝码的检定；能通过对中驱动机构带动第一校正推板和第二校正推板将砝码移至中央位置，确保每次称量时砝码中心位置一致，与质量比较仪的中心基本重合，提升检定重复性精度；标准砝码移位装置能自动带动标准砝码换位，待检砝码对中移位装置能自动带动大砝码换位，确保检定过程中快速高精度换位，提升检定效率和准确度。
57.在上述实施方式中，所述提升机构、升降机构、前后平移机构的具体结构形式不限，可从现有技术中获取。提升机构可采用可采用一个减速电机经联轴器带动多个丝杆升降机同步运行，丝杆升降机安装在砝码搁置板和移动框的边角位置。升降机构可采用带减速电机的丝杆升降机。前后平移机构可采用丝杠配合平移导轨的结构形式。
58.如图4所示，在本发明的另一些实施方式中，所述对中驱动机构包括第一丝杠组件和第二丝杠组件，所述第一丝杠组件包括第一丝杆电机25、第一丝杆座26、第一丝杆27、第一正向丝杆螺母28和第一反向丝杆螺母29，所述第二丝杠组件包括第二丝杆电机31、第二丝杆座32、第二丝杆33、第二正向丝杆螺母34和第二反向丝杆螺母35，第一丝杆27和第二丝杆33上均设置有一段正向螺纹和一段反向螺纹，第一丝杆座26和第二丝杆座32均固定在移动框21上，第一校正推板23的两端分别连接在第一正向丝杆螺母28和第二正向丝杆螺母34上，第二校正推板24的两端分别连接在第一反向丝杆螺母29和第二反向丝杆螺母35上，第一丝杆电机25和第二丝杆电机31同步正转或反转，进而带动第一校正推板23和第二校正推板24同步相向或背向移动。采用上述技术方案的有益效果是：驱动第一校正推板和第二校正推板移动的同步性好，移动稳定。
59.如图4所示，在本发明的另一些实施方式中，砝码搁置板22上设有多个滚珠槽，所述滚珠槽内安装有可活动的滚珠221。采用上述技术方案的有益效果是：提高大砝码对中移动顺畅性。
60.如图2、4所示，在本发明的另一些实施方式中，所述左右平移驱动机构包括拖动电机41、拖动齿轮42、传动轴43和齿条44，齿条44安装在主结构架10上的前侧和后侧，传动轴43可转动地安装在移动框21上，拖动齿轮42安装在传动轴43上，拖动齿轮42和齿条44相啮合，拖动电机41带动传动轴43转动，进而驱动移动框21沿主结构架上的平移导轨11移动。采用上述技术方案的有益效果是：提高平移的平稳度，方便配合位置检测传感器来精准定位。
61.如图3、4所示，在本发明的另一些实施方式中，质量比较仪50上设置有多个用于支
撑砝码的支撑柱51，砝码搁置板22上设有供支撑柱51穿过的通孔222。采用上述技术方案的有益效果是：结构设置紧凑合理，方便快速完成换位并与质量比较仪接触完成比对检定。
62.如图5所示，在本发明的另一些实施方式中，质量比较仪50采用的是三个高精度传感器，三个高精度传感器成等腰三角形分布，在移位框组位于检定工位时，该等腰三角形的中线与第一校正推板23和第二校正推板24的中线处于同一竖直平面内；所述砝码托架的标准砝码左右向的中线也与该等腰三角形的中线处于同一竖直平面内。也就是检定时，标准砝码65和待检大砝码71的中心落在质量比较仪三个高精度传感器分布的等腰三角形的中线上。采用上述技术方案的有益效果是：质量比较仪的偏载误差主要发生在与中线垂直的左右方向上，而与中线重合方向上的偏载误差小到可以忽略，这样就只需要确保大砝码的中心落在中线上即可，只需要进行大砝码左右方向上的对中，而省去前后向的对中，精简了对中机构的结构设置，提高检定效率。
63.一种大砝码检定方法，包括以下步骤：
64.步骤a1，将包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置通过运输车运到待检砝码现场，并在平整场地组装；
65.步骤a2，利用吊车或者叉车将标准砝码吊装到砝码托架上，将空载的待检砝码对中移位装置移至检定工位，通过标准砝码移位装置的前后平移机构和升降机构将砝码托架移至待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上方，通过对中调节机构将标准砝码调整到对中位置，再通过标准砝码移位装置的升降机构和前后平移机构将砝码托架移到主结构架的侧向；
66.步骤a3，将待检砝码对中移位装置移至等待工位，将待检的砝码吊装到待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上，通过对中调节机构将待检砝码调整到对中位置；
67.步骤a4，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
a1
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
68.步骤a5，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
a2
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
69.步骤a6，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
a3
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
70.步骤a7，根据m
a1
、m
a2
、m
a3
以及标准砝码的实际质量确定出待检砝码的实测质量，实测质量等于标准砝码的实际质量加上质量差值，该质量差值＝(2*m
a2-m
a1-m
a3
)*1/2，最后生成测试报告。
71.上述检定方法，根据aba比对法，消除了检测的线性偏差，提升检测效率。
72.一种大砝码检定方法，包括以下步骤：
73.步骤b1，将包含有待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置通过运输车运到待检砝码现场，并在平整场地组装；
74.步骤b2，利用吊车或者叉车将标准砝码吊装到砝码托架上，将空载的待检砝码对中移位装置移至检定工位，通过标准砝码移位装置的前后平移机构和升降机构将砝码托架移至待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上方，通过对中调节机构将标准砝码调整到对中位置，再通过标准砝码移位装置的升降机构和前后平移机构将砝码托架移到主结构架的侧
向；
75.步骤b3，将待检砝码对中移位装置移至等待工位，将待检的砝码吊装到待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上，通过对中调节机构将待检砝码调整到对中位置；
76.步骤b4，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
b1
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
77.步骤b5，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
b2
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
78.步骤b6，待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
b3
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至等待工位；
79.步骤b7，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
b4
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
80.步骤b8，根据m
b1
、m
b2
、m
b3
、m
b4
以及标准砝码的实际质量确定出待检砝码的实测质量，实测质量等于标准砝码的实际质量加上质量差值，该质量差值＝(m
b2
+m
b3-m
b1
–mb4
)*1/2，最后生成测试报告。
81.上述检定方法，根据abba比对法，消除了检测的线性偏差，提升检测准确度。
82.在本发明的另一些实施方式中，主结构架10上设有检定工位13和2个等待工位，在所述检定工位的两侧各设置一个等待工位，检定工位一侧的一个等待工位为用于待检大砝码的上料工位121，检定工位另一侧的一个等待工位为用于大砝码检测完成后下料工位122。主结构架上设置1号待检砝码对中移位装置201和1号待检砝码对中移位装置202，所述主结构架前后的平移导轨都包括相平行的第一平移导轨和第二平移导轨，所述第一平移导轨和第二平移导轨具有高度差，其中1号待检砝码对中移位装置201安装在第一平移导轨上，2号待检砝码对中移位装置202安装在第二平移导轨上，1号待检砝码对中移位装置201和2号待检砝码对中移位装置202能沿各自安装的平移导轨交错平移。采用上述技术方案的有益效果是：上料和下料工序能够与砝码检测过程同时并行，大大提升检测效率。
83.一种大砝码检定方法，包括以下步骤：
84.步骤c1，将包含有1号待检砝码对中移位装置以及2号待检砝码对中移位装置的主结构架、质量比较仪、标准砝码移位装置通过运输车运到待检砝码现场，并在平整场地组装；
85.步骤c2，利用吊车或者叉车将标准砝码吊装到砝码托架上，将空载的2号待检砝码对中移位装置移至检定工位，通过标准砝码移位装置的前后平移机构和升降机构将砝码托架移至2号待检砝码对中移位装置的砝码搁置板上方，通过对中调节机构将标准砝码调整到对中位置，再通过标准砝码移位装置的升降机构和前后平移机构将砝码托架移到主结构架的后侧；与此同时，将待检的大砝码吊装位于上料工位的1号待检砝码对中移位装置的砝码搁置板，通过对中调节机构将待检砝码调整到对中位置；
86.步骤c3，2号待检砝码对中移位装置移至下料工位，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
c1
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；
87.步骤c4，1号待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
c2
，1号待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至下料工位，与此同时空载的2号待检砝码对中移位装置移至上料工位；
88.步骤c5，1号待检砝码对中移位装置将待检砝码移至检定工位，提升机构控制待检砝码自动落在质量比较仪上的中央位置，测得待检砝码质量m
c3
，待检砝码对中移位装置再将待检砝码移至下料工位，并发出可将大砝码移走的提示信号；与此同时将下一个待检大砝码吊装到2号待检砝码对中移位装置上并自动对中；
89.步骤c6，通过标准砝码移位装置将标准砝码移至质量比较仪上的中央位置，测得标准砝码质量m
c4
,标准砝码移位装置再控制标准砝码返回原位置；与此同时移走处于1号待检砝码对中移位装置的已检大砝码；
90.步骤c7，根据m
c1
、m
c2
、m
c3
、m
c4
以及标准砝码的实际质量确定出待检砝码的实测质量，实测质量等于标准砝码的实际质量加上质量差值，该质量差值＝(m
c2
+m
c3-m
c1
–mc4
)*1/2，最后生成测试报告。
91.上述的大砝码检定方法，上料和下料工序能够与砝码检测过程同时并行，大大提升检测效率。
92.上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让本领域普通技术人员能够了解本发明的内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围，凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。