瞬变信号测量方法、装置、系统及相关设备

1.本发明涉及瞬变信号测量技术领域，尤其涉及一种瞬变信号测量方法、装置、系统及相关设备。


背景技术：

2.瞬变电磁法为时间域探测法，利用发射至地下的瞬变信号来诱发介质产生二次场，由接收仪器接收，进行数据处理，由此得到地下介质分布情况。发送信号时，发送机会在回线上产生一个脉冲方波。方波具有跳变的特性。而在方波处于下降沿时，会激发一个磁场。该磁场方向为回线法线方向，被称为一次场。在一次场的激励下，介质内部会产生涡流。该涡流在脉冲间断后不会立即消失，而是会慢慢衰减。这种衰减场被称为二次场。影响二次场衰减情况的因数有很多，比如介质的导电性，埋深和体积。因此，通过分析二次场的相关信息，就能间接得到地下介质的分布情况。瞬变电磁信号的衰减速度极快，信号强度可由几十伏到几微伏，在实际测量时，由于信号量变化较大，为防止测量仪器损坏，需要抛弃一部分信号，从而使得瞬变信号的测量准确率低。


技术实现要素：

3.本发明实施例提供一种瞬变信号测量方法，旨在解决现有的测量方法存在测量准确率低的问题，通过第一信号处理支路对第一预设时段内采集到的第一待测量信号进行处理，得到第一瞬变信号，通过第二信号处理支路对第二预设时间段内采集到的第二待测量信号进行处理，得到第二瞬变信号，从而可以将待测量信号分为两段来进行处理，不用抛弃部分信号，提高了瞬变信号的测量准确率。
4.第一方面，本发明实施例提供一种瞬变信号测量方法，包括以下步骤：
5.在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；
6.在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；
7.基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
8.可选的，在所述控制信号采集电路采集得到第二待测量信号的步骤之前，所述方法还包括：
9.获取预设波形；
10.根据所述预设波形，确定所述第二预设时段的起始时间点。
11.可选的，所述第二信号处理支路包括模拟开关，所述在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤包括：
12.在所述第二预设时段的起始时间点，控制所述模拟开关接通所述第二信号处理支路与所述信号采集电路，以使所述信号采集电路在所述第二预测时段内采集得到第二待测量信号，并通过所述第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号。
13.可选的，所述第二信号处理支路还包括继电器以及第二信号放大电路，所述继电器与所述第二信号放大电路电连接，在所述通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤之前，所述方法还包括：
14.控制所述继电器对所述第二信号放大电路进行调整，以使所述第二信号放大电路工作在预设的放大倍数。
15.可选的，所述第一信号处理支路包括第一信号放大电路和衰减电路，所述通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号的步骤包括：
16.通过所述第一信号放大电路对所述第一待测量信号进行放大处理，得到所述第一待测量信号对应的放大信号；
17.通过所述衰减电路对所述放大信号进行衰减处理，得到所述第一瞬变信号。
18.可选的，所述基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果的步骤包括：
19.将所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号转换为对应的数字信号；
20.基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号对应的数字信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
21.第二方面，本发明实施例提供一种瞬变信号测量装置，装置包括：
22.第一处理模块，用于在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；
23.第二处理模块，用于在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；
24.第三处理模块，用于基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
25.第三方面，本发明实施例提供一种瞬变信号测量系统，包括：信号采集电路、第一信号处理支路、第二信号处理支路以及数据处理与电路控制系统；
26.其中，所述信号采集电路用于在第一预设时段内采集得到第一待测量信号，以及在第二预设时段内采集得到第二待测量信号；
27.所述第一信号处理支路用于对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；
28.所述第二信号处理支路用于对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号；
29.所述数据处理与电路控制系统用于基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
30.第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现本发明实施例提供的瞬变信号测量方法中的步骤。
31.第五方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现发明实施例提供的瞬变信号测量方法中的步骤。
32.本发明实施例中，在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。通过第一信号处理支路对第一预设时段内采集到的第一待测量信号进行处理，得到第一瞬变信号，通过第二信号处理支路对第二预设时间段内采集到的第二待测量信号进行处理，得到第二瞬变信号，从而可以将待测量信号分为两段来进行处理，不用抛弃部分信号，提高了瞬变信号的测量准确率。
附图说明
33.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
34.图1是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量系统的架构图；
35.图2是本发明实施例提供的一种保护电路的结构图；
36.图3是本发明实施例提供的一种早期信号处理电路的结构图；
37.图4是本发明实施例提供的一种模拟开关的结构图；
38.图5是本发明实施例提供的一种晚期信号处理电路的结构图；
39.图6是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量方法的流程图；
40.图7是本发明实施例提供的另一种瞬变信号测量方法的流程图；
41.图8是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量装置的结构示意图；
42.图9是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
43.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
44.本发明实施例提供的一种瞬变信号测量系统，该瞬变信号测量系统包括：信号采集电路、第一信号处理支路、第二信号处理支路以及数据处理与电路控制系统。
45.在本发明实施例中，上述信号采集电路用于在第一预设时段内采集得到第一待测
量信号，以及在第二预设时段内采集得到第二待测量信号；上述第一信号处理支路用于对上述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；上述第二信号处理支路用于对上述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号；上述数据处理与电路控制系统用于基于上述第一瞬变信号与上述第二瞬变信号，得到上述待测量瞬变信号的测量结果。
46.进一步的，上述信号采集电路可以包括传感器和保护电路，其中，传感器可以是线圈，用于接收瞬变电磁法信号；保护电路用于防止系统接收到强度过大的信号而损坏。上述线圈通过保护电路与第一信号处理电路和第二信号处理电路进行电连接，上述线圈的输出端与保护电路的输入端电连接。
47.上述第一信号处理支路包括第一信号放大电路、衰减电路，其中，第一信号放大电路的可以是单级放大电路，对应的放大倍数为一倍；衰减电路，对第一信号放大电路的输出信号进行衰减，与第一信号放大电路合称为第一信号处理电路。上述第一信号放大电路的输入端与保护电路的输出端电连接，上述衰减电路的输入端与第一信号放大电路的输出端电连接。
48.上述第二信号处理支路包括模拟开关、第二信号放大电路、增益控制电路，其中，模拟开关用于控制第二信号处理电路的接入时机；第二信号放大电路可以是多级放大电路，对应的放大倍数为多倍，放大倍数可以通过电阻取值来进行确定；增益控制电路可以是继电器，增益控制电路用于控制第二信号放大电路的增益大小。上述模拟开关的输入端与保护电路的输出端电连接，上述模拟开关的输出端与第二信号处理电路的输入端电连接，上述继电器与第二信号处理电路电连接。
49.上述数据处理与电路控制系统包括：adc电路，将经过前置处理的模拟信号(第一瞬变信号与第二瞬变信号)转换为数字信号；定时与控制逻辑单元，接收adc输出的数字信号，发送控制命令；处理单元，接收定时与控制逻辑单元上传的数据信号，对定时与控制逻辑单元进行控制以指挥整台仪器。
50.需要说明的是，瞬变电磁信号的衰减速度极快，信号强度可由几十伏到几微伏，可以分为早期信号和晚期信号，早期信号的强度大，晚期信号的强度小。若专注于早期信号，信号放大电路的增益便不可过大，可如此一来晚期信号就很难被接收以进行后续的数据处理；若专注于晚期信号，电路的增益必须足够大，可如此一来原本信号强度就十分可观的早期信号会被进一步放大，将远超过接收系统的量程。为防止仪器损坏，就只能抛弃早期信号。上述第一信号处理支路也可以称为早期信号处理支路，上述第一信号放大电路也可以称为早期信号放大电路，上述第二信号处理支路也可以称为晚期信号处理支路，上述第二信号放大电路也可以称为晚期信号放大电路。
51.在本发明实施例中，通过定时与控制逻辑单元发送命令控制继电器的开合以选择晚期信号处理电路的增益大小，发送adc配置命令，具体增益的取值由处理单元决定；定时与控制逻辑单元发送命令控制模拟开关将晚期信号处理电路接地，涉及的切换时间点可以在进行预采集后决定，事先输入一到两个预设波形，利用定时与控制逻辑单元发送到处理单元中，经处理单元分析后得到一个最佳切换时间，并控制定时与控制逻辑单元完成切换。开始采集信号；adc电路将早期信号处理电路的输出信号进行处理后输出至定时与控制逻辑单元，经过简单的运算后，所得结果输出至处理单元；在处理单元的指挥下，定时与控制
逻辑单元发送命令控制模拟开关，将晚期信号处理电路输入端接入保护电路输出端；两组adc电路同时工作，定时与控制逻辑单元处理两组数据，发送给处理单元。
52.进一步，上述定时与控制逻辑单元可以是fpga(现场可编程门阵列)，上述处理单元可以是arm控制板。
53.具体的，请参见图1，图1是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量系统的架构图，如图1所示，瞬变信号测量系统包括信号处理支路1和数据处理与电路控制系统2，信号处理支路1和数据处理与电路控制系统2通过电路板走线连接；信号处理支路1包括：线圈3，用于接收瞬变电磁法信号；保护电路4，防止系统接收到强度过大的信号而损坏；信号放大电路，早期信号放大电路5为单级，放大倍数为一倍；晚期信号放大电路8有四级，单级放大倍数为五倍；模拟开关7，决定晚期信号处理电路的接入时机；继电器电路9，控制晚期信号放大电路的增益大小，与晚期信号放大电路合称为晚期信号处理电路；衰减电路6，对早期信号放大电路的输出信号进行衰减，与早期信号放大电路合称为早期信号处理电路。
54.数据处理与电路控制系统包括2：adc电路10，将经过前置处理的模拟信号转换为数字信号；fpga电路11，接收adc输出的数字信号，发送控制命令；arm控制板12，接收fpga的数据信号，对fpga进行控制；上位机13，主要为手机等移动设备，接收arm控制板上传的数据信号，对arm控制板进行控制以指挥整台仪器。
55.其中，上述上位机13主要为手机等移动设备，利用app来发送和接收信号数据。上位机与上述arm控制板12通过蓝牙与无线网络进行连接。
56.上述的瞬变信号测量系统中，上位机的控制命令包括：在开始测量前，控制上述晚期信号处理电路的放大倍数；在测量过程中控制上述模拟开关的切换时间。
57.进一步的，请参见图2，图2是本发明实施例提供的一种保护电路的结构图，如图2所示，防雷管14用于防止装置因雷击等强信号输入而损坏；限流电阻15、19与tvs16、20用于瞬态抑制，将输入信号幅值粗略地限制在15v以下；限流电阻17、21与钳位二极管18、22则用于钳位，将信号幅值更精确地限制在15v以下。
58.进一步的，请参见图3，图3是本发明实施例提供的一种早期信号处理电路的结构图，如图3所示，运算放大器芯片23内置了两个运算放大器，一枚芯片便可满足差分电路的需求。以上述运算放大器搭成电压跟随器或缓冲电路，放大倍数为一倍，以此应对早期信号的强度特点；电阻26、27、30、31共同构成衰减电路6，进一步拉低早期信号强度以满足adc电路10的量程需求。上述衰减电路的增益大小可由上述电阻26、27、30、31的取值来确定。
59.进一步的，请参见图4，图4是本发明实施例提供的一种模拟开关的结构图，如图4所示，电阻32、34为限流电阻，当模拟开关33、35接收的控制信号处于低电平时，晚期信号处理电路便会通过所述电阻32、34接地；当控制信号处于高电平时，晚期信号处理电路的输入端便会通过模拟开关与所述保护电路4的输出端连接。
60.进一步的，请参见图5，图5是本发明实施例提供的一种晚期信号处理电路的结构图，如图5所示，单级放大电路在上述晚期信号处理电路中一共有四个，其中后两个单级放大电路搭配了上述继电器电路。继电器36、37、38、39两两导通或断开，用以控制差分信号是否进入运算放大器40。以上述运算放大器40为核心搭建而成的放大电路利用电阻41、42、43将放大倍数设置为5。
61.进一步的，请参见图6，图6是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量方法的流程
图，如图6所示，方法包括以下步骤：
62.s1：fpga11发送命令控制继电器的开合以选择晚期信号处理电路的增益大小，发送adc10配置命令。
63.s2：fpga11发送命令控制模拟开关7将晚期信号处理电路接地。
64.s3：开始采集信号。
65.s4：adc电路10将早期信号处理电路的输出信号进行处理后输出至fpga11，经过简单的运算后，所得结果通过spi接口输出至arm控制板12，并传送给上位机13。
66.s5：在上位机13的指挥下，fpga11发送命令控制模拟开关7，将晚期信号处理电路输入端接入保护电路4输出端。
67.s6：两组adc电路10同时工作，fpga11处理两组数据，结果分别传递给arm控制板12，经过控制板处理后发送给上位机13。
68.在本发明实施例的步骤s1中，具体增益档位(25，125，625)由上位机13确定，利用所述arm控制板12来将命令发送至fpga11中。
69.在本发明实施例的步骤s5中，上位机13命令fpga11控制模拟开关7的时机需要利用预采集来确定。所述预采集可以是：预先输入一到两个预设波形，利用fpga发送到arm控制板中，经上位机分析后得到一个最佳切换时间，并控制fpga完成切换。
70.实施本发明实施例，可以利用两条信号处理电路分别处理瞬变电磁法早期信号与晚期信号，从而兼顾两个时期，更为全面地采集瞬变电磁法数据。早期信号处理电路的放大倍数较小，可接收强度较大的早期信号。经过衰减电路后，早期信号可被控制在量程内。晚期信号处理电路的放大倍数有多档可选，可接收强度较小的晚期信号。此外，通过预采集处理，处理单元可根据实际情况得到合适的切换时间，控制定时与控制逻辑单元完成模拟开关的配置，从而采集到更为理想的数据。
71.请参见图7，图7是本发明实施例提供的另一种瞬变信号测量方法的流程图，如图7所示，该瞬变信号测量方法应用于数据处理与电路控制系统或瞬变信号测量装置或电子设备，该瞬变信号测量方法包括：
72.701、在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号。
73.在本发明实施例中，上述第一预设时段可以是第一待测量信号对应的时段，上述第一待测量信号也可以称为早期信号。上述第一信号处理可以包括信号放大处理和信号衰减处理，通过将第一待测量信号进行信号放大处理和信号衰减处理，可以得到第一瞬变信号。
74.702、在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号。
75.在本发明实施例中，上述第二预设时段的起始时间点晚于上述第一预设时段的起始时间点。
76.上述第二预设时段可以是第二待测量信号对应的时段，上述第二待测量信号也可以称为晚期信号。上述第二信号处理可以包括信号放大处理，通过将第二待测量信号进行信号放大处理，可以得到第二瞬变信号。
77.703、基于第一瞬变信号与第二瞬变信号，得到待测量瞬变信号的测量结果。
78.在本发明实施例中，得到第一瞬变信号与第二瞬变信号后，则相当于得到待测量信号的全部信号(即包括早期信号和晚期信号)，可以通过瞬变电磁法进行数据处理，从而得到待测量瞬变信号的测量结果。瞬变电磁法为时间域探测法，利用发射至地下的瞬变信号来诱发介质产生二次场，由接收仪器接收，进行数据处理，由此得到地下介质分布情况。
79.在本发明实施例中，在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。通过第一信号处理支路对第一预设时段内采集到的第一待测量信号进行处理，得到第一瞬变信号，通过第二信号处理支路对第二预设时间段内采集到的第二待测量信号进行处理，得到第二瞬变信号，从而可以将待测量信号分为两段来进行处理，不用抛弃部分信号，提高了瞬变信号的测量准确率。
80.可选的，在控制信号采集电路采集得到第二待测量信号的步骤之前，还可以获取预设波形；根据预设波形，确定第二预设时段的起始时间点。
81.在本发明实施例中，上述预设波形可以是预采集的波形。具体的，可以预先输入一到两个预设波形，利用定时与控制逻辑单元发送到处理单元中，经处理单元分析后得到一个最佳切换时间作为第二预设时段的起始时间点，并控制定时与控制逻辑单元完成切换。更具体的，可以事先输入一到两个预设波形，利用fpga发送到arm控制板中，经上位机分析后得到一个最佳切换时间作为第二预设时段的起始时间点，并控制fpga完成切换。
82.可选的，第二信号处理支路包括模拟开关，在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤中，可以在第二预设时段的起始时间点，控制模拟开关接通第二信号处理支路与信号采集电路，以使信号采集电路在第二预测时段内采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号。
83.在本发明实施例中，在经上位机分析后得到一个最佳切换时间后，定时与控制逻辑单元发送命令控制模拟开关将第二信号处理电路接地。具体的，在上位机的控制下，fpga发送命令控制模拟开关，将第二信号处理电路输入端接入保护电路输出端。
84.可选的，第二信号处理支路还包括继电器以及第二信号放大电路，继电器与第二信号放大电路电连接，在通过第二信号处理支路对第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤之前，还可以控制继电器对第二信号放大电路进行调整，以使第二信号放大电路工作在预设的放大倍数。
85.在本发明实施例中，定时与控制逻辑单元发送命令控制继电器的开合以选择第二信号处理电路的增益大小，发送adc配置命令。具体的，fpga发送命令控制继电器的开合以选择第二信号处理电路的增益大小，发送adc配置命令。更具体的，第二信号处理电路包括第二信号放大电路，第二信号放大电路中包括多个单级放大电路，单级放大电路在所述第二信号处理电路中一共有四个，其中后两个单级放大电路搭配了继电器电路。继电器两两导通或断开，用以控制差分信号是否进入运算放大器。以所述运算放大器为核心搭建而成
的放大电路利用电阻将放大倍数设置为n。
86.可选的，第一信号处理支路包括第一信号放大电路和衰减电路，通过第一信号处理支路对第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号的步骤中，可以通过第一信号放大电路对第一待测量信号进行放大处理，得到第一待测量信号对应的放大信号；通过衰减电路对放大信号进行衰减处理，得到第一瞬变信号。
87.在本发明实施例中，上述第一信号放大电路为单级放大电路，放大倍数为一倍，衰减电路，对早期信号放大电路的输出信号进行衰减。具体的，第一信号处理电路中，以运算放大器搭成电压跟随器或缓冲电路，放大倍数为一倍，以此应对早期信号的强度特点。
88.可选的，基于第一瞬变信号与第二瞬变信号，得到待测量瞬变信号的测量结果的步骤中，可以将第一瞬变信号与第二瞬变信号转换为对应的数字信号；基于第一瞬变信号与第二瞬变信号对应的数字信号，得到待测量瞬变信号的测量结果。
89.在本发明实施例中，adc电路将早期信号处理电路的输出信号进行处理后输出至定时与控制逻辑单元，经过简单的运算后，所得结果输出至处理单元；在处理单元的指挥下，定时与控制逻辑单元发送命令控制模拟开关，将晚期信号处理电路输入端接入保护电路输出端；两组adc电路同时工作，定时与控制逻辑单元处理两组数据，发送给处理单元。具体的，两组adc电路同时工作，fpga处理两组数据，结果分别传递给arm控制板，经过控制板处理后发送给上位机。
90.需要说明的是，本发明实施例提供的瞬变信号测量方法可以应用于智能手机、电脑、服务器等设备。
91.可选的，请参见图8，图8是本发明实施例提供的一种瞬变信号测量装置的结构示意图，如图8所示，装置包括：
92.第一处理模块801，用于在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；
93.第二处理模块802，用于在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；
94.第三处理模块803，用于基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
95.可选的，在所述第二处理模块802之前，所述装置还包括：
96.获取模块，用于获取预设波形；
97.确定模块，用于根据所述预设波形，确定所述第二预设时段的起始时间点。
98.可选的，所述第二信号处理支路包括模拟开关，所述第二处理模块802，包括：
99.第一处理子模块，用于在所述第二预设时段的起始时间点，控制所述模拟开关接通所述第二信号处理支路与所述信号采集电路，以使所述信号采集电路在所述第二预测时段内采集得到第二待测量信号，并通过所述第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号。
100.可选的，所述装置还包括：
101.调整模块，用于控制所述继电器对所述第二信号放大电路进行调整，以使所述第
二信号放大电路工作在预设的放大倍数。
102.可选的，所述第一信号处理支路包括第一信号放大电路和衰减电路，所述第一处理模块801，包括：
103.第二处理子模块，用于通过所述第一信号放大电路对所述第一待测量信号进行放大处理，得到所述第一待测量信号对应的放大信号；
104.第三处理子模块，用于通过所述衰减电路对所述放大信号进行衰减处理，得到所述第一瞬变信号。
105.可选的，所述第三处理模块803，包括：
106.转换子模块，用于将所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号转换为对应的数字信号；
107.第四处理子模块，用于基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号对应的数字信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
108.需要说明的是，本发明实施例提供的瞬变信号测量装置可以应用于可以进行图层级的业务分析的智能手机、电脑、服务器等设备。
109.本发明实施例提供的瞬变信号测量装置能够实现上述方法实施例中瞬变信号测量方法实现的各个过程，且可以达到相同的有益效果。为避免重复，这里不再赘述。
110.参见图9，图9是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图，如图9所示，包括：存储器902、处理器901及存储在存储器902上并可在处理器901上运行的瞬变信号测量方法的计算机程序，其中：
111.处理器901用于调用存储器902存储的计算机程序，执行如下步骤：
112.在第一预设时段内，控制信号采集电路采集得到第一待测量信号，并通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号；
113.在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号，其中，所述第二预设时段的起始时间点晚于所述第一预设时段的起始时间点；
114.基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
115.可选的，处理器901执行的在所述控制信号采集电路采集得到第二待测量信号的步骤之前，所述方法还包括：
116.获取预设波形；
117.根据所述预设波形，确定所述第二预设时段的起始时间点。
118.可选的，处理器901执行的所述第二信号处理支路包括模拟开关，所述在第二预设时段内，控制信号采集电路采集得到第二待测量信号，并通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤包括：
119.在所述第二预设时段的起始时间点，控制所述模拟开关接通所述第二信号处理支路与所述信号采集电路，以使所述信号采集电路在所述第二预测时段内采集得到第二待测量信号，并通过所述第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号。
120.可选的，处理器901执行的所述第二信号处理支路还包括继电器以及第二信号放
大电路，所述继电器与所述第二信号放大电路电连接，在所述通过第二信号处理支路对所述第二待测量信号进行第二信号处理，得到第二瞬变信号的步骤之前，所述方法还包括：
121.控制所述继电器对所述第二信号放大电路进行调整，以使所述第二信号放大电路工作在预设的放大倍数。
122.可选的，处理器901执行的所述第一信号处理支路包括第一信号放大电路和衰减电路，所述通过第一信号处理支路对所述第一待测量信号进行第一信号处理，得到第一瞬变信号的步骤包括：
123.通过所述第一信号放大电路对所述第一待测量信号进行放大处理，得到所述第一待测量信号对应的放大信号；
124.通过所述衰减电路对所述放大信号进行衰减处理，得到所述第一瞬变信号。
125.可选的，处理器901执行的所述基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果的步骤包括：
126.将所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号转换为对应的数字信号；
127.基于所述第一瞬变信号与所述第二瞬变信号对应的数字信号，得到所述待测量瞬变信号的测量结果。
128.需要说明的是，本发明实施例提供的电子设备可以应用于可以进行瞬变信号测量的智能手机、电脑、服务器等设备。
129.本发明实施例提供的电子设备能够实现上述方法实施例中瞬变信号测量方法实现的各个过程，且可以达到相同的有益效果。为避免重复，这里不再赘述。
130.本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的瞬变信号测量方法或应用端瞬变信号测量方法的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
131.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-onlymemory，rom)或随机存取存储器(randomaccessmemory，简称ram)等。
132.以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。