技术特征：
1.一种应用于空间三维定位系统的定位方法，其特征在于，包括：将n个标定杆布置在系统内，所述系统内设置有m个扫描站；获取所述m个扫描站分别扫过所述n个标定杆的多个旋转角度；根据所述多个旋转角度、所述n个标定杆上传感器的参数、所述m个扫描站上激光扫描单元的参数以及所述n个标定杆的长度，获取内参数标定结果和外参数标定结果。2.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述内参数标定结果和所述外参数标定结果，对所述系统内的物体进行定位。3.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述获取内参数标定结果和外参数标定结果，包括：根据的最小值，确定内参数标定结果和外参数标定结果，其中，——第i个杆位处标定杆上端点p1到第j台扫描站激光平面1的距离的平方；——第i个杆位处标定杆上端点p1到第j台激光扫描装置激光平面2的距离的平方；——第i个杆位处标定杆上端点p2到第j台激光扫描装置激光平面1的距离的平方；——第i个杆位处标定杆上端点p2到第j台扫描站激光平面2的距离的平方——第i个杆长残差的平方。4.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，所述方法还包括：确定不同的多个扫描站布局样本，每个扫描站布局样本定义多个扫描站在测量空间内的坐标；根据布站优化适应度函数，从所述多个扫描站布局样本中确定目标扫描站布局样本，所述目标扫描站布局样本满足预设条件。5.根据权利要求4所述的定位方法，其特征在于，所述确定不同的多个扫描站布局样本，包括：对已有的扫描站布局样本进行变异操作，包括：对扫描站布局样本x
i
(g)，从已有扫描站布局样本中选择3个扫描站布局样本x
p1
(g)，x
p2
(g)，x
p3
(g)，且p1≠p2≠p3≠i，变异后的扫描站布局样本h
i
(g)为：h
i
(g)＝x
p1
(g)+f
·
(x
p2
(g)-x
p3
(g))，f为缩放因子。6.根据权利要求4所述的定位方法，其特征在于，所述确定不同的多个扫描站布局样本，包括：对已有的扫描站布局样本进行交叉操作，交叉后的扫描站布局样本v
i
(g)满足：式中，cr∈[0,1]，为交叉概率，rand(0,1)是[0,1]上服从均匀分布的随机数。
7.根据权利要求4所述的定位方法，其特征在于，所述适应度函数满足：其中，ε
′
i
(x)表示第i个测量空间的最大不确定度，m为测量空间数量。8.根据权利要求4所述的定位方法，其特征在于，所述多个扫描站布局样本的数量为(5～10)*m*s，m为所述系统内扫描站的数量，s为扫描站的外参数变量。9.一种应用于空间三维定位系统的定位方法，其特征在于，包括：确定不同的多个扫描站布局样本，每个扫描站布局样本定义多个扫描站在测量空间内的坐标；根据布站优化适应度函数，从所述多个扫描站布局样本中确定目标扫描站布局样本，所述目标扫描站布局样本满足预设条件。10.根据权利要求9所述的定位方法，其特征在于，所述方法还包括：按照所述目标扫描站布局样本，布局所述系统内的多个扫描站，并对所述系统内的物体进行定位。11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备应用于空间三维定位系统，所述电子设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器；所述一个或多个存储器存储有一个或多个计算机程序，所述一个或多个计算机程序包括指令，当所述指令被所述一个或多个处理器执行时，使得所述电子设备执行如权利要求1至10中任一项所述的方法。
技术总结
本申请涉及高精度空间三维定位系统领域，具体公开了一种定位方法，包括：将n个标定杆布置在系统内，系统内设置有m个扫描站；获取m个扫描站分别扫过n个标定杆的多个旋转角度；根据多个旋转角度、n个标定杆上传感器的参数、m个扫描站上激光扫描单元的参数以及n个标定杆的长度，获取内参数标定结果和外参数标定结果。还公开了一种定位方法，包括：确定不同的多个扫描站布局样本，每个扫描站布局样本定义多个扫描站在测量空间内的坐标；根据布站优化适应度函数，从所述多个扫描站布局样本中确定目标扫描站布局样本，所述目标扫描站布局样本满足预设条件。本申请的方案有利于快速、高效、高精度、高稳定性的产品整体构型测量。高稳定性的产品整体构型测量。高稳定性的产品整体构型测量。
技术研发人员：刘净瑜 王颜 刘丽霞 于荣荣 刘锏泽 王宝琳 谭旭 张文捷 赵琪 殷宇航
受保护的技术使用者：北京卫星制造厂有限公司
技术研发日：2022.08.31
技术公布日：2022/12/29