技术特征：
1.一种电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：对处于第一预设阶段的待测电路执行仿真测试，获取所述待测电路中每个电路模块的与第一电源总线相对应的第一网络的第一测试电压以及所述待测电路中每个电路模块的与第二电源总线相对应的第二网络的第二测试电压；根据所述第一测试电压与第一预设电压确定第一电压降；其中，所述第一预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第一电源总线相对应的第一网络在所述第一预设阶段的预设电压；根据所述第二测试电压与第二预设电压确定第二电压降，其中，所述第二预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第二电源总线相对应的第二网络在所述第一预设阶段的预设电压；根据所述第一电压降和/或所述第二电压降，确定所述待测电路的状态。2.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，根据所述第一电压降和/或所述第二电压降，确定所述待测电路的状态，包括：根据所述第一电压降是否符合第一预设电压降和/或所述第二电压降是否符合第二预设电压降，确定所述待测电路的状态。3.根据权利要求2所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：根据对处于第二预设阶段的待测电路执行仿真测试所确定的第三电压降确定所述第一预设电压降；所述第三电压降包括与所述第一电源总线相对应的第一网络在所述第二预设阶段的电压降；根据对处于第二预设阶段的待测电路执行仿真测试所确定的第四电压降确定所述第二预设电压降；所述第四电压降包括与所述第二电源总线相对应的第二网络在所述第二预设阶段的电压降。4.根据权利要求3所述的电路的测试方法，其特征在于，所述第一预设阶段包括所述第一电源总线和所述第二电源总线未整合之前的阶段；所述第二预设阶段包括所述第一电源总线和所述第二电源总线整合之后的阶段。5.根据权利要求3或4任一所述的电路的测试方法，其特征在于，所述仿真测试包括：对所述待测电路执行预设测试操作，所述预设测试操作包括单一测试操作或者预设时长内的多个连续的单一测试操作。6.根据权利要求5所述的电路的测试方法，其特征在于，所述第一电压降包括处于第一预设阶段的所述待测电路在所述预设测试操作下的与所述第一电源总线相对应的第一网络的平均电压差和/或峰值电压差；所述第二电压降包括处于第一预设阶段的所述待测电路在所述预设测试操作下的与所述第二电源总线相对应的第二网络的平均电压差和/或峰值电压差；所述第三电压降包括处于第二预设阶段的所述待测电路在所述预设测试操作下的与所述第一电源总线相对应的第一网络的平均电压差和/或峰值电压差；所述第四电压降包括处于第二预设阶段的所述待测电路在所述预设测试操作下的与所述第二电源总线相对应的第二网络的平均电压差和/或峰值电压差。7.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：获取处于所述第一预设阶段的所述待测电路的第一连接关系表和第二连接关系表，所
述第一连接关系表表征处于第一预设阶段的所述待测电路中第一电源总线与待测电路中每个电路模块之间的连接关系，并记录所述电路模块的与所述第一电源总线相对应的第一网络的所述第一预设电压；所述第二连接关系表表征处于第一预设阶段的所述待测电路中第二电源总线与所述电路模块之间的连接关系，并记录所述电路模块的与所述第二电源总线相对应的第二网络的所述第二预设电压。8.根据权利要求3所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：对处于第二预设阶段的待测电路执行仿真测试，获取所述待测电路中每个电路模块的与第一电源总线相对应的第一网络的第三测试电压以及所述待测电路中每个电路模块的与第二电源总线相对应的第二网络的第四测试电压；根据所述第三测试电压与第三预设电压确定第三电压降；其中，所述第三预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第一电源总线相对应的第一网络在所述第二预设阶段的预设电压；根据所述第四测试电压与第四预设电压确定第四电压降，其中，所述第四预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第二电源总线相对应的第二网络在所述第二预设阶段的预设电压。9.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述第一电源总线包括所述待测电路的电源总线，所述第二电源总线包括所述待测电路的地线总线。10.根据权利要求5所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：根据多个所述预设测试操作下的所述第一电压降和/或所述第二电压降，确定对所述电路模块的驱动时延的状态。11.一种电路的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：获取模块，被配置为对处于第一预设阶段的待测电路执行仿真测试，获取所述待测电路中每个电路模块的与第一电源总线相对应的第一网络的第一测试电压以及所述待测电路中每个电路模块的与第二电源总线相对应的第二网络的第二测试电压；第一确定模块，被配置为根据所述第一测试电压与第一预设电压确定第一电压降；其中，所述第一预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第一电源总线相对应的第一网络在所述第一预设阶段的预设电压；根据所述第二测试电压与第二预设电压确定第二电压降，其中，所述第二预设电压包括所述待测电路中每个所述电路模块的与所述第二电源总线相对应的第二网络在所述第一预设阶段的预设电压；第二确定模块，被配置为根据所述第一电压降和/或所述第二电压降，确定所述待测电路的状态。12.一种电路的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-10任一所述的方法。13.一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由装置的处理器执行时，使得装置能够执行权利要求1-10任一所述的方法。
技术总结
本公开提供一种电路的测试方法、装置及存储介质。该测试方法包括：对处于第一预设阶段的待测电路执行仿真测试，获取待测电路中每个电路模块的与第一电源总线相对应的第一网络的第一测试电压以及待测电路中每个电路模块的与第二电源总线相对应的第二网络的第二测试电压；根据第一测试电压与第一预设电压确定第一电压降；其中，第一预设电压包括待测电路中每个电路模块的与第一电源总线相对应的第一网络在第一预设阶段的预设电压；根据第二测试电压与第二预设电压确定第二电压降，其中，第二预设电压包括待测电路中每个电路模块的与第二电源总线相对应的第二网络在第一预设阶段的预设电压；根据第一电压降和/或第二电压降，确定待测电路的状态。确定待测电路的状态。确定待测电路的状态。
技术研发人员：吴增泉 赵康 单雪
受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司
技术研发日：2022.09.06
技术公布日：2022/12/1