老化测试设备、电气设备及老化测试方法与流程

1.本发明涉及测试领域，尤其涉及一种老化测试设备、电气设备及老化测试方法。


背景技术：

2.玻片处理设备是对细胞学样本、组织学样本及血液样本等病理分析前的进行样本处理的仪器。通常样本处理过程包括：脱蜡、煮片及消化等预处理过程，杂交过程，清洗过程等，通过玻片处理设备进行样本处理实现制片流程的自动化。
3.为了保证玻片处理设备能够稳定可靠的运行，玻片处理设备投入使用之前需要进行功能检测和24小时老化检测。玻片处理设备进行老化检测过程中，需要检测人员人工操作玻片处理设备，执行24小时老化检测流程，需要耗费庞大的人力物力，导致玻片处理设备的老化检测效率低下。同时，玻片处理设备的老化检测不添加样本数据，而是进行循环跑水测试，并检测玻片处理设备的进液量和出液量。需要检测人员人工对比进液量和出液量，然而，检测人员人工难以准确对比进液量和出液量之间的差距，导致单次老化测试的可靠性差。需重复进行多次老化测试，进一步导致玻片处理设备的老化检测效率低下。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本发明的目的是为了解决上述问题中的至少一种，提供一种老化测试设备、电气设备及老化测试方法，以解决玻片处理设备的老化检测效率低下的问题。
5.第一方面，本技术提供一种老化测试设备，包括主控制器和测温单元；
6.所述主控制器的第一端连接所述测温单元，所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备，所述主控制器的第三端用于连接测试终端，所述测温单元用于连接所述玻片处理设备；
7.所述主控制器用于发送老化测试指令至所述玻片处理设备，控制所述玻片处理设备进行老化测试；
8.所述测温单元用于获取所述老化测试过程中所述玻片处理设备的温度数据；
9.所述主控制器还用于获取包括所述温度数据的老化测试数据，并将所述老化测试数据传输至所述测试终端。
10.结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，还包括存储器；
11.所述存储器连接所述主控制器的第四端；
12.所述存储器用于存储所述主控制器获取到的所述老化测试数据。
13.结合第一方面，在第二种可能的实现方式中，还包括电源；
14.所述电源连接所述主控制器的第五端；
15.所述电源用于对所述主控制器进行供电。
16.结合第一方面，在第三种可能的实现方式中，还包括第一转换器和第二转换器；
17.所述第一转换器的一端连接所述主控制器的第二端，所述第一转换器的另一端连接所述玻片处理设备；
18.所述第二转换器的一端连接所述主控制器的第三端，所述第二转换器的另一端连接所述测试终端。
19.结合第一方面，在第四种可能的实现方式中，所述主控制器还用于若所述老化测试数据存在异常，发送警告信息至所述测试终端。
20.结合第一方面，在第五种可能的实现方式中，所述控制所述玻片处理设备进行老化测试包括：控制所述玻片处理设备依次进行脱蜡测试、第一洗涤测试、通透测试、第二洗涤测试、缓冲液处理测试、第三洗涤测试、杂交测试、第四洗涤测试及第五洗涤测试。
21.结合第一方面，在第六种可能的实现方式中，所述老化测试数据包括：所述玻片处理设备的温度数据、温度维持时间数据、电流数据、进液量数据、出液量数据及脉冲信号数据。
22.第二方面，本技术提供一种电气设备，包括玻片处理设备和如第一方面所述的老化测试设备，所述玻片处理设备连接所述老化测试设备。
23.第三方面，本技术提供一种老化测试方法，应用于如第一方面所述的老化测试设备，所述老化测试设备连接玻片处理设备，所述方法包括：
24.发送老化测试指令至所述玻片处理设备，控制所述玻片处理设备进行老化测试；
25.获取所述玻片处理设备的老化测试数据，并将所述老化测试数据发送至测试终端；
26.基于所述老化测试数据，生成所述玻片处理设备的老化状态信息。
27.结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述发送老化测试指令至所述玻片处理设备，控制所述玻片处理设备进行老化测试，包括：
28.发送老化测试指令至所述玻片处理设备，控制目标液体进入所述玻片处理设备；
29.将所述目标液体的温度调节至目标温度，并控制所述玻片处理设备进行目标时长的测试；
30.控制所述玻片处理设备排出所述目标液体。
31.本技术提供一种老化测试设备，包括主控制器和测温单元；所述主控制器的第一端连接所述测温单元，所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备，所述主控制器的第三端用于连接测试终端，所述测温单元用于连接所述玻片处理设备。通过老化测试设备控制玻片处理设备进行老化测试，并根据得到的老化测试数据，确定玻片处理设备是否稳定可靠。不需要检测人员人工进行老化检测操作，且得到的测试数据可靠性高，提高了玻片处理设备的老化检测效率。
附图说明
32.为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对本发明保护范围的限定。在各个附图中，类似的构成部分采用类似的编号。
33.图1示出了本技术实施例提供的老化测试设备的第一种结构示意图；
34.图2示出了本技术实施例提供的老化测试设备的第二种结构示意图；
35.图3示出了本发明实施例提供的老化测试方法的流程图；
36.图4示出了本技术实施例提供的玻片处理设备的处理液路的结构示意图。
unit，微控制单元)，在此不做限定。为便于理解，本技术的实施例汇总，主控制器110为mcu控制器。玻片处理设备200响应接收到的老化测试指令，进行老化测试，并反馈老化测试数据至主控制器110，其中，老化测试数据包括温度数据、电流数据等于玻片处理设备200老化相关的数据，在此不做限定。
51.获取到老化测试数据之后，主控制器110将老化测试数据传输至测试终端300，其中，测试终端300是根据实际需求选择的，可以是计算机设备等上位机设备，在此不做限定。检测人员可远程监控或调度测试终端300中存储的老化测试数据，并进行绘图、统计数据等操作。通过老化测试设备100控制玻片处理设备200进行老化测试，并根据得到的老化测试数据，确定玻片处理设备200是否稳定可靠。不需要检测人员人工进行老化检测操作，且得到的测试数据可靠性高，提高了玻片处理设备200的老化检测效率。
52.需要理解的是，测温单元120是根据实际需求选择的，在此不做限定。为便于理解，本技术的实施例中可粘结的温度传感器。将测温单元120粘结在玻片处理设备200的半导体制冷片非工作端，提供了可供参考的温度数据。由于老化测试过程中，将控制不同的液体分次进入玻片处理设备200，并将液体的温度调节至目标温度进行目标时长的测试。可根据测温单元120检测到温度数据，确定玻片处理设备200是否异常。
53.请一并参阅图2，图2示出了本技术实施例提供的老化测试设备的第二种结构示意图。老化测试设备100还包括存储器130；
54.所述存储器130连接所述主控制器110的第四端；
55.所述存储器130用于存储所述主控制器110获取到的所述老化测试数据。
56.存储器130用于临时存储获取到的数据。具体地，若检测到主控制器110未与测试终端300连接，则将获取到的数据临时存储至存储器130中。需要理解的是，存储器130是根据实际需求选择的，在此不作限定。为便于理解，本技术的实施例中，存储器130为flash(闪存)。
57.若检测到主控制器110与测试终端300连接，则将获取到的传输至测试终端300。同时，还可以将存储器130中临时存储的数据传输至测试终端300。调用测试终端300中存储玻片处理设备200老化过程中的老化测试数据，对玻片处理设备200进行故障诊断。
58.老化测试设备100还包括电源140；
59.所述电源140连接所述主控制器110的第五端；
60.所述电源140用于对所述主控制器110进行供电。
61.电源140用于对主控制器110进行供电，提供主控制器110和测试单元正常运行时所需的工作电压。需要理解的是，电源140提供的电压大小和电流大小是根据实际需求设置的，在此不做限定。
62.老化测试设备100还包括第一转换器150和第二转换器160；
63.所述第一转换器150的一端连接所述主控制器110的第二端，所述第一转换器150的另一端连接所述玻片处理设备200；
64.所述第二转换器160的一端连接所述主控制器110的第三端，所述第二转换器160的另一端连接所述测试终端300。
65.主控制器110通过第一转换器150连接玻片处理设备200，且主控制器110通过第二转换器160连接测试终端300。第一转换器150和第二转换器160用于串行接口相互转换，保
证采用不同通信协议之间的主控制器110、玻片处理设备200及测试终端300之间可以进行通信。需要理解的是，第一转换器150是根据主控制器110和玻片处理设备200之间配置的接口所设置的，在此不做限定。第一转换器150是根据主控制器110和测试终端300之间设备配置的接口所设置的，在此不做限定。为便于理解，本技术的实施例中，第一转化器和第二转换器160均为rs232/rs485转换器。
66.作为一个示例，所述主控制器110还用于若所述老化测试数据存在异常，发送警告信息至所述测试终端300。
67.将获取到的老化测试数据与理论老化数据进行对比，确定老化测试数据是否存在异常。若老化测试数据与理论老化数据的误差较小，则确定老化测试数据不存在异常。若老化测试数据与理论老化数据的误差较大，则确定老化测试数据存在异常。生成用于提示玻片处理设备200存在异常的警告信息，并发送警告信息至测试终端300。检测人员调用传输至测试终端300中的数据，对玻片处理设备200进行故障诊断。
68.作为一个示例，所述控制所述玻片处理设备200进行老化测试包括：控制所述玻片处理设备200依次进行脱蜡测试、第一洗涤测试、通透测试、第二洗涤测试、缓冲液处理测试、第三洗涤测试、杂交测试、第四洗涤测试及第五洗涤测试。
69.玻片处理设备200的老化测试包括了多个子测试过程，每个子测试过程根据老化测试的实际需求选用对应的测试时间、测试液体及测试温度，在此不做限定。为便于理解本技术，本技术的实施例中，脱蜡测试中将脱蜡剂加入至玻片处理设备200的反应槽280中，并驱动玻片处理设备200的温度升降单元将脱蜡剂升温至85度，其中，玻片处理设备200的温度升降单元可以是半导体制冷片等，在此不做赘述。脱蜡测试过程中，将脱蜡剂维持85度进行15分钟的测试。完成脱蜡测试之后，将反应槽280中的脱蜡剂排出至废液桶，并将无水乙醇加入至反应槽280中。由于脱蜡测试中，反应槽280的温度较高，驱动玻片处理设备200的温度升降单元将无水乙醇的温度降低至室温。脱蜡测试过程中，将无水乙醇维持室温进行5分钟的测试。
70.进一步地，通透测试维持90度进行20分钟的测试。第二洗涤测试将乙醇维持37度进行5分钟的测试。缓冲液处理测试将缓冲液维持室温进行2分钟的测试。第三洗涤测试将预设比例的维持室温进行2分钟的测试。杂交测试维持88度进行10分钟的测试。第四洗涤测试维持57度进行5分钟的测试。第五洗涤测试维持37度进行1分钟的测试。需要理解的是，缓冲液是根据实际需求选择的，在此不做限定。为便于理解，本技术的实施例中缓冲液为2xssc缓冲液。乙醇的预设比例也是根据实际需求选择的，在此不做限定。
71.作为一个示例，所述老化测试数据包括：所述玻片处理设备200的温度数据、温度维持时间数据、电流数据、进液量数据、出液量数据及脉冲信号数据。
72.温度数据为玻片处理设备200的反应槽280中液体的实时温度，可通过测温单元120实时检测玻片处理设备200的半导体制片的温度，得到液体的实时温度。温度维持时间数据为反应槽280中目标温度的维持时间，具体地，可设置对应目标温度的阈值温度。为便于理解，本技术的实施例中，阈值温度为目标温度的97％。若目标温度为100度，则阈值温度为97度。将第二次达到阈值温度的时间作为计时起点，将温度小于阈值温度的时间作为计时终点，得到间接计算的时间。基于每次温度采集时间间隔和维持时间内的计数值，计算得到反应槽280中目标温度的维持时间。
73.电流数据包括玻片处理设备200的半导体制片的工作电流、进液阀250的工作电流、选择阀260的工作电流及出液阀270的工作电流。半导体制片的工作电流还包括了温度上升时的工作电流和温度下降时的工作电流。进液阀250、选择阀260及出液阀270等液位阀的工作电流，可用于确定液位阀是否发现堵转或损坏等异常情况。
74.电流数据、进液量数据、出液量数据均为液体的流量数据。脉冲信号数据为玻片处理设备200的摇晃机构运行过程中，不断触发限位传感器而产生的脉冲信号。
75.本技术提供一种老化测试设备，包括主控制器和测温单元；所述主控制器的第一端连接所述测温单元，所述主控制器的第二端用于连接玻片处理设备，所述主控制器的第三端用于连接测试终端，所述测温单元用于连接所述玻片处理设备。通过老化测试设备控制玻片处理设备进行老化测试，并根据得到的老化测试数据，确定玻片处理设备是否稳定可靠。不需要检测人员人工进行老化检测操作，且得到的测试数据可靠性高，提高了玻片处理设备的老化检测效率。
76.本技术实施例还提供一种电气设备包括玻片处理设备200和如实施例1所述的老化测试设备100，所述玻片处理设备200连接所述老化测试设备100。
77.玻片处理设备200与老化测试设备100的主控制器110通信。对玻片处理设备200进行老化测试时，玻片处理设备200响应主控制器110发送的老化测试指令，进行老化测试，并实时获取老化测试过程中玻片处理液路的温度数据、工作电流等老化测试数据。将获取到的老化测试数据传输至老化测试设备100，由老化测试设备100确定玻片处理设备200老化过程中的老化测试数据是否异常。通过与玻片处理设备200连接的老化测试设备100进行老化测试，不需要检测人员人工通过显示屏等人机交互设备操作玻片处理设备200进行老化，降低了人力物力成本的耗费。同时，将老化测试数据传输至老化测试设备100，由老化测试设备100确定老化测试数据是否存在异常，提高了老化测试结果的可靠性，进而提高了玻片处理设备200的老化检测效率。
78.实施例2
79.请参阅图3，图3示出了本发明实施例提供的老化测试方法的流程图。图3中的老化测试方法包括以下步骤：
80.s410，发送老化测试指令至所述玻片处理设备200，控制所述玻片处理设备200进行老化测试。
81.将老化测试装置与玻片处理设备200进行硬件连接，并将老化测试装置与测试装置进行硬件连接。运行老化测试装置，发送老化测试指令至玻片处理设备200。玻片处理设备200响应接收到的老化测试指令，进行脱蜡、洗涤及杂交等老化测试。
82.s420，获取所述玻片处理设备200的老化测试数据，并将所述老化测试数据发送至测试终端300。
83.玻片处理设备200实时获取老化过程中的老化测试数据，并将老化测试数据传输至老化测试装置。由老化测试装置将老化测试数据传输至测试终端300，检测人员可远程监控或调度测试终端300中存储的老化测试数据，并进行绘图、统计数据等操作。检测到玻片处理设备200存在异常时，调用测试终端300中存储的玻片处理设备200老化过程中的老化测试数据，对玻片处理设备200进行故障诊断。
84.s430，基于所述老化测试数据，生成所述玻片处理设备200的老化状态信息。
85.将理论老化数据与获取到的老化测试数据对比，确定玻片处理设备200是否异常。若老化测试数据存在异常，发送警告信息至测试终端300。以确定温度数据是否异常为例，老化过程中不断调整反应槽280中液体的温度。假设初始温度为37℃，第一目标温度为88℃，第二目标温度为57℃。老化过程中，液体的温度由初始温度升高至第一目标温度，再由第一目标温度降低至第二目标温度。
86.正常情况下基于标定后的离线数据为：100ml的液体由37℃升温至88℃所需时间为300s，有88℃降温至57℃所需时间为155s；80ml的液体由37℃升温至88℃所需时间为265s，有88℃降温至57℃所需时间为140s；60ml的液体由37℃升温至88℃所需时间为245s，有88℃降温至57℃所需时间为127s；40ml的液体由37℃升温至88℃所需时间为230s，有88℃降温至57℃所需时间为117s；20ml的液体由37℃升温至88℃所需时间为224s，有88℃降温至57℃所需时间为112s。对标定后的离线数据进行数据回归，得到液体由初始温度升高至第一目标温度的所需时间为：
87.y＝0.0113x
2-0.415x+228.2
88.其中，y为反应槽280中液体由初始温度升高第一目标温度的所需时间，x为反应槽280中液体的容积。
89.对标定后的离线数据进行数据回归，得到液体由第一目标温度降低至第二标温度的所需时间为：
90.y＝0.0041x2+0.0521x+109
91.其中，y为反应槽280中液体由第一目标温度降低至第二标温度，x为反应槽280中液体的容积。
92.实际老化测试过程中，将进入反应槽280的液体的容积代入计算公式，得到理论温度时间。将理论温度时间与实际采样温度得到时间进行对比，判断时间数据是否存在异常。具体地，若两个时间的相对误差大于5％，则确定玻片处理设备200存在异常，发送警告信息至测试终端300。若两个时间的相对误差小于或等于5％，则确定玻片处理设备200不存在异常。
93.老化测试数据还包括了电流数据、进液量数据、出液量数据及脉冲信号数据。具体地，对于玻片处理设备200的半导体制冷片工作电流，可通过对比相同起始温度和目标温度下的电流峰值，确定玻片处理设备200的半导体制冷片是否存在异常。
94.通过第一流量传感器210获取进液量数据，通过第二流量传感器240获取出液量数据。将进液量数据和出液量数据进行对比，若进液量数据和出液量数据的信息量差距大，则确定玻片处理设备200存在异常，发送警告信息至测试终端300。
95.采集并分析进液阀250、选择阀260及出液阀270的工作电流，若液位阀运行时工作电流的峰值变化较大，则确定玻片处理设备200存在异常，发送警告信息至测试终端300。若无法获取到摇晃机构限位传感器的脉冲信号，则确定玻片处理设备200存在异常，发送警告信息至测试终端300。由于老化测试装置分析老化测试数据，确定玻片处理设备200是否存在异常，提高了玻片处理设备200的老化检测效率。
96.作为一个示例，所述发送老化测试指令至所述玻片处理设备200，控制所述玻片处理设备200进行老化测试，包括：
97.发送老化测试指令至所述玻片处理设备200，控制目标液体进入所述玻片处理设
备200；
98.将所述目标液体的温度调节至目标温度，并控制所述玻片处理设备200进行目标时长的测试；
99.控制所述玻片处理设备200排出所述目标液体。
100.请一并参阅图4，图4示出了本技术实施例提供的玻片处理设备的处理液路的结构示意图。通常玻片处理设备200的处理液路用于控制液体的进入和排出。
101.为便于理解，本技术的实施例中，处理液路包括依次连接的第一流量传感器210、进液泵220、出液泵230及第二流量传感器240。同时处理液路还包括第一数量的进液阀250、第二数量的选择阀260、第三数量的出液阀270及第二数量的反应槽280。进液阀250的输出端连接第一流量传感器210，选择阀260的第一端连接进液泵220和出液泵230之间的节点，选择阀260的第二端连接反应槽280，出液阀270的输入端连接所述第二流量传感器240。为便于理解，图中仅示出了一个进液阀250、一个旋转阀、一个反应槽280及一个出液阀270。
102.需要理解的是，第一数量、第二数量及第三数量都是根据实际需求设置的，在此不做限定。为便于理解，本技术的实施例中，进液阀250的数量为6个，选择阀260、出液阀270及反应槽280的数量均为3个。进液阀250和出液阀270为单向液位阀，选择阀260为双向液位阀。控制目标液体由进液阀250、第一流量传感器210、进液泵220及选择阀260进入反应槽280的过程，为进液过程。每个进液阀250对应一种目标液体，但进液过程只选择一种目标液体进入反应槽280。具体地，若第一进液阀250对应目标液体需进入反应槽280，则将第一反应阀配置为开启状态，并将第二反应阀、第三反应阀、第四反应阀、第五反应阀及第六反应阀配置为关闭状态，进液泵220转动且出液泵230停转。若目标液体需要进入第一反应槽280，则将第一选择阀260配置为开启状态，将第二选择阀260和第三选择阀260配置为关闭状态，目标液体进入到第一反应槽280内。
103.反应槽280内的液体依次通过选择阀260、出液泵230、第二流量传感器240及出液阀270排出至废液桶的过程，为排液过程。每个类型的液体需排出至对应的废液桶，根据液体需排出至的废液桶，配置每个出液阀270的运行状态，在此不做赘述。
104.还需要理解的是，老化测试包括脱蜡测试、洗涤测试、通透测试、杂交测试等多个子测试过程，每个子测试过程对应配置目标液体、目标温度和目标时长。举例而言，进而脱蜡测试时，目标液体为脱蜡剂，目标温度为85度，目标时长为15分钟。其余子测试过程对应配置目标液体、目标温度和目标时长可根据实施例1所述的老化测试过程，在此不做赘述。
105.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和结构图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，结构图和/或流程图中的每个方框、以及结构图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
106.另外，在本发明各个实施例中的各功能模块或单元可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或更多个模块集成形成一个独立的部分。
107.所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是智能手机、个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
108.以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。