工站测试方法、装置、终端设备及介质与流程

文档序号:32490599发布日期:2022-12-10 02:38阅读:204来源:国知局
工站测试方法、装置、终端设备及介质与流程

1.本发明涉及数据测试技术领域,尤其涉及一种工站测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。


背景技术:

2.在对整个面板进行功能测试时,需要对面板中各个pcba(printed circuit board assembly,印刷电路板组件)板全部进行测试。
3.现有的面板测试步骤一般为:
4.1、通过工站对面板中的各个pcba板进行指令烧录;
5.2、通过另一工站对上述pcba板中烧录的指令进行测试,以确定上述烧录的指令能够正常运行。
6.若某个pcba板出现指令烧录失败的情况,那么在对pcba板中烧录的指令进行测试时,需要操作员手动屏蔽上述烧录失败的pcba板所对应的测试通道,再完成对剩余pcba板的测试。但是,在操作员忘记屏蔽上述测试通道时,将造成测试流程错误等问题,降低了pcba板测试效率和测试准确性。


技术实现要素:

7.本发明的主要目的在于提供一种工站测试方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质,旨在自动确定是否对待测产品进行测试,进而实现高效精准的产品测试。
8.为实现上述目的,本发明提供一种工站测试方法,所述方法包括以下步骤:
9.接收状态查询指令;
10.基于所述状态查询指令,针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息;
11.根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对所述待测产品进行测试。
12.可选地,所述测试信息包括:烧录状态信息或者产品标识信息,所述针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息的步骤,包括:
13.对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录失败状态时对应的烧录状态信息;或者,
14.对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录未失败状态时对应的产品标识信息。
15.可选地,在所述根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产品进行测试的步骤之后,还包括:
16.当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录失败状态时,基于所述烧录状态信息,将与所述待测试产品对应的测试通道进行屏蔽,以停止通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
17.可选地,在所述根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产品
进行测试的步骤之后,还包括:
18.当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录未失败状态时,基于所述产品标识信息,允许预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
19.可选地,在所述允许通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试的步骤之后,还包括:
20.根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成;
21.若是,则基于所述产品标识信息,通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
22.可选地,在所述根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成的步骤之后,还包括:
23.若否,则进行测试流程报错提醒,以对所述预设第二工站的用户进行提示。
24.可选地,在所述接收状态查询指令的步骤之前,还包括:
25.通过所述预设第一工站将预设指令烧录至所述待测试产品,以对所述待测试产品进行测试。
26.为实现上述目的,本发明还提供一种工站测试装置,所述工站测试装置包括:
27.接收模块,用于接收状态查询指令;
28.查询模块,用于基于所述状态查询指令,针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息;
29.确定模块,用于根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产品进行测试。
30.为实现上述目的,本发明还提供一种终端设备,所述终端设备包括存储器、处理器和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的工站测试程序,所述工站测试程序被所述处理器执行时实现如上所述的工站测试方法的步骤。
31.此外,为实现上述目的,本发明还提出一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有工站测试程序,所述工站测试程序被处理器执行时实现如上所述的工站测试方法的步骤。
32.为实现上述目的,本发明还提供一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的工站测试方法的步骤。
33.本发明提供一种工站测试方法、装置、终端设备、计算机可读存储介质以及计算机程序产品,通过接收状态查询指令;基于所述状态查询指令,针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息;根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对所述待测产品进行测试。
34.相比于现有技术中通过人工操作方式确定是否需要对待测产品进行工站测试的方式,在本发明中,可根据用户触发的状态查询指令,查询待测产品在预设第一工站的烧录状态,并根据返回的测试信息,确定是否需要利用预设第二工站对待测产品进行测试。因此,在本发明中,能够自动确定是否需要对烧录后的待测产品进行测试,以确保烧录指令能够正常运行,无需操作人员手动操作,能够极大程度地提升产品测试效率以及测试精度。在此基础上,进一步保障产品质量。
附图说明
35.图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的结构示意图;
36.图2为本发明工站测试方法一实施例的第一流程示意图;
37.图3为本发明工站测试方法一实施例的第二流程示意图;
38.图4为本发明工站测试方法一实施例的第三流程示意图;
39.图5为本发明工站测试方法一实施例的第四流程示意图;
40.图6为本发明工站测试装置一实施例的功能模块示意图。
41.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
42.应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
43.如图1所示,图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
44.本发明实施例的终端设备可以是工站,也可以是智能手机、计算机、服务器或者网络设备等,本实施例中的终端设备可用于实现产品在各个工站的测试。
45.如图1所示,该终端设备可以包括:处理器1001,例如cpu,网络接口1004,用户接口1003,存储器1005,通信总线1002。其中,通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard),可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)。存储器1005可以是高速ram存储器,也可以是稳定的存储器(non-volatile memory),例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
46.本领域技术人员可以理解,图1中示出的设备结构并不构成对工站测试设备的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
47.如图1所示,作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作、网络通信模块、用户接口模块以及工站测试程序。操作是管理和控制设备硬件和软件资源的程序,支持工站测试程序以及其它软件或程序的运行。在图1所示的设备中,用户接口1003主要用于与客户端进行数据通信;网络接口1004主要用于与服务器建立通信连接;而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
48.接收状态查询指令;
49.基于所述状态查询指令,针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息;
50.根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对所述待测产品进行测试。
51.进一步地,所述测试信息包括:烧录状态信息或者产品标识信息,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
52.对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录失败状态时对应的烧录状态信息;
53.对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录未失败状态时对应的产品标识信息。
54.进一步地,在所述根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产
品进行测试的步骤之后,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
55.当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录失败状态时,基于所述烧录状态信息,将与所述待测试产品对应的测试通道进行屏蔽,以停止通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
56.进一步地,在所述根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产品进行测试的步骤之后,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
57.当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录未失败状态时,基于所述产品标识信息,允许预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
58.进一步地,在所述允许通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试的步骤之后,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
59.根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成;
60.若是,则基于所述产品标识信息,通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
61.进一步地,在所述根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成的步骤之后,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
62.若否,则进行测试流程报错提醒,以对所述预设第二工站的用户进行提示。
63.进一步地,在所述接收状态查询指令的步骤之前,处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的工站测试程序,并执行以下操作:
64.通过所述预设第一工站将预设指令烧录至所述待测试产品,以对所述待测试产品进行测试。
65.参照图2,图2为本发明工站测试方法第一实施例的流程示意图。
66.本发明实施例提供了工站测试方法的实施例,需要说明的是,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
67.由于在一整个面板(panel)中包含了16个pcba(printed circuit board assembl,印刷电路板组件)板,因此,在对面板进行测试时,需要对16个pcba板逐一进行测试,以确定面板能够正常使用。
68.在本发明中,旨在提供一种工站测试方法,利用工站对panel进行测试,其中,本实施例中的第一工站为xlb dfu(工站名称),xlb dfu用于烧录指令至待测产品(比如,panel),以实现对待测产品的测试;而第二工站为xlb soc(工站名称),xlb soc用于对待测产品中烧录的指令进行测试,以确保上述指令能够正常运行,最终完成对待测产品的测试。
69.但是,对于现有的面板测试方法,当某个pcba板在xlb dfu测试失败时,在利用xlb soc对面板继续进行测试之前,需要操作员手动屏蔽上述测试失败的pcba对应的通道,进而完成对其余pcba板在xlb soc的测试。
70.因此,为了避免由于操作员工忘记屏蔽测试失败pcba板所对应的通道所导致的测试流程出错,降低测试效率和测试准确度等问题,在实施例中,提供了一种工站测试方法,具体包括以下步骤:
71.步骤s10,接收状态查询指令;
soc继续对待测产品进行测试。
88.需要说明的是,在本实施例中,由于在一整个panel中包含了多个pcba板,对利用xlb dfu对各个pcba板进行指令烧录时,可能出现烧录失败问题(即,在利用xlb dfu对panel进行测试时,出现了某个pcba板测试失败的情况),为了提升通过xlb soc对各个已烧录指令的pcba进行测试时的测试效率和测试精度,终端设备需要预先根据获取到测试信息,确定是否需要通过xlb soc对待测产品,以在判断到无需对该待测产品进行测试时,可直接自动跳过该待测产品的测试,并通过xlb soc对其它已烧录的待测产品进行测试,无需操作人员手动操作,极大程度地提升了产品效率以及测试精度等。
89.在本实施例中,终端设备将通过预设第一工站,将上述指令烧录至各个待测产品中,以对各个待测产品进行测试。终端设备将接收用户基于预设第二工站触发的状态查询指令,该状态查询指令用于查询待测产品在预设第一工站的烧录状态。进而,终端设备在根据状态查询指令对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询后,将待测产品对应的测试信息。进一步根据该测试信息,确定是否需要利用xlb soc继续对待测产品进行测试。
90.相比于现有技术中通过人工操作方式确定是否需要对待测产品进行工站测试的方式,在本发明中,可根据用户触发的状态查询指令,查询待测产品在预设第一工站的烧录状态,并根据返回的测试信息,确定是否需要利用预设第二工站对待测产品进行测试。因此,在本发明中,能够自动确定是否需要对烧录后的待测产品进行测试,以确保烧录指令能够正常运行,无需操作人员手动操作,极大程度地提升了产品测试效率以及测试精度。在此基础上,保障了产品质量。
91.进一步地,基于本发明工站测试的第一实施例,提出本发明工站测试的第二实施例。
92.在本实施例中,如图4所示,上述步骤s20中,“获取基于所述状态查询指令返回的测试信息”,可以包括:
93.步骤s201,对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录失败状态时对应的烧录状态信息;
94.步骤s202,对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录未失败状态时对应的产品标识信息。
95.需要说明的是,在本实施例中,在通过xlb dfu对pcba板进行指令烧录时,如图3所示,可能出现两种状态,状态1)pcba板指令烧录失败;状态2)pcba板未在xlb dfu进行烧录(即漏测)或者pcba板在xlb dfu完成指令烧录。当pcba板指令烧录失败时,对应的测试信息为烧录状态信息,而当pcba板未在xlb dfu进行烧录(即漏测)以及pcba板在xlb dfu完成指令烧录时,对应的测试信息为产品标识信息,即,pcba板的sn码。
96.在此基础上,在pcba板在xlb dfu的状态为烧录失败时,终端设备将获取到基于状态查询指令返回的烧录状态信息,或者,在pcba板在xlb dfu的状态为烧录未失败时,终端设备将获取到基于状态查询指令返回的产品标识信息,以根据烧录状态信息或者产品标识信息确定是否需要对pcba板中的烧录指令进行测试。
97.进一步地,在上述步骤s30,“根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对所述待测产品进行测试”之后,还可以包括:
98.步骤s50,当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录失败状态时,基于所述烧
录状态信息,将与所述待测试产品对应的测试通道进行屏蔽,以停止通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
99.需要说明的是,在本实施例中,如图3所示,在测试信息为烧录状态信息时,意味着pcba板在xlb dfu进行烧录时出现了烧录失败的问题。
100.由于各个pcba板都有其对应的测试通道,在此基础中,终端设备将确定该pcba板对应的测试通道,并将该测试通道进行关闭,使得xlb soc无法对指令烧录失败的pcba板进行测试,避免人工关闭测试通过所导致的测试效率和准确率低下等问题。
101.在另一实施例中,pcba板在xlb dfu烧录失败时,存在三种可能:烧录分别失败一次、两次和三次,具体地,在烧录失败一次或者两次时,将直接关闭对应的测试通道,而在烧录失败三次时,除了关闭对应的测试通道之外,还将发出烧录失败提醒,以提醒操作人员进行排查。
102.进一步地,在上述步骤s30,“根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对所述待测产品进行测试”之后,还可以包括:
103.步骤s60,当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录未失败状态时,基于所述产品标识信息,允许预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
104.终端设备在检测到待测产品在所述预设第一工站的状态为烧录未失败时,将根据产品标识信息确定对应的pcba板,并允许在xlb soc对该pcba板进行测试。
105.需要说明的是,在本实施例中,若是pcba板在xlb dfu的状态为烧录未失败,此时,可能存在两种情况,一种是pcba板在xlb dfu烧录完成,另一种则是pcba板未在xlb dfu进行指令烧录,即漏测。值得注意的是,此时,终端设备仅是允许xlb soc对该pcba板进行测试,但是能够完成对该pcba板的测试,取决于pcba板在xlb dfu的烧录状态。
106.在本实施例中,在pcba板在xlb dfu的状态为烧录失败时,终端设备将获取到基于状态查询指令返回的烧录状态信息,或者,在pcba板在xlb dfu的状态为烧录未失败时,终端设备将获取到基于状态查询指令返回的产品标识信息。终端设备在检测到待测产品在xlb dfu的状态为烧录失败时,终端设备将确定该pcba板对应的测试通道,并将该测试通道进行关闭,使得xlb soc无法对指令烧录失败的pcba板进行测试。终端设备在检测到待测产品在xlb dfu的状态为烧录未失败时,将根据产品标识信息确定对应的pcba板,并允许在xlb soc对该pcba板进行测试。
107.因此,在本发明中,能够关闭烧录失败的pcba板对应的测试通道,使得xlb soc无法对指令烧录失败的pcba板进行测试,并且还能够在pcba板烧录失败三次时,发出烧录失败提醒,本发明既提升了pcba板的测试效率,也提升了pcba板的测试精度,进而保障了pcba板质量,同时,提升了用户体验。
108.进一步地,基于本发明工站测试的第一实施例和第二实施例,提出本发明工站测试的第三实施例。
109.在本实施例中,如图5所示,在上述步骤s60,“允许预设第二工站对所述待测试产品进行测试”之后,还可以包括:
110.步骤s70,根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成;
111.步骤s80,若是,则基于所述产品标识信息,通过预设第二工站对所述待测试产品
进行测试。
112.需要说明的是,在本实施例中,当pcba板在xlb dfu的状态为烧录未失败时,并且终端设备在允许xlb soc对pcba板进行测试后,此时可能存在两种情况,一种是该pcba板在xlb dfu烧录完成,另一种则是该pcba板未在xlb dfu进行指令烧录(漏测)。
113.因此,终端设备还需要进一步判断该pcba板在xlb dfu已烧录完成还是该pcba板未在xlb dfu进行指令烧录(漏测)。若是判断到该pcba板在xlb dfu已烧录完成,那么可进一步通过xlb soc对pcba板进行测试,以确定烧录指令都能够正常运行。
114.进一步地,如图5所示,上述步骤s80,“根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成”之后,还可以包括:
115.步骤s90,若否,则进行测试流程报错提醒,以对所述预设第二工站的用户进行提示。
116.终端设备在判断该pcba板在xlb dfu是已烧录完成还是该pcba板未在xlb dfu进行指令烧录时,若是判断到上述pcba板未在xlb dfu进行指令烧录(漏测),如图3所示,将触发测试流程报错提醒。
117.具体地,例如,此时,终端设备将通过xlb soc进行测试流程报错提醒,比如,可进行uop流程报错,uop是指令“unit_out_of_process”的缩写,如果xlb soc无法按照正常流程测试,将进行uop流程报错。
118.在本实施例中,终端设备进一步判断该pcba板在xlb dfu已烧录完成还是该pcba板未在xlb dfu进行指令烧录。若是判断到该pcba板在xlb dfu已烧录完成,那么可进一步通过xlb soc对pcba板进行测试,以确定烧录指令都能够正常运行。若是判断到上述pcba板未在xlb dfu进行指令烧录,将触发测试流程报错提醒。因此,在本发明中,能够根据pcba板的烧录状态,确定是否需要对pcba进行测试,提升了pcba板的测试效率和测试精度,进而保障了pcba板的出厂质量。
119.此外,本发明实施例还提出一种工站测试装置,参照图6,所述工站测试装置包括:
120.接收模块10,用于接收状态查询指令;
121.查询模块20,用于基于所述状态查询指令,针对待测产品在预设第一工站的烧录状态进行查询得到测试信息;
122.确定模块30,用于根据所述测试信息,确定是否需要通过预设第二工站对待测产品进行测试。
123.进一步地,所述测试信息包括:烧录状态信息或者产品标识信息,所述查询模块20,包括:
124.第一查询单元,用于对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录失败状态时对应的烧录状态信息;
125.第二查询单元,用于对所述待测产品在所述预设第一工站的烧录状态进行查询得到所述待测产品处于烧录未失败状态时对应的产品标识信息。
126.进一步地,所述工站测试装置,还包括:
127.屏蔽模块,用于当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录失败状态时,基于所述烧录状态信息,将与所述待测试产品对应的测试通道进行屏蔽,以停止通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
128.进一步地,所述工站测试装置,还包括:
129.允许测试模块,用于当所述待测产品在所述预设第一工站处于烧录未失败状态时,基于所述产品标识信息,允许预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
130.进一步地,所述工站测试装置,还包括:
131.判断模块,用于根据所述产品标识信息,判断所述待测试产品是否在预设第一工站烧录完成;
132.测试模块,用于基于所述产品标识信息,通过预设第二工站对所述待测试产品进行测试。
133.进一步地,所述工站测试装置,还包括:
134.提示模块,用于进行测试流程报错提醒,以对所述预设第二工站的用户进行提示。
135.进一步地,所述工站测试装置,还包括:
136.烧录模块,用于通过所述预设第一工站将预设指令烧录至所述待测试产品,以对所述待测试产品进行测试。
137.本发明工站测试系统的具体实施方式的拓展内容与上述工站测试方法各实施例基本相同,在此不做赘述。
138.此外,本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质,所述存储介质上存储有工站测试程序,所述工站测试程序被处理器执行时实现如下所述的工站测试方法的步骤。
139.本发明工站测试设备和计算机可读存储介质各实施例,均可参照本发明工站测试方法各个实施例,此处不再赘述。
140.需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
141.上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
142.通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是工站,或者是智能手机、计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
143.以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
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