狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法与流程

文档序号:33017193发布日期:2023-01-20 16:53阅读:42来源:国知局
狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法与流程

1.本发明涉及辐射成像检查技术领域,特别是涉及一种狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法。


背景技术:

2.x光背散射成像仪是一种基于康普顿散射的非接触性检测仪器,其利用x光照射被检物体,收集背向散射的x光信号进行成像,以获取物体浅层物质的电子密度信息的装置。其具有探测器与被测目标可同侧放置以及有机物加量效应的特点,因而非常适用于大型客体、夹层目标以及毒品、爆炸物等违禁物品的检查,并已在民航、海关以及公安边防的部门被大量装备和应用。
3.笔形束扫描是背散射成像的经典方式,现有技术中的笔形束产生机构主要采用圆盘结构的斩波轮。通常,在斩波轮上均匀分布等角的向心狭缝,x光机出射的x射线束呈锥形光束,先经由前置准直器后,形成扇形光束照射在斩波圆盘上,除与狭缝相交处有x光透射外,其它位置的扇形x光束均被斩波圆盘所吸收,在斩波电机的驱动下狭缝与射线源扇形准直缝形成上下移动的交点,射线从该交点出射形成上下扫描的飞点射线束,同时物体进行左右移动,从而实现对目标物不同位置的扫描。
4.为了实现较好的屏蔽效果,斩波圆盘需要一定的厚度,因此若狭缝设计为标准的向心矩形,在斩波圆盘旋转扫描的过程中,射线束的截面受斩波圆盘旋转角度影响较大,所形成的x光飞点会呈现两端小,中间大的分布情况,甚至导致两端没有信号的情况。若不弥补这一缺陷,会导致成像质量严重下降。


技术实现要素:

5.鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法,用于解决现有背散射成像装置出射的飞点光束出射面积不同,导致成像后信号强度不均匀的问题。
6.为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种狭缝的设计方法,所述设计方法包括:
7.s1):基于待测物表面的光斑高度得到所述狭缝的窄边宽度d
min

8.s2):构建关于斩波轮的光束出射面积模型,其中,光束出射面积s
θ
与所述狭缝的宽边宽度d
max
和所述狭缝的旋转角度θ相关,并且所述狭缝的旋转角度介于-θ
max
°
~θ
max
°
;控制所述光束出射面积模型中的旋转角度θ,使旋转角度为θ
max
°
时的光束出射面积s
θmax
与旋转角度为0
°
时的光束出射面积s0相等,以此得到所述狭缝的宽边宽度d
max

9.其中,所述狭缝的开口形状为等腰梯形,其中心轴线穿过所述斩波轮的圆心,所述狭缝的窄边到所述斩波轮的圆心的距离小于所述狭缝的宽边到所述斩波轮的圆心的距离。
10.可选地,s1)中所述狭缝的窄边宽度d
min
满足:
[0011][0012]
式中,v表示为所述待测物表面的光斑高度,l2表示为所述斩波轮与所述光源的距离,l3表示为待测物表面与所述光源的距离。
[0013]
可选地,所述狭缝的窄边宽度d
min
介于0.1mm~0.8mm。
[0014]
可选地,所述光束出射面积模型满足:
[0015][0016]
其中,
[0017]
式中,从所述斩波轮的圆心出发对入射光束的光轴作出垂线,d表示为所述狭缝的光束入射区域在所述垂线上的投影与所述斩波轮的圆心的距离,d
min
表示所述投影与所述斩波轮的圆心最近的距离,d
max
表示所述投影与所述斩波轮的圆心最远的距离;d
l
表示为所述转波轮的厚度,d
θ
表示位于所述光束入射区域内的所述狭缝的平均缝宽,l2表示为所述斩波轮与所述光源的距离,r1表示为所述狭缝的宽边与所述斩波轮的圆心的距离;r0表示为所述狭缝的窄边与所述斩波轮的圆心的距离。
[0018]
可选地,所述狭缝的设计方法还包括:
[0019]
s3):基于所述狭缝的窄边宽度d
min
及所述狭缝的宽边宽度d
max
构建粒子输运仿真模型,模拟光源出射的光束入射到所述狭缝并出射为飞点光束的过程,其中,所述飞点光束的出射光通量与旋转角度θ相关;
[0020]
s4):微调所述粒子输运仿真模型中所述狭缝的宽边宽度d
max
的值,直至旋转角度为θ
max
°
时的出射光通量与旋转角度为0
°
时的出射光通量相等,并将调整后的宽边宽度d
max
作为最终的宽边宽度d
max

[0021]
本发明还提供一种斩波轮,所述斩波轮至少设置有一个狭缝,所述狭缝采用如前所述的狭缝的设计方法得到。
[0022]
可选地,所述斩波轮设置有n条所述狭缝,n条所述狭缝在所述斩波轮上等角度间隔分布,n为大于等于2的整数。
[0023]
可选地,所述斩波轮的厚度大于等于3mm。
[0024]
本发明还提供一种背散射成像装置,所述背散射成像装置包括光源、扇形准直器、探测器及如前任一项所述的斩波轮;其中,
[0025]
所述光源出射的光束为锥形光束;
[0026]
所述扇形准直器设置有准直光阑,所述锥形光束经过所述准直光阑后出射为扇形光束,并且,所述扇形准直器的光轴与所述光源的光轴同轴;
[0027]
所述扇形光束经过所述狭缝后出射为飞点光束;
[0028]
所述飞点光束照射到待检测表面后发生散射形成散射光射入所述探测器。
[0029]
本发明还提供一种信号矫正方法,,所述信号矫正方法包括:
[0030]
k1):使用如前所述的背散射成像装置对标准检测板进行成像,测量所述标准检测板的待测物表面的信号强度值,得到不同狭缝中不同测试点位的测量数据;
[0031]
k2):将所述测量数据按照不同的所述狭缝进行分类,得到每条所述狭缝的分类数
据;
[0032]
k3):基于所述分类数据中各个测试点位的测量数据分别确定每条狭缝的标准值,将每条所述狭缝的标准值与所述分类数据中每个所述测试点位的测量数据相除,得到每个所述测试点位的矫正模板;
[0033]
k4):基于所述矫正模板和对应测量点位实际采集的信号强度值,得到矫正后的信号强度值。
[0034]
如上所述,本发明的狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法,
[0035]
1):通过在斩波轮上设置呈等腰梯形形状的狭缝,解决了旋转角度θ较大时无光束出射的问题;
[0036]
2):优化了狭缝的宽边宽度,使旋转角度为θ
max
°
时的光束出射面积与旋转角度为0
°
时的光束出射面积相等,避免同一个狭缝产生的飞点光束之间出射光通量相差过大的问题;
[0037]
3):提供的信号矫正方法,能够使探测器检测到的光信号强度值更加均匀,成像质量更高。
附图说明
[0038]
图1显示为本发明所述实施例一中所述狭缝设计方法的流程图。
[0039]
图2显示为本发明所述实施例一及实施例二中所述背散射成像装置的结构示意图。
[0040]
图3显示为本发明所述实施例一中所述狭缝旋转角度为θ时,扇形光束入射到斩波轮上的效果图。
[0041]
图4显示为本发明所述实施例一中所述光束入射到狭缝并出射的光路图。
[0042]
图5显示为本发明所述实施例一中所述将步骤s2)计算得到的宽边宽度d
max
代入式6后得到的光束出射面积与旋转角度之间的关系曲线。
[0043]
图6显示为本发明所述实施例一中所述将步骤s2)计算得到的宽边宽度d
max
使用geant4软件建模仿真,得到的出射光通量与旋转角度之间的关系曲线。
[0044]
图7显示为本发明所述采用本实施例三所述信号矫正方法前,探测器测量到的信号强度值数据。
[0045]
图8显示为本发明所述采用本实施例三所述信号矫正方法后,探测器测量到的信号强度值并进行矫正后的信号强度值数据。
[0046]
元件标号说明
[0047]
10
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
背散射成像装置
[0048]
100
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
光源
[0049]
200
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
扇形准直器
[0050]
210
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
准直光阑
[0051]
300
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
斩波轮
[0052]
310
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
狭缝
[0053]
400
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
探测器
[0054]
500
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
待检测物体
[0055]
510
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
待检测表面
具体实施方式
[0056]
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
[0057]
请参阅图1至图8。须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。
[0058]
实施例一
[0059]
如图2所示,对于背散射成像装置10,其通常由光源100、扇形准直器200、斩波轮300及探测器400组成。
[0060]
光源100是x射线源,其可视为一点光源,且其出射角小于180
°
,因此其发出的x射线光束是一束锥形光束;扇形准直器200设置的准直光阑210的中心位于光轴上,准直光阑210的开口与锥形光束入射面垂直,准直光阑210将入射的锥形光束的一部分阻挡,出射为一个扇形光束;由准直光阑210出射的扇形光束入射在斩波轮300上,也即入射到狭缝310上,但是如图3所示,狭缝310仅有部分区域能够与入射光束产生交叠,其余的都会被阻挡,本实施例中,将入射光束与狭缝310产生交叠的部分定义为光束入射区域。由于斩波轮300工作时处于旋转状态,其带动狭缝310的旋转,当狭缝310处于不同的旋转角度θ时,其与入射光束产生交叠的位置不同,也即,光束入射区域的位置不同;并且,入射光束为扇形光束,出射光束会呈现为飞点光束,其中,飞点光束的光束出射面积s
θ
会呈现有周期性变化的规律(光束出射面积s
θ
的周期性变化与旋转角度θ的周期性变化相对应)。
[0061]
将狭缝310的中心轴线穿过扇形光束光轴时的旋转角度定义为0
°
,将狭缝310能够与入射光束能产生交叠的极限角度定义为最大旋转角度
±
θ
max
,当狭缝是长条状的矩形形状,且满足-θ
max
°
≤θ≤+θ
max
°
时,旋转角度θ愈大,飞点光束的光束出射面积s
θ
愈小,因此,本实施例中将狭缝310设计为等腰梯形形状,用于解决旋转角度θ愈大光束出射面积s
θ
愈小的问题;其中,等腰梯形形状的狭缝310的中心轴线穿过斩波轮300的圆心,狭缝310的窄边到圆心的距离小于狭缝310的宽边到圆心的距离。
[0062]
为了更好的解决旋转角度θ愈大光束出射面积s
θ
愈小的问题,并进一步避免同一条狭缝310产生的飞点光束出射光通量相差过大的问题,需要对等腰梯形形状的狭缝310的窄边宽度d
min
及宽边宽度d
max
进行设计,因此,如图1所示,本实施例还提供了狭缝310的设计方法,所述狭缝310的设计方法包括步骤s1)~步骤s2);需要说明的是,为了简洁的对实施例进行说明,从此处往后所述的狭缝310特指等腰梯形形状的狭缝310。
[0063]
步骤s1):基于待测物表面510的光斑高度得到所述狭缝310的窄边宽度d
min

[0064]
本实施例中,由于狭缝310设置在斩波轮300上,斩波轮300设置在背散射成像装置10内,因此,狭缝310的宽边宽度及窄边宽度的尺寸设计需要基于背散射成像装置10的整体
设计去考虑,首先,应先确定光源100、扇形准直器200、斩波轮300及成像表面510这些结构之间的间距,再确定狭缝310窄边距斩波轮圆心的距离、狭缝310宽边距斩波轮圆心的距离及待测物表面510的光斑高度,并进一步的通过这些参数计算确认狭缝310的窄边宽度d
min

[0065]
具体的,步骤s1)中所述狭缝310的窄边宽度d
min
满足公式:
[0066][0067]
式中,v表示为所述光斑高度,l2表示为所述斩波轮300与所述光源100的距离,l3表示为待测物表面510与所述光源100的距离。
[0068]
本实施例中,当光源100与斩波轮300的间距l2及光源100与待测物表面510的间距l3确定后,待测物表面510的光斑高度v由狭缝310的缝宽决定,两者线性相关,因此,可以使用光斑高度v计算得到狭缝310的窄边宽度d
min

[0069]
步骤s2):构建关于斩波轮300的光束出射面积模型,其中,光束出射面积s
θ
与所述狭缝310的宽边宽度d
max
和所述狭缝310的旋转角度θ相关,并且所述狭缝310的旋转角度介于-θ
max
°
~θ
max
°
;控制所述光束出射面积模型中的旋转角度θ,使旋转角度为θ
max
°
时的光束出射面积s
θmax
与旋转角度为0
°
时的光束出射面积s0相等,以此得到所述狭缝310的宽边宽度d
max

[0070]
本实施例中,如图3及图4所示,从所述斩波轮300的圆心出发对入射的扇形光束的光轴作出垂线,狭缝310旋转至与垂线成θ角。其中,图3中矩形框图表示为扇形光束照射到斩波轮300的区域,图3中梯形框图表示为狭缝的开口形状,矩形框图与梯形框图重叠的区域即为光束入射区域,并且,图3中阴影部分表示为光束出射区域,阴影部分的面积即为飞点光束的光束出射面积s
θ

[0071]
从斩波轮300的圆心出发沿着垂线方向做面积积分,可以得到飞点光束的光束出射面积s
θ
,其函数表达式如下:
[0072][0073]
式中,d表示为所述狭缝310的光束入射区域在所述垂线上的投影与所述斩波轮300的圆心的距离,d
min
表示所述投影与所述斩波轮300的圆心最近的距离,d
max
表示所述投影与所述斩波轮300的圆心最远的距离,d2表示为光束出射区域上边缘与垂线的距离,d3表示为光束出射区域下边缘与垂线的距离。
[0074]
并且,d3可表示为下述函数关系式:
[0075][0076]
式中,d表示为所述狭缝310的光束入射区域在所述垂线上的投影与所述斩波轮300的圆心的距离,θ表示为狭缝310的旋转角度,d
θ
表示位于所述光束入射区域内的所述狭缝的平均缝宽。
[0077]
并且,d
θ
可表示为下述函数关系式:
[0078][0079]
式中,θ表示为狭缝310的旋转角度,r1表示为所述狭缝310的宽边与所述斩波轮300的圆心的距离,r0表示为所述狭缝的窄边与所述斩波轮的圆心的距离,d
max
表示为所述
狭缝310的宽边宽度,d
min
表示为所述狭缝310的窄边宽度。
[0080]
令d1表示为光束入射区域的上边缘与垂线的距离,则d1可表示为下述函数关系式:
[0081][0082]
则,d2可表示为下述函数关系式:
[0083][0084]
式中,d
l
表示为所述转波轮300的厚度,l2表示为所述斩波轮300与所述光源100的距离。
[0085]
将式2、式3、式4及式5代入式1,可得以下函数关系式:
[0086][0087]
式中,d表示为所述狭缝310的光束入射区域在所述垂线上的投影与所述斩波轮300的圆心的距离,d
min
表示所述投影与所述斩波轮300的圆心最近的距离,d
max
表示所述投影与所述斩波轮300的圆心最远的距离,l2表示为所述斩波轮300与所述光源100的距离,d
l
表示为所述转波轮300的厚度,θ
max
表示为狭缝的最大旋转角度。
[0088]
拟定旋转角度θ=0
°
,则由式6可得到旋转角度为0
°
时的光束出射面积s0;拟定旋转角度θ=θ
max
°
,则由式6中得到旋转角度为θ
max
°
时的光束出射面积s
θmax
;令s0=s
θmax
,则可求得狭缝的宽边宽度d
max

[0089]
需要说明的是,对于背散射成像装置10,通过式6计算得到的光束出射面积可以表征飞点光束照射到被检查表面510的光通量,但是在实际应用中,由于狭缝的衍射与干涉、准直光阑的衍射与干涉、x射线光子与物质原子之间的反应,飞点光束的出射光通量与通过式6计算得到的光束出射面积之间会存在一定的误差,因此,步骤s2)中计算得到的宽边宽度d
max
仅为一个粗略值。
[0090]
本实施例中,还需采用步骤s3)及步骤s4)中的设计方法,来对宽边宽度d
max
进行进一步微调,以确认更为精准的宽边宽度d
max
值,使得旋转角度为θ
max
°
时的出射光通量与旋转角度为0
°
时的出射光通量相等。
[0091]
步骤s3):基于所述狭缝的窄边宽度d
min
及所述狭缝的宽边宽度d
max
构建粒子输运仿真模型,模拟光源出射的光束入射到所述狭缝并出射为飞点光束的过程,其中,所述飞点光束的出射光通量与旋转角度θ相关。
[0092]
本实施例中,粒子输运仿真模型可以采用geant4、mcnp等软件制作,模拟光源100出射的等量光子束的锥形x光线,x光线经过准直光阑200出射为扇形光束,扇形光束经过狭缝310出射为飞点光束,最终检测出射的飞点光束的光子数量记为该旋转角度下θ的出射光通量。
[0093]
步骤s4):微调所述粒子输运仿真模型中所述狭缝的宽边宽度d
max
的值,直至旋转角度为θ
max
°
时的出射光通量与旋转角度为0
°
时的出射光通量相等,并将调整后的宽边宽度d
max
作为最终的宽边宽度d
max

[0094]
本实施例中,采用步进微调的方式微调所述狭缝的宽边宽度d
max
的值,譬如,以0.05mm做为微调的步进精度,步进调整狭缝的宽边宽度d
max
,在实际操作中,可依据如图6所
示的模拟曲线图实时确认微调方向及微调结果,当步进调整狭缝的宽边宽度d
max
使曲线两端(旋转角度为
±
θ
max
°
)的出射光通量更加偏离曲线中心(旋转角度为0
°
)的出射光通量时,则反方向步进调整狭缝的宽边宽度d
max
,确认了调整方向后,再微调狭缝的宽边宽度d
max

[0095]
作为示例,如图5所示,将步骤s2)计算得到的宽边宽度d
max
代入式6后得到的光束出射面积与旋转角度之间的关系曲线,可看出曲线两端的光束出射面积与曲线中心的光束出射面积基本持平;如图6所示,将步骤s2)计算得到的宽边宽度d
max
使用gent4软件建模仿真,得到的出射光通量与旋转角度之间的关系曲线,可以看出,曲线两端的出射光通量明显低于曲线中心的出射光通量,因此,对于步骤s2)计算得到的宽边宽度d
max
还需采用步骤s3)~步骤s4)中设计方法对宽边宽度d
max
微调。
[0096]
实施例二
[0097]
本实施例提供一种斩波轮300,所述斩波轮300应用了如实施例一所述的狭缝310设计方法得到的狭缝310。
[0098]
本实施例中,斩波轮300的厚度应大于3mm,其采用用高密度的金属制作,比如铅、锡等金属,能够有效的屏蔽x射线,防止x射线穿透阻挡区域;狭缝310设置在斩波轮300上,其既可以是一条,也可以是多条,当狭缝310的数量大于等于两个时,每条狭缝310等间隔设置,作为示例,狭缝310数量为5条,每条狭缝310之间以72
°
的角度间隔等间隔设置。并且,狭缝310的窄边宽度d
min
的值介于0.1mm~0.8mm,以满足背散射成像装置10的光斑高度的设计要求。
[0099]
本实施例还提供一种背散射成像装置10,所述背散射成像装置10应用了如前所述的斩波轮300,所述背散射成像装置10出射的飞点光束不会出现呈现两端小,中间大的分布情况(甚至是飞点光束两端没有信号的情况),而且同一个狭缝310产生的飞点光束之间不会有出射光通量相差过大的问题。
[0100]
实施例三
[0101]
本实施例提供一种信号矫正方法,所述信号矫正方法用于对如实施例二所述的背散射成像装置10进行信号矫正,所述信号矫正方法的步骤包括:步骤k1)~步骤k4)。
[0102]
步骤k1):使用如实施例二所述的背散射成像装置10对标准检测板500进行成像,测量所述标准检测板500的待测物表面510的信号强度值,得到不同狭缝310中不同测试点位的测量数据。
[0103]
本实施例中,所述标准检测板500面向光源100的一面即为待测物表面510,其厚度分布均匀、密度均匀,确保测量数据准确;作为示例,斩波轮300匀速旋转,其上等角度间隔设置有5条狭缝,每条狭缝设置720个测试点位(也即斩波轮每0.1
°
设置一个测试点位),每当斩波轮300旋转一圈,可以获得3600个点位的测试数据,其中,既可以仅旋转一圈,获得一圈的测试数据,也可以旋转若干圈,获得每个测试点位若干圈测试数据的平均值。
[0104]
步骤k2):将所述测量数据按照不同的所述狭缝310进行分类,得到每条所述狭缝310的分类数据。
[0105]
作为示例,斩波轮300上设置的5条狭缝,0
°‑
72
°
之间的720个测试数据属于第一条狭缝的分类数据,72
°‑
144
°
之间的720个测试数据属于第二条狭缝的分类数据,144
°‑
216
°
之间的720个测试数据属于第三条狭缝的分类数据,216
°‑
288
°
之间的720个测试数据属于第四条狭缝的分类数据,288
°‑
360
°
之间的720个测试数据属于第五条狭缝的分类数据。
[0106]
步骤k3):基于所述分类数据中各个测试点位的测量数据分别确定每条狭缝的标准值,将每条所述狭缝的标准值与所述分类数据中每个所述测试点位的测试数据相除,得到每个所述测试点位的矫正模板。
[0107]
作为示例,以第一条狭缝的分类数据举例,依据其具有的720个测试数据获得一个标准值(譬如:可以直接对720个测试数据求均值或中位数,求得的均值、中位数即为所述标准值),获得的标准值分别除以720个测试数据,除得720个矫正值,这720个矫正值即作为720个测试点位的矫正模板;第二、第三、第四及第五条狭缝的矫正模板获得方法与第一条狭缝的矫正模板获得方法相同,也即,每条狭缝的每个测试点位都会计算得到一个矫正值。
[0108]
步骤k4):基于所述矫正模板和对应测量点位实际采集的信号强度值,得到矫正后的信号强度值。
[0109]
本实施例中,采用背散射成像装置10对物体表面成像,探测器实际检测到的信号强度值也会按照角度对应关系进行区分,然后乘以对应测量点位的矫正值即可得到矫正后的信号强度值;譬如在斩波轮旋转角度为0.1
°
时测得的信号强度值,乘以斩波轮旋转角度为0.1
°
的测量点位的矫正值,即可得到矫正后的0.1
°
的信号强度值;将旋转角度为0
°‑
72
°
内,实际测量到的信号强度值,乘以第一条狭缝的矫正模板,即可得到矫正后的第一条狭缝的信号强度值。
[0110]
作为示例,如图7所示,为采用本实施例所述信号矫正方法前,用探测器400对厚度均匀、密度均匀的标准检测板的表面进行成像,测量得到的信号强度值数据,图7中显示有5条狭缝的信号强度值数据,每条狭缝的信号强度值的峰值与谷值之间的极差较大,影响探测器400最终的成像质量;如图8所示,用探测器400对厚度均匀、密度均匀的标准检测板的表面进行成像,并采用本实施例所述信号矫正方法后,探测器400测量到的信号强度值矫正后的数据,图8中显示也有5条狭缝的信号强度值数据,每条狭缝的信号强度值的峰值与谷值之间的相对较小,探测器400最终的成像质量较高。
[0111]
综上所述,本发明提供的狭缝设计方法、斩波轮、背散射成像装置及信号矫正方法,通过在斩波轮上设置呈等腰梯形形状的狭缝,解决了旋转角度θ较大时无光束出射的问题;优化了狭缝的宽边宽度,使旋转角度为θ
max
°
时的光束出射面积与旋转角度为0
°
时的光束出射面积相等,避免同一个狭缝产生的飞点光束之间出射光通量相差过大的问题;提供的信号矫正方法,能够使探测器检测到的光信号强度值更加均匀,成像质量更高。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
[0112]
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。
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