一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法及电路与流程

文档序号:33736617发布日期:2023-04-06 08:02阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法,其特征在于,步骤s1中,可变恒温电压芯片的温度由室温开始逐渐升高,经历n个台阶的后到达最高温度tmax,每个台阶间温度上升为t,可变恒温电压芯片的温度在每个台阶的持续时间为t。

3.根据权利要求1所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法,其特征在于,步骤s3中,根据步骤s1中经历的n个台阶,可变恒温电压芯片的温度降低过程包括n个阶段,具体如下:

4.根据权利要求1所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法,其特征在于,通过对施加可变恒温电压芯片设定的电压,控制可变恒温电压芯片的加热功率,进而控制可变恒温电压芯片温度以及可变恒温电压芯片在该温度的持续时间。

5.一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于,包括一个微控制单元(mcu)、一个并行数字模拟转换器(dac)、一个电压参考标准和四个运算放大器单元;

6.根据权利要求5所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于:采用16位并行数字模拟转换器(dac),电压参考标准的电压输出引脚与16位并行数字模拟转换器(dac)的r1引脚相连,同时16位并行数字模拟转换器(dac)的r1引脚与一旁路电容连接至地;

7.根据权利要求5所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于:通过微控制单元(mcu)中编写的程序,利用微控制单元(mcu)中的定时器,控制老化训练电路输出设定的时序电压波形,从而控制可变恒温电压芯片内部温度的升降,完成消除应力和加速老化的过程。

8.根据权利要求7所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于:所述设定的时序电压波形具体如下:

9.根据权利要求6所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于:vref由电压标准提供标准电压,该电压标准采用10v能隙型标准电压芯片。

10.根据权利要求6所述的一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练电路,其特征在于:第四运算放大器e用于提高运算放大器的驱动能力,使用功率缓冲器lt1010;限流电阻f用于将可变恒温电压芯片的信号输入端处的电压限制在vbe-90mv~vbe+120mv范围内。


技术总结
本发明公开一种高精度可变恒温电压芯片组件的老化训练方法及电路。所述方法可使可变恒温电压芯片的输出电压在较短时间稳定在规定技术特性范围内,缩短可变恒温电压芯片域外陈化时间,实现的方式是通过一个特殊的温度控制组件对可变恒温电压芯片组件施加一个特定的电压,并经历特定的时间,从而控制芯片的温度来达到加速芯片的老化;控制组件包括一个电子电路,该电子电路实施老化训练期间控制可变恒温电压芯片的温度;同时,本发明还公开了一个专门实现上述老化训练方法的电子电路,实现对高精度可变恒温电压芯片组件的经历特定的温度、并设定在每个温度下维持特定的时间,以此实现在较短的时间内消除或减弱芯片的内应力,从而达到芯片老化的目的。

技术研发人员:梁显有,黄泰秦,古颖
受保护的技术使用者:广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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