技术特征：
1.一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，包括步骤：将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；标定同光轴放置后的0
°
偏振位置；将待测波片插入起偏器和检偏器之间，将起偏器从0
°
偏振位置开始旋转一周，产生一组变化的出射光强度曲线，通过光强探测器记录所述一组变化的出射光强度曲线，并对记录的所述一组变化的出射光强度曲线进行曲线拟合，获取待测波片延迟量和快轴角度。2.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述标定同光轴放置后的0
°
偏振位置，具体包括步骤：保持起偏器、检偏器和光强探测器的位置不变，将起偏器旋转一周，记录出射光强度随起偏器旋转一周所产生的出射光强度曲线，对所述出射光强度曲线进行拟合，将出射光强度曲线的峰值位置设为检偏器的透射方向，并将所述峰值标定为0
°
偏振位置。3.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述出射光强度曲线的表达式为：i
out
＝i
in
[1+(cos22θ+sin22θcosδ)cos2x+sin2θcos2θ(1-cosδ)sin2x]；其中，i
out
为出射光强度，i
in
为入射光强度，δ为波片延迟量，θ为快轴角度，x为起偏器与x轴之间的夹角，i
in
、δ和θ均为未知参数。4.如权利要求1所述的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，所述起偏器的入射光源为退偏光。
技术总结
一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，包括步骤：将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；标定同光轴放置后的0
技术研发人员：徐磊 朱玲琳 曾爱军 黄惠杰
受保护的技术使用者：上海镭望光学科技有限公司
技术研发日：2022.09.28
技术公布日：2023/1/6