技术特征：
1.一种电路板级并行自动测试系统，其特征在于：包括测试控制器(1)，测试控制器(1)通过总线连接并控制仪器资源平台(2)中的仪器资源，仪器资源平台(2)通过阵列接口(6)与接口适配装置(3)的接口部件对接，接口适配装置具有多个槽位，接口适配装置(3)的每个槽位与电气转换装置(4)的前置连接器相连接，电气转换装置(4)的后置连接器上连接被测电路板(5)，实现并行测试。2.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述仪器资源平台(2)的阵列接口对应连接接口适配装置的多个槽位，阵列接口的数量决定最多并行测试的被测电路板的数量。3.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述电气转换装置(4)的前置连接器的数量与并行测试中被测电路板的最大数量一致。4.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述测试控制器(1)包括：管理模块，负责管理仪器资源和被测电路板的信息；连线模块，负责提供整个系统的连接关系信息；运行模块，负责测试程序的执行和调度、仪器资源的分配和调用，支持断点调试和变量查看；驱动程序模块，负责仪器资源驱动程序的开发，提供运行模块调用所需的控制接口；测试程序模块，负责测试程序的开发，测试包括加电、断点和测试项目函数，提供运行模块调用所需的控制接口；数据模块，负责管理测试结果和测试流程信息，包括标准值、实测值、测试资源使用情况，并提供打印功能。5.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述仪器资源平台(2)用于提供被测电路板测试时所需要的仪器资源，根据信号类型分为：激励类资源用于提供被测电路板所需的激励信号，测量类资源用于完成被测电路板输出信号的测量，开关类资源用于提供各类资源的转接切换，总线类资源用于实现被测电路板的总线通信；根据并行测试时资源的隶属关系分为：独享资源是指多个电路板并行测试时，被每个被测电路板独立拥有的资源，共享资源是指多个电路板并行测试时，被多个电路板共同拥有的资源，独享资源直接分配给被测电路板，共享资源通过矩阵开关切换分配给被测电路板。6.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述接口适配装置(3)包括接口部件(31)，接口部件(31)与仪器资源平台(2)中的阵列接口对接；接口部件(31)设置在箱体(32)上，根据测试需求增加控制和调理电路，箱体(32)上还设置有支撑体(33)，用于放置被测电路板。7.根据权利要求1的电路板级并行自动测试系统，其特征在于：所述电气转换装置(4)包括与接口适配装置(3)对接的前置连接器(41)、与被测电路板对接的后置连接器(42)以及印制电路板(43)，前置连接器(41)安装在接口适配装置(3)的前背板，每种型号的被测电路板都有对应的电气转换装置，用于实现适配装置前背板中单个连接器组与单个被测电路板之间的接口适配，并实现仪器资源中数字量信号的扩展和电平转换，根据需求将数字量信号转换为开关量信号、数字ttl信号和数字差分信号。8.一种电路板级并行自动测试系统的测试方法，其特征在于：应用权利要求1-7任一项
所述的电路板级并行自动测试系统进行并行测试。9.根据权利要求8所述的电路板级并行自动测试系统的测试方法，其特征在于：测试方法具体步骤有：s1,连接被测电路板：将被测电路板通过电气装换装置连接到接口适配装置上,使电气转换装置与被测电路板一一对应，接口适配装置连接到仪器资源平台上；s2,加载被测电路板的测试程序：测试控制器的运行模块通过读取电气转换装置的印制电路板的信息，确定被测电路板的型号索引，再从管理模块中查询型号索引对应的被测电路板信息，从而自动加载被测电路板的测试程序；s3,主线程并行测试：启动电路板并行测试主线程，每个被测电路板的测试程序作为子线程，根据被测电路板所在接口转换装置的槽位确定每个子线程的优先级，槽位数字越小优先级越高；s4,子线程并行测试：每个被测电路板的子线程包含多个测试项目，每个测试项目在运行前都需要将仪器资源需求提交给主线程，通过主线程判断当前子线程的仪器资源需求是否能够满足，如果满足则主线程通知子线程运行相应的测试项目，不满足则主线程通知子线程继续等待，直到仪器资源需求满足。10.根据权利要求9所述的电路板级并行自动测试系统的测试方法，其特征在于：还包括测试准备阶段和测试撤收阶段，测试准备阶段包括以下方法：利用测试控制器的驱动程序模块完成仪器资源平台驱动程序的开发；利用测试控制器的测试程序模块完成被测电路板的测试程序的开发；利用测试控制器的管理模块完成仪器资源平台的信息配置和被测电路板的信息配置；利用测试控制器的连线模块完成系统连线信息的开发；将接口适配装置的接口部件连接到仪器资源平台的阵列接口上，然后将被测电路板通过电气装换装置连接到接口适配装置的前背板上；测试撤收阶段包括以下步骤：仪器控制平台和测试控制器依次断电；将被测电路板、电气转换装置和接口适配装置依次拆下，放在指定位置。
技术总结
本发明公开了一种电路板级并行自动测试系统及测试方法，包括测试控制器，测试控制器通过总线连接并控制仪器资源平台中的仪器资源，仪器资源平台通过阵列接口与接口适配装置的接口部件对接，接口适配装置具有多个槽位，接口适配装置的每个槽位与电气装换装置的前置连接器相连接，电气转换装置的后置连接器上连接被测电路板，实现并行测试。测试方法包括S1,连接被测电路板，S2,加载被测电路板的测试程序，S3,主线程并行测试，S4,子线程并行测试。本发明能够实现多块被测电路板的并行测试，提高了测试效率，减少了测试时间。减少了测试时间。减少了测试时间。
技术研发人员：李文海 吴忠德 文天柱 刘勇 王怡苹 孙伟超 唐曦
受保护的技术使用者：中国人民解放军海军航空大学
技术研发日：2022.10.14
技术公布日：2023/2/2