1.本技术涉及锂电池技术领域,具体而言,涉及一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法、装置、设备及介质。
背景技术:2.随着锂离子电池生产技术的不断提升,其应用领域也越来越广泛。其中,在锂电池的结构中,隔膜是关键的内层组件之一。隔膜的性能决定了电池的界面结构、内阻等,直接影响电池的容量、循环以及安全性能等特性,性能优异的隔膜对提高电池的综合性能具有重要的作用。尤为关键的,隔膜能够使电池的正、负极分隔开来,从而防止两极接触而短路。所以如果隔膜的击穿电压较小,很容易在锂电池使用过程中出现击穿,导致电芯短路,造成安全隐患。因此,就需要对锂电池隔膜进行击穿电压测试。
3.目前,一般采用静态直流测试方式对锂电池隔膜进行击穿电压测试,但是这种方式一方面测试时间长、效率低;另一方面未考虑到锂电池的实际生成场景,即,未考虑到锂电池生产过程中正负极片掉粉,环境粉尘,设备机构磨损产生的金属屑等因素,而这些粉尘、金属屑都极易造成隔膜击穿导致电池内短路,使得击穿电压的测试值与实际值相差较大。
技术实现要素:4.有鉴于此,本技术的目的在于提供一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法、装置、设备及介质,能够准确模拟待测隔膜在锂电池生产过程中存在异物时的最低击穿电压,提升锂电池隔膜击穿电压的检测精度。
5.第一方面,本技术提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置,所述方法包括以下步骤:
6.选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;
7.基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。
8.在一种可能的实施方式中,所述锂电池隔膜击穿电压测试装置包括脉冲高电压短路测试仪,以及从所述脉冲高电压短路测试仪引出的镜面上极板和镜面下极板;所述基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压,包括以下步骤:
9.从选取的多种不同厚度的锂电池隔膜中,确定一种固定厚度的锂电池隔膜作为待测锂电池隔膜,并将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间;
10.从选取的多份不同粒径的颗粒中,确定一份固定粒径的颗粒作为模拟异物,并将所述模拟异物均匀分散到所述待测锂电池隔膜铺上;
11.启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到
所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
12.在一种可能的实施方式中,采用固定面积、不同目数的筛网,或者颗粒喷射装置按照设定的剂量选取多份不同粒径的颗粒;其中,所述颗粒为金属颗粒、碳粉颗粒或者聚合物颗粒。
13.在一种可能的实施方式中,所述将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间,包括以下步骤:
14.将所述待测锂电池隔膜卷状放置于所述镜面上极板和所述镜面下极板的侧边,并将所述待测锂电池隔膜沿其长度方向连续划分多个测试区域;
15.对所述镜面上极板和所述镜面下极板的边缘毛刺分别进行抛光;
16.抽拉所述待测锂电池隔膜的起始端,并将某一所述测试区域对应铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间。
17.在一种可能的实施方式中,所述启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压,包括以下步骤:
18.设置所述脉冲高电压短路测试仪的起始电压、步幅电压、升压时间和最高保护电压;
19.启动所述脉冲高电压短路测试仪,使其按照设定的所述起始电压、所述步幅电压和所述升压时间对所述待测锂电池隔膜进行测试,直至铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间的所述测试区域被击穿,所述脉冲高电压短路测试仪报警,并停止所述脉冲高电压短路测试仪;
20.记录所述脉冲高电压短路测试仪停止时的终止电压,以将所述终止电压作为所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
21.在一种可能的实施方式中,所述启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压,还包括以下步骤:
22.针对所述待测锂电池隔膜划分的多个测试区域分别进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的多组击穿电压数据。
23.在一种可能的实施方式中,所述待测锂电池隔膜的宽度大于所述镜面上极板和所述镜面下极板的长度。
24.第二方面,本技术提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测装置,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置;所述装置包括:
25.选取模块,用于选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;
26.测试模块,用于基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。
27.第三方面,本技术提供的一种电子设备,包括:处理器、存储器和总线,所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,所述处理器与所述存储器之间通过总线通信,所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如第一方面所述的锂电池隔膜击穿电压的检测方法的步骤。
28.第四方面,本技术提供的一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器运行时执行时执行如第一方面所述的锂电池隔膜击穿电压的检测方法的步骤。
29.本实施例提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法、系统、设备及介质,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置,选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。一方面使得检测环境更贴合锂电池的实际生产环境,获取的锂电池隔膜击穿电压相比现有技术更加准确;另一方面通过记录的不同厚度锂电池隔膜在不同粒径颗粒环境下的击穿电压数据,可以更好地筛选适合量产的隔膜。
附图说明
30.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
31.图1为本技术一实施例中所述锂电池隔膜击穿电压的检测方法的流程示意图;
32.图2为本技术一实施例中所述锂电池隔膜击穿电压测试装置的结构示意图;
33.图3为本技术一实施例中放置待测锂电池隔膜的流程示意图;
34.图4为本技术一实施例中基于脉冲高电压短路测试仪对待测锂电池隔膜进行击穿电压测试的流程示意图;
35.图5为本技术一实施例中所述不同厚度锂电池隔膜在不同粒径颗粒环境下的击穿电压数据的正态直方图;
36.图6为本技术一实施例中所述锂电池隔膜击穿电压的检测装置的结构示意图;
37.图7为本技术一实施例中所述的电子设备的结构框图。
具体实施方式
38.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,应当理解,本技术中附图仅起到说明和描述的目的,并不用于限定本技术的保护范围。另外,应当理解,示意性的附图并未按实物比例绘制。本技术中使用的流程图示出了根据本技术的一些实施例实现的操作。应该理解,流程图的操作可以不按顺序实现,没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外,本领域技术人员在本技术内容的指引下,可以向流程图添加一个或多个其他操作,也可以从流程图中移除一个或多个操作。
39.另外,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围,而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
40.需要说明的是,本技术实施例中将会用到术语“包括”,用于指出其后所声明的特征的存在,但并不排除增加其它的特征。
41.隔膜是锂离子电池中非常重要的材料之一,其主要作用是在电池内部隔离正极片和负极片,防止内短路,然而在锂电池生产过程中,正极片和负极片掉粉,环境粉尘,设备机构磨损产生的金属屑等,都极易造成隔膜击穿从而导致电池内短路,因此在不同规格锂电池生产过程中,需要一种可靠、准确的方式来测试不同厚度隔膜的击穿电压,根据测试结果选择合适的隔膜用于量产电池。但是现有技术中,在测试不同厚度隔膜的击穿电压时,并不会去模拟隔膜在锂电池生产过程中存在异物的环境,从而导致测量出的隔膜击穿电压与实际场景中的隔膜击穿电压相差较大,进而在根据测量出的隔膜击穿电压去选择合适的隔膜用于量产电池,并不可靠。基于此,本技术提供一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法、系统、设备及介质,能够准确模拟待测隔膜在锂电池生产过程中存在异物时的最低击穿电压,提升锂电池隔膜击穿电压的检测精度,保证选择合适可靠的隔膜用于量产电池。
42.参见说明书附图1,在一实施例中,本技术提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置,所述方法包括以下步骤:
43.s1、选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;
44.为了清楚地了解本发明实施例的技术方案,可以先对应用场景进行示例性说明。在本技术中,所提供的锂电池隔膜击穿电压的检测方法应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置,通过锂电池隔膜击穿电压测试装置完成锂电池隔膜在不同异物场景下的击穿电压。其中,锂电池隔膜击穿电压测试装置的结构示意图可以参见说明书附图2,其主要由脉冲高电压短路测试仪、镜面上极板和镜面下极板组成,所述镜面上极板和所述镜面下极板用于模拟锂电池的正极片和负极片,并且所述镜面上极板和所述镜面下极板分别开设接线孔,用于与从脉冲高电压短路测试仪的正负极端引出的测试线夹子连接,由脉冲高电压短路测试仪提供测试电压,并且所述脉冲高电压短路测试仪具备漏电流检测功能,即当铺设于镜面上极板和镜面下极板之间的隔膜被击穿时,镜面上极板与镜面下极板出现短接现象,脉冲高电压短路测试仪检测到漏电流,进行告警并停止施压。
45.步骤s1中,可以通过采用固定面积、不同目数的筛网,或者颗粒喷射装置按照设定的剂量选取多份不同粒径的颗粒,例如50μm、100μm、200μm、350μm、500μm、1000μm、1500μm,颗粒的材质可以为铁、铜、铝、铁锂颗粒、碳粉颗粒、聚合物颗粒等,从而能够更贴合实际的模拟锂电池生产过程中可能混入的异物。
46.进一步的,在本技术中除了选取多份不同粒径的颗粒来模拟锂电池生产过程中可能混入的异物,来检测隔膜的击穿电压之外,还选取多种不同厚度的锂电池隔膜,用于对比不同隔膜在不同粒径异物存在时的击穿电压,以更准确地筛选适合量产的隔膜。
47.s2、基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。
48.步骤s2中,在测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压时,可以先选取一种厚度的锂电池隔膜,依次测试其在不同粒径异物存在时的击穿电压,待该种厚度的锂电池隔膜测试完毕后,再选取另一种厚度的锂电池隔膜进行测试。
49.具体的,在一实施例中,可以从选取的多种不同厚度的锂电池隔膜中,先确定一种固定厚度的锂电池隔膜作为待测锂电池隔膜,并将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间;再从选取的多份不同粒径的颗粒中,确定一份固定粒径的颗粒作为模拟异物,并将所述模拟异物均匀分散到所述待测锂电池隔膜铺上;最后启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
50.依此,逐个测试所述待测锂电池隔膜在不同粒径异物存在时的击穿电压,直至完成所有选取的不同粒径异物存在时的击穿电压测试。再选取另一种厚度的锂电池隔膜作为待测锂电池隔膜,对其进行在不同粒径异物存在时的击穿电压测试。
51.在一实施例中,参见说明书附图3,将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间,包括以下步骤:
52.s201、将所述待测锂电池隔膜卷状放置于所述镜面上极板和所述镜面下极板的侧边,并将所述待测锂电池隔膜沿其长度方向连续划分多个测试区域;
53.s202、对所述镜面上极板和所述镜面下极板的边缘毛刺分别进行抛光;
54.s203、抽拉所述待测锂电池隔膜的起始端,并将某一所述测试区域对应铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间。
55.即,在基于锂电池隔膜击穿电压测试装置对待测锂电池隔膜进行击穿电压测试之前,应当预先做好准备工作,铺设待测锂电池隔膜以及均匀分散一份固定粒径的颗粒至待测锂电池隔膜上。由于在本技术中,需要对待测锂电池隔膜进行不同粒径异物存在时的,并且针对每一份固定粒径的异物存在时的击穿电压测试,也需要进行多次,所以需要较大量的待测锂电池隔膜。
56.在该实施例中,选取一卷待测锂电池隔膜作为备用,并放置于镜面上极板和镜面下极板的侧边,这样既满足待测锂电池隔膜的量需,又便于每次进行击穿电压测试时,通过抽拉其起始端更换测试区域。其中,所述测试区域是指待测锂电池隔膜铺设于镜面上极板和镜面下极板之间的部分,由于在经过击穿电压测试之后,该测试区域被击穿,所以再下次进行击穿电压测试时,这部分待测锂电池隔膜就不能使用了,只能选取另一测试区域。
57.需要说明的是,在对待测锂电池隔膜进行击穿电压测试之前,还应当检查镜面上极板和镜面下极板边缘是否存有毛刺,若存有毛刺,应当对其进行抛光及时清除,这是由于在进行击穿电压测试过程中,毛刺周围会聚集大量的不平衡电荷,导致电场发生畸变,从而影响击穿电压测试的准确性。
58.另外,为了避免从脉冲高电压短路测试仪的正负极端引出的测试线夹子连接镜面上极板和镜面下极板出现误碰短接,待测锂电池隔膜的宽度大于镜面上极板和镜面下极板的长度10mm~15mm。
59.其中,参见说明书附图4,在镜面上极板和镜面下极板之间铺设好待测锂电池隔膜,以及均匀分散一份固定粒径的颗粒至待测锂电池隔膜上之后,启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压,包括以下步骤:
60.s204、设置所述脉冲高电压短路测试仪的起始电压、步幅电压、升压时间和最高保护电压;
61.s205、启动所述脉冲高电压短路测试仪,使其按照设定的所述起始电压、所述步幅电压和所述升压时间对所述待测锂电池隔膜进行测试,直至铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间的所述测试区域被击穿,所述脉冲高电压短路测试仪报警,并停止所述脉冲高电压短路测试仪;
62.s206、记录所述脉冲高电压短路测试仪停止时的终止电压,以将所述终止电压作为所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
63.即,在启动所述脉冲高电压短路测试仪时,应当先设置其电气参数,具体的,在一实施例中,设置起始电压为0v,步幅电压为50v,升压时间为1000ms,最高保护电压为2500v。其中,所述升压时间1000ms是指从0v开始,每爬升50v的时间,在该实施例中,之所以将升压时间设置为1000ms,是由于这样设定既能保证测试结果的准确性,又不会因为时间设置过长影响效率。
64.在设置好电气参数之后,启动脉冲高电压短路测试仪,并循序升压,对待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,直至脉冲高电压短路测试仪的输出电压上升到某一值时,脉冲高电压短路测试仪报警,说明此刻铺设于镜面上极板和镜面下极板之间待测锂电池隔膜被击穿,镜面上极板和镜面下极板出现短接现象,当前脉冲高电压短路测试仪的终止电压即为待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
65.在一实施例中,选取材质为铁质金属的350μm和500μm两种粒径颗粒,以及随机取样某厂家厚度为16μm和20μm两种待测锂电池隔膜各一卷,按照上述提供的锂电池隔膜击穿电压的检测方法进行测试,得到16μm和20μm两种厚度的待测锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入粒径为350μm和500μm铁质金属颗粒环境下的击穿电压数据。其中,同一厚度的待测锂电池隔膜卷在针对模拟锂电池生产过程中混入同一粒径的颗粒时,通过选取五块测试区域进行击穿电压测试,总计得到20组数据,如表一所示。
[0066][0067]
表一
[0068]
进一步的,将上述表一所示的击穿电压数据生成正态直方图,如说明书附图5所示,其中,厚度为16μm的待测锂电池隔膜在混入350μm粒径颗粒时的平均击穿电压为462.6v,厚度为20μm的待测锂电池隔膜在混入350μm粒径颗粒时的平均击穿电压为807.8v,厚度为16μm的待测锂电池隔膜在混入500μm粒径颗粒时的平均击穿电压为198.2v,厚度为20μm的待测锂电池隔膜在混入500μm粒径颗粒时的平均击穿电压为349.8v,进而可以分析出:在金属颗粒粒径固定时,待测锂电池隔膜厚度越厚,对应隔膜击穿电压越高;在待测锂电池隔膜厚度固定时,金属颗粒粒径越大,对应隔膜击穿电压越小。
[0069]
本技术提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法,在通过锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜的击穿电压时,选取多份不同粒径的颗粒,并均匀分散到待测锂电池隔膜上,用于作为模拟锂电池生产过程中混入的异物,从而能够得到不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压,相比现有技术测试的击穿电压更加精准,并且通过得到的击穿电压数据,可以可直观的对比出不同隔膜在不同粒径金属异物存在时的击穿电压,能够更准确地筛选适合量产的隔膜。
[0070]
基于同一发明构思,本技术实施例中还提供了一种锂电池隔膜击穿电压的检测装置,由于本技术实施例中的装置解决问题的原理与本技术实施例上述一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法相似,因此装置的实施可以参见方法的实施,重复之处不再赘述。
[0071]
如说明书附图6所示,本技术还提供了一种锂电池隔膜击穿电压的检测装置,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置;所述装置包括:
[0072]
选取模块601,用于选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;
[0073]
测试模块602,用于基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。
[0074]
在一些实施方式中,所述锂电池隔膜击穿电压测试装置包括脉冲高电压短路测试仪,以及从所述脉冲高电压短路测试仪引出的镜面上极板和镜面下极板;所述测试模块602基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压,包括:
[0075]
从选取的多种不同厚度的锂电池隔膜中,确定一种固定厚度的锂电池隔膜作为待测锂电池隔膜,并将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间;
[0076]
从选取的多份不同粒径的颗粒中,确定一份固定粒径的颗粒作为模拟异物,并将所述模拟异物均匀分散到所述待测锂电池隔膜铺上;
[0077]
启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
[0078]
在一些实施方式中,采用固定面积、不同目数的筛网,或者颗粒喷射装置按照设定的剂量选取多份不同粒径的颗粒;其中,所述颗粒为金属颗粒、碳粉颗粒或者聚合物颗粒。
[0079]
在一些实施方式中,所述测试模块602将所述待测锂电池隔膜铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间,包括:
[0080]
将所述待测锂电池隔膜卷状放置于所述镜面上极板和所述镜面下极板的侧边,并将所述待测锂电池隔膜沿其长度方向连续划分多个测试区域;
[0081]
对所述镜面上极板和所述镜面下极板的边缘毛刺分别进行抛光;
[0082]
抽拉所述待测锂电池隔膜的起始端,并将某一所述测试区域对应铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间。
[0083]
在一些实施方式中,所述测试模块602启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压,包括:
[0084]
设置所述脉冲高电压短路测试仪的起始电压、步幅电压、升压时间、和最高保护电压;
[0085]
启动所述脉冲高电压短路测试仪,使其按照设定的所述起始电压、所述步幅电压和所述升压时间对所述待测锂电池隔膜进行测试,直至铺设于所述镜面上极板和所述镜面下极板之间的所述测试区域被击穿,所述脉冲高电压短路测试仪报警,并停止所述脉冲高电压短路测试仪;
[0086]
记录所述脉冲高电压短路测试仪停止时的终止电压,以将所述终止电压作为所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压。
[0087]
在一些实施方式中,所述测试模块602启动所述脉冲高电压短路测试仪对所述待测锂电池隔膜进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的击穿电压,还包括:
[0088]
针对所述待测锂电池隔膜划分的多个测试区域分别进行击穿电压测试,得到所述待测锂电池隔膜在所述模拟异物环境下的多组击穿电压数据。
[0089]
在一些实施方式中,所述待测锂电池隔膜的宽度大于所述镜面上极板和所述镜面下极板的长度。
[0090]
本技术所提供的一种锂电池隔膜击穿电压的检测装置,应用于锂电池隔膜击穿电压测试装置,通过选取模块选取多份不同粒径的颗粒以及多种不同厚度的锂电池隔膜;其中,选取的多份不同粒径的颗粒作为模拟锂电池生产过程中混入的异物;通过测试模块基于所述锂电池隔膜击穿电压测试装置测试不同厚度的锂电池隔膜在模拟锂电池生产过程中混入不同异物环境下的击穿电压。一方面使得检测环境更贴合锂电池的实际生产环境,获取的锂电池隔膜击穿电压相比现有技术更加准确;另一方面通过记录的不同厚度锂电池隔膜在不同粒径颗粒环境下的击穿电压数据,可以更好地筛选适合量产的隔膜。
[0091]
基于本发明的同一构思,说明书附图7所示,本技术实施例提供的一种电子设备700的结构,该电子设备700包括:至少一个处理器701,至少一个网络接口704或者其他用户接口703,存储器705,至少一个通信总线702。通信总线702用于实现这些组件之间的连接通信。该电子设备700可选的包含用户接口703,包括显示器(例如,触摸屏、lcd、crt、全息成像(holographic)或者投影(projector)等),键盘或者点击设备(例如,鼠标,轨迹球(trackball),触感板或者触摸屏等)。
[0092]
存储器705可以包括只读存储器和随机存取存储器,并向处理器701提供指令和数据。存储器705的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器(nvram)。
[0093]
在一些实施方式中,存储器705存储了如下的元素,可执行模块或者数据结构,或者他们的子集,或者他们的扩展集:
[0094]
操作系统7051,包含各种系统程序,用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务;
[0095]
应用程序模块7052,包含各种应用程序,例如桌面(launcher)、媒体播放器(media player)、浏览器(browser)等,用于实现各种应用业务。
[0096]
在本技术实施例中,通过调用存储器705存储的程序或指令,处理器701用于执行如一种锂电池隔膜击穿电压的检测方法中的步骤,能够准确模拟待测隔膜在锂电池生产过程中存在异物时的最低击穿电压,提升锂电池隔膜击穿电压的检测精度。
[0097]
本技术还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器运行时执行如锂电池隔膜击穿电压的检测方法中的步骤。
[0098]
具体地,该存储介质能够为通用的存储介质,如移动磁盘、硬盘等,该存储介质上的计算机程序被运行时,能够执行上述锂电池隔膜击穿电压的检测方法。
[0099]
在本技术所提供的实施例中,应该理解到,所揭露装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦
合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
[0100]
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0101]
另外,在本技术提供的实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0102]
功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本技术各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:u盘、移动硬盘、只读存储器(rom,read-only memory)、随机存取存储器(ram,random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0103]
最后应说明的是:以上实施例,仅为本技术的具体实施方式,用以说明本技术的技术方案,而非对其限制,本技术的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本技术实施例技术方案的精神和范围。都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此,本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。