一种通过阻抗测试识别电子设备的方法与流程

1.本发明涉及电子设备测试技术领域，具体涉及一种通过阻抗测试识别电子设备的方法。


背景技术：

2.在工业生产中，出于标准化、模块化的设计要求，存在多种电子设备使用相同的端接接口的情况，且前述的多种电子设备均使用相同的测试设备来进行测试。在进行测试时，存在期望使用目标电子设备，实际对接的电子设备却为他类电子设备的情况。由于被测试设备需要和多种电子设备相对接，难以通过防错销等物理手段来避免插错，而且即便采用了物理放错结构防止插错，依然无法避免人为因素选错对应的被测电子设备。因此，在对接错误的情况下进行测试，容易损伤他类电子设备。


技术实现要素：

3.针对在对接错误的情况下对被测电子设备进行测试，容易损伤他类电子设备的技术问题，本发明提供了一种通过阻抗测试识别电子设备的方法，通过测试电子设备不同端口之间的阻抗，判断出被测电子设备和目标电子设备是否一致，避免出现损坏电子设备和测试异常等情况。
4.本发明通过下述技术方案实现：
5.本发明提供了一种通过阻抗测试识别电子设备的方法，包括以下步骤：
6.s10、对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试；
7.s20、将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表；
8.s30、根据所述数据列表中，单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反；
9.s40、根据步骤s30的判断结果，得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集；
10.s50、重复步骤s30、s40，获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表；
11.s60、根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同；
12.s70、根据步骤s60的判断结果，得出能够判断设备类别的区分引脚序集；
13.s80、根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
14.本发明提供的通过阻抗测试识别电子设备的方法，先对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试，并将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表，以根据所述数据列表中单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反，从而得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集，重复前述步骤，进而获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表；然后根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同，并得出能够判断设备类别的区分引脚序集；最后根据所述区分引脚序集中各个引脚所
对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断出当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
15.因此，本发明能够判断出被测电子设备和目标电子设备是否一致，避免出现损坏电子设备和测试异常等情况。
16.具体而言，步骤s30中，若单个电子设备的引脚阻抗没有相同的值，则重新选取引脚进行阻抗测试。
17.具体而言，步骤s30中，两阻抗值相同的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于30000ω。
18.具体而言，步骤s60中，两阻抗值相等的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于30000ω。
19.具体而言，步骤s60中，若所述引脚序号列表中，没有相等的阻抗，则重新确定引脚，直到遍历所有的引脚。
20.具体而言，步骤s60中，若遍历所述引脚序号列表仍无相等的阻抗，则跳转至步骤s10并重新选取引脚进行阻抗测试。
21.具体而言，步骤s80中，根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值是否相等，判断当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
22.具体而言，步骤s80中，所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值相等的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于5000ω。
23.具体而言，单个电子设备参与测试引脚数量为10个。
24.具体而言，参与阻抗测试的电子设备的数量为8个。
25.本发明具有如下的优点和有益效果：
26.本发明提供的通过阻抗测试识别电子设备的方法，先对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试，并将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表，以根据所述数据列表中单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反，从而得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集，重复前述步骤，进而获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表；然后根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同，并得出能够判断设备类别的区分引脚序集；最后根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断出当前连接电子设备是否为所述目标电子设备，因此，能够判断出被测电子设备和目标电子设备是否一致，避免出现损坏电子设备和测试异常等情况
附图说明
27.此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本技术的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。
28.在附图中：
29.图1为本发明实施例通过阻抗测试识别电子设备的方法的流程示意图；
30.图2为本发明实施例通过金手指形式连接的电子设备端口示意图。
31.在图2中，电子设备端口由正反两面组成，上下具有对称性。
具体实施方式
32.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
33.需要说明的是，现有技术中，由于被测试设备需要和多种电子设备相对接，难以通过防错销等物理手段来避免插错，而且即便采用了物理放错结构防止插错，依然无法避免人为因素选错对应的被测电子设备。而在对接错误的情况下进行测试，容易损伤他类电子设备。
34.有鉴于此，本实施例例提供了一种通过阻抗测试识别电子设备的方法，通过测试电子设备不同端口之间的阻抗，判断出被测电子设备和目标电子设备是否一致，避免出现损坏电子设备和测试异常等情况，具体如下：
35.实施例
36.结合图1，本实施例提供了一种通过阻抗测试识别电子设备的方法，包括以下步骤：
37.s10、对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试。
38.具体来说，在本实施例中，对所涉及的、所有接口相同的电子设备进行阻抗测试。结合图2，在本实施例中，对于电子设备接口形式，为金手指形，具有正反两面，同时具有上下对称性。
39.s20、将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表。
40.也就是说，在本实施例中，将各设备的接口引脚的正反面之间的引脚阻抗实测值汇总数据列表，具体如表1所示：
41.引脚设备1设备2设备3设备4设备5设备6设备7设备8a1b19999950000999999999999999999999999999999a2b2050000000000a3b3050000000000a4b49999900999999999999999999990a5b599999999999999909999909999999999a6b699999999990999999999999999999990a7b70999999999900999999999999999a8b8999999999999999999999999999999999990a9b99999999999009999999999999990a10b1099999999999999909999999999099999
42.表1
43.表1中，各阻抗的单位为欧姆(ω)。
44.具体到本实施例中，参与阻抗测试的电子设备的数量为8个，同时单个电子设备参与测试引脚数量为10个。
45.因此，可以将上述的列表看作一个m行n列的矩阵am×n，其中，m＝10，n＝8。
46.s30、根据所述数据列表中，单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反。
47.可以理解的是，对于每一个单独的电子设备，首先要保证上下不能插反。即要在矩阵a中选出a
ij
≠a
(m-i+1)j
(i＝1,2,3
…
10，j＝1,2,3
…
8)的数据用于判断设备是否插反。其中，i为单个接口的引脚序号、j为参与阻抗测试的电子设备编号。
48.若单个电子设备的引脚阻抗没有相同的值，则重新选取引脚进行阻抗测试。即，如遍历所有数据均没有满足条件的a
ij
，则需要跳转至步骤s10，重新选取引脚，并对引脚之间的阻抗进行测试，与此同时获得新的数据列表(当前选取的为a1b1
…
之间的阻抗，重新选取的可以是a2b1
…
之间的阻抗)。
49.根据表1，以电子设备2为例，此时，j＝2，有a
12
≠a
(10)2
，a
22
≠a
(9)2
，a
32
≠a
(8)2
，a
42
≠a
(7)2
。为了保证识别准确性，a
ij
≠a
(m-i+1)j
(i＝1,2,3
…
m，j＝1,2,3
…
n)的范围可以根据实际情况进行放大，如两者相差超过30000ω才算不相等。也就是说，此处两阻抗值相同的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于30000ω。
50.需要说明的是，对于两阻抗值相同的判断依据，应当根据实测值进行确定，通常为实测值的
±
20％以内，当然也可以扩大到实测值的
±
50％以内。
51.s40、根据步骤s30的判断结果，得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集。
52.需要说明的是，为了保证能识别设备2是否插反，测试引脚必须从它们中间至少选择一个进行测试。对于设备2而言，测试引脚i的可能取值为1、2、3、4。
53.s50、重复步骤s30、s40，获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表。
54.也就是说，对每个设备均按步骤s30、s40进行操作，可以分别得出每个设备的测试引脚i的可能取值，获得的数据如表2：
[0055][0056][0057]
表2
[0058]
由表2可知，各电子设备接口的3号引脚共出现7次，为出现次数最多的引脚。并且通过检查3号引脚，即可保证电子设备1至电子设备7均不会插反。对于电子设备8，i可以选择4或者5。同时通过比较，可以发现选择5号脚可以额外区别出电子设备4和电子设备6。
[0059]
s60、根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同。
[0060]
具体的，为了区别出8个不同设备，要保证选出的测试引脚组成的新矩阵中，在相同的行i时，至少有一个a
ij
≠a
ik
，(i＝1,2,3
…
m，j≠k，j＝1,2,3
…
n，k＝1,2,3
…
n)为了保证识别准确性，不相等的判据可以根据实际情况进行放大，如两者相差超过30000才算不相等。即，此处两阻抗值相等的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于30000ω。
[0061]
如找到不同的a值，即可去掉不同a值对应的设备(如表1引脚3所在行对应的a值，仅设备2不同，即可去掉设备2)。如遍历所有数据均没有满足条件的a
ij
，则重复选取不同的i再次进行，直到遍历所有的i值。
[0062]
若遍历所有数据均没有满足条件的a
ij
，则需要跳转至第一步，重新选取引脚之间
的阻抗进行测试，重新生成图1对应的表格(当前选取的为a1b1
…
之间的阻抗，重新选取的可以是a2b1
…
之间的阻抗)。
[0063]
也就是说，若所述引脚序号列表中，没有相等的阻抗，则重新确定引脚，直到遍历所有的引脚。若遍历所述引脚序号列表仍无相等的阻抗，则跳转至步骤s10并重新选取引脚进行阻抗测试。
[0064]
s70、根据步骤s60的判断结果，得出能够判断设备类别的区分引脚序集。
[0065]
具体的，获得的区分引脚序集，如表2所示。根据表2，可知的是，在本实施例中，3号、5号、7号、8号引脚即可完全区别各个设备。
[0066]
s80、根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
[0067]
具体而言，根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值是否相等，判断当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
[0068]
对于本实施例中，区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值如3所示：
[0069]
引脚设备1设备2设备3设备4设备5设备6设备7设备8a3b3050000000000a5b599999999999999909999909999999999a7b70999999999900999999999999999a8b8999999999999999999999999999999999990
[0070]
表3
[0071]
表3中，各阻抗的单位为欧姆(ω)
[0072]
其中，根据工程实践，实测数据可以和表3的预期阻值有所差异，如差异5000以内都算相等。即，所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值相等的判断依据为：两阻抗值的差值绝对值小于或等于5000ω。
[0073]
同样的，对于两阻抗值相等的判断依据，应当根据实测值进行确定，通常为实测值的
±
20％以内。
[0074]
综上，本实施例提供的通过阻抗测试识别电子设备的方法，先对各个电子设备的所有引脚进行阻抗测试，并将测得阻抗数据横纵排列获得数据列表，以根据所述数据列表中单个电子设备的所有阻抗是否存在相同的情况，判断电子设备是否插反，从而得出单个电子设备能够判断反接的引脚序号集，重复前述步骤，进而获得所有电子设备能够判断反接的引脚序号列表；然后根据所述引脚序号列表中，阻抗是否存在相等的情况，判断电子设备是否相同，并得出能够判断设备类别的区分引脚序集；最后根据所述区分引脚序集中各个引脚所对应的阻抗值与目标电子设备的阻抗值进行比较，判断出当前连接电子设备是否为所述目标电子设备。
[0075]
因此，本实施例能够判断出被测电子设备和目标电子设备是否一致，避免出现损坏电子设备和测试异常等情况。
[0076]
需要说明的是，本实施中，列举的引脚类型、引脚插针的数量、电子设备的数量，均是为了便于理解本实施例所提供的技术方案，在实际使用过程中，引脚类型、引脚插针的数量、电子设备的数量均不相同。在针对不同类型、不同数量的引脚插针、不同数量的电子设备时，将本实施例中具体数字进行替换即可。
[0077]
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。