一种光谱分析装置的制作方法

1.本发明涉及光谱分析装置技术领域，具体而言，涉及一种光谱分析装置。


背景技术：

2.在核工业乏燃料后处理阶段，需要用光谱分析法对废液中的非挥发性元素进行分析，而废液本身具有γ放射性，因此需要手套箱来实现辐射防护，避免γ气溶胶外溢，保证工作人员安全，而现有技术一般都是将整台分析仪器置于手套箱内，由于γ射线对电子学的辐照影响，不仅大大降低仪器寿命，而且维修极不方便，大型备件无法通过转运通道进入手套箱，也增加核废料。


技术实现要素：

3.本发明的目的包括，提供了一种光谱分析装置，其能够改善现有技术中分析仪不方便维修的技术问题。
4.本发明的实施例可以这样实现：
5.本发明的实施例提供了一种光谱分析装置，包括：
6.手套箱，内设有炬室；
7.进样模块，设于所述手套箱内部，且具有炬管，所述炬管伸入所述炬室中；
8.光谱仪主机，设于所述手套箱外部；
9.冷却模组，嵌设于所述手套箱的周壁上；所述冷却模组具有线圈组，所述线圈组伸入所述手套箱内部且绕设于所述炬管，以用于产生等离子火焰；
10.射频电源组件，设于所述手套箱外部，且于所述线圈组电连接以向所述线圈组提供电力；以及，
11.光学通道模组，包括光学通道管、基座、镜片组件和采样锥组件；所述基座嵌设于所述手套箱的周壁上，所述光学通道管插接于所述基座且位于所述手套箱的外部，所述光学通道管与所述光谱仪主机连接；所述基座设有沿其轴向的第一装配通道；所述镜片组件可活动地装配于所述第一装配通道；所述采样锥组件插接于所述第一装配通道远离所述光学通道管的一端，且设于所述手套箱内部以用于采光；所述采样锥组件采集的光线经过所述镜片组件由所述光学通道管导入至所述光谱仪主机。
12.本发明提供的光谱分析装置相对于现有技术的有益效果包括：
13.该光谱分析装置中，由于光谱仪主机以及射频电源组件均设置在手套箱的外部，可以方便直接对光谱仪主机以及射频电源组件进行维修。而对于光学通道模组，由于光学通道管采用插接的方式与基座连接，可以直接从基座上拔出，以完成光学通道管的拆卸；然后通过手套箱上的手套将采样锥组件从基座上拆下；在拆卸光学通道管和采样锥组件之后，可以将替换的镜片组件推入至第一装配通道中，以通过替换的镜片组件将被替换的镜片组件从第一装配通道中顶出，进而完成镜片组件的替换；并且，在替换过程中，始终保持第一装配通道的密封，可以防止内部放射性物质漏出对操作人员造成威胁。由此，本发明提
供的光谱分析装置可以改善现有技术中不方便维修的技术问题，同时还能提高维修的安全性。
14.可选地，所述镜片组件包括镜片架、第一镜片、第一压环和第一密封圈；
15.所述镜片架可活动地设于所述第一装配通道内，所述第一密封圈被压持在所述镜片架和所述第一装配通道的外壁之间；所述镜片架设有沿其轴向的第一通道和第二通道，所述第一通道的内径大于所述第二通道的内径；
16.所述第一镜片装配于所述第一通道，所述第一压环装配于所述第一通道且压持于所述第一镜片。
17.可选地，所述镜片架上沿其径向开设第一导气孔，所述第一导气孔与所述第二通道连通；所述基座上沿其径向开设有第二导气孔，所述第二导气孔位于所述手套箱内部；所述第一导气孔和所述第二导气孔对应连通，所述第二导气孔用于向所述第二通道导入气体。
18.可选地，所述镜片架靠近所述采样锥组件的一侧与所述采样锥组件抵持。
19.可选地，所述采样锥组件包括冷锥套、冷锥口、第二压环、第二镜片和第二密封圈；
20.所述冷锥套插接于所述第一装配通道，所述第二密封圈被压持于所述冷锥套和所述第一装配通道的内壁之间；所述冷锥套内沿轴向设有第三通道和第四通道；所述第三通道的内径大于所述第四通道的内径；
21.所述冷锥口装配于所述第四通道且伸入所述手套箱内部以用于采光；
22.所述第二镜片装配于所述第三通道；所述第二压环装配于所述第三通道且压持于所述第二镜片。
23.可选地，所述第二镜片沿其径向的外周与所述第三通道的内壁形成凹槽。
24.可选地，所述冷锥套外侧凸设有限位结构；所述限位结构抵持于所述5基座的端面。
25.可选地，所述基座内还开设有沿其轴向的第五通道，所述第五通道设于所述第一装配通道靠近所述光学通道管的一端，且所述第五通道与所述第一装配通道连通；所述光学通道模组还包括压紧环，所述压紧环装配于所述第五通道且压持于所述镜片组件。
26.0可选地，所述基座内还开设有沿其轴向的第六通道，所述第六通道与所述第五通道连通；所述基座上开设有第三导气孔，所述第三导气孔连通于所述第六通道且位于所述手套箱外部；所述第三导气孔用于导出所述第六通道中的气体。
27.可选地，所述冷却模组还包括固定环、输出环和冷却块；5所述固定环嵌设于所述手套箱的周壁，且所述固定环内开设有沿其轴
28.向的第二装配通道；
29.所述输出环插接于所述第二装配通道，且所述输出环上开设有装配孔；
30.所述冷却块插接于所述装配孔，所述线圈组穿过所述冷却块伸入所述手套箱内部。
31.0可选地，所述射频电源组件具有高压线圈，所述高压线圈伸入所述冷却块以接入所述线圈组，所述高压线圈用于向所述线圈组输送冷却液；
32.所述冷却模组还包括卡套螺钉和第三压环；所述冷却块上开设有装配槽，所述线圈组穿过所述装配槽的底壁以伸入所述手套箱内部；所述第三压环装配于所述装配槽以密
封所述高压线圈；所述卡套螺钉装配于所述装配槽以压持所述第三压环。
33.可选地，所述冷却模组还包括第三密封圈，所述第三密封圈设于所述输出环外周，且被压持于所述第二装配通道的内壁和所述输出环之间。
34.可选地，所述冷却模组还包括限位件；所述限位件可拆卸地装配于所述固定环的端面，且位于所述手套箱的内部；所述限位件至少部分伸入至所述第二装配通道以抵持于所述输出环，以使所述输出环的端面与所述固定环的端面平齐。
35.可选地，所述射频电源组件还包括屏蔽罩，所述屏蔽罩围绕所述冷却模组设置。
36.另外，本发明提供的冷却模组在需要更换的情况下，将卡套螺钉拆下，然后将线圈组件拆下，可以采用替换的输出环直接将被替换的输出环顶出，不仅能快速便捷的完成输出环的替换，同时还能确保替换过程中第二装配通道的密封性，可以达到改善现有技术中分析仪不方便维修的技术问题，同时还提高了维修的安全性。
附图说明
37.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
38.图1为本技术实施例中提供的光谱分析装置第一视角的结构示意图；
39.图2为本技术实施例中提供的光谱分析装置第二视角的结构示意图；
40.图3为本技术实施例的光谱分析装置一部分的剖视结构示意图；
41.图4为图3中a处的放大结构示意图；
42.图5为本技术实施例的光谱分析装置另一部分的剖视结构示意图。
43.图标：10-光谱分析装置；100-手套箱；110-炬室；200-进样模块；210-炬管；300-光谱仪主机；400-冷却模组；410-固定环；411-卡接部；412-第二装配通道；420-输出环；421-装配孔；430-冷却块；431-装配槽；440-线圈组；450-第三密封圈；460-第三压环；470-卡套螺钉；480-限位件；500-射频电源组件；510-高压线圈；520-屏蔽罩；600-光学通道模组；610-光学通道管；620-基座；621-第一装配通道；622-第五通道；623-第六通道；624-第二导气孔；625-抵持部；626-第三导气孔；630-镜片组件；631-第一镜片；632-镜片架；6321-第一通道；6322-第二通道；6323-第一导气孔；633-第一压环；634-第一密封圈；640-采样锥组件；641-冷锥套；6411-第三通道；6412-第四通道；642-冷锥口；643-第二压环；644-第二镜片；645-第二密封圈；650-压紧环。
具体实施方式
44.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
45.因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通
技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
46.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
47.在本发明的描述中，需要说明的是，若出现术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
48.此外，若出现术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
49.需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例中的特征可以相互结合。
50.本技术实施例中提供了一种光谱分析装置10，可以利用光谱分析法对核工业产生的废液中非挥发性元素进行分析。
51.其中，为了改善现有技术中光谱分析装置10不方便维修的技术问题，提供了本技术的光谱分析装置10。
52.请参阅图1和图2，在本实施例中，光谱分析装置10包括手套箱100、进样模块200、光谱仪主机300、冷却模组400、射频电源组件500和光学通道模组600。其中，手套箱100的周壁上设有多个手套(图未标)，操作人员可以将手伸入至手套内部以在手套箱100内部进行操作，并且手套箱100内部充满了具有放射性的气溶胶，基于此，手套箱100具有较强的密封性，以防止手套箱100内部的放射性物质漏出。另外，手套箱100内设有炬室110。进样模块200设于手套箱100内部，且具有炬管210，炬管210可以将雾化后的废液通过载气带入到等离子火焰中，炬管210安装于炬室110中。光谱仪主机300设于手套箱100外部光谱仪主机300用于分析采集的光线，以通过光谱分析法对废液中非挥发性元素进行分析。冷却模组400嵌设于手套箱100的周壁上；冷却模组400具有线圈组440，线圈组440伸入手套箱100内部且绕设于炬管210，以用于产生等离子火焰。射频电源组件500设于手套箱100外部，且于线圈组440电连接以向线圈组440提供电力。光学通道模组600包括光学通道管610、基座620、镜片组件630和采样锥组件640；基座620嵌设于手套箱100的周壁上，光学通道管610插接于基座620且位于手套箱100的外部，光学通道管610与光谱仪主机300连接；基座620设有沿其轴向的第一装配通道621；镜片组件630可活动地装配于第一装配通道621；采样锥组件640插接于第一装配通道621远离光学通道管610的一端，且设于手套箱100内部以用于采光；采样锥组件640采集的光线经过镜片组件630由光学通道管610导入至光谱仪主机300。
53.需要说明的是，经雾化后的废液被载气带入炬管210，在炬管210的导向作用下带入至炬管210顶部的等离子火焰中，使得废液中的原子被激发成不稳定状态，跃迁释放出光子，形成元素的特征谱线。此时，采样锥组件640则可以进行采光，使得特征光谱在经过采样锥组件640、镜片组件630和光学通道管610的导向之后，被导入至光谱仪主机300中进行分析。
54.以上所述，在该光谱分析装置10中，由于光谱仪主机300以及射频电源组件500均设置在手套箱100的外部，可以方便直接对光谱仪主机300以及射频电源组件500进行维修。而对于光学通道模组600，由于光学通道管610采用插接的方式与基座620连接，可以直接从
基座620上拔出，以完成光学通道管610的拆卸；然后通过手套箱100上的手套将采样锥组件640从基座620上拆下；在拆卸光学通道管610和采样锥组件640之后，可以将替换的镜片组件630推入至第一装配通道621中，以通过替换的镜片组件630将被替换的镜片组件630从第一装配通道621中顶出，进而完成镜片组件630的替换；并且，在替换过程中，始终保持第一装配通道621的密封，可以防止内部放射性物质漏出对操作人员造成威胁。由此，本发明提供的光谱分析装置10可以改善现有技术中不方便维修的技术问题，同时还能提高维修的安全性。
55.值得说明的是，由于手套箱100内的废液具有放射性，为了防止放射性物质泄漏，基座620与手套箱100的周壁之间设置有密封结构以密封基座620和手套箱100的周壁之间的间隙，防止放射性物质的泄漏。可选地，在本实施例中，基座620的外周凸设有抵持部625，抵持部625呈环形的凸设在基座620的外周；在基座620嵌设于手套箱100的周壁的情况下，抵持部625抵持在手套箱100的外壁上。密封结构则被压持于抵持部625和手套箱100的外壁之间，以密封抵持部625和手套箱100之间形成的缝隙。当然，在其他实施例中，也可以采用其他的方式对基座620与手套箱100的周壁进行密封，例如，在手套箱100上嵌设基座620的孔的内壁设置密封结构，在基座620嵌入手套箱100的孔时，基座620压持密封结构以实现密封等。
56.在本实施例中，请结合参阅图3和图4，镜片组件630包括镜片架632、第一镜片631、第一压环633和第一密封圈634。镜片架632可活动地设于第一装配通道621内，第一密封圈634被压持在镜片架632和第一装配通道621的外壁之间；镜片架632设有沿其轴向的第一通道6321和第二通道6322，第一通道6321的内径大于第二通道6322的内径。第一镜片631装配于第一通道6321，第一压环633装配于第一通道6321且压持于第一镜片631。
57.通过第一镜片631的设置，不仅可以确保光线穿过光学通道模组600，5还能通过第一镜片631起到密封第一装配通道621的目的，从而防止放射
58.性物质从第一装配通道621漏出。然而，由于第一镜片631为易损件，基于此，将镜片架632采用可活动装配的方式装配在第一装配通道621中，在需要更换第一镜片631的情况下，可以采用替换的镜片组件630，也即新
59.的镜片组件630直接推入第一装配通道621中，以将被替换的镜片组件6300顶出完成替换。
60.当然，由于镜片架632和第一装配通道621的内壁之间设有第一密封圈634，以通过第一密封圈634提供密封作用，可以确保在镜片组件630的替换过程中对于第一装配通道621的密封，由此可以防止在替换过程中出现放射性物质的泄漏，提高操作者的安全性。
61.5值得说明的是，在新的镜片组件630被推入第一装配通道621中之前，
62.需先完成第一压环633、第一镜片631和镜片架632的装配；并且需将第一密封圈634套设在镜片架632上对应的位置，以确保新的镜片组件630被推入第一装配通道621中的情况下能实现密封。
63.另外，在本实施例中，由于第一通道6321和第二通道6322的设置形0成阶梯结构，第一镜片631则被压持于该阶梯形结构上；为了提高密封性，
64.在第一镜片631和该阶梯结构之间设置有密封环，以防止放射性物质从第一镜片631和镜片架632之间泄漏。
65.在本实施例中，镜片架632上沿其径向开设第一导气孔6323，第一导气孔6323与第二通道6322连通；基座620上沿其径向开设有第二导气孔624，第二导气孔624位于手套箱100内部；第一导气孔6323和第二导气孔624对应连通，第二导气孔624用于向第二通道6322导入气体。
66.需要说明的是，通过第二导气孔624和第一导气孔6323的配合，可以向第二通道6322中导入稀有气体，例如氩气，以使得氩气充满第二通道6322中，方便光谱仪主机300探测到紫外特征光谱。当然，可以根据实际情况导入其他稀有气体。
67.为了方便第一导气孔6323和第二导气孔624向第二通道6322内部导入气体，手套箱100中还设有导气管(图未标)，导气管接入第二导气孔624，以向第二通道6322中导入气体。进一步地，为了方便导气管与第二导气孔624的配合，可以将导气管的长度延长至100mm。当然，导气管的长度也可以根据实际情况进行选取。
68.可选地，镜片架632靠近采样锥组件640的一侧与采样锥组件640抵持。也就是说，可以通过采样锥组件640向镜片架632提供一定的定位作用，以确保将镜片架632装配至指定的位置。值得说明的是，通过采样锥组件640向镜片架632提供的定位作用，还可以方便第一导气孔6323和第二导气孔624的相互配合，提高配合精度。正是由于采样锥组件640对镜片组件630的重复定位作用，可以使得镜片组件630的定位精度达到0.1mm。
69.在本实施例中，采样锥组件640包括冷锥套641、冷锥口642、第二压环643、第二镜片644和第二密封圈645。冷锥套641插接于第一装配通道621，在需要更换镜片组件630的情况下，可以直接将冷锥套641从第一装配通道621中拔出，便可以方便被替换的镜片组件630从第一装配通道621中被推出。第二密封圈645被压持于冷锥套641和第一装配通道621的内壁之间，以通过第二密封圈645来确保冷锥套641与第一装配通道621的内壁之间的密封性，防止放射性物质的泄漏。冷锥套641内沿轴向设有第三通道6411和第四通道6412；第三通道6411的内径大于第四通道6412的内径。冷锥口642装配于第四通道6412且伸入手套箱100内部以用于采光。第二镜片644装配于第三通道6411；第二压环643装配于第三通道6411且压持于第二镜片644。另外，冷锥口642的朝向与炬管210的轴向方向垂直设置，也就是说，冷锥口642的轴线与炬管210的轴线形成90
°
夹角。
70.在采光时，光线自冷锥口642导入，进入冷锥套641的光线需要依次穿过第二镜片644进入至第二通道6322，然后经过第一镜片631之后被导入至光学通道管610中。也就是说，在光学通道模组600中，通过双镜片的方式来实现光学通道模组600的密封，可以提高密封性能；并且还能通过第二镜片644防止手套箱100内部的大部分大颗粒气溶胶对第一镜片631造成影响，从而防止第一镜片631被污染损坏，即可以避免频繁地更换镜片组件630。
71.由于第三通道6411和第四通道6412的内径不同，使得第三通道6411和第四通道6412之间形成阶梯状结构，第二镜片644则被第二压环643压持于该阶梯状结构处。
72.可选地，第二镜片644沿其径向的外周与第三通道6411的内壁形成凹槽(图未标)。由于第二通道6322和第三通道6411连通，该凹槽的设置，可以使得第二通道6322中的稀有气体导入至第四通道6412内部，由此便能使得稀有气体被导入至冷锥口642中。由此，使得光学通道模组600的内部通道中充满稀有气体，能有效地探测紫外特征光谱。与此同时，由于在光学通道模组600的内部通道中充满稀有气体，可以在光学通道模组600的内部通道中形成正压，可以防止手套箱100内部的放射性气溶胶进入至光学通道模组600的内部通道
中，进一步防止放射性物质的泄漏。
73.另外，在本实施例中，冷锥套641外侧凸设有限位结构(图未标)；限位结构抵持于基座620的端面。其中，该限位结构可以看作是形成与冷锥套641外周的环形结构，在冷锥套641的部分插入至第一装配通道621中
74.之后，通过限位结构抵持于基座620的端面上，便能向冷锥套641的装配5提供定位作用。与此同时，还能通过限位结构的设置确定伸入至第一装配通道621中的冷锥套641的长度，在镜片组件630抵持于冷锥套641的情况下，可以通过冷锥套641提供精准地定位作用，确保镜片组件630的装配精度。
75.可选地，在冷锥套641装配在基座620上之后，为了提高冷锥套6410装配于基座620的稳定性，可以采用手拧座(图未标)将冷锥套641固定在基座620上，从而提高冷锥套641的装配稳定性。
76.在本实施例中，基座620内还开设有沿其轴向的第五通道622，第五通道622设于第一装配通道621靠近光学通道管610的一端，且第五通道622
77.与第一装配通道621连通；光学通道模组600还包括压紧环650，压紧环5650装配于第五通道622且压持于镜片组件630。通过压紧环650向镜片组件630提供压紧作用，在镜片组件630装配完成之后，通过压紧环650和采样锥组件640共同向镜片组件630提供定位作用，不仅能确保镜片组件630的安装稳定性，还能确保镜片组件630的装配精度。
78.当然，在需要更换镜片组件630的情况下，需要先将压紧环650从第0五通道622中取出，然后再将新的镜片组件630推入至第一装配通道621
79.中，以将被替换的镜片组件630顶出。
80.另外，基座620内还开设有沿其轴向的第六通道623，第六通道623与第五通道622连通；基座620上开设有第三导气孔626，第三导气孔626连通于第六通道623且位于手套箱100外部；第三导气孔626用于导出第六通道623中的气体。
81.其中，光学通道管610中还可以向第六通道623中导入稀有气体，以使得第五通道622、第六通道623和第一通道6321中充满稀有气体，从而方便光谱仪主机300探测紫外特征光谱。
82.可选地，在第三导气孔626处接入另一导气管(图未标)，以方便第六通道623中的稀有气体导出。
83.以上所述，在镜片组件630中的第二镜片644受到污染需要更换的情况下，操作者可以通过手套操作手拧座以将手拧座拆下，然后将冷锥套641从基座620上拆下。在完成冷锥套641的拆卸之后，将光学通道管610从基座620上拆下，然后拆出压紧环650。此时，将新的镜片组件630推入至第一装配通道621中，以同时顶出被替换的镜片组件630，直至被替换的镜片组件630掉入至手套箱100内部。然后，操作者可以将冷锥套641再次装入至第一装配通道621中，与此同时将镜片组件630推回至指定的安装位置；同时再次通过手拧座紧固冷锥套641。最后，将压紧环650装入第五通道622，且将光学通道管610装配到基座620上即可。其中，由于压紧环650和采样锥组件640共同向镜片组件630提供的定位作用，可以确保镜片组件630的装配精度达到0.1mm；与此同时，由于第一装配通道621中一直都通过镜片组件630提供密封作用，可以防止放射性物质的泄漏，提高操作者的安全性。
84.在本实施例中，请参阅图5，冷却模组400还包括固定环410、输出环420和冷却块
430。固定环410嵌设于手套箱100的周壁，且固定环410内开设有沿其轴向的第二装配通道412。输出环420插接于第二装配通道412，且输出环420上开设有装配孔421。冷却块430插接于装配孔421，线圈组440穿过冷却块430伸入手套箱100内部。
85.为了确保固定环410与手套箱100之间的密封性，固定环410和手套箱100的周壁之间设有密封结构，以防止手套箱100内部的放射性物质泄漏。可选地，固定环410具有卡接部411，卡接部411凸设在固定环410的外周，且卡接部411形成环形。在固定环410装配于手套箱100的周壁上的情况下，卡接部411抵持在手套箱100的内壁上。密封结构则被压持于卡接部411和手套箱100的内壁之间，以密封固定环410和手套箱100的周壁之间的缝隙。
86.应当理解，在本技术的其他实施例中，也可以在其他位置设置密封结构。例如，在手套箱100上设置有适配于固定环410的孔，在该孔的周壁上设置密封结构，在固定环410与该孔装配的情况下，便能通过孔的内壁和固定环410的外周壁共同压持密封结构，从而提供密封作用。
87.同理，在冷却块430的外周凸设有与输出环420抵持的凸起结构，在冷却块430装配于输出环420的情况下，凸起结构抵持在输出环420远离手套箱100的一侧；而为了确保冷却块430和输出环420之间的密封性能，在凸起结构和输出环420之间设置有密封结构。
88.在本实施例中，射频电源组件500具有高压线圈510，高压线圈510伸入冷却块430以接入线圈组440，高压线圈510用于向线圈组440输送冷却液。冷却模组400还包括卡套螺钉470和第三压环460；冷却块430上开设有装配槽431，线圈组440穿过装配槽431的底壁以伸入手套箱100内部；第三压环460装配于装配槽431以密封高压线圈510；卡套螺钉470装配于装配槽431以压持第三压环460。
89.冷却块430上开设的装配槽431的底部呈锥形，且第三压环460形成与装配槽431适配的锥形，由此在冷却块430被卡套螺钉470压持于装配槽431内部的情况下，第三压环460形成硬密封，从而能避免高压线圈510中的冷却液泄漏。
90.另外，冷却模组400还包括第三密封圈450，第三密封圈450设于输出环420外周，且被压持于第二装配通道412的内壁和输出环420之间。通过第三密封圈450的设置，可以确保输出环420与固定环410之间的密封性能，防止手套箱100中的放射性物质泄漏。
91.在本实施例中，冷却模组400还包括限位件480；限位件480可拆卸地装配于固定环410的端面，且位于手套箱100的内部；限位件480至少部分伸入至第二装配通道412以抵持于输出环420，以使输出环420的端面与固定环410的端面平齐。可选地，该限位件480可以为限位钉，限位钉插接在固定环410上，并且限位钉的头部则压持于输出环420，以确保输出环420的端面与固定环410的端面平齐。
92.另外，射频电源组件500还包括屏蔽罩520，屏蔽罩520围绕冷却模组400设置。屏蔽罩520可以向高压线圈510以及线圈组440提供屏蔽作用。
93.综上所述，在该光谱分析装置10中，由于光谱仪主机300以及射频电源组件500均设置在手套箱100的外部，可以方便直接对光谱仪主机300以及射频电源组件500进行维修。而对于光学通道模组600，由于光学通道管610采用插接的方式与基座620连接，可以直接从基座620上拔出，以完成光学通道管610的拆卸；然后通过手套箱100上的手套将采样锥组件640从基座620上拆下；在拆卸光学通道管610和采样锥组件640之后，可以将替换的镜片组件630推入至第一装配通道621中，以通过替换的镜片组件630将被替换的镜片组件630从第
一装配通道621中顶出，进而完成镜片组件630的替换；并且，在替换过程中，始终保持第一装配通道621的密封，可以防止内部放射性物质漏出对操作人员造成威胁。由此，本发明提供的光谱分析装置10可以改善现有技术中不方便维修的技术问题，同时还能提高维修的安全性。另外，本发明提供的冷却模组400在需要更换的情况下，将卡套螺钉470拆下，然后将线圈组440件拆下，可以采用替换的输出环420直接将被替换的输出环420顶出，不仅能快速便捷的完成输出环420的替换，同时还能确保替换过程中第二装配通道412的密封性，可以达到改善现有技术中分析仪不方便维修的技术问题，同时还提高了维修的安全性。
94.以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。