一种高频芯片测试探针卡的制作方法

文档序号:31754980发布日期:2022-10-12 00:16阅读:307来源:国知局
一种高频芯片测试探针卡的制作方法

1.本实用新型属于探针卡技术领域,特别是涉及一种高频芯片测试探针卡。


背景技术:

2.探针卡是一种测试接口,主要对裸芯进行测试,通过连接测试机和芯片,通过传输信号对芯片参数进行测试,但是现有的探针卡在应用过程中不便于调节探针的应用数量和应用角度,且不便于调节探针的下压长度,因此需要对以上问题提出一种新的解决方案。


技术实现要素:

3.本实用新型的目的在于提供一种高频芯片测试探针卡,以解决了现有的问题:现有的探针卡在应用过程中不便于调节探针的应用数量和应用角度。
4.为解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
5.一种高频芯片测试探针卡,包括配装调节结构和探针卡输出结构,所述配装调节结构的周侧面设置有探针卡输出结构,所述配装调节结构用于调节探针的角度和数量,所述探针卡输出结构用于自动化调节探针的输出长度。
6.进一步地,所述配装调节结构包括搭载盘主体、推导槽、位移环和磁吸搭载块,所述搭载盘主体的周侧面开设有位移环,所述搭载盘主体的一端开设有推导槽,所述位移环的外侧磁吸有磁吸搭载块。
7.进一步地,所述磁吸搭载块与推导槽为间隙配合。
8.通过将磁吸搭载块通过推导槽上压进入位移环的内侧,利用位移环与磁吸搭载块的磁吸连接,使得磁吸搭载块与位移环连接后,需要调节角度时,推导磁吸搭载块围绕位移环转动,从而达到合适的角度,并通过推导槽推导进入对应数量的磁吸搭载块,从而使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度,大大提高了测试的引用便捷程度。
9.进一步地,所述探针卡输出结构包括探针调节模块和探针导出模块,所述探针调节模块底端设置有探针导出模块。
10.进一步地,所述探针调节模块包括引导管、动力支撑杆、动力输出块、引导块、电机和主动齿轮轴,所述磁吸搭载块的一端设置有引导管,所述引导管的一端焊接有动力支撑杆,所述动力支撑杆的顶端固定连接有动力输出块,所述动力输出块远离动力支撑杆的一端固定连接有引导块,所述动力输出块的一侧通过螺钉固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有主动齿轮轴,所述引导块的内侧滑动连接有从动齿条柱,所述从动齿条柱的一端与主动齿轮轴啮合连接。
11.进一步地,所述探针导出模块包括弹簧和探针主体,所述从动齿条柱的底端固定连接有弹簧,所述弹簧的底端固定连接有探针主体,所述探针主体的顶端与从动齿条柱的底端均与引导管内侧滑动连接。
12.通过控制电机完成对主动齿轮轴进行转矩输出,利用主动齿轮轴与从动齿条柱的啮合连接,使得从动齿条柱在主动齿轮轴的推导下以及引导块的滑动引导下,使得从动齿
条柱下压推导弹簧和探针主体同步下压直至合适位置后,使得探针主体接触到合适的探针测试位置,当产生测试反力时,利用探针主体将反力传递至弹簧,利用弹簧受力压缩产生的弹性势能,完成对受力的抵消,使得装置便于自动化调节探针的输出长度,并便于完成对探测反力进行抵消。
13.与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
14.(1)本实用新型通过配装调节结构的设计,使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度,大大提高了测试的引用便捷程度。
15.(2)本实用新型通过探针卡输出结构的设计,使得装置便于自动化调节探针的输出长度,并便于完成对探测反力进行抵消。
附图说明
16.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为本实用新型整体结构的示意图;
18.图2为本实用新型配装调节结构的连接结构示意图;
19.图3为本实用新型探针卡输出结构的连接结构示意图。
20.附图中,各标号所代表的部件列表如下:
21.1、配装调节结构;2、探针卡输出结构;3、搭载盘主体;4、推导槽;5、位移环;6、磁吸搭载块;7、引导管;8、动力支撑杆;9、动力输出块;10、引导块;11、电机;12、主动齿轮轴;13、从动齿条柱;14、弹簧;15、探针主体。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
23.参照图1-3,一种高频芯片测试探针卡,包括配装调节结构1和探针卡输出结构2,配装调节结构1的周侧面设置有探针卡输出结构2,配装调节结构1用于调节探针的角度和数量,探针卡输出结构2用于自动化调节探针的输出长度。
24.配装调节结构1包括搭载盘主体3、推导槽4、位移环5和磁吸搭载块6,搭载盘主体3的周侧面开设有位移环5,搭载盘主体3的一端开设有推导槽4,位移环5的外侧磁吸有磁吸搭载块6。
25.磁吸搭载块6与推导槽4为间隙配合。
26.通过将磁吸搭载块6通过推导槽4上压进入位移环5的内侧,利用位移环5与磁吸搭载块6的磁吸连接,使得磁吸搭载块6与位移环5连接后,需要调节角度时,推导磁吸搭载块6围绕位移环5转动,从而达到合适的角度,并通过推导槽4推导进入对应数量的磁吸搭载块6,从而使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度,大大提高了测试的引用便捷程度;
27.探针卡输出结构2包括探针调节模块和探针导出模块,探针调节模块底端设置有探针导出模块。
28.探针调节模块包括引导管7、动力支撑杆8、动力输出块9、引导块10、电机11和主动齿轮轴12,磁吸搭载块6的一端设置有引导管7,引导管7的一端焊接有动力支撑杆8,动力支撑杆8的顶端固定连接有动力输出块9,动力输出块9远离动力支撑杆8的一端固定连接有引导块10,动力输出块9的一侧通过螺钉固定连接有电机11,电机11的输出端固定连接有主动齿轮轴12,引导块10的内侧滑动连接有从动齿条柱13,从动齿条柱13的一端与主动齿轮轴12啮合连接。
29.探针导出模块包括弹簧14和探针主体15,从动齿条柱13的底端固定连接有弹簧14,弹簧14的底端固定连接有探针主体15,探针主体15的顶端与从动齿条柱13的底端均与引导管7内侧滑动连接。
30.通过控制电机11完成对主动齿轮轴12进行转矩输出,利用主动齿轮轴12与从动齿条柱13的啮合连接,使得从动齿条柱13在主动齿轮轴12的推导下以及引导块10的滑动引导下,使得从动齿条柱13下压推导弹簧14和探针主体15同步下压直至合适位置后,使得探针主体15接触到合适的探针测试位置,当产生测试反力时,利用探针主体15将反力传递至弹簧14,利用弹簧14受力压缩产生的弹性势能,完成对受力的抵消,使得装置便于自动化调节探针的输出长度,并便于完成对探测反力进行抵消。
31.在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
32.以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
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