一种模组测试装置以及模组测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及模组测试技术领域，尤其涉及一种模组测试装置以及模组测试系统。


背景技术：

2.随着物联网行业的迅速发展，物联网模组的市场需求量日益增大，对物联网模组的生产测试效率以及质量等都提出了更高要求。物联网模组的一般测试流程为：烧录测试固件-射频校准综测-开机功能检查，每个测试流程都需要搭建一个工序的测试工位。
3.现有技术中，为了提高物联网模组的测试效率，多采用机械手等自动化设备来自动抓取放置物联网模组，但此种方案在进行每项测试前，都需要将待测模组重新放入测试装置中，存在测试效率低、耗时长的缺点。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种模组测试装置以及模组测试系统，用于解决在对待测模组进行每项测试前，需要将待测模组重新放入测试装置中，导致测试效率低、测试耗时长的问题。
5.本实用新型提供一种模组测试装置，用于对待测模组进行测试，包括：控制器、多个测试连接单元、第一开关器件、第二开关器件以及电源。其中，控制器具有固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端，固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端分别通过相应的测试连接单元与待测模组的相应测试接点电连接。电源通过第一开关器件与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件还与控制器电连接。电源还通过第二开关器件与待测模组电连接，且第二开关器件还与控制器电连接。
6.与现有技术相比，本实用新型提供的模组测试装置中，控制器的固件烧录测试端、射频校准测试端以及开机检查测试端分别通过相应的测试连接单元与待测模组的相应测试接点电连接，基于此，控制器的烧录测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的固件烧录工序，控制器的射频校准测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的射频校准测试工序，控制器的开机检查测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组的开机功能检查工序，无需抓取待测模组在各个测试工序间转移，节约了测试时间，提高了测试效率。电源通过第一开关器件分别与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件还与控制器电连接，当需要对待测模组进行测试时，控制器可以控制第一开关器件的通断，从而使得电源仅能向相应的测试连接单元供电，以确保在进行当前测试时，不会受到其他测试连接单元的干扰，避免影响测试结果。电源还通过第二开关器件与待测模组电连接，且第二开关器件还与控制器电连接，当完成每项测试后，控制器可以控制第二开关器件的通断，从而使得电源向待测模组供电，实现每项测试之后的重新上电。由此可知，本实用新型提供的模组测试装置，在待测模组的相应接点与控制器连接后，就能够实现对于待测模组的多项测试工序，无需在每项测试前将待测模组与相应的装置重新连接，从而节约测试
时间，提高测试效率。
7.本实用新型还提供一种模组测试系统，包括上述技术方案中的模组测试装置。
8.与现有技术相比，本实用新型提供的模组测试系统的有益效果与上述技术方案所述的模组测试装置的有益效果相同，此处不做赘述。
附图说明
9.此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
10.图1为本实用新型实施例提供的模组测试装置的结构示意图。
11.附图标记：
12.1-模组测试装置，
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2-待测模组，
13.11-控制器，
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111-固件烧录测试端，
14.112-射频校准测试端，
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113-开机检查测试端，
15.114-电源控制端，
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121-固件烧录连接子单元，
16.1211-转换接口，
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1212-烧录线，
17.122-射频校准测试连接子单元，
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1221-第一通信线，
18.1222-综测仪，
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1223-射频线，
19.1224-第二通信线，
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123-功能检查连接子单元，
20.13-第一开关器件，
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14-第二开关器件，
21.15-电源。
具体实施方式
22.为了便于清楚描述本实用新型实施例的技术方案，在本实用新型的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如，第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值，并不对其先后顺序进行限定。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。
23.需要说明的是，本实用新型中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本实用新型中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
24.本实用新型中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b的情况，其中a，b可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，a和b的结合，a和c的结合，b和c的结合，或a、b和c的结合，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
25.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
26.随着物联网行业的迅速发展，物联网模组的市场需求量日益增大，对物联网模组的生产测试效率以及质量等都提出了更高要求。物联网模组的一般测试流程为：烧录测试固件-射频校准综测-开机功能检查，每个测试流程都需要搭建一个工序的测试工位。
27.现有技术中，为了提高物联网模组的测试效率，多采用机械手等自动化设备来自动抓取放置物联网模组，但此种方案在进行每项测试前，都需要将待测模组重新放入测试装置中，存在测试效率低、耗时长的缺点。
28.为了解决上述问题，请参阅图1，本实用新型实施例提供一种模组测试装置1。包括：控制器11、多个测试连接单元、第一开关器件13、第二开关器件14以及电源15。其中，控制器11具有固件烧录测试端111、射频校准测试端112以及开机检查测试端113，固件烧录测试端111、射频校准测试端112以及开机检查测试端113分别通过相应的测试连接单元与待测模组2的相应测试接点电连接。电源15通过第一开关器件13与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件13还与控制器11电连接。电源15还通过第二开关器件14与待测模组2电连接，且第二开关器件14还与控制器11电连接。
29.具体实施时：将模组测试装置1与待测模组2的相应测试接点连接后，在进行每项测试前，控制器11控制第一开关器件13的通断，使得电源15仅能够向当前测试中相应的测试连接单元供电，其他测试连接单元处于断电状态，在一项测试完成后，控制器11控制第二开关器件14的关断后再导通，向待测模组2重新供电，使得待测模组2重启，令前一项测试结果生效。
30.通过上述模组测试装置1实施过程以及具体结构可知，本实用新型实施例提供的模组测试装置1中，控制器11的固件烧录测试端111、射频校准测试端112以及开机检查测试端113分别通过相应的测试连接单元与待测模组2的相应测试接点电连接，基于此，控制器11的烧录测试端通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组2的固件烧录工序，控制器11的射频校准测试端112通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组2的射频校准测试工序，控制器11的开机检查测试端113通过相应的测试连接单元可以实现对待测模组2的开机功能检查工序，无需抓取待测模组2在各个测试工序间转移，节约了测试时间，提高了测试效率。电源15通过第一开关器件13分别与多个测试连接单元电连接，且第一开关器件13还与控制器11电连接，当需要对待测模组2进行测试时，控制器11可以控制第一开关器件13的通断，从而使得电源15仅能向相应的测试连接单元供电，以确保在进行当前测试时，不会受到其他测试连接单元的干扰，避免影响测试结果。电源15还通过第二开关器件14与待测模组2电连接，且第二开关器件14还与控制器11电连接，当完成每项测试后，控制器11可以控制第二开关器件14的通断，从而使得电源15向待测模组2供电，实现每项测试之后的重新上电。由此可知，本实用新型实施例提供的模组测试装置1，在待测模组2的相应接点与控制器11连接后，就能够实现对于待测模组2的多项测试工序，无需在每项测试前将待测模组2与相应的装置重新连接，从而节约测试时间，提高测试效率。
31.示例性的，当模组测试装置1具有固件烧录工序、射频校准测试工序以及开机功能检查工序时，待测模组2的测试接点包括烧录接点、天线接点、控制接点以及通信接点。基于
此，模组测试装置1通过待测模组2的烧录接点，以对待测模组2进行固件烧录；模组测试装置1通过待测模组2的天线接点以及控制接点，以对待测模组2进行射频校准测试；模组测试装置1通过待测模组2的通信接点，以对待测模组2进行开机功能检查。
32.可以理解的是，当进行相应的测试工序时，模组测试装置1不能通过其他的测试连接单元向待测模组2输出数据，即当进行固件烧录工序时，模组测试装置1中的电源15仅会向固件烧录工序相应的测试连接单元供电，以确保模组测试装置1仅能够通过待测模组2的烧录接点对待测模组2进行固件烧录，避免影响测试结果。
33.应注意，在实际中，当需要更多的测试工序时，可以通过扩展控制器11的硬件以及其他测试连接单元配合来实现其他的测试工序，本实用新型实施例对此不做具体限定。
34.上述实施例中的控制器11可以是可编程逻辑控制器(programmable logic controller，缩写为plc)。例如：dvp60es200r，s7-1500，在实际应用中，上述plc还具有人机交互界面，用户可以通过人机交互界面进行操作，以对模组测试装置1中各测试连接单元的参数分别进行设置。
35.或者，上述实施例中的控制器11还可以是个人计算机(personal computer，pc)、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，umpc)或者个人数字助理(personaldigital assistant，pda)等，本实用新型实施例不作具体限定。
36.在上述实施例中，第一开关器件13和第二开关器件14可以是半导体晶体管，例如三极管或场效应管等，以实现在控制器11的控制下，导通或关断相应的供电线路。第一开关器件13也可以是多个单刀双掷开关的组合，例如，3个单刀双掷开关的组合，使得本实施例中的多个连接子单元在同一时刻仅有其中一个能够接收到电源15的供电，从而正常工作。对此，本实用新型实施例不做具体限定。
37.在一种可选方式中，如图1所示，多个测试连接单元包括固件烧录连接子单元121、射频校准测试连接子单元122以及功能检查连接子单元123。
38.固件烧录测试端111通过固件烧录连接子单元121与待测模组2的烧录接点电连接，用于对待测模组2进行固件烧录工序。射频校准测试端112通过射频校准测试连接子单元122分别与待测模组2的天线接点以及待测模组2的控制接点电连接，用于对待测模组2进行射频校准测试工序。开机检查测试端113通过功能检查连接子单元123与待测模组2的通信接点电连接，用于对待测模组2进行开机功能检查工序。
39.在具体实施中，电源15通过第一开关器件13分别与固件烧录连接子单元121、射频校准测试连接子单元122以及功能检查连接子单元123电连接，控制器11控制第一开关器件13的通断。例如，当进行固件烧录工序时，控制器11控制第一开关器件13导通电源15向固件烧录连接子单元121的供电，关断电源15向射频校准测试连接子单元122以及功能检查连接子单元123的供电。使得在进行固件烧录工序时，有且只有固件烧录连接子单元121能够向待测模组2的烧录接点写入数据。当进行射频校准测试工序时，控制器11控制第一开关器件13导通电源15向射频校准测试连接子单元122的供电，关断电源15向固件烧录连接子单元121以及功能检查连接子单元123的供电，使得在进行射频校准测试工序时，有且只有射频校准测试连接子单元122能够与待测模组2的天线接点以及控制接点进行信息交互。当进行开机功能检查工序时，控制器11控制第一开关器件13导通电源15向功能检查连接子单元
123的供电，关断电源15向固件烧录连接子单元121以及射频校准测试连接子单元122的供电，使得在开机功能检查工序时，有且只有功能检查连接子单元123能够与待测模组2的通信接点进行信息交互。
40.此外，在每项测试完成后，控制器11控制第二开关器件14的通断，以完成待测模组2的重启，使得当前测试结果生效。例如，在固件烧录工序完成后，控制器11控制第一开关器件13关断电源15向固件烧录连接子单元121的供电后，控制器11控制第二开关器件14断开后再闭合，使得待测模组2重启后，固件烧录写入的数据生效。
41.在一些实施例中，如图1所示，固件烧录连接子单元121包括烧录线1212以及转换接口1211，固件烧录测试端111依次通过转换接口1211以及烧录线1212与待测模组2的烧录接点电连接。电源15通过第一开关器件13与烧录线1212电连接，用于向烧录线1212供电。
42.示例性的，转换接口1211包括串口转换板或烧录转换器。
43.例如，当转换接口1211为串口转换板时，串口转换板可以为ch341串口转换板，固件烧录测试端111通过ch341串口转换板与烧录线1212的第一端电连接，烧录线1212的第二端与待测模组2的烧录接点电连接。当对待测模组2进行固件烧录工序时，控制器11控制电源15向烧录线1212供电，固件烧录测试端111通过串口转换板以及烧录线1212对待测模组2进行固件烧录，在固件烧录完成后，控制器11控制第二开关器件14的通断，使得电源15重新向待测模组2供电，实现待测模组2的重启，使得固件烧录的测试结果生效。
44.当转换接口1211为烧录转换器时，烧录转换器可以是jlink烧录转换器，固件烧录测试端111与jlink烧录转换器的第一端电连接，jlink烧录转换器的第二端与烧录线1212的第一端电连接，烧录线1212的第二端与待测模组2的烧录接点电连接。当对待测模组2进行固件烧录工序时，控制器11控制电源15向烧录线1212供电，固件烧录测试端111通过烧录转换器以及烧录线1212对待测模组2进行固件烧录，在固件烧录完成后，控制器11控制第二开关器件14的通断，使得电源15重新向待测模组2供电，实现待测模组2的重启，使得固件烧录的测试结果生效。
45.在一些实施例中，如图1所示，射频校准测试连接子单元122包括第一通信线1221、第二通信线1224、射频线1223以及综测仪1222。其中：射频校准测试端112通过第一通信线1221与综测仪1222电连接，综测仪1222通过射频线1223与待测模组2的天线接点电连接。射频校准测试端112还通过第二通信线1224与待测模组2的控制接点电连接。电源15通过第一开关器件13分别与第一通信线1221、第二通信线1224、综测仪1222以及射频线1223电连接，用于向第一通信线1221、第二通信线1224、综测仪1222以及射频线1223供电。
46.在具体实施时，射频校准测试端112与第一通信线1221的第一端电连接，第一通信线1221的第二端与综测仪1222的第一端电连接，综测仪1222的第二端与射频线1223的第一端电连接，射频线1223的第二端与待测模组2的天线接点电连接，射频校准测试端112还与第二通信线1224的第一端电连接，第二通信线1224的第二端与待测模组2的控制接点电连接。当对待测模组2进行射频校准测试工序时，控制器11控制电源15向第一通信线1221、第二通信线1224、综测仪1222以及射频线1223供电，射频校准测试端112通过第二通信线1224向待测模组2的控制接点发出信号，待测模组2的天线接点将待测模组2的响应信号通过射频线1223传输至综测仪1222，综测仪1222接收待测模组2的响应信号后，通过第一通信线1221将测试结果发送至射频校准测试端112。若返回的结果与预期的目标参数不符时，射频
校准测试端112会通过第二通信线1224向待测模组2的控制接点发送校准信号，待测模组2接收到校准信号后，通过射频线1223向综测仪1222返回校准后的信号，综测仪1222接收到校准后的信号后，通过第一通信线1221将校准后的测试结果发送至射频校准测试端112。若返回的结果符合预期的目标参数，则完成射频校准测试工序。在射频校准测试完成后，控制器11控制第二开关器件14的通断，使得电源15重新向待测模组2供电，实现待测模组2的重启，使得射频校准测试的结果生效。
47.上述实施例中的综测仪1222可以是cmw500综测仪，也可以是无线综测仪，例如r8000c台式无线电综测仪，本实用新型实施例对此不做具体限定。
48.在一些实施例中，如图1所示，功能检查连接子单元123包括第三通信线，开机检查测试端113通过第三通信线与待测模组2的通信接点电连接。电源15通过第一开关器件13与第三通信线电连接，用于向第三通信线供电。
49.在具体测试时，开机检查测试端113与第三通信线的第一端电连接，第三通信线的第二端与待测模组2的通信接点电连接，当对待测模组2进行开机功能检查工序时，控制器11控制电源15向第三通信线供电，开机检查测试端113通过第三通信线与待测模组2进行信息交互，以完成开机功能检查工序，在测试完成后，控制器11控制第二开关器件14的通断，使得电源15重新向待测模组2供电，实现待测模组2的重启，使得开机功能检查的测试结果生效。
50.应注意，上述第一通信线1221、第二通信线1224以及第三通信线可以是相同的通信连接线，也可以是不同的通信连接线。在实际中，各个测试工序可能会使用到不同的通信协议以及通信接口，因此，第一通信线1221、第二通信线1224以及第三通信线需要根据具体的通信接口以及通信协议进行选择，本实用新型实施例不做具体限定。
51.在一种可能的实现方式中，控制器11还具有电源控制端114。控制器11的电源控制端114与电源15电连接。基于此，控制器11可以控制电源15的供电参数，以在进行相应的测试工序时，提供与相应的测试连接单元以及待测模组2匹配的电压和电流，以免影响测试效果，甚至损毁电子器件。
52.在一种可能的实现方式中，模组测试装置1还包括测试台，当对待测模组2进行测试时，待测模组2固定在测试台上。
53.具体的，对待测模组2进行测试时，将待测模组2固定在测试台上后，控制器11分别通过固件烧录连接子单元121、射频校准测试连接子单元122以及功能检查连接子单元123与待测模组2电连接，电源15通过第一开关器件13以及第二开关器件14向固件烧录连接子单元121、射频校准测试连接子单元122以及功能检查连接子单元123以及待测模组2分别供电。通过控制器11控制电源15的供电次序，以按序完成对待测模组2的各项测试。如此，本实用新型实施例中，仅需搭建一个测试台，就能实现对于待测模组2的多项测试，提高测试效率。
54.在实际中，控制器11固定在测试台上，也可以与测试台分离，或者直接将控制器11集成在测试台内部，以实现对待测模组2的一站式测量。本实用新型实施例对此不做具体限定。
55.本实用新型实施例还提供一种模组测试系统，包括上述实施例中所述的模组测试装置1。
56.与现有技术相比，本实用新型实施例提供的模组测试系统的有益效果与上述技术方案所述的模组测试装置1的有益效果相同，此处不做赘述。
57.尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述，然而，在实施所要求保护的本发明过程中，本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书，可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”(comprising)一词不排除其他组成部分或步骤，“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施，但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。
58.尽管结合具体特征及其实施例对本实用新型进行了描述，显而易见的，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，可对其进行各种修改和组合。相应地，本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本实用新型的示例性说明，且视为已覆盖本实用新型范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包括这些改动和变型在内。