料梭旋转装置及测试机的制作方法

1.本实用新型涉及机械自动化技术领域，特别是涉及一种料梭旋转装置及测试机。


背景技术：

2.在制造及现代工业生产中，产品在投入使用之前均会对其进行产品性能、质量等的检测，以保证其合格性。如随着市场对电子元器件需求量的急剧增大，如ic芯片，ic芯片在使用前均会对其进行性能的检测。然而受上游环节的影响，ic芯片在测试环节中经常出现ic芯片入料位与测试位不一致的情况，需要对ic芯片的入料位进行调整。
3.目前，对于ic芯片入料位与测试位不一致的情况，通过人工手动逐一对ic芯片进行旋转，但是此种调整方式劳动强度较大。因此，为了实现ic芯片的自动化旋转，通常在测试机上配备机械手，且将旋转模块集成于机械手上，但是此种测试机结构过于复杂，故障率显著增加，且无法完成对于ic芯片的批量旋转作业。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对现有将旋转模块集成于机械手上，造成测试机结构过于复杂，故障率增加，且无法完成对于电子元器件(如ic芯片等)的批量旋转的问题，提供一种料梭旋转装置及测试机。
5.一种料梭旋转装置，包括：
6.固定板；
7.旋转机构，安装于所述固定板上；
8.多个料梭盘，均可转动地设置于所述固定板，多个所述料梭盘均与所述旋转机构传动连接，所述料梭盘开设有用于承载电子元器件的料槽，所述料槽开口于所述料梭盘远离所述固定板的表面。
9.上述料梭旋转装置，将多个电子元器件(如ic芯片等)对应放置于多个料槽内，在检测过程中，通过旋转机构驱动多个料梭盘相对固定板旋转，可调整电子元器件的入料位。该料梭旋转装置，通过一个旋转机构同时驱动多个料梭盘的旋转，可完成对于电子元器件的批量旋转作业，提高检测效率；并且每个料梭盘独立旋转一个电子元器件，结构简单，故障率显著降低。
10.在其中一个实施例中，所述旋转机构包括驱动源与同步带，所述驱动源固定于所述固定板上，所述驱动源的输出端设置有主动轮，所述料梭盘上设置有从动轮，所述同步带依次绕设于所述主动轮与多个所述从动轮上。
11.在其中一个实施例中，还包括张紧机构，所述张紧机构设置于所述固定板上，所述同步带同时绕设于所述主动轮、多个所述从动轮以及所述张紧机构上。
12.在其中一个实施例中，所述张紧机构包括多个张紧轮，多个所述张紧轮均可滑动地设置于所述固定板上，相邻两个所述料梭盘之间设置有一个所述张紧轮，所述同步带依次绕设于所述主动轮、多个所述从动轮以及多个所述张紧轮上。
13.在其中一个实施例中，所述固定板上开设有多个滑槽，所述滑槽内可滑动地设置有滑块，多个所述张紧轮对应固定于多个所述滑块上。
14.在其中一个实施例中，还包括多个托盘，多个所述托盘均可转动地连接于所述固定板上，且多个所述料梭盘对应可拆卸地连接于多个所述托盘上。
15.在其中一个实施例中，所述料梭盘上开设有至少一个透光槽，所述料梭旋转装置还包括：
16.感应机构，设置于所述固定板上，用于获取所述透光槽内的光强变化量；
17.控制模块，与所述旋转机构及所述感应机构信号连接，用于根据所述光强变化量确定所述电子元器件是否旋转至测试位，并在到达测试位时控制所述旋转机构的停止。
18.在其中一个实施例中，所述料梭盘上开设的所述透光槽为四个，且四个所述透光槽沿所述料梭盘的周向等距间隔分布。
19.在其中一个实施例中，所述感应机构包括传感器与挡光件，所述传感器固定于所述固定板上，所述挡光件间隔设置于所述料梭盘的上方，且与所述传感器信号连接，在所述料梭盘的旋转过程中，所述挡光件在料梭盘上的投影可位于所述透光槽内。
20.一种测试机，包括机架与如上述技术方案任一项所述的料梭旋转装置，所述料梭旋转装置在所述机架上可滑动。
21.上述测试机，料梭旋转装置在机架上可滑动，可对多个料梭盘进行范围性移动。另外，通过一个旋转机构同时驱动多个料梭盘的旋转，可完成对于电子元器件的批量旋转作业，提高检测效率；并且每个料梭盘独立旋转一个电子元器件，结构简单，故障率显著降低。
附图说明
22.图1为本实用新型提供的料梭旋转装置的结构示意图；
23.图2为本实用新型提供的料梭盘与托盘组成模块的结构示意图；
24.图3为本实用新型提供的驱动源与主动轮组成模块的结构示意图；
25.图4为本实用新型提供的张紧轮与滑块组成模块的结构示意图。
26.附图标记：
27.100、料梭旋转装置；
28.110、固定板；111、滑槽；112、滑块；
29.120、旋转机构；121、驱动源；122、同步带；123、主动轮；124、输出轴；125、键体；
30.130、料梭盘；131、料槽；132、从动轮；133、透光槽；
31.140、张紧机构；141、张紧轮；
32.150、托盘；
33.160、感应机构；161、传感器；162、挡光件。
具体实施方式
34.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公
开的具体实施例的限制。
35.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
36.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
37.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
38.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
39.需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
40.下面结合附图介绍本实用新型实施例提供的技术方案。
41.如图1与图2所示，本实用新型提供了一种料梭旋转装置100，料梭旋转装置100包括固定板110、旋转机构120以及多个料梭盘130，旋转机构120通过螺接、焊接等方式安装于固定板110上，料梭旋转装置100用于电子元器件的承载旋转。
42.多个料梭盘130均通过连接轴可转动地设置于固定板110上，多个料梭盘130均与旋转机构120传动连接，旋转机构120可同时驱动多个料梭盘130相对固定板110旋转。料梭盘130上开设有料槽131，料槽131开口于料梭盘130远离固定板110的表面，料槽131用于承载容纳待检测的电子元器件，如ic芯片等。在具体设置时，料槽131可以为开口于料梭盘130的上表面，且向着料梭盘130的内部延伸一定厚度的槽孔。
43.上述料梭旋转装置100，将多个电子元器件(如ic芯片等)对应放置于多个料槽131内，在检测过程中，通过旋转机构120驱动多个料梭盘130相对固定板110旋转，可调整电子元器件的入料位。该料梭旋转装置100，通过一个旋转机构120同时驱动多个料梭盘130的旋转，可完成对于电子元器件的批量旋转作业，提高检测效率；并且每个料梭盘130独立旋转
一个电子元器件，结构简单，故障率显著降低。
44.为了同时驱动多个料梭盘130的旋转，一种优选实施方式，如图1、图2以及图3所示，旋转机构120包括驱动源121与同步带122，驱动源121通过螺接、焊接等方式固定于固定板110上。驱动源121的输出端设置有主动轮123，料梭盘130上设置有从动轮132。具体地，驱动源121具有输出轴124，主动轮123通过键体125连接于输出轴124上。键体125可保证主动轮123与输出轴124的连接可靠性，在驱动源121通过输出轴124将动力传递至主动轮123上时，键体125可保证驱动源121的动力传递可靠性。同步带122依次绕设于主动轮123与多个从动轮132上，当驱动源121输出动力至输出端时，输出端上的主动轮123做旋转运动，通过同步带122可同时带动多个从动轮132做同步旋转运动，进而使驱动源121能够同时驱动多个料梭盘130的旋转，完成对于电子元器件的批量旋转作业。并且，仅采用一个驱动源121即可完成对于多个料梭盘130的旋转驱动，可节省料梭旋转装置100的制造成本，减小结构的复杂程度。
45.其中，驱动源121优选为伺服电机，以保证料梭盘130在旋转过程中的旋转精度。当然，在其他对于旋转精度要求不高的场合，驱动源121也可以为步进电机、气缸或其他能够输出动力的元件。
46.为了保证驱动源121的动力传递可靠性，一种优选实施方式，如图1、图2以及图3所示，料梭旋转装置100还包括张紧机构140。张紧机构140通过螺接、卡接等方式设置于固定板110上，同步带122同时绕设于主动轮123、多个从动轮132以及张紧机构140上。在主动轮123通过同步带122带动多个从动轮132旋转时，张紧机构140用于同步带122的张紧，防止同步带122在传动过程中出现跳齿现象，保证驱动源121的动力传递可靠性。
47.具体地，如图1、图2、图3以及图4所示，张紧机构140包括多个张紧轮141。相邻两个料梭盘130之间设置有一个张紧轮141，同步带122依次绕设于主动轮123、多个从动轮132以及多个张紧轮141上。在主动轮123通过同步带122带动多个从动轮132旋转时，多个张紧轮141均可用于同步带122的张紧，防止同步带122在传动过程中出现跳齿现象，保证驱动源121的动力传递可靠性。并且多个张紧轮141均匀分布于同步带122的传动路径上，可保证同步带122在各个区域的张紧程度均匀性。
48.另外，多个张紧轮141均可滑动地设置于固定板110上。通过调整张紧轮141在固定板110上的位置，可调节同步带122的张紧程度。具体地，如图1与图4所示，固定板110上开设有多个滑槽111，滑槽111内可滑动地设置有滑块112，多个张紧轮141对应固定于多个滑块112上。通过在滑槽111内滑动滑块112，滑块112带动张紧轮141在滑槽111内滑动以调整张紧轮141在固定板110上的位置，进而调节同步带122的张紧程度，防止同步带122在长时间使用过程中，由于老化导致同步带122出现松弛的不良现象，保证驱动源121的动力传递可靠性。
49.为了拓展料梭旋转装置100的适用性，一种优选实施方式，如图1与图2所示，料梭旋转装置100还包括多个托盘150，多个托盘150均可转动地连接于多个托盘150上，并且多个料梭盘130通过销轴等方式对应可拆卸地连接于多个托盘150上。根据电子元器件规格的不同，可快速将料梭盘130于托盘150上拆卸下来，并更换为特定规格的料梭盘130，以完成不同规格的电子元器件的批量旋转作业，拓展料梭旋转装置100的适用性。
50.为了减小料梭旋转装置100的整体体积，一种优选实施方式，如图1所示，多个料梭
盘130对称分布于固定板110的两侧，可在单位面积的固定板110上尽可能的设置更多的料梭盘130，提高固定板110的空间利用率，且能够减小料梭旋转装置100的整体体积。
51.为了自动化控制电子元器件的旋转，一种优选实施方式，如图1与图2所示，料梭盘130上开设有至少一个透光槽133，透光槽133可作为料梭盘130的位置标记。料梭旋转装置100还包括感应机构160与控制模块(图示未示出)。其中，透光槽133的具体数量以及开设位置可根据用户的需求进行设置。
52.感应机构160通过螺接、卡接等方式设置于固定板110上，感应机构160用于获取透光槽133内的光强变化量，从而获取料梭盘130的位置信息。
53.控制模块与旋转机构120以及感应机构160信号连接，感应机构160获取到透光槽133内的光强变化量，并将各个透光槽133内的光强变化量信息传递至控制模块，控制模块根据各个透光槽133内光强变化量确定电子元器件是否旋转至测试位，并在到达测试位时控制旋转机构120的停止，以实现自动化的将入料位调整至测试位，对电子元器件进行精确检测。
54.具体地，如图1、图2以及图3所示，在本实施方式中，料梭盘130上开设的透光槽133为四个，且四个透光槽133沿料梭盘130的周向等距间隔分布。换言之，四个透光槽133对称间隔分布于料梭盘130的四个对角处。为便于对如何获取料梭盘130位置状态进行解释，将四个透光槽133沿料梭盘130的周向方向依次编号为第一透光槽、第二透光槽、第三透光槽与第四透光槽，当感应机构160感应到第一透光槽内光强发生变化时，即表明料梭盘130处于第一位置；当感应机构160感应到第二透光槽内光强发生变化时，即表明料梭盘130相对第一位置已经旋转了90
°
；当感应机构160感应到第三透光槽内光强发生变化时，即表明料梭盘130相对第一位置已经旋转了180
°
；当感应机构160感应到第四透光槽内光强发生变化时，即表明料梭盘130相对第一位置已经旋转了270
°
。其他数量的透光槽133获取料梭盘130位置状态信息与上述过程类似，在此不再赘述。
55.为了感应透光槽133内的光强变化量，一种优选实施方式，如图1与图2所示，感应机构160包括传感器161与挡光件162。传感器161通过螺接、卡接等方式固定于固定板110上，挡光件162间隔设置于料梭盘130的上方，并且挡光件162与传感器161信号连接。在料梭盘130的旋转过程中，挡光件162在料梭盘130的投影可位于透光槽133内，且在挡光件162在料梭盘130的投影位于透光槽133内时，由于透光槽133内的光线被遮挡，传感器161可感应透光槽133内的光强发生变化，并将透光槽133内的光强变化量信息传递至控制模块。其中，在本实施方式中，传感器161为光敏传感器161。但是在其他实施方式中，传感器161也可以用其他的感光元件替代。
56.需要说明的是，在另外一个实施例中，其他结构与本实用新型中的结构基本相同，相同之处不再赘述，不同之处在于另外一个实施例中包括多个驱动源，多个驱动源对应与多个料梭盘传动连接，通过多个驱动源独立驱动对应料梭盘的旋转，使得多个料梭盘之间的旋转互不干涉，可单独设置多个料梭盘以不同旋转角度进行旋转运动，以满足不同角度需求的电子元器件的旋转作业。
57.另外，本实用新型还提供了一种测试机，测试机包括机架与如上述技术方案任一项的料梭旋转装置100，料梭旋转装置100在机架上可滑动。
58.上述测试机，料梭旋转装置100在机架上可滑动，可对多个料梭盘130进行范围性
移动。另外，通过一个旋转机构120同时驱动多个料梭盘130的旋转，可完成对于电子元器件的批量旋转作业，提高检测效率；并且每个料梭盘130独立旋转一个电子元器件，结构简单，故障率显著降低。
59.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
60.以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。