一种辐射源测试装置及系统的制作方法

1.本实用新型涉及电磁场测量技术领域，具体涉及一种辐射源测试装置及系统。


背景技术：

2.在认证机构中，使用经过各类校准的天线进行辐射泄漏测试，都是进行的远场测试。标准的远场辐射泄漏测试，可以准确定量的告诉我们被测物是否符合相应的emi标准，但是远场测试无法告诉工程师严重的辐射问题的具体辐射来源，例如无法判断是来自于壳体的缝隙还是连接的电缆，或是usb、lan之类的通信接口，在这种情况下，我们只能将受试设备转移至近场测试环境，再通过近场测试方法来定位辐射的真正来源，然后对受试设备经过调试后再进行远场测试以判定是否达到要求，若仍未达到要求，则需要再次进行近场测试，如此往复直至受试设备满足要求。而反复通过远场测试发现辐射问题，再进行近场测试来定位辐射的真正来源，其过程显然会浪费很多的人力和时间，且受试设备的频繁移动也可能造成测试结果出现误差。


技术实现要素：

3.本实用新型实施方式主要解决的技术问题是现有技术中远场辐射泄漏测试环境不能精确定位辐射来源。
4.为解决上述技术问题，本实用新型实施方式采用的一个技术方案是：提供一种辐射源测试装置，所述辐射源测试装置包括：
5.转台，所述转台用于盛放受试设备；
6.探头，所述探头用于放大并发射所述受试设备的检测位置的电磁波，其中，当所述受试设备的远场检测存在异常时，所述受试设备包括至少一个所述检测位置，所述至少一个所述检测位置中包括所述受试设备出现辐射异常的部位，所述检测位置为所述受试设备的预估异常部位；
7.天线，所述天线用于接收所述受试设备发射的电磁波，以及接收所述探头发射的所述放大后的电磁波；
8.接收机，所述接收机通过信号传输线与所述天线连接，所述接收机用于检测所述天线接收到的所述电磁波，并显示所述电磁波的参数，以根据所述参数确定所述受试设备出现辐射异常的部位；
9.其中，所述转台、所述探头和所述天线均设置于检测室内，所述接收机设置于所述检测室外。
10.可选的，所述探头包括电场探头，所述电场探头的探针一端用于接触所述受试设备的所述检测位置，所述电场探头的另一端悬空。
11.可选的，所述探头包括磁场探头，所述磁场探头的探头环一端用于靠近所述受试设备的所述检测位置，所述磁场探头的另一端悬空。
12.可选的，所述检测室为半电波暗室。
13.可选的，所述天线与所述受试设备的距离为3-10米。
14.可选的，所述转台为可转动转台，所述可转动转台用于带动所述受试设备转动。
15.可选的，所述辐射源测试装置还包括天线塔，所述天线设置于所述天线塔上，所述天线塔用于控制所述天线的高度，其中，所述天线的高度范围为1-4米。
16.可选的，所述天线塔连接有第一电源，所述第一电源用于为所述天线塔供电，以使所述天线塔控制所述天线的高度。
17.可选的，所述天线至少包括对数周期天线和喇叭天线中的一种。
18.为解决上述技术问题，本实用新型实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种辐射源测试系统，包括受试设备、与所述受试设备电连接的第二电源，以及如上述所述的辐射源测试装置，所述受试设备放置于所述转台上，所述第二电源用于为所述受试设备供电。
19.区别于相关技术的情况，本实用新型提供一种辐射源测试装置及系统，包括转台、探头、天线和接收机，所述转台用于放置受试设备，所述探头远离所述受试设备的一端悬空，所述探头可以放大并发射所述受试设备的检测位置的电磁波，所述天线可以接收到电磁波，所述接收机通过信号传输线与所述天线连接，所述接收机可以检测所述天线接收到的所述电磁波，并显示所述电磁波的参数，以根据所述参数确定所述受试设备出现辐射异常的部位，所述转台、所述探头和所述天线均设置于检测室内，所述接收机设置于所述检测室外。通过上述结构，在对受试设备进行辐射泄漏测试过程中，若其远场测试结果显示存在辐射异常，可以在不改变测试环境的情况下精确定位异常辐射的具体部位，避免了近场测试环境和远场测试的检测和环境切换，能够节约人力和时间，加快研发人员的整改效率。
附图说明
20.图1是本实用新型实施例提供的一种辐射源测试系统的示意图；
21.图2是本实用新型实施例提供的一种辐射源测试装置的示意图；
22.图3是本实用新型实施例提供的一种检测室情况的示例图；
23.图4是本实用新型实施例提供的电场探头和磁场探头的示意图。
具体实施方式
24.为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
25.除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
26.本实用新型实施例提供了一种辐射源测试系统，请参阅图1，该系统包括受试设备21、与所述受试设备21电连接的第二电源22，以及辐射源测试装置10，所述辐射源测试装置10包括转台11，所述受试设备21放置于所述转台11上，所述第二电源22用于为所述受试设备21供电。所述受试设备21通常为用电设备，例如手机、笔记本电脑或者其他电子设备等，该系统用于对受试设备21进行re测试(radiated emission，辐射骚扰测试)，通常的远场测试环境中，可以通过所述辐射源测试装置10来对所述受试设备21发射的电磁波进行检测和分析，判断所述受试设备21是否存在辐射异常的情况。
27.具体的，当所述受试设备21通电后会产生辐射，发射电磁波，所述辐射源测试装置10可以分析所述电磁波的参数，例如频率或者场强等参数，并根据所述参数判断所述受试设备21是否符合emi标准(即判断受试设备的辐射是否超过国家规定的标准)。
28.若所述受试设备的辐射超标，则说明该受试设备21存在辐射异常的部位，这种情况下，本实用新型实施例提供的辐射源测试系统中，所述辐射源测试装置10还可以根据所述参数判断出现辐射异常情况的具体是哪个部位，例如某芯片、器件的管脚、pcb板的布线、电源线或者信号线缆等，不需要额外设置近场测试的环境，不需要频繁移动受试设备21的位置，进一步确定出现辐射异常的具体部位，避免了近场测试环境和远场测试的检测和环境切换，能够节约人力和时间，加快研发人员的整改效率。
29.本实用新型实施例提供一种辐射源测试装置10，请结合图2，所述辐射源测试装置10包括转台11、探头12、天线13和接收机14，其中，所述转台11、所述探头12和所述天线13均设置于检测室内，所述接收机14设置于所述检测室外。请结合图3，所述检测室可以是半电波暗室，例如图3中所示的半电波暗室。
30.所述转台11可以盛放受试设备21，所述探头12可以放大并发射所述受试设备21的检测位置的电磁波，其中，当所述受试设备21的远场检测存在异常时，所述受试设备21包括至少一个所述检测位置，所述至少一个所述检测位置中包括所述受试设备21出现辐射异常的部位，所述检测位置为所述受试设备21的预估异常部位。
31.在一些实施例中，所述转台11为可转动转台，所述可转动转台用于带动所述受试设备21转动。以图3中的受试设备笔记本电脑为例，对该笔记本电脑进行远场检测的过程出现辐射异常，分别检测笔记本电脑的a面面对天线时的辐射情况、b面面对天线时的辐射情况、左侧边面对天线时的辐射情况，以及右侧边面对天线时的辐射情况。若检测到b面对应的辐射异常，则判定该笔记本电脑的辐射异常的部位在b面的某个地方，预估b面可能存在异常的部位作为检测位置，然后进一步对这些检测位置进行检测，确定辐射异常部位。
32.具体的，所述探头的种类选择可以根据实际场景的需要或者当前环境存在的工具来决定。在一些实施例中，请结合图4，所述探头12可以是电场探头121，在进行检测时，所述电场探头121的探针一端接触所述受试设备21的所述检测位置，所述电场探头121的另一端悬空。在一些实施例中，例如图4所示的电场探头，所述电场探头121中还可以设置隔直电容，通常取耐压1000v左右，1000pf左右的电容。
33.可选的，所述探头12也可以是磁场探头122，在进行检测时，所述磁场探头122的探头环一端靠近所述受试设备21的所述检测位置，所述磁场探头122的另一端悬空。请结合图4，以最常见的环状磁场探头为例，进行测量时，将磁场传播线和探头环面垂直的时候，测量的波形会最高，所以在测量过程中，通常会旋转探头的方向来测量最高的波形，避免遗漏了
重要的辐射异常部位。可以理解的是，上述实施例中提到的电场探头和磁场探头仅作为探头的选择示例，并不是限定只能使用上述两种探头，实际测量过程中也可以选择多种探头结合使用，例如先通过磁场探头定位辐射异常的大致部位，再通过电场探头进行精确定位，确定出现辐射异常的部位。
34.在一些情况下，若当前环境中没有合适的标准探头，也可以将同轴电缆前端的一小段屏蔽层剥除，露出芯线，作为简易的电场探头进行使用，或者可以使用万用表表笔作为简单的电场探头来使用，即本方案中，探头的获取和使用都十分方便。可以理解的是，所述探头12悬空的一端需要设置为容易被天线13接收电磁波的情况，例如设置为朝向所述天线13方向，以使其放大的电磁波能够更好的被天线13接收到。
35.所述天线13可以接收所述受试设备21发射的电磁波，以及接收所述探头12发射的所述放大后的电磁波；所述接收机14通过信号传输线与所述天线13连接，所述接收机14可以检测所述天线13接收到的所述电磁波，并显示所述电磁波的参数，以根据所述参数确定所述受试设备21出现辐射异常的部位。其中，所述信号传输线通常为同轴线。
36.可选的，所述天线13至少包括对数周期天线和喇叭天线中的一种。远场测试中一般会测量30m-6g范围的辐射电磁波，不同类型的天线其适合接收的电磁波的频率不相同，例如实际场景中通常用对数周期天线接收低频辐射，例如30m-1g的辐射电磁波，用喇叭天线接收高频辐射，例如1g-6g的辐射电磁波。可以理解的是，上述实施例中提到的对数周期天线和喇叭天线仅作为天线的选择示例，并不是限定只能使用上述两种天线，实际测量过程中也可以选择其他合适的天线类型，还可以多种天线结合使用。
37.进一步的，在一些实施例中，所述辐射源测试装置10还包括天线塔131，所述天线13设置于所述天线塔131上，所述天线塔131连接有第一电源132，所述第一电源132为所述天线塔131供电，以使所述天线塔131控制所述天线13的高度，其中，所述天线13的高度范围为1-4米。通常情况下，所述天线13需要在1米、2米、3米和4米的高度测量受试设备21的辐射情况，所述天线塔131可以很方便的调整天线13的高度，以完成对应高度的测量任务。
38.所述天线13与所述受试设备21的距离为3-10米。远场测试过程通常会要求测量受试设备3米和10米距离的辐射情况，一般可以通过改变天线塔的位置来满足测量需求。
39.本实用新型实施例提供的辐射源测试装置，包括转台、探头、天线和接收机，所述转台用于放置受试设备，所述探头远离所述受试设备的一端悬空，所述探头可以放大并发射所述受试设备的检测位置的电磁波，所述天线可以接收到电磁波，所述接收机通过信号传输线与所述天线连接，所述接收机可以检测所述天线接收到的所述电磁波，并显示所述电磁波的参数，以根据所述参数确定所述受试设备出现辐射异常的部位，所述展台、所述探头和所述天线均设置于检测室内，所述接收机设置于所述检测室外。通过上述结构，在对受试设备进行辐射泄漏测试过程中，若其远场测试结果显示存在辐射异常，可以在不改变测试环境的情况下精确定位异常辐射的具体部位，避免了近场测试环境和远场测试的检测和环境切换，能够节约人力和时间，加快研发人员的整改效率。
40.需要说明的是，本实用新型的说明书及其附图中给出了本实用新型的较佳的实施例，但是，本实用新型可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例，这些实施例不作为对本实用新型内容的额外限制，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。并且，上述各技术特征继续相互组合，形成未在上
面列举的各种实施例，均视为本实用新型说明书记载的范围；进一步地，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。