一种半导体测试机校准装置的制作方法

1.本实用新型涉及半导体测试工技术领域，尤其涉及一种半导体测试机校准装置。


背景技术：

2.工程师在调试半导体测试机程序时，有一个校准步骤用来测量功率在线路中的损耗，然后通过程序对测量出的损耗加以补偿使得测试能顺利完成，通常的方式是将半导体线路与校准装置进行对接，校准装置一般在测试机的上方。
3.但是现有的校准装置在使用时，因为校准装置为一体式设计，通常又是直接固定安装在测试机的上方，因此该校准装置不能根据线路半导体的射频线进行调整，射频线在测试时需要处于绝对自由的状态，以用来使测试的结果准确性更好，同时射频线在测试时会发生翘起的悬空状态，但是射频线在连接时无法对其角度进行调节，容易使射频线在测试时与外界的物体发生接触，进而影响测试的结果。
4.为此，我们提出一种半导体测试机校准装置来解决上述问题。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体测试机校准装置。
6.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
7.一种半导体测试机校准装置，包括安装座，所述安装座的顶端两侧皆固定安装有安装板，所述安装板的内部通过转轴活动安装有第一连接杆，所述第一连接杆的顶端设置有转动套，所述转动套的顶端设置有第二连接杆，所述第二连接杆的顶端两侧皆固定安装有接线头，所述安装板的外壁开设有转动槽，所述第一连接杆的两侧皆固定安装有转动杆，所述转动杆插设在转动槽的内部，所述转动杆的外壁设置有螺纹，所述转动杆的外壁套接有螺纹套，所述螺纹套与转动杆螺纹连接。
8.优选的，所述转动槽的内壁开设有卡槽，所述转动杆的外壁套接有卡块，所述卡块的两端设置有凸块，所述卡块插设在卡槽的内部。
9.优选的，所述第一连接杆的内部开设有嵌槽，所述第二连接杆的底端固定安装有螺纹杆，所述螺纹杆贯穿转动套延伸至嵌槽的内部。
10.优选的，所述螺纹杆的底端固定安装有嵌块，所述嵌块的形状为五边形，所述嵌槽的形状为五边形，所述嵌块与嵌槽相互适配。
11.优选的，所述螺纹杆贯穿转动套形成的孔洞内壁设置有内螺纹，所述转动套与螺纹杆螺纹连接。
12.优选的，所述第一连接杆的顶端开设有槽口，且槽口的形状为环形，所述转动套的底端安装有转动块，所述转动套底端的转动块与第一连接杆顶端的槽口转动连接。
13.优选的，所述转动套底端的转动块形状为l形，所述第一连接杆顶端的槽口形状为l形，所述转动套底端的转动块与第一连接杆顶端的槽口相互适配。
14.与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
15.1、通过设置的安装板可以使第一连接杆进行转动，随后通过转动杆和螺纹套可以对第一连接杆转动的角度进行限位，从而使转动套和第二连接杆带动接线头进行角度调节，进而使接线头上安装的半导体线路测试的路径进行调节，从而避免半导体线路在测试的过程中与测试机的其他工件发生接触，进而使测试半导体校准的准确性更好。
16.2、通过设置的转动套可以进行转动，随后转动套通过螺纹结构带动螺纹杆进行升降，同时嵌块可以对螺纹杆自身进行限位，避免螺纹杆发生转动使螺纹无法升降的情况，同时可以使接线头的位置进行高低调节，同时配合接线头的旋转调节，可以使接线头的位置更好的进行改变，使半导体线路的校准准确性更好。
附图说明
17.图1为本实用新型提出的一种半导体测试机校准装置的立体结构示意图；
18.图2为图1的正视剖面结构示意图；
19.图3为图1中安装座和安装板的结构示意图；
20.图4为图1中转动杆的结构示意图。
21.图中：1、安装座；2、安装板；3、第一连接杆；4、转动套；5、第二连接杆；6、接线头；7、转动槽；8、转动杆；9、卡槽；10、卡块；11、螺纹套；12、螺纹杆；13、嵌槽；14、嵌块。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
23.参照图1-4，一种半导体测试机校准装置，包括安装座1，安装座1的顶端两侧皆固定安装有安装板2，安装板2的内部通过转轴活动安装有第一连接杆3，第一连接杆3的顶端设置有转动套4，转动套4的顶端设置有第二连接杆5，第二连接杆5的顶端两侧皆固定安装有接线头6，安装板2的外壁开设有转动槽7，第一连接杆3的两侧皆固定安装有转动杆8，转动杆8插设在转动槽7的内部，转动杆8的外壁设置有螺纹，转动杆8的外壁套接有螺纹套11，螺纹套11与转动杆8螺纹连接。
24.进一步的，参照图1-4可以得知，转动槽7的内壁开设有卡槽9，转动杆8的外壁套接有卡块10，卡块10的两端设置有凸块，卡块10插设在卡槽9的内部，通过转动螺纹套11，进而使螺纹套11带动卡块10进行移动，随后可以使卡块10嵌入到卡槽9的内部进行限位，从而使转动杆8的转动进行限位，可以使第一连接杆3的调节后的稳定性更好。
25.进一步的，参照图2可以得知，第一连接杆3的内部开设有嵌槽13，第二连接杆5的底端固定安装有螺纹杆12，螺纹杆12贯穿转动套4延伸至嵌槽13的内部，可以使第二连接杆5带动螺纹杆12在嵌槽13的内部进行滑动，从而可以对第二连接杆5的高度进行调节，同时转动套4可以对螺纹杆12进行限位，从而增加了螺纹杆12的稳定性，使螺纹杆12不会发生倾斜的情况。
26.进一步的，参照图2可以得知，螺纹杆12的底端固定安装有嵌块14，嵌块14的形状为五边形，嵌槽13的形状为五边形，嵌块14与嵌槽13相互适配，可以使螺纹杆12在嵌槽13的
内部进行限位，避免螺纹杆12发生转动带动第二连接杆5进行转动，同时使接线头6对半导体线路的测试效果更好。
27.进一步的，参照图2可以得知，螺纹杆12贯穿转动套4形成的孔洞内壁设置有内螺纹，转动套4与螺纹杆12螺纹连接，通过转动转动套4，通过螺纹结构使螺纹杆12开始移动，从而完成螺纹杆12的升降，操作简单，使接线头6的位置调节更加方便。
28.进一步的，参照图2可以得知，第一连接杆3的顶端开设有槽口，且槽口的形状为环形，转动套4的底端安装有转动块，转动套4底端的转动块与第一连接杆3顶端的槽口转动连接，转动套4转动时带动转动块在槽口内部进行转动，同时可以使转动套4转动的不会发生倾斜的情况，进而使转动套4转动的稳定性更好，使第二连接杆5升降的稳定性更好。
29.进一步的，参照图2可以得知，转动套4底端的转动块形状为l形，第一连接杆3顶端的槽口形状为l形，转动套4底端的转动块与第一连接杆3顶端的槽口相互适配，转动块嵌入到槽口的内部，使转动块只能进行转动，无法脱离，进而使转动套4无法脱离，可以使转动套4更好的完成第二连接杆5的升降操作。
30.工作原理:本实用新型在使用时，将安装座1通过螺栓固定安装在测试机的上方，随后将半导体线路的一端与接线头6进行连接，随后另一端线路连接在另一组接线头6的上方，当需要对接线头6进行角度调节以保准线路在测试校准时不会与其他工件发生碰撞时，需要转动两组螺纹套11，随后通过螺纹结构使螺纹套11发生移动，随后将卡块10脱离卡槽9的内部，进而可以滑动第一连接杆3，使第一连接杆3带动转动杆8在转动槽7的内部滑动，当完成角度的调节后，将卡块10嵌入到卡槽9的内部，随后通过转动螺纹套11对卡块10进行限位，使卡块10在卡槽9的内部无法脱离，进而使卡块10对转动杆8进行限位，从而使第一连接杆3通过转动杆8的限位进行角度固定，操作简单，使第一连接杆3角度调节后的稳定性较好，进而使校准工序的准确性得到提高。
31.当半导体线路较长需要对接线头6的高度进行调节时，直接转动转动套4，从而使转动套4通过螺纹结构与螺纹杆12发生接触，同时螺纹杆12通过嵌块14在嵌槽13的内部进行上下直线运动，进而使转动套4的转动带动螺纹杆12进行升降，随后螺纹杆12带动第二连接杆5进行升降，完成对接线头6的高度调节，同时转动套4在转动的过程中带动转动块在槽口的内部转动，使转动套4转动的稳定性更好，同时避免转动套4发生倾斜或者脱离的情况，同时转动套4和嵌槽13的配合使螺纹杆12升降的稳定性更好，避免了螺纹杆12发生倾斜造成接线头6位置发生偏差的情况，使接线头6更好的完成对半导体线路的校准工序。
32.本实用新型中，以上所述所有部件的安装方式、连接方式或设置方式均为常见机械方式，并且其所有部件的具体结构、型号和系数指标均为其自带技术，只要能够达成其有益效果的均可进行实施，故不在多加赘述。
33.上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。
34.本实用新型中，在未作相反说明的情况下，“上下左右、前后内外以及垂直水平”等包含在术语中的方位词仅代表该术语在常规使用状态下的方位，或为本领域技术人员理解的俗称，而不应视为对该术语的限制，与此同时，“第一”、“第二”和“第三”等数列名词不代表具体的数量及顺序，仅仅是用于名称的区分，而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他
变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。