一种车载芯片的开路短路测试板的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种车载芯片的开路短路测试板。


背景技术：

2.开路-短路测试(open-short test)也称为continuity test或contacttest，os测试能快速检测出集成电路(ic)是否存在电性物理缺陷，如管脚短路、接合线(bond wire)缺失、管脚的静电损坏以及制造缺陷等。
3.os测试包括测试集成电路输入输出(i/o)管脚的保护二极管(包括连接地管脚gnd的对地二极管及连接电源管脚vcc的对电源二极管)的开/短路，以判断这两个二极管是否被烧毁或击穿。
4.传统的os测试做法是：批量测试时，首先根据被测ic的管脚特性制作出相应的测试机负载板，再根据测试项目编写出相应的测试机测试程序，接着用测试机跟机械手连接进行相应的测试，但使用测试机从开发到测试的过程比较繁琐，且无法同时实现单个引脚或多个引脚两种测试模式。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的在于提供一种车载芯片的开路短路测试板，以解决传统芯片开路短路检测无法同时实现单个引脚或多个引脚两种测试模式的问题。
6.为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种车载芯片的开路短路测试板，包括测试板板体，在所述测试板板体内设置有承载待测试芯片的承载台；
7.所述测试板板体两侧均设置有侧板，且沿所述侧板的长度方向开设有滑槽；
8.在所述滑槽中滑动连接有测试端子，通过所述测试端子与所述待测试芯片的引脚接触，从而检测引脚的短路或开路。
9.优选的，当待测试芯片放置于所述承载台中时，芯片本体嵌合于所述承载台的承载腔中，待检测芯片的引脚对称分布于所述承载台两侧。
10.优选的，所述测试端子包括检测部、滑移部和接电部，所述滑移部在所述滑槽中来回滑动，所述检测部和所述接电部分别固定连接于所述滑移部两侧，并跟随所述滑移部来回移动。
11.优选的，所述检测部包括间隔设置的两组固定爪和设置于所述固定爪上的触头，且两组所述触头相向间隔设置，中间间隙用于夹持待测试芯片的引脚。
12.优选的，所述触头滑动连接于所述固定爪的触头槽中，且在所述触头槽中设置有弹簧，使得两组所述触头呈相互靠近的趋势。
13.优选的，所述滑移部为t字型，与所述滑槽间隙配合，且所述滑槽一端封闭，另一端开放，使得多组所述测试端子能够依次从开放口进入所述滑槽。
14.优选的，所述接电部为快接插口，用于连接外部电路。
15.优选的，所述承载腔底部设置有弹性垫，所述弹性垫与待测试芯片的底部接触。
16.优选的，所述弹性垫由多根间隔设置的橡胶条组成。
17.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
18.1.该车载芯片的开路短路测试板通过多个测试端子的排列组合能够对待测试芯片的单个引脚的单独测试、多个引脚或全部引脚的部分或全部测试，大大提高了测试板的测试范围以及应用场景；
19.2.该车载芯片的开路短路测试板的测试端子通过触头槽中设置的弹簧，使得两组所述触头呈相互靠近的趋势从而夹紧待检测芯片的引脚，并且能够提供一定的夹紧力，从而保证良好的接触；
20.3.该车载芯片的开路短路测试板的承载腔底部设置有弹性垫，所述弹性垫与待测试芯片的底部接触，从而防止待测试芯片被磕伤，同时还能够留有一定的纵向调节距离，使得芯片在检测时能偶进行微调。
附图说明
21.图1是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板的结构示意图；
22.图2是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板测试端子的结构示意图；
23.图3是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板单个引脚测试的结构示意图；
24.图4是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板单个引脚测试的内部结构示意图；
25.图5是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板多个引脚测试的结构示意图；
26.图6是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板多个引脚测试的俯视图；
27.图7是本实用新型提供的一种车载芯片的开路短路测试板个引脚测试的内部结构示意图。
28.图中：1、测试板板体；2、承载台；3、侧板；4、测试端子；5、弹性垫；201、承载腔；301、滑槽；401、检测部；402、滑移部；403、接电部；404、触头；405、弹簧。
具体实施方式
29.以下结合附图和具体实施例对本实用新型作出的进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
30.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等
的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
31.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
32.本实用新型提供了一种车载芯片的开路短路测试板，请参阅图1，包括测试板板体1，在所述测试板板体1内设置有承载待测试芯片的承载台2；所述测试板板体1两侧均设置有侧板3，且沿所述侧板3 的长度方向开设有滑槽301；在所述滑槽301中滑动连接有测试端子 4，通过所述测试端子4与所述待测试芯片的引脚接触，从而检测引脚的短路或开路。
33.当待测试芯片放置于所述承载台2中时，芯片本体嵌合于所述承载台2的承载腔201中，待检测芯片的引脚对称分布于所述承载台2 两侧，从而方便所述测试端子4对待测试芯片引脚的测试。
34.具体的，如图2～4所示，所述测试端子4包括检测部401、滑移部402和接电部403，所述滑移部402在所述滑槽301中来回滑动，所述检测部401和所述接电部403分别固定连接于所述滑移部402两侧，并跟随所述滑移部402来回移动。
35.进一步的，所述检测部401包括间隔设置的两组固定爪和设置于所述固定爪上的触头404，且两组所述触头404相向间隔设置，中间间隙用于夹持待测试芯片100的单个引脚200。
36.进一步的，所述触头404滑动连接于所述固定爪的触头槽中，且在所述触头槽中设置有弹簧405，使得两组所述触头404呈相互靠近的趋势，并且能够提供一定的夹紧力，从而保证所述触头404与所述引脚200之间能够有良好的接触。
37.具体的，所述滑移部402为t字型，与所述滑槽301间隙配合，且所述滑槽301一端封闭，另一端开放，使得多组所述测试端子4能够依次从开放口进入所述滑槽301，当需要对待检测芯片100的多个引脚200或全部引脚200进行测试时，如图5～7所示，将引脚200对应数量的测试端子4依次从开放口滑入所述滑槽301中，使得测试端子4与引脚200的位置一一对应，并且使得两组所述触头404紧密夹持所述引脚200，从而对多个或全部引脚进行测试。
38.具体的，所述接电部403为快接插口，连接外部电路，用于接通测试用正电流或负电流。
39.具体的，所述承载腔201底部设置有弹性垫5，所述弹性垫5与待测试芯片的底部接触，从而防止待测试芯片被磕伤，同时还能够留有一定的纵向调节距离，使得芯片在检测时能够进行微调。
40.具体的，所述弹性垫5由多根间隔设置的橡胶条组成，既能够起到保护作用又能够留有待检测芯片100在承载腔201的微调空间。
41.上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述，并非对本实用新型范围的任何限定，本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。