一种防止光器件在加电测试时损坏的改进电路的制作方法

1.本实用新型涉及光器件保护技术领域，特别涉及一种防止光器件在加电测试时损坏的改进电路。


背景技术：

2.光器件在生产过程中，需要实施加电耦合来调整光功率，会将fpc(柔性电路板)压接在光器件的测试电路上，因为人为原因使fpc与端子对接错误，导致发光的器件ld对地直接或间接短路，大电流使ld过载损伤或完全烧坏。因器件损伤程度不可控，部分光器件性能劣化后，厂内不易发现，出货到客户后，随着使用时间增长，光器件性能迅速下降，导致最终损坏。这种情况会对公司产品的稳定性有重大隐患，因此改善意义重大。
3.为解决上述问题，目前的通用方法是通过调整治具精度，定期更换易损耗器件来改善。但是实践过程中，因为器件非常小，无法由机器代替人工作业，仍然会存在对位偏移，器件误搭接导致短路问题，无法彻底解决问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于在光器件生产过程中加电测试时，防止人为安装错位原因损坏或劣化光器件性能，提供一种防止光器件在加电测试时损坏的改进电路。
5.为了实现上述实用新型目的，本实用新型实施例提供了以下技术方案：
6.一种防止光器件在加电测试时损坏的改进电路，包括电源、控制回路、光器件，还包括限流回路、pnp型恒流电路，所述限流回路、pnp型恒流电路、光器件依次连接，所述电源与限流回路连接，所述控制回路与pnp型恒流电路连接。
7.更进一步地，所述光器件包括发光器件ld，所述发光器件ld的正极连接pnp型恒流电路，发光器件ld的负极接地。
8.更进一步地，所述限流回路包括电阻r1、电阻r2、三极管q1、二极管d1；所述电源分别与电阻r1的一端、二极管d1的阳极连接，电阻r1的另一端与三极管q1的发射极连接，三极管q1的基极分别与二极管d1的另一端、电阻r2的一端连接，电阻r2的另一端接地；三极管q1的集电极作为限流回路的输出端与pnp型恒流电路连接。
9.更进一步地，所述pnp型恒流电路包括电阻r3、电阻r4、电阻r5、运放器u1、三极管q2、接口p1；所述电阻r3的一端与限流回路的输出端连接，电阻r3的另一端分别与电阻r4的一端、三极管q2的发射极连接，电阻r4的另一端与运放器u1的反向输入端连接，运放器u1的正向输入端与控制回路连接，运放器u1的输出端与电阻r5的一端连接，电阻r5的另一端与三极管q2的基极连接，三极管q2的集电极与接口p1连接；所述接口p1与光器件连接。
10.与现有技术相比，本实用新型的有益效果：
11.本电路的改进可以彻底解决光器件在加电测试过程中出现损坏的问题，对提高产品的可靠性、稳定性又重要贡献，并可以同时开展到同类型测试方案中，效果显著。
附图说明
12.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
13.图1为传统的光器件加电测试电路
14.图2为本实用新型改进后的光器件加电测试电路；
15.图3为本实用新型实施例限流回路电路原理图；
16.图4为本实用新型实施例pnp型恒流电路原理图；
17.图5为传统的npn型恒流电路原理图。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性，或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
20.实施例：
21.本实用新型通过下述技术方案实现，如图1所示，一种防止光器件在加电测试时损坏的改进电路，包括电源、限流回路、控制回路、pnp型恒流电路、光器件，所述限流回路、pnp型恒流电路、光器件依次连接，电源与限流回路连接，控制回路与pnp型恒流电路连接。所述光器件包括发光器件ld，发光器件ld的正极与pnp型恒流电路连接，发光器件ld的负极接地。
22.请参见图1为传统的光器件加电测试电路，光器件(发光器件ld)的正极直接与电源连接，光器件的负极连接控制回路，当光器件的负极因误操作接地时，会直接造成发光器件ld无限流向回路而导致光器件短路烧坏。
23.请参见图2为本方案的光器件加电测试电路，加入限流回路在电源和光器件之间，并且将原来的npn型恒流电路更改为pnp型恒流电路。
24.详细来说，请参见图3，所述限流回路包括电阻r1、电阻r2、三极管q1、二极管d1；电源vcc分别与电阻r1的一端、二极管d1的阳极连接，电阻r1的另一端与三极管q1的发射极连接，三极管q1的基极分别与二极管d1的另一端、电阻r2的一端连接，电阻r2的另一端接地；三极管q1的集电极作为限流回路的输出端vcc_out与pnp型恒流电路连接。
25.通过调整电阻r1、电阻r2的值，使三极管q1在输出特定电流阈值后关闭，比如光器
件的最大过载电流为80ma，则设定特定电流阈值为70ma。光器件即使发生短路情况，本改进电路会自动关闭电源的供电回路，对光器件起到保护作用。
26.接着，请参见图4，所述pnp型恒流电路包括电阻r3、电阻r4、电阻r5、运放器u1、三极管q2、接口p1；所述电阻r3的一端作为pnp型恒流电路的输入端vcc_in与限流回路的输出端vcc_out连接，电阻r3的另一端分别与电阻r4的一端、三极管q2的发射极连接，电阻r4的另一端与运放器u1的反向输入端连接，运放器u1的正向输入端与控制回路i_ctl连接，运放器u1的输出端与电阻r5的一端连接，电阻r5的另一端与三极管q2的基极连接，三极管q2的集电极与接口p1连接；所述接口p1与光器件连接。
27.控制回路i_ctl由dac电路产生模拟电压，如v，由于运放器u1的虚短原理，电阻r4两端的电压也为v，流过电阻r3的电流i＝(vcc_in-v)/r3，即i＝(vcc_in-i_ctl)/r3，其中r3恒定，vcc_in由于前级稳压也恒定，因此流过电阻r3的电流仅受i_ctl的电压影响，i_ctl恒定，所以整个电路电流即恒定。如果接口p1连接的光器件的降压发生变化时，运放器u1根据in+\in-两端的差值，自动调节三极管q2放大，此时三极管q2等同于一只可调电阻，从而保持i＝(vcc_in-i_ctl)/r3特性不变，达到恒流目的。
28.光器件通过接口p1接入电路中，有以下几种情况：
29.1.接口p1直接连接到电阻r3，即跨过三极管q2恒流，因前级有限流电路，回路中如果过流，限流电路保护断开，光器件不会损坏。
30.2.接口p1正负极短路，因为三极管q2恒流有效，回路不受影响，只是电流旁路了接口p1，但不会损坏光器件。
31.3.接口p1正负极反向，因为三极管q2的单向导电特性，回路中无电流流过，不会损坏光器件。
32.因此，本方案增加的限流电路和pnp型恒流电路，无论哪种工作情况，都可以实现电路的恒流特性，也实现了光器件各种误接入的情况而不会受到损坏的目的。
33.请参见图5为传统的npn型恒流电路原理图，光器件通过接口p2连接与电源和npn型恒流电路之间，当光器件接地时，则会导致光电器短路造成损坏。
34.为避免光器件在加电测试的过程中出现“过冲”劣化器件性能，连接的控制回路i_ctl采用步进加电的方式，比如加电50ma时，则采用0ma-》10ma-》20ma-》30ma-》40ma-》50ma，可以有效防止过冲过流损坏光器件。
35.综上所述，本电路的改进可以彻底解决光器件在加电测试过程中出现损坏的问题，对提高产品的可靠性、稳定性又重要贡献，并可以同时开展到同类型测试方案中，效果显著。
36.以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。