一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的制作方法

文档序号:32927221发布日期:2023-01-14 01:09阅读:36来源:国知局
一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及物料检测技术领域,具体为一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置。


背景技术:

2.透明物料在生产过后,一般需要对透明物料表面进行检测,例如,手机膜、玻璃,剔除有裂痕,有损伤的透明物料。
3.单一光源在对透明物料进行照射检测时候,单一光源亮度不足,且单一使用低角度环形光进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰。
4.因此,发明一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置很有必要。


技术实现要素:

5.鉴于上述和/或现有一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置中存在的问题,提出了本实用新型。
6.因此,本实用新型的目的是提供一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置,通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮,薄膜材质打透光,同轴光源则在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果,能够解决上述提出现有单一光源亮度不足,且单一使用低角度环形光进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰的问题。
7.为解决上述技术问题,根据本实用新型的一个方面,本实用新型提供了如下技术方案:
8.一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置,其包括:支撑座和支撑杆,所述支撑座分别安装在支撑杆的两端,还包括:
9.用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件,所述照射检测组件放置在支撑杆的上端。
10.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述照射检测组件包括低角度环光源和l形连接板,所述低角度环光源放置在支撑杆的上端,所述l形连接板通过螺丝安装在低角度环光源的上端。
11.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述l形连接板的上端通过螺丝安装同轴光源,所述同轴光源的侧端安装接线一。
12.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述同轴光源上端开设有通孔,所述通孔内侧安装发光面。
13.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述低角度环光源形状设置为环形,所述低角度环光源的侧端安装接线二。
14.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述支撑座上端安装有支撑竖轨,所述支撑竖轨上端安装顶板。
15.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述支撑竖轨内侧滑动安装支撑横轨,所述支撑横轨上滑动安装滑块。
16.作为本实用新型所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案,其中:所述滑块下端安装有工业相机,所述工业相机设置在通孔的正上方。
17.与现有技术相比:
18.通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮,薄膜材质打透光,同轴光源则在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果;
19.单一使用低角度环光源进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰;而使用低角度环光源与同轴光源组合装置能够保证缺陷检测的同时减少表面噪点干扰。
附图说明
20.图1为本实用新型一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的示意图;
21.图2为本实用新型一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置中照射检测组件的示意图;
22.图3为本实用新型一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的主视图;
23.图4为本实用新型一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的左视图;
24.图5为本实用新型一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的俯视图。
25.图中:支撑座1、支撑竖轨11、支撑横轨12、顶板13、滑块14、支撑杆15、照射检测组件2、低角度环光源21、l形连接板22、同轴光源23、工业相机24、通孔25、发光面26、接线一27、接线二28。
具体实施方式
26.为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型的实施方式作进一步地详细描述。
27.本实用新型提供一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置,具有通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮,薄膜材质打透光,同轴光源则在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果,单一使用低角度环光源进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰;而使用低角度环光源与同轴光源组合装置能够保证缺陷检测的同时减少表面噪点干扰的优点,请参阅图1-5,包括支撑座1和支撑杆15;
28.支撑座1分别安装在支撑杆15的两端,支撑座1用于对支撑竖轨11和支撑杆15进行支撑和安装的作用,还包括:用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件2,照射检测组件2放置在支撑杆15的上端,照射检测组件2在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平
面内反光物料照亮,使低角度环光源21和同轴光源23两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的平滑效果,消除干扰,突出特征点得到较好的效果图,单一使用低角度环形光进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰,而使用低角度环光与同轴光组合装置能够保证缺陷能够检测的同时减少表面噪点干扰。
29.照射检测组件2包括低角度环光源21和l形连接板22,低角度环光源21放置在支撑杆15的上端,l形连接板22通过螺丝安装在低角度环光源21的上端,l形连接板22用于对低角度环光源21和同轴光源23进行连接的作用,l形连接板22的上端通过螺丝安装同轴光源23,通过低角度环光源21和同轴光源23在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,低角度环光源21型号为hl-rl7430k-w,同轴光源23型号为hl-col40k-w。
30.同轴光源23的侧端安装接线一27,接线一27用于对同轴光源23通电的作用,同轴光源23上端开设有通孔25,通过通孔25便于工业相机24向下照射,对低角度环光源21下方物料进行拍摄的作用,通孔25内侧安装发光面26,发光面26向下方的物料进行照射,低角度环光源21形状设置为环形,低角度环光源21的侧端安装接线二28,接线二28用于向低角度环光源21通电的作用,通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮,薄膜材质打透光,同轴光源23则在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,低角度环光源21和同轴光源23两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果。
31.支撑座1上端安装有支撑竖轨11,支撑竖轨11用于对支撑横轨12导向的作用,支撑竖轨11上端安装顶板13,顶板13安装在支撑竖轨11上端,用于增加支撑竖轨11上端安装稳定性的作用,支撑竖轨11内侧滑动安装支撑横轨12,支撑横轨12通过伸缩杆带动升降,调节工业相机24的高度,支撑横轨12上滑动安装滑块14,滑块14通过伸缩杆推动,调节滑块14的横向位置,从而调节工业相机24的位置,滑块14下端安装有工业相机24,工业相机24用于对低角度环光源21下方物料进行拍摄,工业相机24设置在通孔25的正上方,工业相机24型号为mer-500-14gm,工业相机24为500w黑白的面阵卷帘相机,工业相机24下端到物料上端的距离为110mm,同轴光源23下端到物料上端的距离为40mm,低角度环光源21下端到物料上端的距离为15mm。
32.在具体使用时,支撑座1分别安装在支撑杆15的两端,低角度环光源21放置在支撑杆15的上端,l形连接板22通过螺丝安装在低角度环光源21的上端,l形连接板22的上端通过螺丝安装同轴光源23,同轴光源23的侧端安装接线一27,同轴光源23上端开设有通孔25,通孔25内侧安装发光面26,低角度环光源21形状设置为环形,低角度环光源21的侧端安装接线二28,支撑座1上端安装有支撑竖轨11,支撑竖轨11上端安装顶板13,支撑竖轨11内侧滑动安装支撑横轨12,支撑横轨12上滑动安装滑块14,滑块14下端安装有工业相机24,工业相机24设置在通孔25的正上方,通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮,薄膜材质打透光,同轴光源23则在物料正上方垂直打光,提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮,低角度环光源21和同轴光源23两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足,并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果,单一使用低角度环光源21进行检测时,物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰;而使用低角度环光源21与同轴
光源23组合装置能够保证缺陷检测的同时减少表面噪点干扰。
33.虽然在上文中已经参考实施方式对本实用新型进行了描述,然而在不脱离本实用新型的范围的情况下,可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是,只要不存在结构冲突,本实用新型所披露的实施方式中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用,在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此,本实用新型并不局限于文中公开的特定实施方式,而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
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