可调节的测试站的制作方法

1.本技术涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及一种可调节的测试站。


背景技术：

2.在半导体行业中，ic测试机、分立器件测试机，往往都需要配套很多不同的测试站，以满足不同客户的实际应用需求，相应地，测试站也要根据其应用功能进行配套设计，以致各测试站的设计不相同。这样一来，就导致了测试站的种类繁多、适配性较差，并且，在设计开发测试站的时候，每一种测试站都要进行单独设计，使得研发成本较高，也导致在生产过程中，生产效率低、生产管控过程繁琐，后期还会因为物料种类多，导致管理物料所用的人力、财力较多。
3.因此，非常有必要设计一种新的可调节的测试站。


技术实现要素：

4.因此，本技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的测试站适配性较差，研发成本高、生产效率低、生产管控繁琐、物料管理成本高的缺陷，从而提供一种可调节的测试站。
5.为解决上述技术问题，本技术的技术方案如下：
6.一种可调节的测试站，包括测试箱体，所述测试箱体适于容纳板卡；所述测试箱体包括前面板和后面板、以及连接在所述前面板和所述后面板并与所述前面板和所述后面板围合形成箱形结构的第一箱体侧板和第二箱体侧板，所述第一箱体侧板的端部设有第一插接结构，所述第二箱体侧板的端部设有第二插接结构，所述第二插接结构可与所述第一插接结构插接配合以将所述第一箱体侧板与所述第二箱体侧板连接在一起。
7.进一步地，所述第一箱体侧板和所述第二箱体侧板上设有多个间隔设置且适于容纳板卡的第一板卡槽。
8.进一步地，还包括可拆卸连接在所述第一箱体侧板端部和所述第二箱体侧板端部之间的两块或多块插接板，所述插接板的一端设有与所述第二插接结构相同的第三插接结构，所述插接板的另一端设有与所述第一插接结构相同的第四插接结构。
9.进一步地，所述插接板上设有多个间隔设置且适于容纳板卡的第二板卡槽。
10.进一步地，所述插接板包括连接于所述第一箱体侧板顶部和所述第二箱体侧板顶部之间的顶部插接板，以及连接于所述第一箱体侧板底部和所述第二箱体侧板底部之间的底部插接板，所述顶部插接板和所述底部插接板对称设置。
11.进一步地，各所述插接板上相邻的所述第二板卡槽之间的间距相同。
12.进一步地，各所述插接板上的所述第二板卡槽的宽度部分不同。
13.进一步地，所述插接板由纵长的开设好所述第二板卡槽的型材切割形成。
14.进一步地，所述第一箱体侧板和所述第二箱体侧板由纵长的开设好所述第一板卡槽的型材切割形成。
15.进一步地，所述测试箱体的底部设有橡胶脚垫。
16.本技术技术方案，具有如下优点：
17.1.本技术提供的可调节的测试站，第一插接结构和第二插接结构插接配合，这样一来，可以根据需要将第一插接结构和第二插接结构解除卡接，以在第一插接结构和第二插接结构之间设置两块或多块插接板，以改变测试站的宽度，进而满足各类功能的板卡安装，当然，在改变测试站宽度的同时，前面板和后面板需要相应地更换，但，这相比将整个测试站重新设计、加工而言，研发成本较低、加工效率较高，并且，由于用来生产测试站的物料种类减少，使得生产管控得以简化，物料管理成本也相应降低。
18.2.本技术提供的可调节的测试站，插接板上设有多个间隔设置的第二板卡槽，这样一来，可根据板卡上固定的元部件高度的不同，灵活地选择合适位置的第二板卡槽来插接，进而可提高可调节的测试站的适应性能。
19.3.本技术提供的可调节的测试站，插接板从开设有第二板卡槽的纵长型材切割形成，第一箱体侧板和第二箱体侧板从开设有第一板卡槽的纵长型材切割形成，这样一来，可以根据需要的尺寸经过切割即可直接得到所需的插接板、第一箱体侧板和第二箱体侧板，无须就不同尺寸的测试站重新设计图纸、开设模具，进而使得可调节的测试站的加工效率比较高，开发设计成本较低，同时，切割形成的插接板、第一箱体侧板以及第二箱体侧板的可替换性比较好，维修成本低，另外，插接板的形状相同，第一箱体侧板的形状相同，第二箱体侧板的形状也相同，可减少用来组装形成测试站的物料种类，进而降低物料管理成本。
附图说明
20.为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1为本技术的可调节的测试站的立体示意图；
22.图2为本技术的可调节测试站中插接板的数量为零、二、四、六时的正视对比图；
23.图3为本技术的可调节测试站中插接板的数量为零、二、四、六时的立体对比图；
24.图4为本技术中第一箱体侧板的第一插接结构与第二箱体侧板的第二插接结构配合示意图。
25.附图标记说明：
26.1、前面板；2、后面板；3、第一箱体侧板；31、第一插接结构；4、第二箱体侧板；41、第二插接结构；34、第一板卡槽；5、插接板；51、顶部插接板；52、底部插接板；53、第二板卡槽；8、橡胶脚垫。
具体实施方式
27.下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
28.在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
29.在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
30.此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
31.实施例
32.如图1至图4所示，本实施例提供一种可调节的测试站，用以对板卡进行测试，包括底部设有橡胶脚垫的测试箱体，测试箱体适于容纳板卡；测试箱体包括前面板1和后面板2、以及连接在前面板1和后面板2并与前面板1和后面板2围合形成箱形结构的第一箱体侧板3和第二箱体侧板4，第一箱体侧板3 的端部设有第一插接结构31，第二箱体侧板4的端部设有第二插接结构41，第二插接结构41可与第一插接结构31插接配合以将第一箱体侧板3与第二箱体侧板4连接在一起。在本实施例中，当第一插接结构31为卡头时，第二插接结构41为卡孔，相应地，当第一插接结构31为卡孔时，第二插接结构41为卡头，具体地，第一箱体侧板3的顶部的第一插接结构31为卡头，第一箱体侧板3 的底部的第一插接结构31为卡孔，第二箱体侧板4的卡头、卡孔的位置与第一箱体侧板3的卡头、卡孔的位置相反，这样一来，同一根型材既可生产第一箱体侧板3，又可生产第二箱体侧板4，进一步简化用来生产可调节的测试站的物料的种类。另外，测试箱体的底部设有橡胶脚垫8。
33.在本实施例中，可容纳板卡的测试箱体的第一箱体侧板3的端部设有第一插接结构31，第二箱体侧板4的端部设有第二插接结构41，第二插接结构41 可与第一插接结构31插接配合以将第一箱体侧板3与第二箱体侧板4连接在一起，第一箱体侧板3与第二箱体侧板4之间插接配合的形式，使得可调节的测试站的安装更方便，同时，由于第一箱体侧板3的第一插接结构31与第二箱体侧板4的第二插接结构41以插接形式配合，这样一来，可以根据需要将第一插接结构31和第二插接结构41解除插接，以在第一插接结构31和第二插接结构 41之间设置两块或多块插接板，以改变测试站的宽度，进而满足各类功能的板卡安装。当然，在改变测试站宽度的同时，前面板1和后面板2需要相应地更换，但，这相比将整个测试站重新设计、加工而言，研发成本较低、加工效率较高，并且，由于用来生产测试站的物料种类减少，使得生产管控得以简化、物料管理成本也相应降低。
34.对于第一箱体侧板3和第二箱体侧板4而言，第一箱体侧板3和第二箱体侧板4上均设有多个间隔设置且适于容纳板卡的第一板卡槽34，具体地，第一箱体侧板3上的第一板卡槽34与第二箱体侧板4上的第一板卡槽34对称设置，板卡插接于第一箱体侧板3和第二箱体侧板4上对应的第一板卡槽34之间，当然，第一箱体侧板3上的第一板卡槽34与第二箱体侧板4上的第一板卡槽34 也可不对称设置。
35.前述可调节的测试站还包括可拆卸地连接在第一箱体侧板3端部和第二箱体侧板
4端部之间的两块插接板5，各插接板5的一端设有与第二插接结构41 相同的第三插接结构，各插接板5的另一端设有与第一插接结构31相同的第四插接结构，第一插接结构31与第三插接结构插接配合，第二插接结构41与第四插接结构插接配合，以将插接板5连接于第一箱体侧板3和第二箱体侧板4 上。当然，插接板5的数量也可为四块、六块等偶数块，此时，相邻的两块插接板5中的一块插接板5上的第三插接结构与另一块插接板5上的第四插接结构配合，以将相邻的两块插接板5连接在一起，当插接板5的数量更多时，相邻插接板5的连接方式以及插接板5与第一箱体侧板3或第二箱体侧板4之间的连接方式如前所述。如果不考虑使用便利性，插接板5的数量也可以为奇数。
36.另外，插接板5包括连接于第一箱体侧板3顶部和第二箱体侧板4顶部之间的顶部插接板51，以及连接于第一箱体侧板3底部和第二箱体侧板4底部之间的底部插接板52，顶部插接板51和底部插接板52对称设置，且，各插接板 5上设有多个间隔设置且适于容纳板卡的第二板卡槽53，如图2所示，相邻的第二板卡槽53的间距相同，但各插接板5上的第二板卡槽53的宽度部分不同，且，各插接板5上位于端部的第二板卡槽53的宽度值最大或最小，这样一来，可以适应不同厚度的板卡。再者，由于在可调节的测试站上插接有多个插接板 5，可调节的测试站的宽度值较大，进而可以根据板卡上固定的元部件的高度不同，灵活地选择合适位置的第二板卡槽53来插接板卡。
37.在生产可调节的测试站时，提前在纵长型材上成型好第二板卡槽53，而后，只需根据需要的尺寸由纵长的开设好第二板卡槽53的型材直接切割形成插接板5；同样地，第一箱体侧板3和第二箱体侧板4也可由纵长的开设好第一板卡槽34的型材切割形成，这样一来，可以根据需要的尺寸经过切割即可直接得到所需的第一箱体侧板3和第二箱体侧板4，无须就不同尺寸的测试站重新设计图纸、开设模具，进而使得可调节的测试站的加工效率比较高，开发设计成本较低，同时，切割形成的插接板5、第一箱体侧板3以及第二箱体侧板4的可替换性比较好，维修成本低，另外，由于插接板5的形状相同，第一箱体侧板3的形状相同，第二箱体侧板4的形状也相同，因此，可减少用来组装形成测试站的物料种类，进而降低物料管理成本。
38.显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本技术创造的保护范围之中。