一种自适应测试针模的制作方法

1.本实用新型涉及柔性电路板测试技术领域，尤其是涉及一种自适应测试针模。


背景技术：

2.随着科技的发展，越来越多的电子产品中需要使用柔性电路板。而在柔性电路板的生产加工过程中，都需要通过电测机对加工的柔性电路板进行测试。而为了提供生产效率所推行的多pcs产品测试，在保证测试效率的同时，还需要保证生产的良品率。而传统的测试针模在对多pcs产品进行测试是，会产生较高的定位误差，而该定位误差将会影响该产品的测试良率，并且传统的针模无法消除该定位误差所引起的测试不良的问题。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于解决现有测试针模在对于多pcs产品进行测试时，无法消除由于定位误差所导致的测试不良的缺点，提供一种自适应测试针模。
4.本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是：一种自适应测试针模，包括固定于测试设备上的下针模模组和若干个穿设于所述下针模模组上用于测试的探针；
5.所述下针模模组包括通过弹性导柱与所述测试设备弹性连接的针模固定板、固定于所述针模固定板底部的针模基板、设置于所述针模基板底部的调节块以及若干个穿设于所述针模基板和所述调节块之间的定位销钉；
6.所述针模基板上设置有由若干个第一通孔组成的第一矩阵孔组，所述调节块上设置有由若干个第二通孔组成的第二矩阵孔组，所述定位销钉穿设于所述第一通孔和所述第二通孔之间，相邻所述第一通孔之间的间距和相邻所述第二通孔之间的间距不同。
7.在其中一个实施例中，相邻所述第一通孔之间的间距和相邻所述第二通孔之间的间距之间的间距差值相同。
8.在其中一个实施例中，所述相邻所述第一通孔之间的间距和相邻所述第二通孔之间的间距之间的间距差值为0.05mm。
9.在其中一个实施例中，所述调节块上设置有第一凸台，所述第一凸台上设置有至少一排安装孔组，所述安装孔组包括若干个间隔排布的可供所述探针穿设的安装孔。
10.在其中一个实施例中，所述针模基板的第一矩阵孔组和所述第二矩阵孔组均为矩形矩阵，若干个位于同一轴线上的所述第一通孔组成第一孔组，若干个位于同一轴线上的所述第二通孔组成第二孔组，所述第一孔组的轴线和所述第二孔组的轴线均与所述安装孔组的轴线相互平行设置。
11.在其中一个实施例中，所述下针模模组还包括设置于所述针模基板和所述调节块之间的嵌块，所述嵌块固定于所述针模基板上。
12.在其中一个实施例中，所述嵌块包括固定于所述针模基板上的安装片以及设置于所述安装片上的第二凸台，所述第二凸台上设置有至少一排导向孔组，所述导向孔组包括若干个间隔排布的可供所述探针穿设的导向孔。
13.在其中一个实施例中，所述针模基板上设置有固定所述嵌块的凹槽，于所述凹槽内设置有可供所述探针穿过的条形孔，所述嵌块固定于所述凹槽内。
14.在其中一个实施例中，所述调节块的第一凸台底部设置有安装槽，所述嵌块的第二凸台插入所述安装槽内，使得所述第二凸台上的导向孔与所述第一凸台上的安装孔上下贯通。
15.在其中一个实施例中，所述自适应测试针模还包括通过支撑柱与所述下针模模组固定连接的上针模模组，所述探针穿设于所述上针模模组和所述下针模模组之间。
16.本实用新型所提供的一种自适应测试针模的有益效果在于：其下针模模组可以消除多pcs产品中的定位误差，从而在多pcs产品的测试过程中，消除由于定位误差所导致的不良问题，不同批次的产品在进行测试之前，仅需调节下针模模组中针模基板与调节块之间的相对位置，即可消除不同批次产品之间的定位误差，确保探针在不同批次产品的测试时均可以准确的扎针。
附图说明
17.图1是本实用新型提供的一种自适应测试针模的立体结构示意图；
18.图2是本实用新型提供的一种自适应测试针模的下针模模组中针模基板的正视图；
19.图3是图2中a处的局部放大图；
20.图4是本实用新型提供的一种自适应测试针模的下针模模组中调节块的正视图；
21.图5是图4中b处的局部放大图；
22.图6是本实用新型提供的一种自适应测试针模的下针模模组中调节块的立体结构示意图；
23.图7是本实用新型提供的一种自适应测试针模的下针模模组中嵌块的立体结构示意图。
24.附图标记说明：
25.100-自适应测试针模、10-下针模模组、20-上针模模组、30-支撑柱；
26.11-弹性导柱、12-针模固定板；
27.13-针模基板、131-第一矩阵孔组、1311-第一孔组、1311a-第一通孔、132-凹槽、133-条形孔、134-第一固定孔、135-第二固定孔；
28.14-调节块、141-第二矩阵孔组、1411-第二孔组、1411a-第二通孔、142-第二凸台、1421-安装孔组、1421a-安装孔、1422-安装槽、143-第一连接孔、144-第二连接孔；
29.15-嵌块、151-安装片、152-第二凸台、1521-导向孔组、1521a-导向孔、153-第三连接孔、154-第四连接孔；
30.h1-第一通孔之间的间距，h2-第二通孔之间的间距；
31.d0-安装孔组的轴线、d1-第一孔组的轴线、d2-第二孔组的轴线。
具体实施方式
32.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释
本实用新型，并不用于限定本实用新型。
33.参见图1-图7，为本实用新型所提供的一种自适应测试针模100。该自适应测试针模100可以适用于多pcs的柔性电路板的测试中使用，固定于测试设备内部，可以适应不同批次的产品同一种柔性电路板的测试，能够在更换批次时，调整测试针模100，从而消除测试针模100与该批次的测试产品之间的定位误差，进而解决不同批次的同一种柔性电路板在进行测试时所产生的定位误差而导致的测试良率低的问题。
34.如图1所示，为本实用新型所提供的一种自适应测试针模100的立体结构示意图。本实用新型所提供的自适应测试针模100包括固定于测试设备上的下针模模组10和若干个穿设于下针模模组10上用于测试的探针，还还包括通过支撑柱30与下针模模组10固定连接的上针模模组20，探针穿设于上针模模组20和下针模模组10之间。上针模模组20和下针模模组10之间设置有四个支撑组30，从而实现上针模模组20与下针模模组10之间的固定连接。探针由上针模模组20中由上至下穿入下针模模组10中，其中探针在上针模模组20的一端与测试设备中的电测仪电连接，探针在下针模模组20中的一端隐藏于下针模模组10内部，当测试时，该位于下针模模组20一端的探针将会随着下针模模组20插入产品大插槽内与待测产品抵接，探针由下针模模组20的底面伸出后，抵接至待测试产品的测试pin处，通过探针实现待测试产品与电测仪之间的电连接，从而完成对于待测试产品的电性性能的测试。而本实用新型所提供的自适应测试针模100中的下针模模组10可以调整探针相对于测试设备的相对位置，从而适应不同批次的待测试产品之间的定位误差，使得探针能够准确扎在该批次产品的柔性电路板的测试pin处，确保探针扎针的精确性。
35.进一步地，如图1所示，本实用新型所提供的自适应测试针模100中的下针模模组10包括通过弹性导柱11与测试设备弹性连接的针模固定板12、固定于针模固定板12底部的针模基板13。该针模固定板12通过四个弹性导柱11与测试设备弹性连接，使得整个下针模模组10与测试设备之间具有一定的弹性活动空间，从而在测试时，该针模基板13与待测试产品接触后，测试设备持续下压，将位于针模基板13内部的探针推出针模基板13的外部，实现扎针测试。该针模基板13通过限位铜套、螺钉等连接件实现与针模固定板12之间的固定连接。
36.如图1所示，本实用新型所提供的下测试针模10还包括置于针模基板13底部的调节块14以及若干个穿设于针模基板13和调节块14之间的定位销钉。在本实施例中，该下测试针模10的针模基板13上对称设置有两个调节块14，且每个调节块14均是通过定位销钉实现与针模基板13之间的相对固定。当更换不同批次的待测试产品时，通过调整调节块14与针模基板13之间的相对位置，来实现对于探针出针位置的调整。本实用新型所提供的自适应测试针模100正是通过调整探针在下针模模组10底部的出针位置，来消除不同批次的待测试产品之间的定位误差。在本实施例中，该调节块14与针模基板13之间首先通过定位销钉来确定针模基板13和调节块14之间的相对位置，然后再通过螺钉等紧固件实现调节块14与针模基板13之间的相对固定。如图2所示，在针模基板13上设置有一对第一固定孔134，如图4所示，在调节块14上设置有一对第一连接孔143，紧固件穿过调节块14的第一连接孔143并固定于针模基板13的第一固定孔134上，在确定调节块14与针模基板13之间的相对位置后，通过紧固件将调节块14与针模基板13固定连接。
37.进一步地，如图2和图3所示，针模基板13上设置有由若干个第一通孔1311a组成的
第一矩阵孔组131。如图4和图5所示，调节块14上设置有由若干个第二通孔1411a组成的第二矩阵孔组141。该针模基板13上的第一矩阵孔组131和调节块14上的第二矩阵孔组141之间在针模基板13的底面上相对设置。将定位销钉穿设于第一通孔1311a和第二通孔1411a之间，实现针模基板13与调节块14之间的相对连接。并且，通过改变定位销钉穿设的不同的第一通孔1311a和不同的第二通孔1411a实现改变调节块14与针模基板13相对位置的作用。位于针模基板13上的第一矩阵孔组131上的所有第一通孔1311a的孔径相同，位于调节块14上的第二矩阵孔组141上的所有第二通孔1411a的孔径相同，且第一通孔1311a和第二通孔1411a的孔径大小均与定位销钉的直径相同，使得定位销钉可以穿过并固定于其中。而第一矩阵孔组131与第二矩阵孔组141之间的矩阵间隙不同，即该第一矩阵孔组131中相邻第一通孔1311a之间的间距h1和第二矩阵孔组141中相邻第二通孔1411a之间的间距h2不同，从而在移动调节块14与针模基板13时，调整不同位置时，会有不同的第一矩阵孔组131上的第一通孔1311a与不同的第二矩阵孔组141上的第二通孔1411a上下贯通，仅需找到改变位置后贯通的两个通孔，并在其中插入定位销钉，即可实现对于调节块14位置的调整。
38.如图3和图5所示，在本实施例中，该第一矩阵孔组131中相邻第一通孔1311a之间的间距h1和第二矩阵孔组141中相邻第二通孔1411a之间的间距h2之间的间距差值相同。即，该第一矩阵孔组131中相邻第一通孔1311a之间的间距h1为1.5mm,第二矩阵孔组141中相邻第二通孔1411a之间的间距h2为1.55mm。因此，在本实施例中，该第一矩阵孔组131中相邻第一通孔1311a之间的间距h1和第二矩阵孔组141中相邻第二通孔1411a之间的间距h2之间的间距差值为0.05mm。该第一矩阵孔组131和第二矩阵孔组141这两个矩阵孔组之间的间距差值始终保持恒定的0.05mm。
39.进一步地，如图4和图6所示，本实用新型所提供的自适应测试针模100中，该调节块14上设置有第一凸台142，该第一凸台142用于固定和收纳若干个探针位于下针模模组10中的端部。如图4和图5所示，该第一凸台142上设置有至少一排安装孔组1421，该安装孔组1421包括若干个间隔排布的可供探针穿设的安装孔1421a。每个探针的端部穿插入一个对应的安装孔1421a内，并可以由该安装孔1421a处伸出调节块14的第一凸台142。该第一凸台142的设置方向以及该安装孔组1421的设置方向均由待测试产品的测试pin位置决定。如图4所示，在本实施例中，该第一凸台142的设置方向与针模基板13的侧面倾斜设置，位于第一凸台142上的安装孔组1421的轴线d0与针模基板13的侧边倾斜。
40.本实用新型所提供的自适应测试针模100中，针模基板13上的第一矩阵孔组131和调节块14上的第二矩阵孔组141均为矩形矩阵。本实施例中，如图3所示，该第一矩阵孔组131为5x5的矩阵，一共25个第一通孔1311a，位于第一矩阵孔组131中心处的第一通孔1311a为基准孔。若干个位于同一轴线上的第一通孔1311a组成第一孔组1311，在本实施例中，该第一矩阵孔组131中一共具有5个平行设置的第一孔组1311，且每个第一孔组1311均沿着其轴线d1上间隔排布有5个第一通孔1311a。第一矩阵孔组131中的所有的第一孔组1311的轴线d1均与安装孔组1421的轴线d0相互平行设置，使得该第一矩阵孔组131沿着探针的布置方向排布。
41.在本实施例中，如图5所示，位于调节块14上的第二矩阵孔组141也是5x5的矩阵，一共25个第二通孔1411a，位于第二矩阵孔组141中心处的第二通孔1411a为基准孔。在初始固定调节块14与针模基板13时，该第一矩阵孔组131中心处的第一通孔1311a与第二矩阵孔
组141中心处的第二通孔1411a上下贯通。若干个位于同一轴线上的第二通孔1411a组成第二孔组1411，在本实施例中，该第二矩阵孔组141中一共具有5个平行设置的第二孔组1411，且每个第二孔组1411均沿着其轴线d2上间隔排布有5个第二通孔1411a。第二矩阵孔组141中所有的第二孔组1411的轴线d2均与安装孔组1421的轴线d0相互平行设置，使得该第二矩阵孔组141沿着探针的布置方向排布。
42.进一步得，如图1所示，本实用新型所提供的自适应测试针模100中，下针模模组10还包括设置于针模基板13和调节块14之间的嵌块15，嵌块15固定于针模基板13上。该嵌块15为了更好地固定探针，确保探针再调节块14和针模基板13之间竖直位置的精确性。在本实施例中，该针模基板13上设置有两个调节块14，对应地在针模基板13上设置有四个第一矩阵孔组131，其中位于同一侧的两个第一矩阵孔组131用于固定同一个调节块14。在针模基板13上对应还设置有两个嵌块15，嵌块15与调节块14一一对应设置。
43.如图7所示，为本实用新型所提供的下针模模组10中嵌块15的立体结构示意图。嵌块15包括固定于针模基板13上的安装片151以及设置于安装片151上的第二凸台152，该嵌块15中的第二凸台152与调节块14的第一凸台142的相互套嵌设置。该嵌块15的第二凸台152上设置有至少一排导向孔组1521，导向孔组1521包括若干个间隔排布的可供探针穿设的导向孔1521a。位于第二凸台152上的导向孔组1521与探针的设置数量以及探针的布置位置相同。且位于该嵌块15上的导向孔组1521与位于调节块14上的安装孔组1421上下贯通且一一对应设置。
44.如图2所示，该下针模模组10中的针模基板13上设置有固定嵌块15的凹槽132，于凹槽132内设置有可供探针穿过的条形孔133，嵌块15固定于凹槽132内。该凹槽132用于限制嵌块15的水平相对位置。而该条形孔133可供同一个测试位上的所有探针穿过。该针模基板13并不对探针的端部进行固定或限位，完全通过嵌块15和调节板14对探针的端部进行限位。测试针模100正常工作时，该嵌块15固定于针模基板13上。如图2所示，在针模基板13上设置有固定嵌块15的第二固定孔135。如图7所示，该嵌块15的安装片151上设置有与针模基板13固定连接的第三连接孔153，锁紧件穿过嵌块15的第三连接孔153固定于针模基板13的第二固定孔135处实现与针模基板13的固定连接。同时，嵌块15的安装片151上还设置有一对与调节块14连接的第四连接孔154。对应的，在调节块14上也设置有一对与嵌块15固定连接的第二连接孔144。在调节块14确定与针模基板13的相对位置后，可通过连接件将调节块14与嵌块15固定连接。
45.如图6所示，该下针模模组10中的调节块14的第一凸台142底部设置有安装槽1422，嵌块15的第二凸台152插入安装槽1422内，使得第二凸台152上的导向孔1521a与第一凸台142上的安装孔1421a上下贯通。该下针模模组10中的调节块14上第一凸台142可以在测试时，插入待测试产品的插槽内，并与待测试产品接触。而嵌块15的第二凸台152插入调节块14的安装槽1422内，实现嵌块15与调节块14之间的相对位置固定，该安装槽1422的尺寸大于该嵌块15的第二凸台152的尺寸，在调整调节块14与针模基板13之间的相对位置时，通过安装槽1422与第二凸台152之间留有该调整的间隙。
46.本实用新型所提供的一种自适应测试针模100中的下针模模组10可以消除多pcs产品中的定位误差，从而在多pcs产品的测试过程中，消除由于定位误差所导致的不良问题，不同批次的产品在进行测试之前，仅需调节下针模模组10中针模基板13与调节块14之
间的相对位置，即可消除不同批次产品之间的定位误差，确保探针在不同批次产品的测试时均可以准确的扎针。
47.以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。