本技术涉及电芯检测领域,尤其是涉及一种电芯外观缺陷检测装置以及具有该电芯外观缺陷检测装置的检测设备。
背景技术:
1、相关技术中,电芯为锂电池的重要组成部分,电芯的壳体外表面包裹隔离膜,电芯的壳体外层隔离膜外观要求非常高,需要对包膜电芯进行外观缺陷检查。
2、目前通过检测装置检测电芯外观缺陷,但是现有检测装置只能检测出包膜电芯膜外缺陷,不能检测出包膜电芯膜内部缺陷,例如:不能检测出包膜电芯膜内异物颗粒以及气泡,并且,如果包膜电芯膜外存在轻微凹坑,凹坑不容易被检测装置检测出。
技术实现思路
1、本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出了一种电芯外观缺陷检测装置,该电芯外观缺陷检测装置能准确检测出包膜电芯膜内以及膜外缺陷。
2、本实用新型进一步地提出了一种检测设备。
3、第一方面,本技术实施例提供一种电芯外观缺陷检测装置,包括:
4、第一检测组件,第一检测组件包括第一图像采集器和第一光源,第一光源用于朝向电芯的检测面发射第一光线,第一光线适于穿透电芯的外膜,且第一光线与检测面之间形成第一夹角,第一图像采集器用于采集电芯被第一光线照射位置的第一图像;
5、第二检测组件,第二检测组件包括第二图像采集器和第二光源,第二光源用于朝向检测面发射第二光线,第二光线与检测面之间形成第二夹角,第二图像采集器用于采集电芯被第二光线照射位置的第二图像,其中,第二夹角小于第一夹角;
6、控制组件,控制组件与第一图像采集器和第二图像采集器分别相连,控制组件被构造为根据第一图像和第二图像对电芯进行外观缺陷检测,所述外观缺陷包括所述外膜和所述电芯的外壳间缺陷以及所述外膜上缺陷。
7、在上述技术方案中,通过设置第一检测组件、第二检测组件和控制组件,能够检测出电芯的外膜内异物颗粒以及气泡,也能够准确区分出异物颗粒或者气泡,还能够准确检测出电芯膜外的表面凹坑,从而准确检测出包膜电芯膜内以及膜外缺陷。
8、在一些实施例中,第一夹角为α,满足关系式:60°≤α≤80°。
9、在上述技术方案中,通过设置60°≤α≤80°,能够更加准确检测出电芯的外膜内异物颗粒以及气泡,也能够对异物颗粒和气泡进行区分。
10、在一些实施例中,第二夹角为β,5°≤β≤15°。
11、在上述技术方案中,通过设置5°≤β≤15°,能够更加准确检测出电芯表面凹坑。
12、在一些实施例中,第一光线和第二光线均为红外扫描光线。
13、在上述技术方案中,通过将第一光线和第二光线均设置为红外扫描光线,能够保证电芯外观缺陷检测装置的检测性能,保证电芯外观缺陷检测装置能准确检测出包膜电芯膜内以及膜外缺陷。
14、在一些实施例中,第一光线的波长和/或第二光线的波长均为λ,满足关系式:800nm≤λ≤900nm。
15、在上述技术方案中,通过设置800nm≤λ≤900nm,能够使第一光线的波长和/或第二光线的波长适宜,可以保证第一光线能穿透电芯的外膜,在第二光线照射至检测面时,可以保证电芯外观缺陷检测装置能准确检测出电芯表面凹坑。
16、在一些实施例中,第一图像采集器构造为线扫相机,第一图像采集器的扫描线照射在检测面上的位置与第一光线照射在检测面上的位置重合。
17、在上述技术方案中,通过第一图像采集器的扫描线照射在检测面上的位置与第一光线照射在检测面上的位置重合,能够使第一图像采集器准确采集出电芯被第一光线照射位置的第一图像,控制组件根据第一图像可以准确确定电芯的外膜内异物颗粒以及气泡。
18、在一些实施例中,第二图像采集器构造为线扫相机,第二图像采集器的扫描线照射在检测面上的位置与第二光线照射在检测面上的位置重合。
19、在上述技术方案中,通过第二图像采集器的扫描线照射在检测面上的位置与第二光线照射在检测面上的位置重合,能够使第二图像采集器准确采集出电芯被第二光线照射位置的第二图像,控制组件根据第二图像可以准确确定电芯的表面是否存在凹坑。
20、在一些实施例中,第一检测组件和第二检测组件位于检测面同侧。
21、在上述技术方案中,在电芯外观缺陷检测装置检测电芯外观缺陷时,第一检测组件和第二检测组件位于检测面同侧,便于电芯外观缺陷检测装置的布置,可以简化电芯外观缺陷检测装置结构。
22、在一些实施例中,第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区错开。
23、在上述技术方案中,通过设置第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区错开,能够避免第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区重合,可以防止第一检测组件和第二检测组件相互产生干涉,从而提升电芯外观缺陷检测装置检测准确性。
24、在一些实施例中,沿垂直于检测面方向,第一光源的光源发光面与检测面间的间隔距离为d1,第二光源的光源发光面与检测面间的间隔距离为d2,满足关系式:d2<d1。
25、在上述技术方案中,通过设置d2<d1,能够使第一光源和第二光源错开,避免第一光源和第二光源相互干涉。
26、在一些实施例中,第一光源和第二光源分别从不同方向向检测面发射光线。
27、在上述技术方案中,通过设置第一光源和第二光源分别从不同方向向检测面发射光线,能够避免第一光线和第二光线重合。
28、在一些实施例中,沿垂直于检测面方向,第一光源的光源发光面与检测面间的间隔距离为d1,满足关系式:0mm<d1<150mm;和/或
29、沿垂直于检测面方向,第二光源的光源发光面与检测面间的间隔距离为d2,满足关系式:0mm<d2<150mm。
30、在上述技术方案中,通过设置0mm<d1<150mm,能够使第一光源的光源发光面与检测面间的间隔距离适宜,可以保证第一光线能穿透电芯的外膜,通过设置0mm<d2<150mm,能够保证准确检测出电芯的表面凹坑,提升电芯外观缺陷检测装置的检测精度。
31、在一些实施例中,40mm≤d1≤80mm。
32、在上述技术方案中,通过设置40mm≤d1≤80mm,能够使第一光源的光源发光面与检测面间的间隔距离更加适宜,可以保证第一光线能穿透电芯的外膜,保证电芯外观缺陷检测装置能检测出电芯的外膜内异物颗粒以及气泡。
33、在一些实施例中,10mm≤d2≤50mm。
34、在上述技术方案中,通过设置10mm≤d2≤50mm,能够更加准确检测出电芯的表面凹坑,进一步提升电芯外观缺陷检测装置的检测精度。
35、在一些实施例中,电芯外观缺陷检测装置适于对移动的电芯进行外观检测。
36、在上述技术方案中,通过电芯外观缺陷检测装置对移动的电芯进行外观检测,能够在电芯移动过程中完成对电芯外观缺陷的检测,提升检测速度,可以提升电芯的检测效率。
37、在一些实施例中,第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区平行。
38、在上述技术方案中,通过第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区平行,避免第一光线照射在检测面上的第一光区和第二光线照射在检测面上的第二光区交叉,可以保证第一检测组件、第二检测组件各自检测性能,从而提升电芯外观缺陷检测装置的检测准确性。
39、在一些实施例中,沿第一光线照射在检测面上第一光区的延伸方向,检测面的宽度为l1,第一光区的长度为l2,满足关系式:l1≤l2。
40、在上述技术方案中,通过设置l1≤l2,电芯移动过程中,保证第一光线能够扫描到整个检测面,避免检测面某个区域漏检的情况发生。
41、在一些实施例中,沿第二光线照射在检测面上第二光区的延伸方向,检测面的宽度为l3,第二光区的长度为l4,满足关系式:l3≤l4。
42、在上述技术方案中,通过设置l3≤l4,保证第二光线能够扫描到整个检测面,避免检测面某个区域漏检的情况发生。
43、在一些实施例中,第一图像采集器和/或第二图像采集器构造为线扫相机,线扫相机采集生成的图像灰度值在80-100。
44、在上述技术方案中,通过设置线扫相机采集生成的图像灰度值为80-100,能够使图像的对比度适宜,使包膜电芯膜内以及膜外特征缺陷明显。
45、在一些实施例中,电芯外观缺陷检测装置,还包括:角度检测装置,角度检测装置用于检测第一光线与检测面间夹角角度以及第二光线与检测面间夹角角度。
46、在上述技术方案中,通过设置角度检测装置,能够检测出第一光线与检测面间夹角角度以及第二光线与检测面间夹角角度,便于确定第二夹角是否小于第一夹角。
47、在一些实施例中,控制组件与第一光源、第二光源均通信连接,控制组件用于控制第一光源、第二光源、第一图像采集器、第二图像采集器的开启或关闭。
48、在上述技术方案中,通过控制组件与第一光源、第二光源均通信连接,需要对电芯外观缺陷进行检测时,控制组件控制第一光源、第二光源、第一图像采集器、第二图像采集器的开启,不需要对电芯外观缺陷进行检测时,控制组件控制第一光源、第二光源、第一图像采集器、第二图像采集器关闭,避免电芯外观缺陷检测装置浪费电。
49、第二方面,本技术实施例还提供一种检测设备,包括上述的电芯外观缺陷检测装置。
50、在上述技术方案中,所述电芯外观缺陷检测装置为多个,多个所述电芯外观缺陷检测装置用于对应检测所述电芯的多个所述检测面。
51、在上述技术方案中,通过多个所述电芯外观缺陷检测装置对应检测所述电芯的多个所述检测面,能够提升电芯外观缺陷检测效率。
52、本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。