LED测试机校准方法、LED测试标准样品管及LED校准设备与流程

本发明涉及led测试，特别是涉及一种led测试机校准方法、led测试标准样品管及led校准设备。

背景技术：

1、发光二极管(light emitting diode，led)，是一种半导体组件，广泛应用于指示灯、显示屏等领域。在一个批次的led元件中，各led元件的发光强度会存在一定的差异，发光强度大致呈正态分布，因此需使用led测试机来对led元件的发光强度进行检测，以筛选出发光强度低于正常范围以及超过正常范围的led元件。

2、在对led元件进行测试之前，需对led测试机进行校准，以保证led测试机的准确性。现有技术中，通常从待测批次中选取led元件来对测试机进行校准，具体为在led测试机中将设定的测试电压输入选取的led元件，led测试机获取该led元件的发光强度，并将该发光强度记录为基准值；在之后对led元件的测试过程中，将测试的led元件的亮度与该基准值进行对比，以判断led元件的发光强度是否合格。

3、理想状态下，应选取发光强度与正态分布曲线的顶点对应的led元件来对led测试机进行校准，由此使led测试机获得最准确的测试结果，经测试合格的led元件的发光强度的一致性更好；但是，实际选取的led元件的发光强度与正态分布曲线的顶点对应的发光强度会存在一定的差异，导致led测试机的准确度降低，从而导致经测试合格的led元件的发光强度的一致性降低。

技术实现思路

1、基于此，本发明的目的在于提供一种led测试机校准方法、led测试标准样品管及led校准设备，以提高对led测试机校准的准确度，以及提高经测试合格的led元件的发光强度的一致性。

2、第一方面，本发明提供了一种led测试机校准方法，包括以下步骤：

3、提供led测试标准样品管，所述led测试标准样品管包括发光强度可调整的发光单元；

4、在待测的批次内选取多个led元件，获取各所述led元件在输入设定的测试电压时的发光强度，并计算出各所述led元件的发光强度平均值；

5、将所述led测试标准样品管的发光单元的发光强度调整至所述发光强度平均值；

6、使用所述led测试标准样品管对所述led测试机进行校准。

7、进一步地，所述led元件包括多个led芯片，所述led测试标准样品管包括多个发光强度可调整的发光单元，所述led测试标准样品管的各所述发光单元与所述led元件的各所述led芯片相对应；

8、所述获取各所述led元件在输入设定的测试电压时的发光强度，并计算出各所述led元件的发光强度平均值，具体包括以下步骤：

9、分别获取各所述led元件上的各所述led芯片在输入设定的测试电压时的发光强度，并分别计算出不同的各所述led元件上各相应的所述led芯片的发光强度平均值；

10、所述将所述led测试标准样品管的发光单元的发光强度调整至所述发光强度平均值，具体包括以下步骤：

11、将所述led测试标准样品管上的各所述发光单元的发光强度分别调整至相应的所述发光强度平均值。

12、进一步地，所述将所述led测试标准样品管上的各所述发光单元的发光强度分别调整至相应的所述发光强度平均值，具体包括以下步骤：

13、按照设定的点亮顺序参数，分别将设定的测试电压输入至所述led测试标准样品管上的各所述发光单元，并分别获取各所述发光单元的发光强度；

14、分别计算出各所述发光单元的发光强度与相应的所述发光强度平均值的差值，并根据各所述差值计算出相应的校准参数；

15、根据相应的所述校准参数对各所述发光单元的发光强度进行调整，使各所述发光单元在输入设定的测试电压时的发光强度调整至相应的发光强度平均值；

16、所述使用所述led测试标准样品管对led测试机进行校准，具体包括以下步骤：

17、按照设定的点亮顺序参数，分别将设定的测试电压输入至所述led测试标准样品管上的各所述发光单元；

18、使所述led测试机分别获取各所述发光单元的发光强度，并将各所述发光单元的发光强度分别记录为相应的基准值。

19、第二方面，本发明提供了一种led测试标准样品管，包括第一控制器和发光单元，所述第一控制器设有电源输入引脚、接地引脚、led输出引脚和数据输入引脚，所述led输出引脚与所述发光单元电连接；所述第一控制器用于通过所述数据输入引脚(sdi)接收校准参数，以及用于在所述电源输入引脚输入设定的测试电压时，根据所述校准参数校准所述发光单元的发光强度。

20、进一步地，所述发光单元包括多个，所述led输出引脚包括多个，各所述发光单元分别与相应的所述led输出引脚电连接；

21、所述第一控制器还用于通过所述数据输入引脚接收点亮顺序参数，以及用于在所述电源输入引脚输入设定的测试电压时，根据所述点亮顺序参数控制各所述发光单元的点亮顺序。

22、进一步地，所述发光单元包括红色发光单元、绿色发光单元和蓝色发光单元。

23、进一步地，各所述发光单元的正极分别与相应的各所述led输出引脚电连接，各所述发光单元的负极与所述接地引脚电连接。

24、进一步地，各所述发光单元的正极与所述电源输入引脚电连接，各所述发光单元的负极分别与相应的各所述led输出引脚电连接。

25、进一步地，还包括基板，所述第一控制器和所述发光单元设置在所述基板上；

26、所述基板上还设有电源输入端、接地端和数据输入端，所述电源输入端和/或所述接地端包括多个，各所述电源输入端之间和/或各所述接地端之间电连接；

27、各所述电源输入端与所述第一控制器的电源输入引脚以及各所述发光单元电连接，各所述接地端与所述第一控制器的接地引脚电连接，所述数据输入端与所述第一控制器的数据输入引脚电连接。

28、第三方面，本发明提供了一种led校准设备，用于校准上述的led测试标准样品管，该led校准设备包括第二控制器和感光元件，所述感光元件与所述第二控制器电连接；

29、所述第二控制器用于通过所述感光元件获取待测的批次内选取的各led元件在输入设定的测试电压时的各所述led芯片的发光强度，并分别计算出不同的所述led元件上相对应的各所述led芯片的发光强度平均值，分别记录为相应的标准发光强度；

30、所述第二控制器还用于分别获取所述led测试标准样品管的各发光单元在输入标准测试电压时的发光强度与相应的所述标准发光强度的差值，并根据各所述差值分别计算得到各相应的校准参数；

31、所述第二控制器还用于将各所述校准参数发送至所述led测试标准样品管的数据输入引脚。

32、进一步地，所述第二控制器还用于发送设定的点亮顺序参数至所述led测试标准样品管的数据输入引脚。

33、与现有技术相比，本发明从待测批次中选取多个led元件，获取选取的各led元件的发光强度平均值，并将led测试标准样品管的发光强度调整至与选取的各led元件的发光强度平均值一致，使用led测试标准样品管来对led测试机进行校准；在本发明中，将led测试标准样品管的发光强度调整至选取的多个led元件的发光强度平均值，由此使用于对led测试机进行校准的发光强度更接近待测批次内的led元件的发光强度正态分布曲线的顶点对应的发光强度，从而提高led测试机的精度，使经过led测试机测试合格的led元件的发光强度一致性更好。