一种芯片通电检测设备的制作方法

本发明涉及检测设备，具体为一种芯片通电检测设备。

背景技术：

1、在芯片制造出来并与底板接通后，需要对芯片进行芯片测试，在芯片测试前还需要对芯片和底板的通电效果进行初步的检测核验，保证芯片和底板的内部线路通电。

2、目前市面上大部分的芯片通电检测，都只对芯片的总线路进行检测，但是存在一部分的芯片由于部分引脚的脱落而造成断路现象，此时一般的芯片检测设备经常不会检测出来，需要后续在对无法通电的一大类芯片进行集中的检测和分类，从而使得芯片检测的合格率极大的降低，同时增加了后续的工作步骤，因此亟需一种芯片通电检测设备，以解决上述存在的问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种芯片通电检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片通电检测设备，包括基座机构，所述基座机构包括基座，所述基座的下内壁中部左右均固定连接有基台，所述基座的左内壁后上侧嵌入固定安装有电动滑轨，所述基台的正上方设置有运动机构，所述运动机构包括两个左右对称的拨动机构和处于两个拨动机构之间的座台机构，所述座台机构包括座台，所述座台与两个所述基台之间正对，所述座台的上表面后侧内陷有限位槽，所述限位槽的边缘倒角，所述拨动机构包括拨动台一和拨动台二，所述拨动台一和拨动台二的下表面共同对应固定连接基台，所述拨动台二处于拨动台一远离座台机构的那一侧且与拨动台一固定连接，所述拨动台二的上表面均通过轴承活动连接有转辊一。

3、优选的，所述拨动台一的上表面中部开设有嵌槽，所述嵌槽的前后均贯穿拨动台一，所述嵌槽的截面呈现梯形，所述嵌槽的下内壁前后中部均固定连接有连接座，前后两个所述连接座之间设置有螺纹杆，所述螺纹杆的前后两端对应贯穿且通过轴承活动连接连接座，前侧的所述连接座的前表面固定连接有电机一，所述电机一的后端输出轴固定连接螺纹杆。

4、优选的，所述拨动台一的上方设置有滑座，所述滑座的下端插入嵌槽中且与嵌槽适配，所述螺纹杆贯穿且螺纹连接滑座，所述滑座接近座台机构的那一侧与座台的后端侧壁，固定连接，所述滑座的上表面中部接近座台机构的那一侧开设有滑槽，所述滑槽远离座台机构的那一侧端内壁固定连接有弹簧，所述弹簧接近座台机构的那一端固定连接有滑环，所述滑环处于滑槽的内部且与滑槽适配，所述滑环的内部通过轴承活动套接有立柱，所述立柱的上端固定套接有转辊二，所述转辊二的上表面固定连接有压盘，所述压盘呈现圆台型，所述压盘远离座台机构的那一侧下端固定连接有拨动块。

5、优选的，所述滑座的上表面远离座台机构的那一侧前后均通过轴承活动连接有转辊三，所述转辊一、转辊二和转辊三均处于同一高度，所述转辊一和转辊二的外侧共同套接有转辊带，所述转辊带从前后两个所述转辊三相接近的那一侧绕过，所述拨动台一的前表面接近座台机构的那一侧固定连接有接板。

6、优选的，所述运动机构的下侧设置有输送机构，所述输送机构包括电机二，所述电机二的左表面固定连接基座的左内壁后侧，所述电机二的右端输出轴固定连接有机辊一，所述机辊一的正下方设置有机辊二，所述机辊二的左端通过轴承活动连接基座，所述机辊一的正前方设置有机辊三，所述机辊三的左右两端对应且通过轴承活动连接拨动台一的后端，所述机辊三的正前方设置有机辊四，所述机辊四的左右两端对应且通过轴承活动连接接板，所述机辊三和机辊四的下方且相接近的那一侧分别设置有机辊五，两个所述机辊五处于两个所述基台之间，所述机辊五的左右两端对应且通过轴承活动连接基台，所述机辊四的正前方设置有机辊六，所述机辊六的左端通过轴承活动连接基座，所述机辊六的正下方设置有机辊七，所述机辊七的左端通过轴承活动连接基座，所述机辊七处于机辊二的正前方，所述机辊一、机辊二、机辊三、机辊四、机辊六和机辊七的外侧共同套接有输送带，所述输送带从前后两个所述机辊五相背离的那一侧绕过，所述输送带的宽度与两个所述基台之间的距离适配。

7、优选的，所述机辊六的右端伸出输送带，所述机辊六的右端固定连接有连接杆，所述连接杆呈现u字型，所述连接杆远离机辊六的那一端向后上方偏斜且通过轴承活动连接有皮带辊，所述皮带辊和机辊六的右端共同套接有皮带，所述皮带辊的左表面固定连接有齿板轮。

8、优选的，所述输送带的前端上方设置有转向机构，所述转向机构包括横杆一，所述横杆一的左端固定连接基座，所述横杆一的右端固定连接有卡环，所述卡环呈现环形，所述卡环的内部通过轴承活动套接有中柱，所述中柱与卡环的内侧壁通过扭簧活动连接，所述中柱的上端伸出卡环且其前右方固定连接有转齿板，所述转齿板呈现四分之一齿轮形，所述转齿板的正右侧端与齿板轮啮合，所述中柱的下端伸出卡环且固定连接有上盖，所述上盖的下表面外侧固定连接有罩环，所述罩环呈现环形，所述罩环的下表面接触输送带。

9、优选的，所述罩环的后侧开设有入口，所述罩环的右侧开设有出口，所述入口的左内壁通过弹簧轴活动连接有入板，所述入板具有弹性，所述出口的后内壁通过弹簧轴活动连接有出板，所述入板和出板均与罩环的形状适配，所述入口的内侧壁边缘与入口连接，所述出板的外侧壁边缘与出口连接。

10、优选的，所述座台机构的上方设置有通电机构，所述通电机构包括横杆二，所述横杆二的左端对应插入电动滑轨中，所述横杆二远离电动滑轨的那一端固定连接有上板，所述上板的下表面前后均通过转轴活动连接有弹臂一，所述弹臂一的下端通过弹簧轴活动连接有弹臂二，前后两个所述弹臂二的下端共同通过转轴活动连接有检测罩，所述检测罩的下端口与限位槽正对，所述检测罩的下端面边缘嵌入固定连接有压环，所述压环的材料包括橡胶材料，所述检测罩的上表面嵌入固定安装有闪灯，所述检测罩的内部安装有通电检测部件。

11、与现有技术相比，本发明的有益效果是：

12、、该一种芯片通电检测设备，从输送带的后侧输送芯片，启动电机二将芯片向前输送到座台上，通过限位槽的设计，芯片会自动的陷入到限位槽中，此时启动电动滑轨，使得横杆二沿着电动滑轨下移，从而带动检测罩下移将芯片罩接在其内部，检测罩内部的通电检测部件对芯片进行通电检测，同时下压的压环会将芯片的所有引脚均按压在底板上，从而保证芯片的接触良好，从而保证通电检测不会由于引脚脱落而造成误测，保证芯片问题检测的准确性。

13、、该一种芯片通电检测设备，在通电检测完成后抬升通电机构，此时启动电机一带动螺纹杆正向转动，从而通过滑座与螺纹杆的螺纹连接以及滑座下端与嵌槽的嵌合，从而使得滑座带动座台机构向前侧输送，同时通过滑座的前移会使得转辊带和转辊二的接触点改变，从而在座台机构前移的过程中，转辊带会和转辊二发生摩擦，从而带动转辊二转动，此时压盘会跟随转动，在转动的过程中，拨动块则会插入到芯片引脚的间隙中，并且继续随着压盘转动，从而在拨动块转动的拨动下，在芯片引脚连接没问题的时候，拨动块会和芯片的引脚啮合，并且每次将芯片在座台上向前拨动一端距离，当芯片引脚脱落的时候，此时拨动块无法与芯片的引脚啮合，从而使得芯片无法继续前移，此时芯片会始终处于座台上侧，从而提醒工作人员芯片引脚的连接出现问题，从而对芯片的引脚进行脱落检测，提高装置的检测工作范围。

14、、该一种芯片通电检测设备，在芯片两侧的引脚未出现问题的时候，芯片会被拨动块推动到座台的前侧，在座台的前端抵达前侧的滑槽处时，会被滑槽带动向转向机构的方向输送，最终通过入板内推将芯片存储与罩环的内部，随后通过启动电机二反向转动，从而带动机辊六反向转动，在皮带的连接下，使得皮带辊带动齿板轮反向转动，从而使得转齿板以中柱为轴顺时针旋转九十度，将出板对向后侧位置，并且通过输送带的传输，将旋转九十度的芯片从出口中送出，从而同理进行另外两侧引脚的检测，通过转向机构和输送带输送方向的配合，从而使得芯片在罩环内部自动转向，自动完成四边引脚的检测，提高了装置的自动性和联动性。

15、、该一种芯片通电检测设备，通过芯片的转向和反向输送，从而在确保芯片全部引脚检测的同时，还是得芯片可反向传输，这样可以节省一半的传输空间，大大的减小了装置工作所占用的实际面积，便于装置投入生产使用。

16、、该一种芯片通电检测设备，通过拨动机构的设计，从而在将芯片进行前后传输的时候，可以同时带动压盘进行转动，从而同时便可以通过拨动块对芯片的引脚接触进行检测，从而提高了装置的工作效率。

17、、该一种芯片通电检测设备，转辊二通过立柱和滑环与滑槽进行滑动连接，并且将压盘的形状设计成为圆台型，这样在检测罩下降的时候，若接触到压盘的上端会主动地将压盘向远离座台机构的方向推动，从而避免设备将的相互阻碍，保证了装置间工作的适配性。