技术特征：1.一种基于双预测器协同决策的晶圆级适应性测试方法，其特征在于，是按如下步骤进行：
2.一种电子设备，包括存储器以及处理器，其特征在于，所述存储器用于存储支持处理器执行权利要求1所述晶圆级适应性方法的程序，所述处理器被配置为用于执行所述存储器中存储的程序。
3.一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1所述晶圆级适应性方法的步骤。
技术总结本发明公开了一种基于双预测器协同决策的晶圆级适应性测试方法，包括：1、数据预处理；2、利用RFECV算法对测试项进行筛选；3、利用随机森林算法建立基于测试项的质量预测器；4、根据BNR将晶粒划分为不同等级，建立基于空间信息的质量预测器；5、根据两种预测结果利用DBSCAN聚类算法对晶粒进行聚类，将不同类别的晶粒划分质量等级，根据晶粒不同等级类别的分布结果，逐次确定各个类别晶粒的质量。本发明能在降低晶圆的测试成本的同时，将测试逃逸和产量损失控制在极低的水平，保证较好的测试质量。
技术研发人员：梁华国,潘宇琦,李俊明,汤宇新,曲金星,易茂祥,黄正峰,鲁迎春
受保护的技术使用者：合肥工业大学
技术研发日：技术公布日：2024/1/14