校准方法、校准装置、电子设备、校准设备及介质与流程

本公开涉及电子设备，尤其涉及一种校准方法、校准装置、电子设备、校准设备及介质。

背景技术：

1、目前，电子设备在生产的过程中，由于不同的光线传感器存在一定的差异，需要对电子设备中的光线传感器进行校准。但是，在对光线传感器进行校准的过程中，光线传感器的校准系数会产生偏差，导致电子设备校准的准确性低。

技术实现思路

1、为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种校准方法、校准装置、电子设备、校准设备及介质。

2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种校准方法，应用于待校准电子设备，所述校准方法包括：

3、检测光源的第一光照强度；

4、获取所述光源的参考光照强度，所述参考光照强度为参考电子设备根据检测的所述光源的第二光照强度确定；

5、根据所述第一光照强度和所述参考光照强度，确定第一校准系数作为所述待校准电子设备的校准系数。

6、本公开的一些实施例中，所述根据所述第一光照强度和所述参考光照强度，确定第一校准系数作为所述待校准电子设备的校准系数，包括：

7、将所述参考光照强度与所述第一光照强度的商确定为所述第一校准系数。

8、本公开的一些实施例中，在所述检测光源的第一光照强度之后，所述校准方法还包括：

9、当未获取到所述光源的所述参考光照强度时，根据所述第一光照强度和第一预设光照强度，确定所述第一校准系数。

10、本公开的一些实施例中，所述根据所述第一光照强度和第一预设光照强度，确定所述第一校准系数，包括：

11、将所述第一预设光照强度与所述第一光照强度的商确定为所述第一校准系数。

12、本公开的一些实施例中，所述获取所述光源的参考光照强度，包括：

13、接收校准设备或所述参考电子设备发送的所述参考光照强度。

14、根据本公开实施例的第二方面，提供一种校准方法，应用于待校准电子设备，所述校准方法包括：

15、检测光源的第一光照强度；

16、将所述第一光照强度发送至校准设备；

17、接收所述校准设备发送的第一校准系数作为所述待校准电子设备的校准系数。

18、根据本公开实施例的第三方面，提供一种校准方法，应用于参考电子设备，所述校准方法包括：

19、检测光源的第二光照强度；

20、根据所述第二光照强度和第二校准系数，确定参考光照强度，所述第二校准系数为所述参考电子设备的校准系数；

21、将所述参考光照强度发送至校准设备或待校准电子设备。

22、本公开的一些实施例中，所述将所述参考光照强度发送至校准设备或待校准电子设备，包括：

23、当所述参考光照强度小于第一预设光照强度时，将所述参考光照强度发送至所述校准设备或所述待校准电子设备。

24、本公开的一些实施例中，所述根据所述第二光照强度和第二校准系数，确定参考光照强度，包括：

25、当所述第二校准系数与参考校准系数不同时，根据所述第二光照强度和所述第二校准系数，确定所述参考光照强度。

26、本公开的一些实施例中，在所述检测光源的第二光照强度之后，所述校准方法还包括：

27、当所述第二光照强度小于第二预设光照强度时，发出提示信息；

28、其中，所述第二预设光照强度小于第一预设光照强度。

29、根据本公开实施例的第四方面，提供一种校准方法，应用于校准设备，所述校准方法包括：

30、获取参考电子设备确定的参考光照强度；

31、将所述参考光照强度发送至待校准电子设备，以使所述待校准电子设备根据检测的第一光照强度和所述参考光照强度确定第一校准系数。

32、根据本公开实施例的第五方面，提供一种校准方法，应用于校准设备，所述校准方法包括：

33、获取待校准电子设备检测的第一光照强度；

34、获取参考电子设备确定的参考光照强度；

35、根据所述第一光照强度和所述参考光照强度，确定第一校准系数；

36、将所述第一校准系数发送至所述待校准电子设备。

37、本公开的一些实施例中，在所述获取待校准电子设备检测的第一光照强度之后，所述校准方法还包括：

38、当未获取到所述参考电子设备确定的所述参考光照强度时，根据所述第一光照强度和第一预设光照强度，确定所述第一校准系数。

39、根据本公开实施例的第六方面，提供一种校准装置，应用于待校准电子设备，所述校准装置包括：

40、第一检测模块，被配置为用于检测光源的第一光照强度；

41、第一获取模块，被配置为用于获取所述光源的参考光照强度，所述参考光照强度为参考电子设备根据检测的所述光源的第二光照强度确定；

42、第一确定模块，被配置为用于根据所述第一光照强度和所述参考光照强度，确定第一校准系数作为所述待校准电子设备的校准系数。

43、根据本公开实施例的第七方面，提供一种校准装置，应用于待校准电子设备，所述校准装置包括：

44、第二检测模块，被配置为用于检测光源的第一光照强度；

45、第一发送模块，被配置为用于将所述第一光照强度发送至校准设备；

46、接收模块，被配置为用于接收所述校准设备发送的第一校准系数作为所述待校准电子设备的校准系数。

47、根据本公开实施例的第八方面，提供一种校准装置，应用于参考电子设备，所述校准装置包括：

48、第三检测模块，被配置为用于检测光源的第二光照强度；

49、第二确定模块，被配置为用于根据所述第二光照强度和第二校准系数，确定参考光照强度，所述第二校准系数为所述参考电子设备的校准系数；

50、第二发送模块，被配置为用于将所述参考光照强度发送至校准设备或待校准电子设备。

51、根据本公开实施例的第九方面，提供一种校准装置，应用于校准设备，所述校准装置包括：

52、第二获取模块，被配置为用于获取参考电子设备确定的参考光照强度；

53、第三发送模块，被配置为用于将所述参考光照强度发送至待校准电子设备，以使所述待校准电子设备根据检测的第一光照强度和所述参考光照强度确定第一校准系数。

54、根据本公开实施例的第十方面，提供一种校准装置，应用于校准设备，所述校准装置包括：

55、第三获取模块，被配置为用于获取待校准电子设备检测的第一光照强度；

56、第四获取模块，被配置为用于获取参考电子设备确定的参考光照强度；

57、第三确定模块，被配置为用于根据所述第一光照强度和所述参考光照强度，确定第一校准系数；

58、第四发送模块，被配置为用于将所述第一校准系数发送至所述待校准电子设备。

59、根据本公开实施例的第十一方面，提供一种电子设备，所述电子设备包括：

60、处理器；

61、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

62、其中，所述处理器被配置为执行如上所述的方法。

63、根据本公开实施例的第十二方面，提供一种校准设备，所述校准设备包括：

64、处理器；

65、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

66、其中，所述处理器被配置为执行如上所述的方法。

67、根据本公开实施例的第十三方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得所述终端能够执行如上所述的方法。

68、本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

69、检测光源的第一光照强度，确定待校准电子设备中的光线传感器对于光源光通量的检测水平。获取参考电子设备确定的参考光照强度，作为第一光照强度的参考。根据第一光照强度和参考光照强度，确定第一校准系数作为待校准电子设备的校准系数，以对待校准电子设备中的光线传感器进行校准。由于参考光照强度能够反映光源的光通量，当光源发生光衰后，参考光照强度能够随光源的光通量的变化而变化。通过检测的第一光照强度和作为参考的参考光照强度确定第一校准系数，电子设备中光线传感器的校准系数不受光源光衰的影响，从而提高了电子设备校准的准确性。

70、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。