测量应用设备校准单元、测量系统、方法与流程

本公开涉及测量应用设备校准单元、测量系统以及相应的方法。

背景技术：

1、尽管适用于任何测量系统，但是本公开将主要结合矢量信号生成器和矢量信号分析器的校准以及相应的测量应用来描述。

2、当在电子应用中使用测量仪器(如矢量信号生成器、矢量信号分析仪和示波器)进行测量时，用户对测量不确定度有具体要求，尤其是频率响应。通常，期望的频率响应应尽可能少地偏离最佳频率响应，即，显示频率响应的图表应准确地显示dut频率响应，而不受测量设置的任何影响。

3、存在用于校准测量设备的校准技术。然而，现有的校准技术通常执行起来很复杂，并且提供有限的校准质量。

4、因此，需要提供测量设备的简化校准。

技术实现思路

1、独立权利要求的特征解决了上述问题。应当理解，一个权利要求类别的独立权利要求可以类似于另一个权利要求类别的从属权利要求来形成。

2、因此，提供的是：

3、一种测量应用设备(measurement application device)校准单元，包括至少一个耦合元件，耦合元件包括用于将耦合元件耦合到信号测量路径中的第一连接件和第二连接件，信号测量路径耦合到测量应用设备，以及第三连接件，其中耦合元件配置为以下的至少一个：将信号从信号测量路径耦合出到第三连接件中，以及将信号从第三连接件耦合入到信号测量路径，以及信号处理设备，信号处理设备耦合到耦合元件的第三连接件，并且信号处理设备配置为当耦合元件将信号从信号测量路径耦合出到第三连接件时接收预定的校准信号，以及当耦合元件将信号从第三连接件耦合入到信号测量路径时产生预定的已知校准信号。

4、此外，提供的是：

5、一种测量系统，包括至少一个测量应用设备，从至少一个测量应用设备到相应参考平面的至少一个信号测量路径，以及根据以上或以下给出的测量应用设备校准单元的实施例中的任一个的用于至少一个信号测量路径的测量应用设备校准单元，测量应用设备校准单元配置为以下中的至少一个：从相应的信号测量路径耦合出预定的校准信号和测量预定的校准信号，以及生成预定的已知校准信号并将预定的已知校准信号耦合到相应的信号测量路径中，其中测量应用设备配置为基于由测量应用设备校准单元测量的预定的校准信号，或者由测量应用设备校准单元耦合到信号测量路径中并由测量应用设备测量的预定的已知校准信号，来校准信号测量路径。

6、此外，提供的是：

7、一种方法，包括从信号测量路径耦合出预定的校准信号和/或产生预定的已知校准信号，当校准信号被耦合出时测量耦合出的预定的校准信号，当产生校准信号时将预定的已知校准信号耦合到信号测量路径中，以及当耦合出校准信号时，基于所测量的预定的校准信号，以及当耦合到信号测量路径中时，基于由参考平面反射的以及当产生校准信号时由耦合到信号测量路径的测量应用设备获取的已知校准信号中的至少一个来校准信号测量路径。

8、测量系统中的测量可以例如使用矢量信号分析器、矢量信号生成器和示波器或其他测量设备来执行，其可以在测量应用中提供，特别是每个作为专用设备或者作为组合的信号产生和信号测量设备。应当理解，在本公开的上下文中，术语“测量应用设备”可以指测量应用中的任何类型的信号发生设备和信号获取设备。如上所述，测量应用设备也可以包括信号生成设备和信号获取设备两者。可能的测量应用设备可以包括但不限于矢量信号分析仪vsa、矢量网络分析仪vna、矢量信号生成器vsg和示波器。

9、在使用测量设置进行测量之前，用户通常会对测量设置进行校准。

10、校准用于将测量应用设备和测量设置的其他组件(如电缆和连接器)的影响降至最低。校准通常试图优化测量仪器相对于参考平面的频率响应。参考平面通常可以理解为各个信号路径(即，dut输入侧的信号路径和dut输出侧的信号路径)的被测设备(也称为dut)之前的最后一个元件。通常，将为测量应用中使用的任何一个测量应用设备的每个端口定义专用参考平面。这样的平面可以被很好地定义，像用户连接校准标准的平面，或者这样的平面可以被理论地定义并且取决于相应测量设备的工厂校准。

11、在dut的输入端，频率响应指的是dut所需输入信号与实际馈入dut的信号之间的偏差。由dut输入侧的测试设置提供的频率响应可以被视为“不想要的”频率响应。dut本身在输入端也有一个频率响应，这是要测量的频率响应，理想情况下不受其它元件的影响。在dut的输出端，频率响应是指由相应测量接收器测量的测量信号与实际离开dut的输出信号之间的偏差。如上所述，由dut输出端的测试装置提供的频率响应可能被视为“不想要的”频率响应。dut本身在输出端也有一个频率响应，这是要测量的频率响应，理想情况下不受其它元件的影响。

12、应当理解，dut可以仅包括输入侧，即输入侧的一个或多个信号路径，或者仅包括输出侧，即输出侧的一个或多个信号路径，或者两者的组合。

13、上述频率响应有两个分量。第一个是固有频率响应，由测量信号的数字波形表示到rf输出，或测量接收器的rf输入到接收信号的数字表示的缺陷引起。第二个是dut和测量应用设备之间的不匹配。

14、理想情况下，这两个分量都是已知的并且被校正。

15、本公开提供了测量应用设备校准单元和相应的测量应用设备，它们都可以用在根据本公开的测量系统中。测量应用设备校准单元结合相应的测量应用设备允许在单个校准过程中识别固有频率响应和失配。

16、为此，测量应用设备校准单元包括耦合元件和信号处理设备。

17、耦合元件可以包括耦合器或分路器，并且可以包括定向属性，即，像定向耦合器或定向分路器一样。

18、耦合元件可以经由第一和第二连接件耦合到测量应用设备和dut或参考平面之间的信号路径中。耦合元件的第三连接件用于将信号耦合进信号路径或从信号路径耦合出信号。测量应用装置和dut或参考平面之间的信号路径也可以称为信号测量路径。这种信号测量路径可以包括测量应用设备的内部元件、电缆、连接器等。如下面将更详细解释的，信号测量路径可以是耦合元件中的直接路径，或者是耦合元件中的间接或耦合路径。

19、应当理解，当校准测量设置时，dut通常不会耦合到信号测量路径。相反，相应的校准标准可以耦合到参考平面处的信号测量路径，这也将在下面更详细地解释。

20、测量应用设备校准单元的信号处理设备可以包括信号接收器，该信号接收器获取预定的校准信号，该校准信号经由耦合元件的第三连接件被提供给信号处理设备。

21、当包括信号接收器时，信号处理设备可以用于校准测量装置的源侧，即作为测量应用设备的测量信号生成器，以及从测量信号生成器到参考平面或dut的信号路径。

22、在这种操作模式下，当执行测量设置的可能校准时，在预定的校准信号由测量信号生成器产生并在参考平面处反射之后，信号处理设备获取该预定的校准信号。

23、此外，或者作为替代，信号处理设备可以包括信号生成器，该信号生成器产生预定的已知校准信号，并且将所产生的已知校准信号提供给耦合设备的第三连接件。这种已知的校准信号然后将被耦合到信号测量路径中。

24、当包括信号生成器时，信号处理设备可以用于校准测量装置的测量侧，即作为测量应用设备的测量设备或信号接收器，以及参考平面或dut和测量设备之间的信号路径。

25、在这种操作模式下，当执行测量设置的校准时，测量设备在已知校准信号由信号处理设备生成并在参考平面处反射之后获取该信号。

26、在测量系统中，在两种情况下，可以在信号处理设备中接收到预定的校准信号之后对其进行评估，或者可以在测量应用设备中接收到预定的已知校准信号之后对其进行评估，以便为测量系统(即，测量应用设备和相应的信号路径)确定校准参数。

27、预定的已知校准信号和预定的校准信号之间的区别在于，预定的已知校准信号关于频率、幅度和相位的特性在整个相关频率范围内是众所周知的，而预定的校准信号的特性不一定是已知的。当然，预定的校准信号的数字表示可能是已知的，但是在相应信号生成器的输出端口提供的模拟表示通常是未知的。对于已知的校准信号，由产生的相应已知信号提供的模拟表示也是已知的。已知的校准信号尤其可以包括在预定频率范围内具有已知幅度和相位的信号，尤其是梳状信号。在这种情况下，相关频率范围可以包括预定义的频率范围，该频率范围可以与相应的测量应用相关或者可以由相应的测量应用设备处理。相关频率范围尤其可以不包括单个频率，而是从第一频率开始并延伸到第二频率的频率范围，其中第一频率和第二频率是不同的。

28、虽然预定的已知校准信号可以由完全校准的设备产生，该设备如预期的那样输出预定的已知校准信号，但是预定的校准信号可以由自身被校准的设备产生，例如相应的测量应用设备。为了进一步校准，预定的校准信号将由参考接收器接收，而已知的校准信号将由已知的信号生成器产生。

29、在这方面，校准或确定校准参数可以指确定用于校正参考平面处的第一阻抗和参考平面处的第二阻抗之间的失配的参数。第一阻抗可以指当从参考平面向dut看时存在的阻抗。相反，第二阻抗可以指从参考平面向测量应用设备看时存在的阻抗。当两个阻抗相同时，在非复或实值阻抗的情况下，或者是共轭的，在复杂或复值阻抗的情况下，不存在失配，并且不需要校正任何失配。然而，如果第一阻抗和第二阻抗不同，则必须相应地校正在测量设置中测量的数据。

30、如果测量应用装置是测试设置中的测试信号的信号源，则所确定的校准参数然后可以在信号生成期间由测量应用装置应用，或者如果测量应用装置是测试设置中的信号接收器或测量装置，则可以应用于所测量的信号。如上所述，单个测量应用设备也可以生成测试信号并从dut获取输出信号。

31、利用测量应用设备校准单元和测量系统的特征，可以仅利用一个信号处理设备来执行相应信号测量路径的校准，该信号处理设备或者产生已知的校准信号或者接收预定的校准信号。不需要额外的接收器或发射器。

32、参考附图，本公开的其他实施例是其他从属权利要求和以下描述的主题。

33、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的实施例中，当耦合元件将来自信号测量路径的预定的校准信号耦合到第三连接件中时，信号处理设备可以包括参考接收器。

34、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的实施例中，当耦合元件将预定的已知校准信号从第三连接件耦合到信号测量路径中时，信号处理设备可以包括已知信号生成器。

35、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的另一个实施例中，测量应用设备校准单元可以包括两个信号处理设备，一个具有参考接收器，一个具有已知信号生成器，或者包括具有参考接收器和已知信号生成器的单个信号处理设备。在这样的实施例中，也可以提供两个耦合元件。因此，测量应用装置校准单元可以用在dut输入侧和dut输出侧。

36、当在dut的输入侧使用时，在测量期间，测量信号源以相应的测量应用设备的形式存在，如矢量信号生成器。预定的校准信号可以由测量信号源产生，然后将在参考平面被反射。

37、在这样的实施例中，信号处理设备可以包括参考接收器，该参考接收器经由耦合元件接收反射的预定的校准信号。术语“参考接收器”指的是参考接收器的电参数是众所周知的，并且参考接收器特别用于校准。已知参数可以指在整个相关频率范围内的幅度(即振幅响应)和相位(即相位响应)。如果已知的接收器具有非线性行为，则该特性也可以是频率相关的。这允许在确定阻抗失配时考虑参考接收器的特性，使得参考接收器仅引入最小的误差。

38、当在dut的输出侧使用时，通常以相应的测量应用设备的形式提供测量设备，如矢量信号分析仪或示波器。在这样的应用中，已知的校准信号可以由测量应用设备之外的另一个设备产生。

39、因此，信号处理设备可以包括已知的信号生成器，该信号生成器经由耦合元件将已知的校准信号输入到信号测量路径中。然后，已知的校准信号将在参考平面上被反射，并且可以被测量应用设备测量。

40、术语“已知信号生成器”是指已知信号生成器的电参数，如已知信号生成器的频率响应，是众所周知的，并且已知信号生成器仅用于校准。这允许在确定阻抗失配时考虑已知信号生成器和已知校准信号的特性，使得已知信号生成器只会引入最小的误差。

41、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的实施例中，测量应用设备校准单元可以包括两个部分，第一部分用于在测量设置中将输入侧校准到dut，第二部分用于在测量设置中校准dut的输出侧。在这样的实施例中，每个部分可以包括专用耦合元件和专用信号处理元件。作为替代，可以为dut的输入侧和输出侧提供专用的测量应用设备校准单元。

42、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的实施例中，测量应用设备校准单元可以包括耦合元件和第三连接件，该耦合元件包括用于将耦合元件耦合到信号测量路径中的第一连接件和第二连接件。耦合元件可以配置为将信号从信号测量路径耦合到第三连接件中，以及将信号从第三连接件耦合到信号测量路径中的至少一个。在这样的实施例中，信号处理设备可以耦合到耦合元件的第三连接件，并且可以配置为当耦合元件将信号从信号测量路径耦合到第三连接件时接收预定的校准信号，以及当耦合元件将信号从第三连接件耦合到信号测量路径中时产生已知的校准信号。

43、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的实施例中，当已知校准信号被测量应用设备校准单元耦合到信号测量路径中时，已知校准信号可以包括在预定频率范围内具有已知幅度和相位的信号，尤其是梳状信号。例如，测量应用设备校准单元可以包括梳状生成器，该梳状生成器被配置为作为已知信号生成器生成预定的已知校准信号，并且测量应用设备可以包括配置为接收预定的已知校准信号的宽带信号采集设备。

44、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的另一个实施例中，当预定的校准信号被测量应用设备校准单元从信号测量路径耦合出时，测量应用设备校准单元可以包括配置为接收预定的校准信号的已知宽带信号采集设备，并且测量应用设备可以包括配置为产生预定的校准信号的信号生成器。

45、上面描述了测量系统的两种操作模式，一种模式是在dut的输入侧执行校准，另一种模式是在dut的输出侧执行校准。

46、当校准dut的输入侧时，即当预定的校准信号从信号测量路径耦合出时，信号生成器存在于测量应用设备中。当然，该信号生成器可以用于产生预定的校准信号，该校准信号然后可以在参考平面处被反射之后由测量应用设备校准单元的信号处理设备获取。为此，测量应用设备校准单元可以包括宽带信号采集设备。

47、当相对于参考平面校准dut输出侧的测量设置时，在测量应用设备中不存在信号生成器，但是存在测量信号接收器。当然，该测量信号接收器，例如宽带信号采集设备，可以用于采集由测量应用装置校准单元的信号处理装置产生并在参考平面上反射的预定的已知校准信号。

48、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的实施例中，对于每一个信号测量路径，测量系统可以包括三个不同的校准标准，尤其是开路校准标准、短路校准标准和匹配校准标准。至少一个测量应用设备可以配置为基于获取的信号来确定相应信号测量路径的误差网络的s参数，而三个不同的校准标准被连续地耦合到参考平面处的信号测量路径，并且已知的校准信号被耦合到信号测量路径中或者预定的校准信号被耦合出信号测量路径。

49、s参数，也称为散射参数，是表征线性电网络的电行为的众所周知的方法。

50、需要提供三种不同的条件来计算信号测量路径的s参数。这三种不同的条件可以通过将不同的校准标准连续耦合到参考平面处的信号测量路径来提供。

51、应当理解，不同的校准标准可以手动耦合到信号测量路径。作为替代，可以使用自动校准标准，其可控地将所需的校准标准耦合到参考平面。

52、为了简化计算，测量应用设备可以配置为将s参数之一设置为1。用于dut的一个端口输入侧的s参数之一，通常称为s21，可以被设置为1，因为反射测量还包括朝向参考平面或dut传播的信号。在实施例中，在用两个信号测量路径的完全或未知校准标准执行校准之后，可以使用分别确定的值，而不是1。

53、这导致误差模型仅包括三个不同的误差参数或误差项。这些误差项可以指方向性、源匹配和反射跟踪。因此，需要确定三个未知变量。可以使用描述单端口测量设备校正的双端口误差网络。误差网络有两个端口，因为它有一个输入端口和一个输出端口，其中测量设备终止链，因此只有一个端口，因为虚拟的第二端口可以被假定为数字侧。

54、为此，可以用三种不同的校准标准进行三次测量，这三种标准提供了三种不同的测量条件，并允许在各自的方程组中填入变量。

55、所谓的osm校准标准，也称为开路、短路和匹配校准标准，是众所周知且广泛可用的。当然，也可以使用具有已知电特性的任何其他三种不同类型的校准标准。

56、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的实施例中，测量系统可以包括至少两个信号测量路径和用于每个信号路径的一个测量应用设备校准单元。在每种情况下，两个信号测量路径可以通过另一校准标准，特别是通过校准标准或未知的校准标准彼此耦合，并且至少一个测量应用设备可以配置为基于获取的信号来确定相应的两个信号测量路径的误差网络的s参数，而两个信号测量路径通过完全校准标准彼此耦合。

57、使用另一校准标准，即通过校准标准，允许确定误差网络的另一个值或变量，并因此改进测量系统的校准参数的确定。在校准参数的帮助下，参考平面可以向测量系统中的dut连接点移动。所用的校准可能包括uosm，也称为未知的贯穿－开路－短路－匹配校准，或tosm，也称为贯穿－开路－短路－匹配校准。

58、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的实施例中，至少一个信号测量路径可以通过直接传输线将相应测量应用设备的端口与参考平面耦合。相应的测量应用设备校准单元可以通过耦合元件从直接传输线耦合出信号，以及通过耦合元件将信号耦合进直接传输线中的至少一个。

59、在该实施例中，参考平面或dut经由直接传输线耦合到至少一个测量应用设备。相反，测量应用设备校准单元经由耦合线间接地耦合到dut和测量应用设备之间的信号测量路径。耦合元件可以包括定向耦合特性。

60、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的另一个实施例中，至少一个信号测量路径可以通过耦合元件将相应的测量应用设备的端口与参考平面耦合。相应的测量应用设备校准单元可以执行以下中的至少一个：通过直接传输线将信号从信号测量路径耦合出到参考平面，以及通过到参考平面的直接传输线将信号耦合到信号测量路径。

61、在该实施例中，参考平面或dut经由间接连接(例如耦合元件中的耦合线)耦合到至少一个测量应用设备。相反，测量应用设备校准单元经由直接传输线直接耦合到信号测量路径。在实施例中，可以使用具有定向耦合特性的耦合元件。

62、在可以与上面或下面提到的测量系统的所有其他实施例相结合的实施例中，至少一个测量应用设备可以配置为执行噪声系数测量，尤其是使用冷源方法。

63、在可以与上面或下面提到的测量应用设备校准单元的所有其他实施例相结合的实施例中，已知信号生成器可以包括有源校准信号生成器，该有源校准信号生成器可耦合到耦合元件，并且配置为如上所述产生预定的已知校准信号，并且经由耦合元件将预定的已知校准信号输入到信号路径中。在实施例中，已知信号生成器可以参考标准和/或由国家计量机构鉴定，该机构可以验证关于已知校准信号的信息。这同样适用于参考接收器。一个可能的国家计量机构可以是例如nist机构。

64、测量应用设备可以配置为基于已知校准信号和关于已知校准信号的存储信息来确定经由参考平面处的反射到测量应用设备的信号路径的传输参数，并且测量应用设备可以配置为在校准信号测量路径时考虑传输参数。

65、与上面提到的仅确定两个s参数(通常是s12×s21)的乘积的标准osm校准相反，利用有源校准信号生成器，可以独立地确定产品的每个s参数。在本文中，s参数指的是2端口误差模型的s参数，而不是dut的s参数。将标准的2×1端口vna校准扩展到另一个标准，例如通过或未知的校准标准为tosm或uosm，将产生8个可能的误差校正项中的7个(每个误差网络4个，每个端口一个)。与今天的tosm或uosm校准相比，最后或第八误差校正项通过已知校准信号或参考接收器的信息变得可用。

66、利用本公开的解决方案，因此可以为两个不同端口或信号路径中的每一个单独确定所有四个s参数。因此，在执行校准之后，可以完全校准并且彼此独立地使用单个端口或信号路径。相比之下，已知的用于vna的osm校准只允许组合使用两个校准端口。

67、利用有源校准信号生成器，可以预先确定从测量应用设备校准单元到测量应用设备的信号路径的传输参数，以利用上述校准标准(例如，在uosm或tosm校准中)执行两个信号测量路径的校准。这将提高测量系统的校准质量，因为测量应用设备校准单元的影响可以通过这个额外的校准步骤从信号测量路径的校准中消除。

68、有源校准信号生成器可以是任何类型的信号生成器。关于有源校准信号生成器的唯一要求是，它需要产生预定的已知校准信号，该信号具有在接收侧必须已知的预定特性。

69、关于已知校准信号的存储信息可以例如包括关于特定频率范围的已知校准信号的幅度和相位中的至少一个的信息。这种信息可以为完全已知的校准信号提供一次，或者为已知校准信号的不同频率范围单独提供。

70、作为替代，存储的信息也可以包括已知校准信号的完整描述。这样的完整描述可以包括具有预定分辨率的已知校准信号的时间线或时域波形的样本。替代地，这样的完整描述可以包括频域中已知校准信号的波形的样本或描述。

71、在实施例中，有源校准信号生成器可以包括梳状生成器。梳状生成器是一种特殊的信号生成器，它产生一个对基础信号具有多个谐波的信号。当在频率范围中示出时，这种梳状生成器的输出信号显示出类似于梳状齿的图案，因此称为梳状生成器。使用梳状生成器的优点是可以在大的频率范围内提供已知的校准信号。

72、在实施例中，有源校准信号生成器的带宽可以被选择为至少与测量应用设备的带宽一样大。

73、应当理解，测量应用设备和测量应用设备校准单元可以包括用于执行本公开中描述的任何功能的任何所需的或适当的组件。

74、当实现为信号源或信号生成器时，测量应用设备可以例如包括相应的信号发生元件，如振荡器、放大器、衰减器、滤波器和数模转换器。测量应用设备可以例如包括信号生成部分，该信号生成部分包括耦合到数模转换器的数字处理元件，该数模转换器可以耦合到相应的模拟信号修改部分。这种模拟信号修改部分可以例如包括放大器、衰减器、滤波器和连接器中的至少一个。

75、这同样适用于被实现为信号接收器或信号测量设备的测量应用设备。这种测量应用设备可以例如包括相应的信号采集元件，如模数转换器、放大器、衰减器和滤波器。测量应用设备可以例如包括信号采集部分，该信号采集部分包括耦合到模数转换器和数字处理元件的模拟采集部分。模拟采集部分可以例如包括连接器、放大器、衰减器和滤波器中的至少一个。

76、应当理解，测量应用设备可以包括其他元件，如具有显示器和用户输入装置的用户接口，例如按钮、(旋转)旋钮、触摸屏、鼠标或键盘，以及其他元件，如通信接口。测量应用设备可以例如被提供为矢量信号分析器、矢量信号生成器或示波器。

77、本公开中描述的至少部分需要基于其他值确定值或执行计算的功能可以至少部分在上述数字处理元件中实现。这些功能可以包括但不限于执行校准，例如计算校准参数，确定第一阻抗和第二阻抗之间的失配，基于测量的信号计算阻抗，以及确定s参数。

78、尽管在本公开中一些功能可以被描述为由专用设备实现，例如测量应用设备或测量应用设备校准单元，但是应当理解，这些功能也可以在另一个设备中执行。特别地，在数字域中执行的功能，如上述功能，可以由任何有能力的设备来执行，而所需的数字数据可以经由数字数据接口在各个设备之间交换，如网络接口、蓝牙接口、usb接口、总线接口或用于通信地耦合数字设备的任何其他数字接口。

79、根据本公开的数字处理元件可以被提供为专用处理元件，如处理单元、微控制器、现场可编程门阵列、fpga、复杂可编程逻辑器件、cpld等。数字处理元件还可以至少部分地作为包括可以由处理元件执行的计算机可读指令的计算机程序产品来提供。在另一个实施例中，数字处理元件可以作为处理元件的固件或操作系统的附加或附加功能或方法来提供，该处理元件已经作为相应的计算机可读指令存在于相应的应用中。这种计算机可读指令可以存储在耦合到或集成到处理元件中的存储器中。数字处理元件可以从存储器加载计算机可读指令并执行它们。

80、此外，应当理解，可以提供任何所需的支持或附加硬件，例如电源电路和时钟生成电路。