1.一种基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置，其特征在于：所述探测入射光的光子能量低于所述探测样品中任意材料的禁带宽度。
3.根据权利要求1所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置，其特征在于：
4.根据权利要求1所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置，其特征在于：
5.根据权利要求1-4任一项所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置，其特征在于：所述激发入射光路中还包括光补偿器。
6.应用权利要求1-5任一项所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置的材料禁带宽度已知的样品的固定波长二谐波测量方法，其特征在于，所述固定波长二谐波测量方法包括：
7.根据权利要求6所述的材料禁带宽度已知的样品的固定波长二谐波测量方法，其特征在于，所述固定波长二谐波测量方法还包括：
8.应用权利要求1-5任一项所述的基于可调谐波长激光源诱发二次谐波的缺陷检测装置的材料禁带宽度未知的样品的可调谐波长二谐波测量方法，其特征在于，所述可调谐波长二谐波测量方法包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求6-8中任一项所述的方法。