保护二极管破损检测装置、方法及检测系统与流程

本技术涉及电子检测，特别涉及一种保护二极管破损检测装置、方法及检测系统。

背景技术：

1、目前，为有效避免esd(electro-static discharge，静电释放)对电子产品的损伤，通常会在电子产品内安装保护二极管，但是，在安装保护二极管的过程中，容易因安装手法或者安装后电子产品内其它组件与该保护二极管之间的接触和碰撞，造成保护二极管出现破损的情况，这将会影响保护二极管对电子产品的esd损伤的保护效果，导致保护二极管的保护效果差。

技术实现思路

1、本技术的主要目的是提供一种保护二极管破损检测装置，旨在保证现有的保护二极管的保护效果。

2、为实现上述目的，本技术提出一种保护二极管破损检测装置，所述保护二极管破损检测装置包括扩展模块、采样模块、转换模块和主控模块；

3、所述扩展模块通过连接器与目标产品连接，所述采样模块分别连接所述扩展模块和所述转换模块，所述转换模块连接所述主控模块；

4、所述扩展模块用于根据接收到的电流信号和电压信号，在所述目标产品中的保护二极管两端生成采样电压信号；

5、所述采样模块用于采集采样电压信号，并将采集到的所述采样电压信号输出至所述转换模块；

6、所述转换模块用于将接收到的所述采样电压信号由模拟信号转换为数字信号，得到目标电压信号；

7、所述主控模块用于校验所述目标电压信号是否在预设电压信号范围内，以确定所述目标产品中的保护二极管是否破损。

8、可选地，所述主控模块包括校验单元；

9、所述校验单元连接所述转换模块；

10、所述校验单元用于在校验到所述目标电压信号在所述预设电压信号范围内的情形下，确定所述目标产品中的保护二极管未破损；

11、所述校验单元还用于在校验到所述目标电压信号不在所述预设电压信号范围内的情形下，确定所述目标产品中的保护二极管已破损。

12、可选地，所述主控模块包括计数单元、第一校验单元和第二校验单元；

13、所述计数单元分别连接所述转换模块和所述第一校验单元，所述第一校验单元连接所述第二校验单元；

14、所述计数单元用于在接收到所述目标电压信号的情形下，将检测次数加一；

15、所述第一校验单元用于在校验到所述检测次数大于或等于预设检测次数阈值的情形下，确定所述目标产品中的保护二极管已破损；

16、所述第一校验单元还用于在校验到所述检测次数小于预设检测次数阈值的情形下，向所述第二校验单元输出所述目标电压信号；

17、所述第二校验单元用于在校验到所述目标电压信号在所述预设电压信号范围内的情形下，确定所述目标产品中的保护二极管未破损；

18、所述第二校验单元还用于在校验到所述目标电压信号不在所述预设电压信号范围内的情形下，控制所述采样模块重新采集所述保护二极管两端的采样电压信号。

19、可选地，所述保护二极管破损检测装置还包括放大模块；

20、所述放大模块分别连接所述采样模块和所述转换模块；

21、所述放大模块用于对所述采样模块采集到的采样电压信号进行放大处理，并将放大处理后的所述采样电压信号输出至所述转换模块。

22、可选地，所述保护二极管破损检测装置还包括电压产生模块和电流产生模块；

23、所述电压产生模块分别连接所述扩展模块、所述电流产生模块和所述主控模块，所述电流产生模块连接所述扩展模块；

24、所述电压产生模块用于产生电压信号，并向所述扩展模块输出所述电压信号；

25、所述电流产生模块用于产生电流信号，并向所述扩展模块输出所述电流信号。

26、可选地，所述电压产生模块包括电压产生单元和电压限制单元；

27、所述电压产生单元分别连接所述电压限制单元、所述电流产生模块和所述主控模块，所述电压限制单元连接所述扩展模块；

28、所述电压产生单元用于产生电压信号；

29、所述电压限制单元用于限制向所述扩展模块输出的所述电压信号的大小。

30、为实现上述目的，本技术还提供一种保护二极管破损检测方法，应用于上述的保护二极管破损检测装置，所述保护二极管破损检测方法包括：

31、获取目标产品中的保护二极管两端的采样电压信号；

32、将所述采样电压信号由模拟信号转换为数字信号，得到目标电压信号；

33、通过校验所述目标电压信号是否在预设电压信号范围内，以确定所述目标产品中的保护二极管是否破损。

34、可选地，所述通过校验所述目标电压信号是否在预设电压信号范围内，以确定所述目标产品中的保护二极管是否破损的步骤，包括：

35、若检验到所述目标电压信号在所述预设电压信号范围内，则确定所述目标产品中的保护二极管未破损；

36、若校验到所述目标电压信号不在所述预设电压信号范围内，则确定所述目标产品中的保护二极管已破损。

37、可选地，所述通过校验所述目标电压信号是否在预设电压信号范围内，以确定所述目标产品中的保护二极管是否破损的步骤，包括：

38、若检验到所述目标电压信号在所述预设电压信号范围内，则确定所述目标产品中的保护二极管未破损；

39、若校验到所述目标电压信号不在所述预设电压信号范围内，则返回执行所述获取目标产品的保护二极管两端的采样电压信号的步骤，并将检测次数加一；

40、若校验到所述检测次数大于或等于预设检测次数阈值，则确定所述目标产品中的保护二极管已破损。

41、为实现上述目的，本技术还提出一种检测系统，所述检测系统包括目标产品和上述保护二极管破损检测装置，具体参照上述，此处不再赘述。

42、为实现上述目的，本技术还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质为计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有实现保护二极管破损检测方法的程序，所述实现保护二极管破损检测方法的程序被处理器执行以实现如上所述保护二极管破损检测方法的步骤。

43、本技术技术方案提供了一种保护二极管破损检测装置，所述保护二极管破损检测装置包括扩展模块、采样模块、转换模块和主控模块；所述扩展模块通过连接器与目标产品连接，所述采样模块分别连接所述扩展模块和所述转换模块，所述转换模块连接所述主控模块；所述扩展模块用于根据接收到的电流信号和电压信号，在所述目标产品中的保护二极管两端生成采样电压信号；所述采样模块用于采集采样电压信号，并将采集到的所述采样电压信号输出至所述转换模块；所述转换模块用于将接收到的所述采样电压信号由模拟信号转换为数字信号，得到目标电压信号；所述主控模块用于校验所述目标电压信号是否在预设电压信号范围内，以确定所述目标产品中的保护二极管是否破损。

44、本技术通过连接器将目标产品与扩展模块连接，以在扩展模块接收到的电流信号和电压信号的作用下，在目标产品中的保护二极管两端生成采样电压信号，然后通过采样模块采集该采样电压信号，并经转换模块将该采样电压信号转换为数字信号后得到目标电压信号，最后通过判定该目标电压信号是否在预设电压信号范围内，即可确定该保护二极管是否破损，从而，本技术通过在保护二极管两端产生并采集采样电压信号，以实现对保护二极管的破损检测，进而安装人员可以根据破损检测情况进行电子产品内的保护二极管的更换，以保证安装在电子产品内部的保护二极管的保护效果，解决了现有的保护二极管因出现破损导致保护效果差的技术问题。