一种面板制程缺失检测方法、系统、设备及存储介质与流程

本发明涉及缺陷检测，具体而言，涉及一种面板制程缺失检测方法、系统、设备及存储介质。

背景技术：

1、面板工厂在生产面板过程中会产生很多缺陷，然而整个面板产品的生产工艺流程复杂、生产周期长，从基板到生产加工完毕常常需要较长的时间，因此在每个工艺段产生的缺陷都需要时刻监控，避免缺陷流入下一道制程造成良率的降低。其中，制程缺失就是其中一种严重等级较高的缺陷，如果存在制程缺失就会直接导致面板报废。

2、传统的制程缺失检测方法是经过aoi(automatic optical inspection，自动光学检测)仪器对面板产品进行图像采集，再由人工对图像进行缺陷判定，一旦出现制程缺失，则将面板进行修补。传统的缺陷检测依赖人工肉眼判图，不仅容易受人员经验差异和精神状态影响，导致误判率较高，而且人工成本相对较高，因此很多面板厂开始引入自动缺陷检测与分类系统，用于替代人工缺陷检测，然而这些系统一般采用基于深度学习的目标检测算法作为核心检测算法，这类监督学习算法比较受训练集样本质量影响，而制程缺失可能特征并不明显，制程缺失区域和周围正常背景差异较小，模型容易产生漏检。

技术实现思路

1、本发明提供一种面板制程缺失检测方法、系统、设备及存储介质，解决了面板制程缺失检测容易出现漏检的问题。

2、在第一方面，本发明实施例中提供一种面板制程缺失检测方法，所述方法流程如下：

3、基于正常的面板图像获取标准模板，并且基于待检测的面板图像获取待匹配模板；

4、基于标准模板设置若干模板检测框，并且基于待匹配模板获取与若干模板检测框对应的若干匹配检测框；

5、基于若干模板检测框获取若干像素检测总值，并且基于若干匹配检测框获取若干像素匹配总值；

6、基于模板检测框以及匹配检测框的大小、位置，选择对应像素检测总值以及像素匹配总值对面板制程缺失进行综合检测。

7、于上述实施例中，本发明采用模板匹配和综合检测的方式对制程缺失进行精准检测，解决了制程缺失类缺陷缺失识别特征，现有目标检测模型难以有效检出的问题。

8、作为本技术一些可选实施方式，基于标准模板设置若干模板检测框的流程如下：

9、基于标准模板设置一级检测框，所述一级检测框包含制程的所有元素；

10、基于标注模板设置二级检测框，所述二级检测框包含制程的部分元素；

11、基于标注模板设置三级检测框，所述三级检测框包含制程的部分元素。

12、作为本技术一些可选实施方式，所述二级检测框的数量大于所述一级检测框的数量，所述二级检测框的尺寸小于所述一级检测框的尺寸；所述三级检测框的数量等于所述一级检测框的数量，所述三级检测框的尺寸小于所述一级检测框的尺寸。

13、于上述实施例中，采用对检测框进行尺寸、数量、大小进行设置，能够实现不同准确度以及不同速度的综合检测。

14、作为本技术一些可选实施方式，基于待匹配模板获取与若干模板检测框对应的若干匹配检测框的流程如下：

15、基于待匹配模板获取与一级检测框对应的一级匹配框，所述一级匹配框的尺寸、数量与一级检测框的尺寸、数量相同；

16、基于待匹配模板获取与二级检测框对应的二级匹配框，所述二级匹配框的尺寸、数量与二级检测框的尺寸、数量相同；

17、基于待匹配模板获取与三级检测框对应的三级匹配框，所述三级匹配框的尺寸、数量与三级检测框的尺寸、数量相同。

18、于上述实施例中，一级检测框和对应的一级匹配框的尺寸相对最大、数量为一个，二级检测框和对应的二级匹配框的尺寸相对较小、数量为三个；三级检测框和对应的三级匹配框的尺寸相对最小、数量为一个。

19、作为本技术一些可选实施方式，基于若干模板检测框获取若干像素检测总值，并且基于若干匹配检测框获取若干像素匹配总值的流程如下：

20、基于一级检测框、二级检测框以及三级检测框获取对应的一级检测像素矩阵、二级检测像素矩阵以及三级检测像素矩阵；

21、分别将一级检测像素矩阵、二级检测像素矩阵以及三级检测像素矩阵中所有坐标点所对应的像素值相加，以获取一级检测像素总值、二级检测像素总值以及三级检测像素总值；

22、基于一级匹配框、二级匹配框以及三级匹配框获取对应的一级匹配像素矩阵、二级匹配像素矩阵以及三级匹配像素矩阵；

23、分别将一级匹配像素矩阵、二级匹配像素矩阵以及三级匹配像素矩阵中所有坐标的像素值相加，以获取一级匹配像素总值、二级匹配像素总值以及三级匹配像素总值。

24、于上述实施例中，基于像素矩阵可以准确地获取像素总值以及坐标点信息。

25、作为本技术一些可选实施方式，基于模板检测框以及匹配检测框的大小、位置，选择对应像素检测总值以及像素匹配总值对面板制程缺失进行综合检测的流程如下：

26、基于一级检测像素总值和一级匹配像素总值进行一级像素差值判定，如果一级像素差值判定结果小于一级阈值，则基于若干二级检测像素总值和若干二级匹配像素总值进行二级像素差值判定，反之，则判定面板制程缺失；

27、如果二级像素差值判定结果小于二级阈值，则基于三级匹配像素总值和三级检测像素总值进行滑动自匹配判定，反之，则判定面板制程缺失；

28、如果滑动自匹配判定结果均小于三级阈值，则判定面板制程完整，反之，则判定面板制程缺失。

29、作为本技术一些可选实施方式，所述一级像素差值判定结果、二级像素差值判定结果以及滑动自匹配判定结果的计算流程如下：

30、计算一级检测像素总值和一级匹配像素总值之间的差值，以得到一级像素差值判定结果；

31、按照若干二级检测框和若干二级匹配框的不同位置，给对应的二级检测像素总值和二级匹配像素总值分配不同权重值，并且基于不同权重值计算若干二级检测像素总值和若干二级匹配像素总值之间的差值，以得到二级像素差值判定结果；

32、以滑动自匹配的方式计算若干三级检测像素总值和三级匹配像素总值之间的差值，以得到滑动自匹配判定结果。

33、于上述实施例中，通过一级检测框和一级匹配框对面板进行制程缺失初步检测，此时的差值大于一级阈值，则证明存在大面积制程缺失，通过此初步检测，则可简单快速的进行判定，但对于部分小范围制程缺失，初步检测则无法正常检出，还是会出现漏检；因此再通过二级检测框和二级匹配框对面板进行制程缺失进一步检测，此时的差值大于二级阈值，则证明二级匹配框位置存在部分小范围缺失，通过进一步检测，则可较准确的进行判定，但是此时检测的速度相对于初步检测较慢，并且判定结果只能针对二级匹配框位置有效，这是因为二级匹配框覆盖位置有限，对于二级匹配框位置以外部分小范围缺失，进一步检测也无法正常检出，还是会出现漏检，因此再通过三级检测框和三级匹配框对面板进行制程缺失滑动自匹配检测，只要存在差值小于三级阈值，则证明存在部分小范围缺失，通过滑动自匹配检测，可准确进行判定，但是此时检测的速度相对于初步检测、进一步检测较慢。

34、在第二方面，本发明提供一种面板制程缺失检测系统，其特征在于，所述系统包括：

35、模板获取单元，所述模板获取单元基于正常的面板图像获取标准模板，并且基于待检测的面板图像获取待匹配模板；

36、目标检测单元，所述目标检测单元基于标准模板设置若干模板检测框，并且基于待匹配模板获取与若干模板检测框对应的若干匹配检测框；

37、像素检测单元，所述像素检测单元基于若干模板检测框获取若干像素检测总值，并且基于若干匹配检测框获取若干像素匹配总值；

38、综合检测单元，所述综合检测单元基于模板检测框以及匹配检测框的大小、位置，选择对应像素检测总值以及像素匹配总值对面板制程缺失进行综合检测。

39、在第三方面，本发明提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述一种面板制程缺失检测方法。

40、在第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述一种面板制程缺失检测方法。

41、本发明的有益效果如下：本发明采用模板匹配和综合检测的方式对制程缺失进行精准检测，解决了制程缺失类缺陷缺失识别特征，现有目标检测模型难以有效检出的问题。