一种转子组件半径和柱面跳动的测量方法与流程

文档序号:36936032发布日期:2024-02-02 22:03阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述测距传感器沿竖直方向的移动距离hi=hi-h0。

3.根据权利要求2所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述测距传感器沿水平方向的移动距离

4.根据权利要求1至3任意一项所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述测距传感器沿竖直方向的运动时长th、测距传感器沿水平方向的运动时长tl、测距传感器的测量时长ts,三者需满足th+tl+ts≤t,其中t为最大允许测量用时。

5.根据权利要求4所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述测距传感器沿竖直方向运动时的运动速度

6.根据权利要求5所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,确定所述测距传感器的采样频率时f,待测截面包括连续曲面和非连续曲面,连续曲面需要的测量点个数为ms,非连续曲面中每个叶尖需要的测量点个数为md;

7.根据权利要求6所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述待测点到转台回转中心的距离ρ′(hi,θ)=l-li-s(hi,θ)。

8.根据权利要求7所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,以转台回转中心为原点,以转台回转中心到第一个测点的方向为x轴正方向的测量坐标系中,测量点的坐标在测量坐标系中表示为:

9.根据权利要求8所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,利用最小二乘原理求待测件半径时,求其最小二乘圆构建目标函数使其值最小,目标函数为:

10.根据权利要求1至9任意一项所述的转子组件半径和柱面跳动的测量方法,其特征在于,所述测量装置包括用于放置转子组件的转台、竖直导轨、设于所述竖直导轨上的水平导轨、设于所述水平导轨上的测距传感器、以及控制装置,所述转台内设有用于测量所述转台转动角度的圆光栅,所述竖直导轨和水平导轨内设有用于测量位移的直线光栅,所述控制装置与所述转台、竖直导轨、水平导轨、测距传感器、圆光栅、直线光栅电连接。


技术总结
本发明公开了一种转子组件半径和柱面跳动的测量方法,包括如下步骤:将转子组件安装在转台上,测距传感器依次对不同高度待测进行测量,测距传感器以采样频率f对测距传感器测量基准与转子组件外壁之间的距离进行测量,得到第i个待测截面示数点集{s(h<subgt;i</subgt;,θ)};将测距传感器的示数点表示为待测点到转台回转中心的距离ρ′(h<subgt;i</subgt;,θ),然后所有测点的坐标都表示在测量坐标系中,利用最小二乘原理求得待测件半径。本发明根据测量过程所要求的测量时间和测量截面数量,确定测量过程中竖直导轨运动速度、水平导轨的运动速度、转台转速和测距传感器采样频率,并利用测量时测量装置与测件的位置关系以及测距传感器示数,快速得到待测件的实际半径和柱面跳动。

技术研发人员:颜诚,李精卫,王昱,贾念念,周彦近,孙惠斌,屈鑫,王昱景,高越
受保护的技术使用者:中国航发南方工业有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/1
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