一种用于ATE测试平台的测试判断系统的制作方法

文档序号:36327395发布日期:2023-12-09 18:19阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,包括测试功能数据收集模块、历史测试数据收集模块、模型训练模块、实时数据收集模块以及功能测试率更新模块;其中,各个模块之间通过电性连接;

2.根据权利要求1所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,所述测试功能表为以测试功能为主键,以每项测试功能的量化结果为属性的数据库表;

3.根据权利要求2所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,所述测试训练数据的收集方式为:

4.根据权利要求3所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,训练出判断抽样的芯片是否合格的贝叶斯网络模型的方法为:

5.根据权利要求4所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,构造贝叶斯网络模型结构的方式为:

6.根据权利要求5所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,收集ate测试平台对每个抽样的芯片生成的测试特征向量的方式为:

7.根据权利要求6所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,更新抽样率的方式为:

8.根据权利要求7所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,更新每项测试功能的功能测试率的方式为:

9.根据权利要求8所述的一种用于ate测试平台的测试判断系统,其特征在于,更新下一生产批次的测试策略的方式为:


技术总结
本发明公开了一种用于ATE测试平台的测试判断系统,涉及ATE测试平台测试技术领域,预先收集ATE测试平台对于芯片进行测试的测试功能表,预先收集过去每次使用ATE测试平台对芯片进行测试时,生成的一组测试训练数据,训练出判断抽样的芯片是否合格的贝叶斯网络模型,收集在每一个新生产批次的芯片生产后,对芯片进行抽样,并收集ATE测试平台对每个抽样的芯片生成的测试特征向量,基于最新生产批次对应的所有测试特征向量,更新抽样率和更新每项测试功能的功能测试率,并更新下一生产批次的测试策略;降低了人工判断测试结果的人力成本以及ATE测试平台的测试成本。

技术研发人员:魏春光,魏铭志,王克振,戴冬明,刘凡
受保护的技术使用者:传麒科技(北京)股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1