本技术涉及缺陷检测的,尤其是涉及一种面板边缘的缺陷检测方法、装置及终端。
背景技术:
1、面板的种类有多种,可以包括显示面板、控制面板以及装饰面板等等;由于目前在生产制造过程中,工艺、硬件差异等因素影响,面板边缘极易出现缺陷。相关技术中,对于面板边缘是否出现缺陷的判断,一般是由产品质检员进行人工观察,或者是通过采集面板的图像,通过图像识别算法,对图像进行分析,从而判断面板边缘以及面板是否出现缺陷。若是采用人工观察的方式,则劳动量比较大;若是采用图像识别的方式,则需要复杂的图像识别算法,成本较高。
技术实现思路
1、为了降低成本,促进面板检测效率,本技术提供一种面板边缘的缺陷检测方法、装置及终端。
2、第一方面,本技术提供的一种面板边缘的缺陷检测方法,采用如下技术方案:
3、一种面板边缘的缺陷检测方法,包括:
4、控制抓取组件抓取待测面板;
5、控制所述抓取组件带动所述待测面板向面板模具中移动;
6、根据所述待测面板与所述面板模具的适配程度,判断所述待测面板边缘是否有缺陷;所述面板模具开设有与无缺陷面板适配的检测槽;一种所述面板模具对应一种类型的无缺陷面板。
7、通过采用上述技术方案,在对待测面板进行检测时,控制抓取组件抓取待测面板,并控制抓取组件带动该待测面板向面板模具移动,从而能够根据待测面板与面板模具的适配程度,快速判断待测面板边缘是否有缺陷;由于不需要采集待测面板图像,因此不需要复杂的图像识别算法,因此降低了成本,促进了面板检测效率。
8、可选的,根据所述待测面板与所述面板模具的适配程度,判断所述待测面板边缘是否有缺陷的具体步骤,包括:
9、获取所述待测面板终点位置;
10、基于所述终点位置,判断所述待测面板是否完全进入所述面板模具;
11、若是,则获取所述待测面板边缘点至参考点的距离;
12、若否,则确定所述待测面板边缘有第一缺陷;
13、判断所述距离是否均相等;
14、若否,则确定所述待测面板边缘有第二缺陷。
15、通过采用上述技术方案,在待测面板停止移动时,说明待测面板到达终点,因此通过获取终点位置,判断待测面板是否完全进入面板模具,若是,则说明待测面板边缘无第一缺陷,若未能完全进入面板模具,则说明面板边缘有第一缺陷;在判断待测面板完全进入面板模具后,获取待测面板边缘点至参考点的距离,并判断各个距离是否相等,若否,则说明面板边缘有第二缺陷;由于能够通过待测面板的终点位置以及待测面板边缘点至参考点的距离可以在确定待测面板边缘有缺陷时,对缺陷进行初步的分类,从而能够便于后期对待测面板进行进一步的分类。
16、可选的,所述检测方法还包括:
17、若所述待测面板完全进入所述面板模具,且所述距离均相等,则控制所述抓取组件带动所述待测面板脱离所述面板模具;
18、控制所述面板模具转动180度;
19、控制所述抓取组件带动所述待测面板进入所述面板模具;
20、在所述待测面板到达终点后,对所述待测面板进行无损检测。
21、通过采用上述技术方案,若待测面板完全进入面板模具,且边缘点至参考点的距离均相等,则说明面板边缘无缺陷,因此再对面板进行无损检测,判断待测面板内部是否存在缺陷。
22、第二方面,本技术提供了一种面板边缘的缺陷检测装置,采用如下技术方案:
23、一种面板边缘的缺陷检测装置,包括:
24、抓取组件,用于抓取待测面板;
25、面板模具,开设有与无缺陷面板适配的检测槽;一种所述面板模具对应一种类型的无缺陷面板;
26、控制模块,用于控制所述抓取组件的动作,并控制所述抓取组件带动所述待测面板向所述面板模具中移动;
27、判断模块,用于根据所述待测面板与所述面板模具的适配程度,判断所述待测面板边缘是否有缺陷。
28、通过采用上述技术方案,在对待测面板进行检测时,控制模块控制抓取组件抓取待测面板,并控制抓取组件带动该待测面板向面板模具移动,判断模块从而能够根据待测面板与面板模具的适配程度,快速判断待测面板边缘是否有缺陷;由于不需要采集待测面板图像,因此不需要复杂的图像识别算法,因此降低了成本,促进了面板检测效率。
29、可选的,所述检测装置还包括:
30、位置获取模块,用于获取所述待测面板的终点位置;
31、所述判断模块基于所述终点位置,判断所述待测面板是否完全进入所述面板模具,若否,则确定所述待测面板边缘有第一缺陷;
32、距离获取模块,用于在所述待测面板完全进入所述面板模具时,获取所述待测面板边缘点至参考点的距离;
33、所述判断模块判断距离是否相等,若否,则确定所述待测面板边缘有第二缺陷。
34、通过采用上述技术方案,由于能够通过待测面板的终点位置以及待测面板边缘点至参考点的距离可以在确定待测面板边缘有缺陷时,对缺陷进行初步的分类,从而能够便于后期对待测面板进行进一步的分类。
35、可选的,所述检测装置还包括:
36、转动组件,用于驱动所述面板模具转动180度;
37、所述控制模块用于在所述待测面板完全进入所述面板模具,且所述距离均相等时,控制所述抓取组件带动所述待测面板脱离所述面板模具,并控制所述转动组件动作;
38、无损检测组件,用于在所述待测面板达到终点后,对所述待测面板进行无损检测。
39、通过采用上述技术方案,若待测面板完全进入面板模具,且边缘点至参考点的距离均相等,则说明面板边缘无缺陷,因此再对面板进行无损检测,判断待测面板内部是否存在缺陷。
40、可选的,所述抓取组件包括:
41、支撑杆,竖直设置,且其上转动连接有丝杠,所述丝杠的轴线与所述支撑杆长度方向平行;
42、安装杆,与所述丝杠螺纹连接;
43、吸盘,安装于所述安装杆上,用于吸附所述待测面板远离所述面板模具的一侧面;所述待测面板的位置与所述面板模具的位置对应;
44、滑移电机,安装于所述支撑杆远离所述面板模具的一端,且输出轴与所述丝杠同轴固定连接;所述滑移电机与所述控制模块连接。
45、通过采用上述技术方案,吸盘在吸住待测面板后,控制模块控制滑移电机动作,滑移电机驱动丝杠转动,从而使得安装杆向靠近面板模具处滑移,从而带动待测面板向面板模具处移动。
46、可选的,所述转动组件包括:
47、辅助架,所述面板模具通过转轴转动连接于所述辅助架上;
48、转动从齿轮,同轴固定连接于所述面板模具一端的转轴上;
49、转动电机,输出轴同轴固定连接有转动主齿轮,所述转动主齿轮与所述转动从齿轮啮合;所述转动电机与所述控制模块连接。
50、通过采用上述技术方案,控制模块控制转动电机动作,转动电机通过转动主齿轮驱动转动从齿轮转动,从而能够驱动面板模具转动。
51、可选的,所述无损检测组件包括:
52、所述面板模具开设有测试槽,所述测试槽的面积大于所述待测面板的面积;
53、移动框架,设置于所述测试槽内,且与所述面板模具滑移连接;
54、超声波检测仪,安装于所述移动框架相对的内壁上,检测端相对设置,分别用于对所述待测面板表面进行无损检测;
55、直线电机,安装于所述测试槽内,所述移动框架安装于所述直线电机的动子上;所述直线电机与所述控制模块连接。
56、通过采用上述技术方案,在对待测面板进行无损检测时,控制模块控制直线电机动作,直线电机驱动移动框架移动,两超声波检测仪能够对待测面板进行全方位的检测。
57、第三方面,本技术提供了一种终端,采用如下技术方案:
58、一种终端,包括:
59、存储器,用于存储上述面板边缘的缺陷检测程序;
60、处理器,用于执行存储器上存储的程序,以实现上述面板边缘的缺陷检测方法的步骤。
61、综上所述,本技术存在至少以下有益效果:
62、1、通过控制抓取组件抓取待测面板,并控制抓取组件带动待测面板向面板模具中移动,从而根据待测面板与面板模具的适配程度,判断待测面板边缘是否有缺陷的目的是,可以快速判断待测面板边缘是否有缺陷,不需要采集待测面板图像,因此不需要复杂的图像识别算法,因此降低了成本,促进了面板检测效率。
63、2、通过待测面板的终点位置以及待测面板边缘点至参考点的距离可以在确定待测面板边缘有缺陷时,对缺陷进行初步的分类,从而能够便于后期对待测面板进行进一步的分类。
64、3、对待测面板进行无损检测目的是,若待测面板完全进入面板模具,且边缘点至参考点的距离均相等,则说明面板边缘无缺陷,因此再对面板进行无损检测,判断待测面板内部是否存在缺陷。