一种故障检测方法及装置、电子设备和存储介质与流程

本公开涉及芯片领域，尤其涉及一种故障检测方法及装置、电子设备和存储介质。

背景技术：

1、芯片按照设计来划分一般分为功能部分和测试部分，其中功能部分是用来描述芯片能够支持和实现的各种性能。而测试部分是用来验证和定位芯片存在的功能缺陷以及制造缺陷。在目前的设计流程中，在设计电路时就需要对测试环节进行考虑和设计，这样的流程就被称为可测性设计。通过使用可测性设计流程，会在电路中插入相关的辅助逻辑，使电路中的被测节点具有可控性与可观测性。

2、功能缺陷的验证和制造缺陷的验证分别对应不同的设计。现有技术中功能缺陷的验证是对芯片的功能模块进行快照提取，当快照提取完成之后，当前芯片状态就被破坏，不能再继续进行后续的验证性检查，只能根据当前的快照信息，对关键信息进行提取和推演，实用性有限。并且在进行快照提取的过程中，芯片的功能模块无法正常运行功能，进行完一次信息提取之后需要重新恢复到初始状态，才能进行下一次信息提取，效率较低。此外，在对芯片进行功能缺陷的诊断时，现有技术无法自由的选择想要扫描的寄存器，即需要对整个功能模块中的寄存器都进行扫描，无法做到选择特定的寄存器形成扫描链进行快照提取。因此，如何提高功能缺陷验证的灵活性、实用性和效率成为亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本公开提出了一种故障检测技术方案。

2、根据本公开的一方面，提供了一种故障检测方法，所述方法包括：

3、基于目标对象得到扫描链；所述扫描链包括输入端口、输出端口和链式连接的所述目标对象；所述目标对象包括至少一个待检测的功能节点；

4、将测试数据输入所述输入端口，得到所述输出端口输出的第一数据；所述第一数据用于表征所述目标对象的故障状态；

5、利用目标数据得到状态恢复数据，并基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节点进行状态恢复处理；所述状态恢复数据用于表征所述目标对象在所述测试数据输入所述扫描链前的状态，所述目标数据包括所述第一数据和/或非第一数据。

6、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

7、分别获取各个所述目标对象的输入输出数据，作为各个所述目标对象分别对应的第二数据；

8、将各个所述目标对象的第二数据分别保存到各个所述目标对象分别对应的隔离单元中。

9、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括所述第二数据；

10、所述利用目标数据得到状态恢复数据，包括：

11、利用所述第二数据得到所述状态恢复数据。

12、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

13、响应于状态恢复处理完成，控制所述目标对象利用所述第二数据运行。

14、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括外部数据，所述利用目标数据得到状态恢复数据，包括：

15、利用所述外部数据得到所述状态恢复数据。

16、在一种可能的实现方式中，基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节点进行状态恢复处理，包括：

17、从所述输入端口输入所述状态恢复数据；

18、根据所述状态恢复数据调整所述目标对象的状态数据。

19、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括所述第一数据；

20、所述利用目标数据得到状态恢复数据，包括：

21、将所述第一数据确定为所述状态恢复数据；或，

22、对所述第一数据进行数据编辑处理，得到所述状态恢复数据。

23、在一种可能的实现方式中，所述对所述第一数据进行数据编辑处理，得到所述状态恢复数据，包括：

24、在预先设置的寄存器和计数器匹配的情况下，对计数器当前指示的寄存器的第一数据取反得到所述状态恢复数据，所述计数器用于对时钟脉冲进行计数，被指示的寄存器为所述目标对象中的任意一个寄存器。

25、根据本公开的一方面，提供了一种故障检测装置，所述装置包括：

26、扫描链形成模块，用于基于目标对象形成扫描链，所述扫描链包括输入端口、输出端口和链式连接的所述目标对象；所述目标对象包括至少一个待检测的功能节点；

27、数据生成模块，用于将测试数据输入所述输入端口，得到所述输出端口输出的第一数据，所述第一数据用于表征所述目标对象的故障状态；

28、状态恢复模块，用于利用目标数据得到状态恢复数据，并基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节点进行状态恢复处理；所述状态恢复数据用于表征所述目标对象在所述测试数据输入所述扫描链前的状态，所述目标数据包括所述第一数据和/或非第一数据。

29、在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：隔离模块，用于分别获取各个所述目标对象的输入输出数据，作为各个所述目标对象分别对应的第二数据；将各个所述目标对象的第二数据分别保存到各个所述目标对象分别对应的隔离单元中。

30、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括所述第二数据；

31、所述状态恢复模块，用于利用所述第二数据得到所述状态恢复数据。

32、在一种可能的实现方式中，所述装置还包括：

33、运行模块，用于响应于状态恢复处理完成，控制所述目标对象利用所述第二数据运行。

34、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括外部数据，所述状态恢复模块，用于利用所述外部数据得到所述状态恢复数据。

35、在一种可能的实现方式中，状态恢复模块，用于从所述输入端口输入所述状态恢复数据；根据所述状态恢复数据调整所述目标对象的状态数据。

36、在一种可能的实现方式中，所述目标数据包括所述第一数据；

37、所述状态恢复模块，用于将所述第一数据确定为所述状态恢复数据；或，对所述第一数据进行数据编辑处理，得到所述状态恢复数据。

38、在一种可能的实现方式中，所述状态恢复模块，用于在预先设置的寄存器和计数器匹配的情况下，对计数器当前指示的寄存器的第一数据取反得到所述状态恢复数据，所述计数器用于对时钟脉冲进行计数，被指示的寄存器为所述目标对象中的任意一个寄存器。

39、根据本公开的一方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为调用所述存储器存储的指令，以执行上述方法。

40、根据本公开的一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法。

41、在本公开实施例中，基于目标对象得到扫描链，所述扫描链包括输入端口、输出端口和链式连接的所述目标对象，所述目标对象包括至少一个待检测的功能节点；然后将测试数据输入所述输入端口，得到所述输出端口输出的第一数据，所述第一数据用于表征所述目标对象的故障状态；再利用目标数据得到状态恢复数据，并基于所述状态恢复数据和所述扫描链对所述功能节点进行状态恢复处理，所述状态恢复数据用于表征所述目标对象在所述测试数据输入所述扫描链前的状态，所述目标数据包括所述第一数据和/或非第一数据。由此，在将测试数据输入扫描链得到输出的第一数据后，通过利用第一数据和/或非第一数据得到状态恢复数据，并基于状态恢复数据和扫描链对功能节点进行状态恢复处理，能够使目标对象恢复到测试数据输入扫描链前的状态，也就是说，在故障检测后，能够还原目标对象的状态，便于故障检测后的电路继续后续的工作，提高了故障检测的灵活性，优化了故障检测的实用性，且方便对电路进行连续的故障检测，提高了故障检测的效率。

42、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本公开。根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。