电路板测试设备的制作方法

本技术实施例涉及测试，特别涉及一种电路板测试设备。

背景技术：

1、整机柜服务器包括多个服务器节点。服务器节点包括箱体、电源、电路板以及风扇模组。电源、电路板、风扇模组以及液冷组件均设置于箱体内。电源与电路板电连接。电路板上设置有元器件。电路板上的元器件可以包括但不限于中央处理器和内存。服务器节点在进入使用阶段之前，需要使用电路板测试设备对电路板进行功能性测试(functionaltest，ft)或者边界扫描测试(boundary scan inspect，bsi)。测试过程中，操作人员将待测试的电路板放置于电路板测试设备中，以通过电路板测试设备对电路板进行相关测试。电路板具有多种外接的接口。电路板测试设备中具有与电路板上的接口相适配的对接口。相关技术中，在测试阶段，存在电路板的接口发生损坏而导致电路板失效、报废的情况。因此，在电路板测试过程中，如何保证电路板的接口不发生损坏成为一个亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本技术实施例提供一种电路板测试设备，可以有效降低因误操作而导致待测试的电路板发生结构损坏的可能性。

2、本技术实施例提供一种电路板测试设备，其包括升降装置、第一对接装置、第一锁止装置、第二对接装置以及第二锁止装置。

3、升降装置包括承载平台和升降组件。承载平台用于承载待测试的电路板。承载平台连接于升降组件。升降组件用于沿竖直方向升降承载平台。

4、第一对接装置包括竖向对接口。承载平台在升起位置和下降位置切换时，竖向对接口用于与电路板的竖向接口插接或分离。承载平台在升起位置或下降位置时，第一锁止装置用于锁止或解锁升降组件。第二对接装置包括水平对接口和驱动组件。驱动组件在第一状态和第二状态切换，以驱动水平对接口沿水平方向在退出位置和插接位置切换，使得水平对接口与电路板的水平接口分离或插接。驱动组件在第一状态或第二状态时，第二锁止装置用于锁止或解锁驱动组件。

5、本技术实施例的电路板测试设备中，可以通过升降装置和第一对接装置实现竖向对接口与电路板的竖向接口插接或分离，并且可以通过第二对接装置实现水平对接口与电路板的水平接口插接或分离。在启动测试过程中，将待测试的电路板预先置于处于下降位置的承载平台上。第一锁止装置解锁升降组件，以使得升降组件可以执行升起承载平台的工序。承载平台处于升起位置时，竖向对接口与电路板上的竖向接口插接到位。第一锁止装置重新锁止升降组件，使得升降组件无法在测试过程中驱动承载平台下降。第二锁止装置解锁驱动组件。驱动组件驱动水平对接口移动。水平对接口处于插接位置时，水平对接口与电路板上的水平接口插接到位。第二锁止装置锁止处于第二状态的驱动组件，使得驱动组件无法在测试过程中驱动水平对接口移动。电路板测试设备对待测试的电路板进行相关测试。测试结束过程中，第二锁止装置解锁处于第二状态的驱动组件。驱动组件驱动水平对接口移动，使得水平对接口与电路板上的水平接口分离。驱动组件恢复至第一状态，并且水平对接口恢复至退出位置时，第二锁止装置锁止处于第一状态的驱动组件。第一锁止装置解锁升降组件，使得升降组件可以驱动承载平台下降。竖向对接口与电路板上的竖向接口分离。承载平台恢复至下降位置时，第二锁止装置锁止升降组件。通过第一锁止装置和第二锁止装置的协同使用，使得启动测试过程中以及测试结束过程中，升降装置和第二对接装置按照顺序依次执行动作，从而在启动测试过程中不会出现先操作第二对接装置再操作升降装置的问题，同时在测试结束过程中不会出现先操作升降装置的问题，进而有效降低测试过程中出现误操作的可能性，有效降低因误操作而导致待测试的电路板发生结构损坏的可能性。

6、在一种可能的实施方式中，启动测试过程中，第一锁止装置解锁升降组件，以使升降组件驱动承载平台至升起位置，在竖向对接口与竖向接口处于插接状态时，第二锁止装置解锁处于第一状态的驱动组件，以使驱动组件驱动水平对接口至插接位置，在水平对接口与水平接口处于接插状态时，第一锁止装置锁止升降组件，第二锁止装置锁止处于第二状态的驱动组件。

7、测试结束过程中，第二锁止装置解锁处于第二状态的驱动组件，以使驱动组件在切换到第一状态的过程中驱动水平对接口至退出位置。第一锁止装置解锁升降组件，以使升降组件驱动承载平台至下降位置。在承载平台位于下降位置时，第一锁止装置锁止升降组件，第二锁止装置锁止处于第一状态的驱动组件。

8、在一种可能的实施方式中，第一锁止装置包括第一控制件和第一锁止部件。承载平台包括底座和载座。第一控制件设置于底座。底座连接于升降组件。沿垂直于竖直方向的方向，载座可滑动连接于底座。载座在伸出位置和退回位置切换。载座用于承载电路板。承载平台在下降位置，并且载座处于退回位置或离开退回位置时，载座触发第一控制件，以使第一锁止部件解锁或锁止升降组件。

9、在一种可能的实施方式中，第一控制件包括第一开关件。第一锁止部件包括第一线圈和第一磁芯。第一开关件与第一线圈电连接。第一磁芯穿设于第一线圈。第一开关件控制第一线圈通电或断电，使得第一磁芯移动以解锁或锁止升降组件。

10、在一种可能的实施方式中，第一锁止装置还包括第二控制件和第二锁止部件。承载平台在升起位置，并且驱动组件在离开第一状态或恢复第一状态时，驱动组件触发第二控制件，以控制第二锁止部件锁止或解锁升降组件。

11、在一种可能的实施方式中，第二控制件包括第二开关件。第二锁止部件包括第二线圈和第二磁芯。第二开关件与第二线圈电连接。第二磁芯穿设于第二线圈。第二开关件控制第二线圈通电或断电，使得第二磁芯移动以锁止或解锁升降组件。

12、在一种可能的实施方式中，升降组件包括升降传动机构和升降操作手柄。底座连接于升降传动机构。升降操作手柄与升降传动机构相连。升降操作手柄用于驱动升降传动机构带动承载平台升降。承载平台在下降位置时，第一磁芯解锁或锁止升降操作手柄。承载平台在升起位置时，第二磁芯解锁或锁止升降操作手柄。

13、在一种可能的实施方式中，电路板测试设备还包括限位板。限位板包括相连通的导向孔和限位孔。升降操作手柄具有转动方向。沿升降操作手柄的转动方向，导向孔的两端分别设置限位孔。升降操作手柄包括操作杆、限位销和驱动单元。操作杆与升降传动机构相连。沿垂直于升降操作手柄的转动轴线的方向，限位销相对操作杆可滑动。驱动单元设置于操作杆。限位销与驱动单元相连。承载平台在升起位置或者下降位置时，驱动单元驱动限位销相对操作杆移动，以使限位销退出或者进入对应的限位孔。

14、在一种可能的实施方式中，第一线圈设置于限位板。第一磁芯对应导向孔设置。承载平台在下降位置，并且限位销进入对应的限位孔时，第一磁芯伸入或退出导向孔，以锁止或者解锁限位销。第二线圈设置于限位板。第二磁芯对应导向孔设置。承载平台在升起位置，并且限位销进入对应的限位孔时，第二磁芯伸入或退出导向孔，以锁止或解锁限位销。

15、在一种可能的实施方式中，第二锁止装置包括第三控制件和第三锁止部件。第一对接装置还包括支撑座。第三控制件设置于支撑座。驱动组件处于第一状态，并且承载平台处于升起位置或离开升起位置时，承载平台触发第三控制件，以控制第三锁止部件解锁或锁止驱动组件。

16、在一种可能的实施方式中，第二锁止装置还包括第四控制件和第四锁止部件。承载平台处于升起位置，并且驱动组件处于第二状态时，触发第四控制件，以控制第四锁止部件锁止或解锁驱动组件。

17、在一种可能的实施方式中，第二对接装置还包括基座。驱动组件设置于基座。驱动组件包括竖向推拉件和传动件。传动件具有倾斜孔。竖向推拉件具有推拉轴。推拉轴插接于倾斜孔。驱动组件在第一状态和第二状态之间切换时，推拉轴沿竖直方向在最高点和最低点切换，以驱动传动件沿水平方向移动。水平对接口连接于传动件。驱动组件处于第一状态时，第三锁止部件解锁或锁止竖向推拉件。驱动组件处于第二状态时，第四锁止部件解锁或锁止竖向推拉件。

18、在一种可能的实施方式中，驱动组件还包括第一连杆、第二连杆和操作把手。第一连杆包括相交的第一连接段和第二连接段。第一连接段可转动连接于竖向推拉件。第二连接段连接于操作把手。第二连杆的一端连接于基座，另一端与第一连接段和第二连接段的交汇处可转动连接。操作把手相对第一连接段的水平转动轴线翻转，以使驱动组件在第一状态和第二状态之间切换。第二控制件设置于基座。驱动组件在离开第一状态或恢复第一状态时，操作把手触发第二控制件，以控制第二锁止部件锁止或解锁升降组件。

19、在一种可能的实施方式中，第三控制件包括第三开关件。第三锁止部件包括第三线圈和第三磁芯。第三开关件与第三线圈电连接。第三磁芯穿设于第三线圈。竖向推拉件包括限位连接部。第三开关件控制第三线圈通电或断电，使得第三磁芯与限位连接部分离或连接，以解锁或锁止驱动组件。

20、在一种可能的实施方式中，第四控制件包括第四开关件和测试电源开关。第四开关件与测试电源开关串联。第四开关件设置于基座。第四锁止部件包括第四线圈和第四磁芯。第四线圈、竖向对接口和水平对接口均与测试电源开关电连接。第四磁芯穿设于第四线圈。驱动组件切换至第二状态时，操作把手触发第四开关件。第四开关件和测试电源开关共同用于控制第四线圈通电，以控制第四磁芯与限位连接部连接，锁止驱动组件，同时竖向对接口和水平对接口通电。驱动组件从第二状态切换至第一状态时，测试电源开关用于控制第四线圈断电，以控制第四磁芯与限位连接部分离，解锁驱动组件，同时竖向对接口和水平对接口断电。