伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路与流程

本发明涉及集成电路设计，尤其涉及一种伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路。

背景技术：

1、随着数字电路的老化，需要一种可靠的测试方法来评估和验证数字电路的正确性和稳定性。扫描链电路是一种常用的测试方法，广泛应用于受测装置（比如芯片）测试的技术，其通过在受测装置的输入端口输入特定的信号，并观察输出端口的结果，来验证受测装置的功能正确性和稳定性。换言之，若想通过扫描链电路完成测试，必须从扫描链电路输入端子上输入一连串完整的输入信息，来保证受测装置完备的测试覆盖率。

2、目前，受测装置的老化测试因为其测试方式和测试目的的影响，需要严格控制电激励条件，以便模拟出受测装置在实际工作条件下可能遇到的最坏情况，如果在测试机台上进行老化测试，可能无法保证所施加的电激励条件与设备在实际使用中所遇到的条件完全一致，这可能会影响到测试结果的准确性和可靠性。为了避免这些问题，受测装置的老化测试并不能在测试机台上进行，不在测试机台上，这意味着扫描链电路缺少自完备的随机性信号输入序列，无法保证完备的测试覆盖率。

技术实现思路

1、本发明的目的之一在于提供一种伪随机测试参数生成方法，以解决现有技术无法产生应用于扫描链电路的自完备伪随机性测试参数，导致测试效率和测试覆盖率均低的技术问题。

2、本发明的目的之一在于提供一种扫描链电路。

3、本发明的目的之一在于提供一种老化测试系统。

4、为了实现上述发明目的之一，本发明提供一种伪随机测试参数生成方法，所述伪随机测试参数生成方法应用于扫描链电路中，所述方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值；重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数。

5、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述扫描链电路设置于受测装置内；所述伪随机测试参数用于在所述受测装置执行老化测试时，作为所述扫描链电路的测试输入参数。

6、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述位运算方法包括移位运算策略和逻辑运算策略；其中，所述移位运算策略包括左移操作和右移操作至少其中之一；所述逻辑运算策略包括逻辑与操作和逻辑或操作至少其中之一。

7、作为本发明一实施方式的进一步改进，在所述“初始化扫描链电路，至少产生一输出值”具体包括：配置所述扫描链电路为级联状态，根据当前真随机数至少产生一初始化输出值。

8、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“根据当前真随机数至少产生一初始化输出值”具体包括：根据逻辑运算策略处理所述当前真随机数和复位输出值，产生第一输出值作为所述初始化输出值；所述“对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值”具体包括：以所述第一输出值作为所述前一次输出值并执行二进制位级变换操作，得到第二输出值作为所述本次输出值。

9、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述扫描链电路包括种子寄存器；在所述“根据当前真随机数至少产生一初始化输出值”之前，所述方法还包括：按照预设时间间隔接收并更新存储于所述种子寄存器中的当前真随机数。

10、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值”具体包括：基于所述移位运算策略，确定当前移位运算操作，对所述前一次输出值执行当前移位操作，得到当前移位中间值；基于所述逻辑运算策略，确定当前逻辑运算操作，对所述当前移位中间值和所述前一次输出值执行当前逻辑运算操作，得到所述扫描链电路的本次输出值。

11、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述扫描链电路在第一时刻执行第一移位运算操作和第一逻辑运算操作，生成第一输出值；在所述第一时刻之后的第二时刻下，所述“基于所述移位运算策略，确定当前移位运算操作，对所述前一次输出值执行当前移位操作，得到当前移位中间值”具体包括：基于所述移位运算策略，固定位于所述第一移位运算操作之后的第二移位运算操作，对所述第一输出值执行所述第二移位运算操作，得到第二移位中间值；所述“基于所述逻辑运算策略，确定当前逻辑运算操作，对所述当前移位中间值和所述前一次输出值执行当前逻辑运算操作，得到所述扫描链电路的本次输出值”具体包括：基于所述逻辑运算策略，固定位于所述第一逻辑运算操作之后的第二逻辑运算操作，对所述第二移位中间值和所述第一输出值执行所述第二逻辑运算操作，得到第二输出值作为所述第二时刻的本次输出值。

12、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述“重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数”具体包括：确定对应于所述本次输出值的当前扫描时间；判断所述当前扫描时间是否小于预设扫描时间阈值；若是，则控制所述扫描链电路继续重复执行位级变换操作，将所述本次输出值作为下一次迭代的前一次输出值；若否，则固定当前输出值作为所述伪随机测试参数。

13、为实现上述发明目的之一，本发明还提供一种扫描链电路，包括：第一寄存器，用于获取扫描链电路的前一次输出值，对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的第一运算策略；第二寄存器，耦合至所述第一寄存器，用于根据所述第一寄存器的输出执行包含二进制位级变换操作的第二运算策略，得到本次输出值；用于在收到迭代结束信号时以当前输出值作为伪随机测试参数；以及，用于初始化扫描链电路，至少产生一输出值；定时器，耦合至所述第二寄存器，用于计时并在迭代时长达到预设时间阈值时，向所述第二寄存器输出所述迭代结束信号。

14、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述第一寄存器用于存储并实施移位运算策略，所述第二寄存器用于存储并实施逻辑运算策略；所述移位运算策略包括左移操作和右移操作至少其中之一；所述逻辑运算策略包括逻辑与操作和逻辑或操作至少其中之一。

15、作为本发明一实施方式的进一步改进，所述扫描链电路还包括：种子寄存器，用于在耦合至真随机数发生器时，根据预设的时间间隔接收并更新所存储的当前真随机数；所述当前真随机数用于初始化扫描链电路。

16、为实现上述发明目的之一，本发明还提供一种老化测试系统，包括：所述扫描链电路，所述扫描链电路设置于受测装置内，在所述受测装置收到老化测试指令时，以执行所述伪随机测试参数生成方法产生的伪随机测试参数作为所述扫描链电路的测试输入参数，并在所述伪随机测试参数的指导下对所述受测设备执行仿真加速老化操作。

17、与现有技术相比，本发明实施例具有如下至少一种有益效果：

18、本发明采用一种伪随机测试参数生成方法，通过重复使用前一次扫描链电路的输出值以及位级变换操作，自动生成扫描链电路的伪随机测试参数，它代替真正的随机数不仅可以模拟实际应用中可能出现的各种输入情况，增加测试的全面性和覆盖率；而且，伪随机测试参数的生成过程自动化程度高，通过迭代操作生成更全面的测试输入值，并通过自动化测试来覆盖更多的电路状态，使得测试可以在更短时间内完成，提高测试效率。