电压调整器测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，特别是涉及一种电压调整器测试装置。

背景技术：

1、电压调整器是一种用作保持电压稳定的元件，应用中，电压调整器有如sot-223、to-3、to-39、to-263等多种不同封装型号，且同一种封装型号的电压调整器芯片的引脚排列位置也可能不同。

2、对电压调整器进行测试时，需根据各电压调整器的不同引脚排列位置设计专用的测试装置，不仅成本高，而且还会延误筛选与检测进度。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种电压调整器测试装置，能够降低测试成本和提高检测进度。

2、一种电压调整器测试装置，所述装置包括：

3、检测组件；

4、测试子板，与待测电压调整器可拆卸连接，以使所述待测电压调整器的多个引脚分别与所述测试子板的多个触点对应连接；

5、测试母板，所述测试母板包括引脚配置组件，所述测试母板与所述测试子板可拆卸连接，以使所述引脚配置组件的第一端分别与所述测试子板的多个触点连接，所述引脚配置组件的第二端与所述检测组件连接，所述引脚配置组件用于将所述检测组件的检测信号通过所述测试子板的多个触点传输至所述待测电压调整器，并将所述待测电压调整器反馈输出的测试信号传输至所述检测组件。

6、在其中一个实施例中，所述检测组件包括：

7、供电单元，与所述引脚配置组件的第二端连接，用于通过所述引脚配置组件和所述测试子板为所述待测电压调整器提供检测信号；

8、检测单元，与所述引脚配置组件的第二端连接，用于通过所述引脚配置组件和所述测试子板接收所述待测电压调整器的测试信号，并基于所述测试信号生成测试结果。

9、在其中一个实施例中，所述测试子板的多个触点包括第一触点、第二触点和第三触点；所述引脚配置组件包括：

10、第一配置单元，所述第一配置单元的第一端与所述测试子板的第一触点连接，所述第一配置单元的第二端分别与所述供电单元、所述检测单元和公共地连接，在所述第一配置单元处于第一工作状态的情况下，所述第一配置单元用于将所述检测组件的检测信号传输至所述测试子板的第一触点，在所述第一配置单元处于第二工作状态的情况下，所述第一配置单元用于将所述待测电压调整器输出的测试信号传输至所述检测组件，在所述第一配置单元处于第三状态的情况下，所述测试子板的第一触点与所述公共地连接；

11、第二配置单元，所述第二配置单元的第一端与所述测试子板的第二触点连接，所述第二配置单元的第二端分别与所述供电单元、所述检测单元和所述公共地连接，在所述第二配置单元处于第一工作状态的情况下，所述第二配置单元用于将所述检测组件的检测信号传输至所述测试子板的第二触点，在所述第二配置单元处于第二工作状态的情况下，所述第二配置单元用于将所述待测电压调整器输出的测试信号传输至所述检测组件，在所述第二配置单元处于第三状态的情况下，所述测试子板的第二触点与所述公共地连接；

12、第三配置单元，所述第三配置单元的第一端与所述测试子板的第三触点连接，所述第三配置单元的第二端分别与所述供电单元、所述检测单元和所述公共地连接，在所述第三配置单元处于第一工作状态的情况下，所述第三配置单元用于将所述检测组件的检测信号传输至所述测试子板的第三触点，在所述第三配置单元处于第二工作状态的情况下，所述第三配置单元用于将所述待测电压调整器输出的测试信号传输至所述检测组件，在所述第三配置单元处于第三状态的情况下，所述测试子板的第三触点与所述公共地连接；

13、其中，所述第一配置单元、所述第二配置单元和所述第三配置单元在同一时刻的所处工作状态各不相同。

14、在其中一个实施例中，所述第一配置单元包括：

15、第一继电器，所述第一继电器的第一端与所述测试子板的第一触点连接，所述第一继电器的第二端与所述供电单元连接；

16、第二继电器，所述第二继电器的第一端与所述测试子板的第一触点连接，所述第二继电器的第二端与所述检测单元连接；

17、第三继电器，所述第三继电器的第一端与所述测试子板的第一触点连接，所述第三继电器元的第二端与所述公共地连接。

18、在其中一个实施例中，所述第二配置单元包括：

19、第四继电器，所述第四继电器的第一端与所述测试子板的第二触点连接，所述第四继电器的第二端与所述供电单元连接；

20、第五继电器，所述第五继电器的第一端与所述测试子板的第二触点连接，所述第五继电器的第二端与所述检测单元连接；

21、第六继电器，所述第六继电器的第一端与所述测试子板的第二触点连接，所述第六继电器的第二端与所述公共地连接。

22、在其中一个实施例中，所述第三配置单元包括：

23、第七继电器，所述第七继电器的第一端与所述测试子板的第三触点连接，所述第七继电器的第二端与所述供电单元连接；

24、第八继电器，所述第八继电器的第一端与所述测试子板的第三触点连接，所述第八继电器的第二端与所述检测单元连接；

25、第九继电器，所述第九继电器的第一端与所述测试子板的第三触点连接，所述第九继电器的第二端与所述公共地连接。

26、在其中一个实施例中，所述测试母板还包括：

27、电容配置组件，分别与所述测试子板的第一触点、第二触点和第三触点连接，用于对所述检测信号或所述测试信号进行滤波处理。

28、在其中一个实施例中，所述电容配置组件包括：

29、第一电容配置单元，包括多个第一滤波电路，在所述第一电容配置单元处于第一目标状态的情况下，目标第一滤波电路与所述测试子板的第一触点导通连接，所述目标第一滤波电路为多个所述第一滤波电路中的一者；

30、第二电容配置单元，包括多个第二滤波电路，在所述第二电容配置单元处于第二目标状态的情况下，目标第二滤波电路与所述测试子板的第二触点导通连接，所述目标第二滤波电路为多个所述第二滤波电路中的一者；

31、第三电容配置单元，包括多个第三滤波电路，在所述第三电容配置单元处于第三目标状态的情况下，目标第三滤波电路与所述测试子板的第三触点导通连接，所述目标第三滤波电路为多个所述第三滤波电路中的一者。

32、在其中一个实施例中，所述第一滤波电路包括一个第一滤波电容；所述第二滤波电路包括一个第二滤波电容；所述第三滤波电路包括一个第三滤波电容。

33、在其中一个实施例中，所述第一滤波电路、所述第二滤波电路和所述第三滤波电路的数量分别为四个。

34、上述电压调整器测试装置，包括检测组件、测试子板和测试母板。测试子板与待测电压调整器可拆卸连接，在对待测电压调整器进行测试时，首先将待测电压调整器的多个引脚分别与所述测试子板的多个触点对应连接，以在测试子板上固定待测电压调整器，再将测试子板与测试母板连接，以便于待测电压调整器的多个引脚通过测试子板的多个对应触点与测试母板上引脚配置组件的第一端连接，由于引脚配置组件的第二端与检测组件连接，因此，待测电压调整器便可通过测试子板的对应触点和引脚配置组件接收来自检测组件的检测信号，并将生成的测试信号通过引脚配置组件和测试子板的对应触点反馈输出至检测组件。针对不同封装型号的待测电压调整器，只需通过本技术的电压调整器测试装置，更换不同封装型号的待测电压调整器的测试子板，将测试子板与通用的测试母板连接，即可以对各封装型号和同一种封装型号但引脚排列位置不同的电压调整器进行测试，不仅可以减少电压调整器的测试成本，还可以提高电压调整器的效率。