基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质与流程

文档序号:37642622发布日期:2024-04-18 18:06阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,应用于光学检测设备,所述光学检测设备包括检测部sipm光学组件,所述sipm光学组件与所述检测部可相对移动,所述sipm光学组件内设置有至少一个光学通道,所述光学通道中设置有通道光源和sipm元器件,所述检测部包括第一检测点和至少一个第二检测点,所述第一检测点为通道口被标准物覆盖的检测通道,所述第二检测点为设置有待测样品且所述通道口未设置所述标准物的所述检测通道,所述标准物可被所述通道光源激发形成第一发射光,所述待测样品可被所述通道光源激发形成第二发射光,所述第一发射光的强度位于待测强度范围内,所述待测强度范围为所述第二发射光的强度范围,所述基于sipm的温度补偿方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述基于所述暗背景参考值、所述标准物参考值、所述标准物检测值和所述暗背景检测值确定补偿系数,包括:

3.根据权利要求2所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述基于所述补偿系数、所述样品检测值、所述暗背景参考值和所述暗背景检测值确定各个所述待测样品的样品参考值,包括:

4.根据权利要求1所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述光学检测设备还包括步进电机,所述步进电机用于驱动所述sipm光学组件移动,所述对所述第一检测点进行光学检测得到标准物检测值,对各个所述第二检测点进行光学检测得到各个所述待测样品的样品检测值,包括:

5.根据权利要求4所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述通过所述sipm元器件进行光学检测得到暗背景检测值,包括:

6.根据权利要求1至5任意一项所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述光学通道的数量为多个,各个所述光学通道的所述sipm元器件能够检测的目标波长不同,所述方法还包括:

7.根据权利要求1所述的基于sipm的温度补偿方法,其特征在于,所述第一检测点的数量为多个,对所述第一检测点进行光学检测得到标准物检测值,包括:

8.一种基于sipm的温度补偿装置,其特征在于,包括至少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器;所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个控制处理器执行,以使所述至少一个控制处理器能够执行如权利要求1至7任一项所述的基于sipm的温度补偿方法。

9.一种电子设备,其特征在于,包括权利要求8所述的基于sipm的温度补偿装置。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至7任一项所述的基于sipm的温度补偿方法。


技术总结
本发明提出了一种基于SiPM的温度补偿方法、装置、设备、存储介质,该方法包括:启动检测之前,SiPM元器件处于参考温度时,获取标准物和暗背景的参考值,启动检测后,获取标准物、待测样品和暗背景的检测值;基于暗背景和标准物的参考值和检测值确定补偿系数,基于补偿系数、样品检测值、暗背景参考值和暗背景检测值确定各个待测样品的样品参考值。根据本发明实施例的技术方案,在待测样品测量前后温度发生变化的情况下,利用补偿系数将SiPM元器件在任意工作温度下检测的检测值补偿至参考温度下的样品参考值,消除SiPM元器件的工作温度导致的检测值偏移,无需引入多个温度传感器,降低硬件成本,提高检测设备的工作稳定性。

技术研发人员:李桂平,许文俊,罗欣,古伟超,梁雯静
受保护的技术使用者:珠海黑马医学仪器有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/4/17
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