一种测量修阻电路、方法及系统与流程

本技术涉及电路测试，尤其涉及一种测量修阻电路、方法及系统。

背景技术：

1、激光调阻设备对被测电阻进行激光修阻前测量和修阻后测量，由于被测电阻材质有合金、陶瓷等材质，在片式合金电阻中，电极与阻体是同一种材质，通常是一种异形结构，这种电阻对探针踩点位置要求非常高，探针踩点偏移会造成测量阻值的不同，表现在激光调阻设备就是探卡动态测试极差大于我们要求的结果；现有技术中，通常采用四线式(开尔文测量)测量方法对电阻进行测量，但在一些异形结构的片式合金电阻测试，四线式测量的测试结果不稳定，且准确定较差，从而影响修阻的效果。

技术实现思路

1、有鉴于此，本技术实施例提供一种测量修阻电路、方法及系统，可以提高应用在异形结构的片式合金超低阻的测量精度和测量准确性。

2、第一方面，本技术实施例提供一种测量修阻电路，用于对待测电阻进行测量，所述测量修阻电路包括：第一电压测量单元、第二电压测量单元和测量电流单元；

3、所述第一电压测量单元、所述第二电压测量单元和所述测量电流单元分别与所述待测电阻的不同测量点连接；

4、所述第一电压测量单元用于测量所述待测电阻两端的第一电压；

5、所述第二电压测量单元用于测量所述待测电阻两端的第二电压；

6、所述测量电流单元用于提供流经所述待测电阻的环路电流。

7、在一些实施例中，所述测量电流单元包括电流源、第一继电器和第二继电器；

8、所述电流源的两端分别通过高端电流线和低端电流线对应连接至所述待测电阻的两端；其中，所述第一继电器设置在所述高端电流线上，所述第二继电器设置在所述低端电流线上；

9、所述第一电压测量单元包括第一电压表、第三继电器和第四继电器；

10、所述第一电压表的两端分别通过第一高端电压线和第一低端电压线对应连接至所述待测电阻的两端；所述第三继电器设置在所述第一高端电压线上，所述第四继电器设置在所述第一低端电压线上；

11、所述第二电压测量单元包括第二电压表、第五继电器和第六继电器；所述第二电压表的两端分别通过第二高端电压线和第二低端电压线对应连接至所述待测电阻的两端；所述第五继电器设置在所述第二高端电压线上，所述第六继电器设置在所述第二低端电压线上。

12、在一些实施例中，所述待测电阻一端包括第一激励端以及分别设置在所述第一激励端两侧的第一测量端和第二测量端；所述待测电阻的另一端包括第二激励端以及对称设置在所述第二激励端两侧的第三测量端和第四测量端；

13、所述高端电流线和所述低端电流线分别连接至所述待测电阻两端的所述第一激励端和所述第二激励端；

14、所述第一高端电压线和所述第二高端电压线分别连接至所述第一测量端和所述第二测量端；

15、所述第一低端电压线和所述第二低端电压线分别连接至所述第三测量端和所述第四测量端。

16、在一些实施例中，所述第一测量端与所述第三测量端在所述待测电阻上呈对角设置；

17、所述第二测量端与所述第四测量端在所述待测电阻上呈对角设置。

18、第二方面，本技术实施例提供测量修阻方法，应用于上述的测量修阻电路，所述测量修阻方法包括：

19、在激光修阻前，利用所述第一电压测量单元、所述第二电压测量单元和所述测量电流单元，根据预设测量规则测量得到所述待测电阻的修阻前第一电阻值、修阻前第二电阻值及修阻前电阻值；

20、根据所述修阻前电阻值、目标阻值以及补偿电阻值，设置比较值；其中，所述补偿电阻值为所述修阻前第一电阻值或所述修阻前第二电阻值；

21、在修阻过程中，实时通过所述第一电压测量单元或所述第二电压测量单元测量获得所述待测电阻的实时测量值，当所述实时测量值达到所述比较值后，停止修阻；

22、在修阻结束后，利用所述第一电压测量单元、所述第二电压测量单元和所述测量电流单元，根据所述预设测量规则测量得到所述待测电阻的修阻后电阻值。

23、在一些实施例中，所述预设测量规则包括：

24、通过控制继电器矩阵，使所述第一电压测量单元对所述待测电阻进行测量，获得所述修阻前第一电压值或修阻后第一电压值；其中，所述继电器矩阵包括所述第一继电器、所述第二继电器、所述第三继电器、所述第四继电器、所述第五继电器和所述第六继电器；

25、根据所述修阻前第一电压值或所述修阻后第一电压值，以及所述测量电流单元的电流值，获得所述待测电阻的所述修阻前第一电阻值或修阻后第一电阻值；

26、切换所述继电器矩阵，使所述第二电压测量单元对所述待测电阻进行测量，获得所述修阻前第二电压值或所述修阻后第二电压值；

27、根据所述修阻前第二电压值或所述修阻后第二电压值，以及所述测量电流单元的电流值，获得所述待测电阻的所述修阻前第二电阻值或修阻后第二电阻值；

28、若在激光修阻前，则通过所述修阻前第一电阻值和所述修阻前第二电阻值计算获得所述修阻前电阻值；

29、若在激光修阻后，则通过所述修阻后第一电阻值和所述修阻后第二电阻值计算获得所述修阻后电阻值；

30、其中，所述修阻前电阻值为所述修阻前第一电阻值与所述修阻前第二电阻值的平均值；所述修阻后电阻值为所述修阻后第一电阻值与所述修阻后第二电阻值的平均值。

31、在一些实施例中，所述根据所述修阻前电阻值、目标阻值以及补偿电阻值设置比较值包括：

32、根据所述修阻前电阻值、所述目标阻值和所述补偿电阻值计算补偿值；

33、根据所述目标阻值及所述补偿值设置所述比较值；

34、若所述比较值为比较电压值，则所述比较值为所述目标阻值对应电压值乘以“1+补偿值”的值；

35、若所述比较值为比较电阻值，则所述比较值为所述目标阻值乘以“1+补偿值”的值。

36、在一些实施例中，若所述比较值为比较电压值，则所述实时通过第一电压测量单元或第二电压测量单元测量获得所述待测电阻的实时测量值，当所述实时测量值达到比较值后，停止修阻包括：

37、实时通过第一电压测量单元或第二电压测量单元测量获得所述待测电阻的实时电压值，当所述实时电压值达到所述比较电压值后，停止修阻；

38、若所述比较值为比较电阻值，则所述实时通过第一电压测量单元或第二电压测量单元测量获得所述待测电阻的实时测量值，当所述实时测量值达到比较值后，停止修阻包括：

39、实时通过第一电压测量单元或第二电压测量单元测量获得所述待测电阻的实时电阻值，当所述实时电阻值达到所述比较电阻值后，停止修阻。

40、在一些实施例中，通过控制所述第一继电器、所述第二继电器、所述第三继电器和所述第四继电器闭合，以及所述第五继电器和所述第六继电器断开，使所述第一电压测量单元对所述待测电阻进行测量；

41、通过控制所述第一继电器、所述第二继电器、所述第五继电器和所述第六继电器闭合，以及所述第三继电器和所述第四继电器断开，使所述第二电压测量单元对所述待测电阻进行测量。

42、第三方面，本技术实施例提供一种测量修阻系统，包括：主控板、振镜激光控制卡、测量卡、背板和继电板；

43、所述主控板、所述振镜激光控制卡、所述测量卡和所述继电板均连接在所述背板上；

44、所述主控板，用于接收上位机的测量指令，并根据所述测量指令通过所述背板向所述继电板发送切换指令；

45、所述继电板，根据所述切换指令进行第一电压测量单元和第二电压测量单元之间的切换；

46、所述测量卡，用于在激光修阻前，利用所述第一电压测量单元、所述第二电压测量单元和所述测量电流单元，根据预设测量规则测量得到所述待测电阻的修阻前第一电阻值、修阻前第二电阻值及修阻前电阻值；

47、所述主控板，还用于根据所述修阻前电阻值、目标阻值以及补偿电阻值，设置比较值；其中，所述补偿电阻为所述修阻前第一电阻值或所述修阻前第二电阻值；

48、所述主控板，还用于在修阻过程中，实时通过所述第一电压测量单元或所述第二电压测量单元测量所述待测电阻的实时测量值，当所述实时测量值达到所述比较值后，向所述振镜激光控制卡发送停光信号，以控制激光器停止出光，进而停止修阻；

49、所述测量卡，还用于在修阻结束后，利用所述第一电压测量单元、所述第二电压测量单元和所述测量电流单元，根据预设测量规则测量得到所述待测电阻的修阻后电阻值。

50、本技术的实施例具有如下有益效果：通过对第一电压测量单元、第二电压测量单元及测量电流单元进行切换进而实现修阻前待测电阻的阻值测量以及修阻后待测电阻的阻值测量，且在修阻前，通过六线式的测量方法，获得修阻前第一电阻值和修阻前第二电阻值，然后根据修阻前第一电阻值、修阻前第二电阻值、修阻前电阻值、目标阻值确定比较电压值，进而通过比较电压值确定修阻结束时间，以实现对待测电阻的准确修阻。即通过本技术的六线式测量方法相较于现有技术中四线式测量方法提高了应用在异形结构的片式合金超低阻的测量精度和测量准确性。